一种微观金相组织试样用抛光装置的制作方法

本技术属于金相试样抛光领域，涉及一种微观金相组织试样用抛光装置。

背景技术：

1、中国专利cn216504346u公开了一种高效率的金相试样抛光夹持装置，该装置通过将需要抛光的金相试样夹持在本装置的三爪卡盘上，然后将该装置通过凹槽固定在抛光机的边缘外壳处，紧密配合进行安装，之后调整手动螺母限制位于十字直角固定支架上方部分的螺栓的突出量，同时固定弹簧压缩量，从而防止装置被弹簧弹飞，通过被压缩的弹簧，给移动夹具轮恒定的压力，金相试样表面与抛光机上的抛光布表面紧密贴合，从而进行抛光处理。该装置在对金相试样进行抛光时，存在以下问题：一是，金相试样体积微小，将微小的金相试样放置与该装置的下端，然后再将该装置卡在抛光机的边缘，操作极为不便；二是，该装置对金相试样抛光去除的厚度，无法进行定量观察，可能会造成过度抛光，从而过度消耗金相试样；三是，金相试样与抛光机的位置固定，因此，会导致抛光机上的砂纸的边缘部位利用不够充分，进而造成浪费。

2、因此，本实用新型提供一种微观金相组织试样用抛光装置，解决以上问题。

技术实现思路

1、鉴于现有技术中所存在的问题，本实用新型公开了一种微观金相组织试样用抛光装置，采用的技术方案是，包括机架、夹持机构、金相试样以及抛光机；所述机架包括工作台，所述工作台的上表面后侧壁边缘安装z型支架板，所述z型支架板的上沿的中心开设圆孔，所述圆孔内活动设置圆板，所述圆板的中心开孔转动连接转轴，所述圆板的上表面圆周阵列设置固定柱，所述固定柱的上表面固定连接顶板，所述顶板的下表面的四个角分别固定安装所述固定柱，所述固定柱的下端与所述z型支架板的上沿的上表面固定连接，所述圆板的下端转动连接所述夹持机构，所述夹持机构包括滑轨，所述滑轨的上侧壁中心与所述转轴的下端固定连接，所述滑轨的上侧壁左右两端分别设置圆柱，左右所述圆柱分别穿过所述圆孔边缘与所述圆板边缘之间的缝隙，所述圆柱的顶部固定连接挡帽，所述滑轨上滑动连接滑块，所述滑块的下端螺纹连接固定座，所述固定座的下端固定连接套管，所述套管的前侧壁开设矩形滑槽，所述套管内滑动连接百分表固定结构，所述百分表固定结构与百分表的上端固定连接，所述百分表的下端触头与试样止压结构接触，所述试样止压结构的下端与所述金相试样的上表面接触，所述金相试样套装在所述套管的下端内部，所述金相试样的下端与所述抛光机的上表面接触，所述抛光机安装在所述工作台上；通过在z型支架板的上沿的下表面转动连接夹持机构，以及配合滑块和滑轨的作用，实现金相试样可以在下端的抛光机上表面的任意位置进行抛光处理，提高抛光机上表面的砂纸的利用率；同时，夹持机构采用套管，配合可以上下调节位置的表分表和试样止压结构，实现对金相试样抛光去除厚度的定量检测，避免过度抛光试样；另外，套管下端开设的半圆柱缺口，便于将金相试样快速放置在抛光机表面，通过上下调节百分表固定结构，实现对金相试样的压紧，操作简单便捷，提高效率。

2、作为本实用新型的一种优选方案，所述工作台的下表面的四个角分别固定连接支撑腿。

3、作为本实用新型的一种优选方案，所述z型支架板的上沿的下表面左右两侧边缘分别固定安装加强柱，所述加强柱的下端与所述工作台固定连接；通过设置加强柱，对z型支架板的上沿进行支撑，保证其机械强度，防止金相试样抛光的过程中，发生变形，造成误差。

4、作为本实用新型的一种优选方案，所述滑轨左右两端的下侧壁分别设置限位柱；通过左右设置限位柱，可以防止滑块从滑轨上脱落。

5、作为本实用新型的一种优选方案，所述矩形滑槽下端的管壁开设半圆柱缺口；通过开设半圆柱缺口，便于对金相试样的圆柱树脂进行放置和取出，提高安装的便捷性。

6、作为本实用新型的一种优选方案，所述百分表固定结构包括第一滑动柱，所述第一滑动柱的前侧壁设置衔接柱，所述衔接柱伸出所述矩形滑槽并与其滑动连接，所述衔接柱上螺纹连接锁紧螺母，所述衔接柱的前端固定连接固定环，所述固定环与所述百分表的上端固定连接；通过旋转锁紧螺母，可以实现百分表固定结构沿着矩形滑槽进行上下位置调节，便于百分表调整到合适的压缩量。

7、作为本实用新型的一种优选方案，所述试样止压结构包括第二滑动柱，所述第二滑动柱的前侧壁上端设置百分表顶柱，所述百分表顶柱伸出所述矩形滑槽并与其滑动连接，所述第二滑动柱的下端固定连接试样压柱；通过百分表下端顶住百分表顶柱，在其压力的作用下，第二滑动柱的下端固定连接的试样压柱将下部的金相试样顶紧在抛光机上。

