本发明涉及探针打磨,具体涉及一种探针磨尖机及探针磨尖方法。
背景技术:
1、电路板自动测试过程中,测试装置通过控制探针接触被测电路板上的测试点提取信号完成测试。电路板上通常包含多个测试点,随着电路板技术的不断发展,电路板逐渐向高精度、高密度和高可靠性方向发展,体积不断缩小,电路板上相邻两测试点间距也同步缩小,因此对测试电路板的测试探针要求越来越高,测试探针主体直径要求尽可能小,便于测试探针密集安装、提高测试精度。现有技术中,将探针端部进一步打磨成锥形或弧形还可以进一步提高测试精度。由于探针主体较细,需要对探针尖端进行打磨,而探针逐个打磨效率较慢,生产效率较低。
技术实现思路
1、因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中探针逐个打磨效率慢、生产效率低的缺陷,从而提供一种探针磨尖机及探针磨尖方法。
2、为解决上述技术问题,本发明提供了一种探针磨尖机,包括:
3、机体,所述机体上设有上料仓、输送托板及收料仓;
4、分料拨轮,安装在所述机体上,且所述分料拨轮位于上料仓出口位置处,所述分料拨轮上开设有至少一个适于容纳探针的凹槽;
5、砂轮,转动安装在输送托板一侧并适于对经过的探针的尖端进行打磨;
6、输送带,所述输送带转动安装在所述分料拨轮上,所述输送带与输送托板之间形成探针的输送空间。
7、可选地,所述分料拨轮上开设有多个凹槽,多个所述凹槽沿分料拨块圆周表面均匀分布。
8、可选地,还包括有负压集尘仓,与所述砂轮的磨削位置相通。
9、可选地,还包括有修整器,所述修整器适于对砂轮的磨削位置进行修整。
10、可选地,所述修整器为金刚石笔。
11、可选地,所述金刚石笔通过驱动装置安装在机体上,所述驱动装置适于驱动金刚石笔抵接至砂轮的安装框上。
12、还提供了探针磨尖方法,包括上述的探针磨尖机,还包括以下步骤:
13、分料拨轮将探针拨至输送托板上,通过输送带带动探针进行移动,在探针移动的过程中,砂轮对探针尖端进行打磨,打磨后的探针收纳至收料仓中。
14、可选地,还包括通过金刚石笔对砂轮角度进行调整的步骤。
15、本发明技术方案,具有如下优点:
16、1.本发明提供的探针磨尖机,通过分料拨轮不断的将探针输送至输送托板上,探针在输送托板上进行移动的过程中,砂轮对探针的尖端进行打磨,输送托板上可以同时输送多个探针,提高探针的磨削效率及生产效率。
1.一种探针磨尖机,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的探针磨尖机,其特征在于,所述分料拨轮上开设有多个凹槽,多个所述凹槽沿分料拨块圆周表面均匀分布。
3.根据权利要求1所述的探针磨尖机,其特征在于,还包括有负压集尘仓,与所述砂轮的磨削位置相通。
4.根据权利要求1所述的探针磨尖机,其特征在于,还包括有修整器,所述修整器适于对砂轮的磨削位置进行修整。
5.根据权利要求4所述的探针磨尖机,其特征在于,所述修整器为金刚石笔。
6.根据权利要求4所述的探针磨尖机,其特征在于,所述金刚石笔通过驱动装置安装在机体上,所述驱动装置适于驱动金刚石笔抵接至砂轮的安装框上。
7.探针磨尖方法,包括权利要求1-6中任一项所述的探针磨尖机,其特征在于,还包括以下步骤:
8.根据权利要求7所述的探针磨尖方法,其特征在于,还包括通过金刚石笔对砂轮角度进行调整的步骤。