本发明属于微纳器件,具体涉及一种锡膜及其制备方法和微纳器件。
背景技术:
1、微纳器件是以微米乃至纳米为计算单位的器件,主要包括微纳电子器件、微纳光学器件、微纳光电器件等。微纳器件中基片和电子元器件之间的连接方式之一是焊接,而锡具有熔点低的特点,可以用于微纳器件的加工焊料使用。
2、相关技术中在基片表面镀锡膜的方法主要有三种:热浸镀法、电镀法和磁控溅射法。在半导体领域需求高质量低厚度的锡薄膜,但以上三种常见的镀锡方法都有各自的缺点,其中热浸镀法用锡量大,外观易产生锡渣、锡瘤,而且极容易产生厚度不均、偏心严重等不良影响;电镀法易产生镀层较厚、毛刺、丝状触须等问题;磁控溅射镀膜设备结构复杂,造价较高,并且因为锡的熔点较低,磁控溅射镀膜时需要设置较低的功率而导致锡膜沉积速率缓慢。
技术实现思路
1、本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本发明的实施例提出一种锡膜及其制备方法和微纳器件。
2、本发明实施例的锡膜的制备方法,包括以下步骤:
3、(1)将清洗干净的基片固定在电子束蒸镀设备的转台脚棒支架上;将装有锡膜料的蒸发舟安装至电子枪正负电极之间的转盘上,并用遮板盖住所述蒸发舟;
4、(2)将真空室抽真空,然后通入惰性气体,再将所述蒸发舟加热至预设温度,所述预设温度为100~150℃;
5、(3)待所述电子枪的束流达到目标束流时打开所述遮板进行蒸镀,所述目标束流为0.02~0.15a;
6、(4)当锡膜的厚度达到目标膜厚时结束蒸镀。
7、本发明实施例的锡膜的制备方法带来的优点和技术效果为:
8、(1)本发明实施例采用电子束蒸镀的方法制备锡膜,相比于相关技术中的镀锡方法,可以有效解决了锡膜外观上的缺陷,并制备较为均匀的薄膜,提高了锡膜的质量;
9、(2)本发明实施例的制备工艺简单,镀膜用锡量小,电子束蒸镀设备结构简单,成本低廉,生产效率高,可以有效地保证在较低成本下完成锡膜的制备;
10、(3)本发明实施例整个生产过程无有害物质排放,绿色环保。
11、在一些实施例中,步骤(1)中,所述基片的旋转速率为5~20rpm。
12、在一些实施例中,步骤(2)中,所述预设温度为120~150℃。
13、在一些实施例中,步骤(2)中,将所述真空室抽真空至10-3~10-5pa,然后通入惰性气体至0.2~0.8pa。
14、在一些实施例中,步骤(3)中,所述目标束流为0.06~0.12a。
15、在一些实施例中,步骤(3)中,待所述电子枪的束流达到目标束流并稳定后打开所述遮板进行蒸镀。
16、在一些实施例中,步骤(3)中,所述电子枪的束流分多阶段上升,直至所述电子枪的束流达到目标束流后打开所述遮板进行蒸镀。
17、在一些实施例中,步骤(4)中,所述目标膜厚为190~210nm。
18、本发明实施例还提供了一种锡膜,通过本发明实施例的锡膜的制备方法制备得到。
19、本发明实施例的锡膜带来的优点和技术效果为:
20、相对于使用相关技术中的制备方法获得的锡膜,本发明实施例的锡膜均匀性更好,且没有明显的外观缺陷。
21、本发明实施例还提供了一种微纳器件,包括本发明实施例的锡膜。
22、本发明实施例的微纳器件带来的优点和技术效果为:
23、由于锡膜均匀性更好,且没有明显的外观缺陷,大大提高了焊接效果,使得本发明实施例的微纳器件中各电子元件与基片之间接触性良好。
1.一种锡膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述基片的旋转速率为5~20rpm。
3.根据权利要求1所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述预设温度为120~150℃。
4.根据权利要求1或3所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,将所述真空室抽真空至10-3~10-5pa,然后通入惰性气体至0.2~0.8pa。
5.根据权利要求1所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,所述目标束流为0.06~0.12a。
6.根据权利要求1或5所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,待所述电子枪的束流达到目标束流并稳定后打开所述遮板进行蒸镀。
7.根据权利要求1或5所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,所述电子枪的束流分多阶段上升,直至所述电子枪的束流达到目标束流后打开所述遮板进行蒸镀。
8.根据权利要求1所述的锡膜的制备方法,其特征在于,步骤(4)中,所述目标膜厚为190~210nm。
9.一种锡膜,其特征在于,通过权利要求1-8任一项所述的制备方法制备得到。
10.一种微纳器件,其特征在于,包括权利要求9所述的锡膜。