一种以S形试件为标准件快速定位其测量点的装置

一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置
技术领域
1.本实用新型涉及五轴数控机床加工误差测量技术，尤其涉及一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置。


背景技术：

2.目前，在利用s形试件对五轴数控机床加工误差进行评估测量时都是先由被评估机床对s形试件进行切削加工，在加工完成后不移动拆卸s形试件而是直接在五轴数控机床的工作台上对s形试件进行在机测量，此时对s形试件测量点的定位测量可直接按照s形试件相关标准中规定的测量点坐标值输入至数控程序中。
3.当需要将高精度机床加工的s形试件作为标准件用于评估次级精度的五轴数控机床加工精度时，s形试件的相应测量点的定位将难以实现。若使用记号笔等方式进行手动标定，不仅定位误差大且容易污染s形试件表面而使测量误差增大。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是：提出一种当以s形试件为标准件时可以快速定位其标准规定的测量点位置的装置。
5.为实现本实用新型之目的，采用以下技术方案予以实现：有s形试件，其特征在于：在s形试件的s形曲面表面刻有x方向标记线以及z方向标记线，发射水平方向光线的激光装置可以发射平行于s形试件底座平面的光线，发射竖直方向光线的激光装置可以发射垂直于s形试件底座平面的光线。
6.与现有技术相比较，本实用新型的有益效果是：由于该定位装置不会直接对试件对应测量点的表面进行刻画或标记，所以在对测量点进行误差测量时不会因为试件表面的污损破坏而产生相应的测量误差以影响测量精度。
附图说明
7.图1示意了s形标准件与激光装置的相对位置关系。
8.图2示意了发射水平方向光线的激光装置与发射竖直方向光线的激光装置发出的激光在s形标准件上的照射位置。
9.1：s形试件；2：x方向标记线；3：z方向标记线；4：发射水平方向光线的激光装置；5：发射竖直方向光线的激光装置；6：x方向激光光路；7：z方向激光光路。
具体实施方式
10.本实用新型的关键在于：在s形试件1的s形曲面表面刻有x方向标记线2以及z方向标记线3；所述的发射水平方向光线的激光装置4和发射竖直方向光线的激光装置5，在测量使用时可以随时移动与移除。
11.当需要进行测量点的定位时，如图附1所示，先开启发射水平方向光线的激光装置
4，确保x方向激光光路6嵌入z方向左右两端的标记线凹槽后再将发射竖直方向光线的激光装置5开启，并确保z方向激光光路7嵌入x方向上下两端的标记线凹槽。两条光线的交点处即为标准中指定的参考测量点位置。
12.当需要更换测量点时，如图附1所示，移动发射水平方向光线的激光装置4的x方向激光光路6至新的测量点位置，确保x方向激光光路6嵌入z方向左右两端的标记线凹槽处，再移动发射竖直方向光线的激光装置5的z方向激光光路7至新的测量点位置，确保z方向激光光路7嵌入x方向上下两端的标记线凹槽处即可。两条光线的交点处即为标准中指定的参考测量点位置。
13.当完成测量点的定位工作后，先将任意一个激光装置关闭并移除，再关闭另一个激光装置并移除即可。


技术特征：
1.一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，有：s形试件(1)，其特征在于：在s形试件(1)的s形曲面表面刻有x方向标记线(2)以及z方向标记线(3)，发射水平方向光线的激光装置(4)可以发射平行于s形试件底座平面的光线，发射竖直方向光线的激光装置(5)可以发射垂直于s形试件底座平面的光线。2.根据权利要求1所述的一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，其特征在于：所述的s形试件(1)的s形曲面表面刻有x方向标记线(2)以及z方向标记线(3)，其标记线是在高精度机床对s形试件进行加工过程中同时完成，标记线的宽度应大于0.1毫米并小于0.15毫米，标记线的长度应大于5毫米并小于10毫米。3.根据权利要求1所述的一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，其特征在于：所述的x方向标记线(2)位置需根据gb/t 39967-2021标准中规定的推荐测量点的x坐标值确定。4.根据权利要求1所述的一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，其特征在于：所述的z方向标记线(3)位置需根据gb/t 39967-2021标准中规定的推荐测量点的z坐标值确定。5.根据权利要求1所述的一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，其特征在于：所述的发射水平方向光线的激光装置(4)可以发射的光线直径应大于0.1毫米并小于0.15毫米。6.根据权利要求1所述的一种以s形试件为标准件快速定位其测量点的装置，其特征在于：所述的发射竖直方向光线的激光装置(5)可以发射的光线直径应大于0.1毫米并小于0.15毫米。

技术总结
一种以S形试件为标准件快速定位其测量点的装置，有：S形试件(1)，其特征在于：在S形试件(1)的S形曲面表面刻有X方向标记线(2)以及Z方向标记线(3)，发射水平方向光线的激光装置(4)可以发射平行于S形试件底座平面的光线，发射竖直方向光线的激光装置(5)可以发射垂直于S形试件底座平面的光线。当需要定位测量点时可以S形试件(1)上的X方向标记线(2)及Z方向标记线(3)为基准，通过水平、竖直方向两条激光的交点进行快速定位；当需要更换定位测量点时，只要移动发射水平方向光线的激光装置(4)的光线至新的测量点并移动发射竖直方向光线的激光装置(5)的光线至新的测量点即可。装置(5)的光线至新的测量点即可。装置(5)的光线至新的测量点即可。


技术研发人员：吴石 祁斐
受保护的技术使用者：哈尔滨理工大学
技术研发日：2022.04.01
技术公布日：2022/7/11