激光加工装置和激光加工方法与流程

文档序号:34063103发布日期:2023-05-06 13:26阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种激光加工装置,对于包含第1面和与所述第1面相反侧的第2面且在所述第1面侧与其它部件接合的晶片,将所述第2面作为入射面来照射激光,由此,在所述晶片上形成改性区域,所述激光加工装置的特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的激光加工装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的激光加工装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的激光加工装置,其特征在于:

5.如权利要求1~4中任一项所述的激光加工装置,其特征在于:

6.如权利要求1~4中任一项所述的激光加工装置,其特征在于:

7.如权利要求5或6所述的激光加工装置,其特征在于:

8.一种激光加工方法,其特征在于:

9.一种激光加工装置,对于包含第1面和与所述第1面相反侧的第2面且在所述第1面侧与其它部件接合的晶片,将所述第2面作为入射面来照射激光,由此,在所述晶片上形成改性区域,所述激光加工装置的特征在于,包括:


技术总结
在激光加工装置(1)中,对经由器件层(150)与第2晶片(200)接合的第1晶片(100)照射激光L,进行激光加工。器件层(150)包含包括多个芯片的有源区域(160)和以包围有源区域(160)的方式位于有源区域(160)的外侧的周缘部(170)。而且,在激光加工中,通过沿着在该周缘部(170)上环状延伸的第1线(A1)照射激光(L),形成沿着第1线(A1)的第1改性区域(121)。由此,能够利用第1改性区域(121)和从第1改性区域(121)延伸的第1裂纹(131),进行将晶片的外缘部分作为不要部分(除去区域E)除去的切边。

技术研发人员:坂本刚志,是松克洋,杉浦银治
受保护的技术使用者:浜松光子学株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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