记录系统的制作方法

1.本发明涉及记录系统。


背景技术：

2.以往公开了如下构成：推测在处理托盘上形成的片材摞的重量，若推测为片材摞重，则以与推测为片材摞轻时相比增大输送片材摞时的每单位时间的输送力的方式控制片材移动单元。根据该构成，即使在片材摞的重量大的情况下，也能够可靠地将片材摞排出至堆叠托盘。
3.专利文献1：日本特开2019-137518号公报


技术实现要素：

4.但是，在现有文献中，仅考虑了在处理托盘上形成的片材摞的排出性，并没有记载关于处理排出后的片材摞的内容。
5.关于利用喷墨式打印机形成了图像的片材，即使在排出至堆叠托盘上之后，片材摞的重量也成为问题，有时根据片材摞的重量无法正常地控制可动式的堆叠托盘，存在片材的对齐性劣化这一技术问题。
6.记录系统具备：排出部，排出被喷出液体而进行了记录的介质；积载部，积载通过所述排出部排出的介质；升降部，使所述积载部进行升降；控制部，控制所述升降部；以及推测部，推测积载于所述积载部的介质的重量，所述控制部根据通过所述推测部推测出的介质的重量来控制所述积载部的升降动作。
附图说明
7.图1是第一实施方式涉及的记录系统的剖视图。
8.图2是第一实施方式涉及的记录单元和后处理装置的框图。
9.图3是第一实施方式涉及的介质积载装置的立体图。
10.图4a是第一实施方式涉及的上表面检测传感器的侧视图。
11.图4b是第一实施方式涉及的上表面检测传感器的侧视图。
12.图5a是第一实施方式涉及的升降机构的升降动作的流程图。
13.图5b是第一实施方式涉及的升降机构的升降动作的流程图。
14.图6是第二实施方式涉及的升降机构的升降动作的流程图。
15.图7是第三实施方式涉及的升降机构的升降动作的流程图。
16.图8是第四实施方式涉及的升降机构的升降动作的流程图。
17.附图标记说明
[0018]1…
记录系统、2
…
记录单元、3
…
中间单元、5
…
后处理装置、10
…
打印机部、11
…
扫描仪部、12
…
介质收纳盒、13
…
记录后排出托盘、14
…
盒收纳部、19
…
操作部、20
…
行式头、21
…
供给路径、22
…
第一排出路径、23
…
第二排出路径、24
…
翻转用路径、25
…
控制部、30
…
接受路径、31
…
第一切换路径、32
…
第二切换路径、33
…
合流路径、35
…
分叉部、36
…
合流部、39
…
介质积载装置、40
…
积载托盘、40a
…
基座部、40b
…
延伸部、41
…
接受部、42
…
端装订部、43
…
第一输送路径、45
…
第二输送路径、46
…
打孔处理部、47
…
后处理部、48
…
处理托盘、49
…
上部托盘、51
…
推测部、52
…
存储部、53
…
接收部、62
…
第一排出部、63
…
第二排出部、75
…
引导框架、76
…
驱动带、77a、77b
…
升降引导件、78
…
升降机构、79
…
传递轴、80
…
上表面检测传感器、81
…
标志、81a
…
前端部、81b
…
被检部部、82
…
光遮断器、83
…
旋转轴、90
…
下限传感器、91
…
发光部、92
…
受光部、d
…
分叉部、p
…
介质、t1
…
第一阈值、t2
…
第二阈值、t3
…
第三阈值、z
…
重量。
具体实施方式
[0019]
1.第一实施方式
[0020]
首先，对第一实施方式进行说明。作为一例，图1所示的记录系统1从图1的右侧朝向左侧依次具备记录单元2、中间单元3以及后处理装置5。
[0021]
记录单元2在被输送的介质p上进行记录。中间单元3从记录单元2接受记录后的介质p并交接至后处理装置5，主要发挥使介质p翻转的功能、促进介质p的干燥的功能。后处理装置5中设置有端装订部42，端装订部42进行使记录单元2中的记录后的介质p成摞并对端部进行装订的端装订处理。
[0022]
下面，按记录单元2、中间单元3、后处理装置5的顺序详细进行说明。
[0023]
此外，在各图的xyz坐标系中，x方向为装置进深方向，y方向为装置宽度方向，z方向为装置高度方向。x方向、y方向和z方向相互正交。
[0024]
在装置进深方向中，在区分跟前和深处时，将跟前称为+x方向，将深处称为-x方向。在装置宽度方向中，在区分左和右时，将左称为+y方向，将右称为-y方向。在装置高度方向中，在区分上和下时，将上称为+z方向，将下称为-z方向。
[0025]
记录单元2构成为具备打印机部10和扫描仪部11的复合机，打印机部10具备作为在介质p上进行记录的记录部的行式头20。在本实施方式中，行式头20构成为向介质p喷出作为液体的一例的油墨进行记录的、所谓喷墨式的记录头。
[0026]
打印机部10的下部设置有具备多个介质收纳盒12的盒收纳部14。介质收纳盒12中收纳的介质p通过实线所示的供给路径21而被输送至行式头20的记录区域，进行记录动作。利用行式头20记录后的介质p被输送至第一排出路径22和第二排出路径23中的任意一个，第一排出路径22是用于将介质p排出至设置于行式头20上方的记录后排出托盘13的路径，第二排出路径23是用于将介质p输送至中间单元3的路径。
[0027]
在图1中，用虚线表示第一排出路径22，用点划线表示第二排出路径23。第二排出路径23沿记录单元2的+y方向延伸设置，将介质p交接至相邻的中间单元3的接受路径30。
[0028]
另外，记录单元2具备在图1中用双点划线表示的翻转用路径24，并构成为能够在对介质p的第一面进行记录之后将介质p翻转而对第二面进行记录的双面记录。此外，在供给路径21、第一排出路径22、第二排出路径23以及翻转用路径24的每一个中，作为输送介质p的单元的一例，配置有一对以上的省略图示的辊对。