8、作为本实用新型的一种优选方案，所述金相试样包括圆柱树脂，所述圆柱树脂的下表里面内嵌试样件。

9、本实用新型的有益效果：通过在z型支架板的上沿的下表面转动连接夹持机构，以及配合滑块和滑轨的作用，实现金相试样可以在下端的抛光机上表面的任意位置进行抛光处理，提高抛光机上表面的砂纸的利用率；同时，夹持机构采用套管，配合可以上下调节位置的表分表和试样止压结构，实现对金相试样抛光去除厚度的定量检测，避免过度抛光试样；另外，套管下端开设的半圆柱缺口，便于将金相试样快速放置在抛光机表面，通过上下调节百分表固定结构，实现对金相试样的压紧，操作简单便捷，提高效率。

技术特征：

1.一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：包括机架(1)、夹持机构(2)、金相试样(3)以及抛光机(4)；所述机架(1)包括工作台(11)，所述工作台(11)的上表面后侧壁边缘安装z型支架板(12)，所述z型支架板(12)的上沿的中心开设圆孔(121)，所述圆孔(121)内活动设置圆板(13)，所述圆板(13)的中心开孔转动连接转轴(131)，所述圆板(13)的上表面圆周阵列设置固定柱(14)，所述固定柱(14)的上表面固定连接顶板(15)，所述顶板(15)的下表面的四个角分别固定安装所述固定柱(14)，所述固定柱(14)的下端与所述z型支架板(12)的上沿的上表面固定连接，所述圆板(13)的下端转动连接所述夹持机构(2)，所述夹持机构(2)包括滑轨(21)，所述滑轨(21)的上侧壁中心与所述转轴(131)的下端固定连接，所述滑轨(21)的上侧壁左右两端分别设置圆柱(211)，左右所述圆柱(211)分别穿过所述圆孔(121)边缘与所述圆板(13)边缘之间的缝隙，所述圆柱(211)的顶部固定连接挡帽(212)，所述滑轨(21)上滑动连接滑块(22)，所述滑块(22)的下端螺纹连接固定座(23)，所述固定座(23)的下端固定连接套管(24)，所述套管(24)的前侧壁开设矩形滑槽(241)，所述套管(24)内滑动连接百分表固定结构(25)，所述百分表固定结构(25)与百分表(26)的上端固定连接，所述百分表(26)的下端触头与试样止压结构(27)接触，所述试样止压结构(27)的下端与所述金相试样(3)的上表面接触，所述金相试样(3)套装在所述套管(24)的下端内部，所述金相试样(3)的下端与所述抛光机(4)的上表面接触，所述抛光机(4)安装在所述工作台(11)上。

2.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述工作台(11)的下表面的四个角分别固定连接支撑腿(16)。

3.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述z型支架板(12)的上沿的下表面左右两侧边缘分别固定安装加强柱(17)，所述加强柱(17)的下端与所述工作台(11)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述滑轨(21)左右两端的下侧壁分别设置限位柱(213)。

5.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述矩形滑槽(241)下端的管壁开设半圆柱缺口(242)。

6.根据权利要求5所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述百分表固定结构(25)包括第一滑动柱(251)，所述第一滑动柱(251)的前侧壁设置衔接柱(252)，所述衔接柱(252)伸出所述矩形滑槽(241)并与其滑动连接，所述衔接柱(252)上螺纹连接锁紧螺母(253)，所述衔接柱(252)的前端固定连接固定环(254)，所述固定环(254)与所述百分表(26)的上端固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述试样止压结构(27)包括第二滑动柱(271)，所述第二滑动柱(271)的前侧壁上端设置百分表顶柱(272)，所述百分表顶柱(272)伸出所述矩形滑槽(241)并与其滑动连接，所述第二滑动柱(271)的下端固定连接试样压柱(273)。

8.根据权利要求1所述的一种微观金相组织试样用抛光装置，其特征在于：所述金相试样(3)包括圆柱树脂(31)，所述圆柱树脂(31)的下表里面内嵌试样件(32)。

技术总结
本技术涉及一种微观金相组织试样用抛光装置。采用的技术方案是：包括机架、夹持机构、金相试样以及抛光机；所述机架包括工作台，所述工作台的上表面后侧壁边缘安装Z型支架板，所述Z型支架板的上沿开孔设置圆板，所述圆板下端转动连接夹持机构，所述夹持机构包括滑轨，所述滑轨上滑动连接滑块，所述滑块的下端固定连接套管，所述套管的前侧壁开设矩形滑槽，所述套管内滑动连接百分表固定结构，所述百分表固定结构与百分表的上端固定连接，百分表的下端触头与试样止压结构接触，所述试样止压结构下端与金相试样接触，金相试样的下端与抛光机接触，所述抛光机安装在工作台上。本技术的有益效果：便于安装试样，定量监控，提高砂纸利用率。

技术研发人员：李浩,张珍,王华,张璐璐
受保护的技术使用者：西安未来检测技术有限公司
技术研发日：20221205
技术公布日：2024/1/12