电子束蒸镀预熔Pt的方法与流程

文档序号:36965861发布日期:2024-02-07 13:12阅读:22来源:国知局
电子束蒸镀预熔Pt的方法与流程

本发明涉及led芯片领域,具体地说,尤其涉及一种电子束蒸镀预熔pt的方法。


背景技术:

1、led作为第四代照明由于其功耗低、体积小、可靠性高、寿命高等优点,被广泛应用在车灯、显示、背光乃至光通信等领域。随着led应用领域的不断发展,led芯片的可靠性和散热性需要达到更高的标准,其中电极蒸镀膜层的稳定性直接影响了led芯片的散热性和可靠性。

2、常见电极制备多采用cr/al/ti/ni/pt/au等金属,通过电子束蒸镀制作电极结构。其中pt层镀膜时使用的材料为pt颗粒,需先手动将pt在坩埚中进行熔药,熔药完成后使用pt坩埚进行蒸镀;坩埚内pt颗粒预熔的好坏直接影响后续镀膜过程的稳定性,现有技术中公开号cn110551977a的申请公开了一种蒸镀用硅预熔方法,其方法包括a)将坩埚表面进行打磨,打磨后用去离子水进行冲洗,冲洗后用无水乙醇清洗;b)将坩埚用氮气吹干;c)初熔操作;d)复熔操作;e)终熔操作。但其初熔pt颗粒仍然会在蒸镀过程中出现溅源,并且功耗很大。目前正缺少一种功耗更少,溅源异常率更低的电子束蒸镀预熔pt的方法。


技术实现思路

1、本发明的目的,在于提供一种电子束蒸镀预熔pt的方法,以解决现有技术中硅预熔方法功耗高,溅源异常率高的问题。

2、本发明是通过以下技术方案实现的:

3、一种电子束蒸镀预熔pt的方法,包括以下步骤:

4、s1、坩埚内加入pt颗粒,抽真空,打开电子束;

5、s2、设定电子束光斑点位为坩埚中心;设定预熔功率为10%,预熔时间1min;

6、s3、电子束光斑位置不变,预熔功率设定为20%,预熔时间1min;

7、s4:将电子束光斑位置设定在坩埚上方1/4处,保持预熔功率为20%,预熔时间为1min;

8、s5:将电子束光斑位置设定在坩埚右方1/4处,保持预熔功率为20%,预熔时间为1min;

9、s6:将电子束光斑位置设定在坩埚下方1/4处,保持预熔功率为20%,预熔时间为1min;

10、s7:将电子束光斑位置设定在坩埚左方1/4处,保持预熔功率为20%,预熔时间为1min;

11、s8:将电子束光斑位置设定调回至s3位置处,保持预熔功率为20%,预熔时间为30s,增加电子枪光斑扫描范围,光斑扫描面积设定为坩埚半径的20%-30%;

12、s9:关闭电子束,冷却后破真空。

13、进一步地,所述的步骤s1中加入的pt颗粒重量小于80g。

14、进一步地,所述的步骤s1中,抽真空时,保证机台腔体真空度抽至1.0e-6torr以下。

15、进一步地,所述的步骤s1中,将坩埚放入烘箱中烘烤。

16、进一步地,所述的步骤s4-s8的电子光束扫描都是由内向外进行扩展。

17、进一步地,所述的电子束光斑位置划分成不同半径的多个光斑范围,根据光斑范围的半径从大到小依次进行电子束扫描,且预熔功率随着光斑范围半径的减小而减小;缩小至最小范围后,再根据光斑范围的半径从小到大依次进行电子束扫描,且预熔功率随着光斑范围半径的增大而增大。

18、进一步地,所述的光斑范围的半径最大使预熔功率为25%,随着光斑范围的缩小,预熔功率随之线性减少至15%。

19、进一步地,所述的光斑范围从大到小的时间为25-35s,所述的光斑范围从小到大的时间为25-35s。

20、与现有技术相比,本发明的有益效果是:

21、本发明采用五点预熔的方式,将代替直接增大电子束扫描面积的传统方法,降低因人员操作方法的差异发生溅源异常的概率,提高pt层镀膜时的稳定性;根据在上述电子束选区熔化的预热扫描方法确定电子束光斑的中心,通过对光斑范围区域划分,以不同的预熔功率在不同区域进行快速扫描预热,最终获得均匀的温度场,提高成形质量。



技术特征:

1.一种电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的步骤s1中加入的pt颗粒重量小于80g。

3.根据权利要求1或2所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的步骤s1中,抽真空时,保证机台腔体真空度抽至1.0e-6torr以下。

4.根据权利要求1所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的步骤s1中,将坩埚放入烘箱中烘烤。

5.根据权利要求1所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的步骤s4-s8的电子光束扫描都是由内向外进行扩展。

6.根据权利要求5所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的电子束光斑位置划分成不同半径的多个光斑范围,根据光斑范围的半径从大到小依次进行电子束扫描,且预熔功率随着光斑范围半径的减小而减小;缩小至最小范围后,再根据光斑范围的半径从小到大依次进行电子束扫描,且预熔功率随着光斑范围半径的增大而增大。

7.根据权利要求6所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的光斑范围的半径最大使预熔功率为25%,随着光斑范围的缩小,预熔功率随之线性减少至15%。

8.根据权利要求6所述的电子束蒸镀预熔pt的方法,其特征在于:所述的光斑范围从大到小的时间为25-35s,所述的光斑范围从小到大的时间为25-35s。


技术总结
本发明公开了一种电子束蒸镀预熔Pt的方法,它属于LED芯片领域,其解决了现有技术中硅预熔方法功耗高,溅源异常率高的问题。它本发明采用五点预熔的方式,在围绕坩埚中心上下左右四个范围进行区域加热,Pt颗粒在均匀受热后的坩埚内,缓慢熔化,可以使Pt颗粒保持液相并有效填充坩埚壁上的微观孔洞,避免后续使用过程孔洞引起崩溅问题,提高Pt层镀膜时的稳定性。

技术研发人员:朱帅,章焱
受保护的技术使用者:湖南蓝芯微电子科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/6
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