[0029]
在记录单元2中，设置有对记录单元2中与介质p的输送或记录相关的动作进行控制的控制部25。此外，记录系统1构成为：记录单元2、中间单元3、后处理装置5相互机械连接
及电连接，能够将介质p从记录单元2输送至后处理装置5。此外，本实施方式中的控制部25能够进行与记录单元2连接的中间单元3、后处理装置5中的各种动作的控制。
[0030]
记录单元2具备操作部19，并构成为能够从操作部19输入与记录单元2、中间单元3、后处理装置5中的各种处理相关的各种设定及执行指令。另外，操作部19具备显示面板(未图示)，并构成为能够在该显示面板显示各种信息。
[0031]
此外，在记录系统1上连接有外部计算机(未图示)的情况下，在该外部计算机中，能够进行与利用操作部19进行的各种设定或执行指令同样的各种设定或执行指令。
[0032]
接着，使用图2的框图对控制构成进行说明。
[0033]
记录单元2具备控制部25、存储部52以及接收部53。接收部53从外部接收用于指示执行记录的记录指令和用于表示记录内容的记录数据。
[0034]
控制部25由处理器等构成，按照存储部52中存储的控制程序进行动作，根据接收部53接收到的记录数据控制行式头20进行记录。另外，控制部25作为通过控制程序实现的功能块而具有推测部51。推测部51根据接收部53接收到的记录数据推测介质p的重量。存储部52由半导体存储器等构成，存储上述控制程序，并存储未记录状态的介质p的重量等。
[0035]
另外，后处理装置5具备后处理部47和介质积载装置39，详细内容在下文中描述。介质积载装置39具有升降机构78、上表面检测传感器80以及下限传感器90。上表面检测传感器80包括发光元件和受光元件呈一体构成的光遮断器82，下限传感器90构成为包括发光部91和受光部92。另外，后处理部47包括打孔处理部46及端装订部42。记录单元2的控制部25构成为能够控制后处理部47和升降机构78。
[0036]
接着，对中间单元3进行说明。图1所示的中间单元3将从记录单元2接受的介质p交接至后处理装置5。中间单元3配置于记录单元2与后处理装置5之间。在记录单元2的第二排出路径23中输送的介质p从接受路径30被中间单元3接受，然后朝向后处理装置5输送介质p。需要说明的是，接受路径30在图1中用双点划线表示。
[0037]
在中间单元3中，输送介质p的输送路径有两个。第一个输送路径是从接受路径30经过图1中点线所示的第一切换路径31向合流路径33输送的路径。第二个输送路径是从接受路径30经过图1中双点划线所示的第二切换路径32向合流路径33输送的路径。
[0038]
第一切换路径31是在沿箭头a1方向接受到介质p之后，使介质p切换到箭头a2方向的路径。第二切换路径32是在沿箭头b1方向接受到介质p之后，使介质p切换到箭头b2方向的路径。
[0039]
接受路径30在分叉部35处分叉为第一切换路径31和第二切换路径32。分叉部35设置有将介质p的输送目的地切换为第一切换路径31和第二切换路径32中的任意一个的未图示的挡板。
[0040]
另外，第一切换路径31和第二切换路径32在合流部36合流。因此，无论介质p从接受路径30被输送至第一切换路径31或第二切换路径32的哪一个，都能够经过共用的合流路径33将介质p交接至后处理装置5。
[0041]
中间单元3从记录单元2以使距行式头20最近的记录面朝上的状态将介质p接受至接受路径30，但在合流路径33处介质p被弯曲翻转，成为最近的记录面朝下的状态。
[0042]
因此，最近的记录面朝下的状态的介质p从中间单元3的+y方向被交接至后处理装置5的第一输送路径43。
[0043]
此外，在接受路径30、第一切换路径31、第二切换路径32以及合流路径33的每一个中，作为输送介质p的单元的一例，配置有一个以上的省略图示的辊对。
[0044]
在记录单元2中，对多个介质p连续进行记录时，进入中间单元3的介质p被交替输送至通过第一切换路径31的输送路径和通过第二切换路径32的输送路径。由此，能够提高中间单元3中的介质输送的通过量。
[0045]
另外，在像本实施方式的行式头20那样为向介质p喷出液体(具体为油墨)进行记录的构成的情况下，若在后级的后处理装置5中进行处理时介质p湿润，则存在记录面摩擦、或者介质p的对齐性不良的情况。
[0046]
通过将记录后的介质p从记录单元2经由中间单元3交接至后处理装置5，能够延长记录后的介质p被输送至后处理装置5为止的输送时间，从而能够在到达后处理装置5之前使介质p更加干燥。
[0047]
接着，对后处理装置5进行说明。图1所示的后处理装置5在-y方向的下方具备从中间单元3接受介质p的接受部41。在中间单元3的合流路径33中输送的介质p从接受部41进入后处理装置5内。
[0048]
后处理装置5具备对从接受部41接受的介质p进行处理的端装订部42。
[0049]
后处理装置5具备将从接受部41接受的介质p向端装订部42输送的第一输送路径43。
[0050]
端装订部42是进行例如对介质p的单侧的角部或介质p的单侧的一边等介质p的端部进行装订的端装订处理的构成部。作为一例，端装订部42构成为具备装订机。
[0051]
另外，后处理装置5具备对从接受部41接受的介质p进行打孔处理的打孔处理部46。打孔处理部46设置于供由后处理装置5接受的介质p通过的第一输送路径43的、靠近接受部41的位置，并构成为能够在第一输送路径43的上游执行打孔处理。此外，对于从接受部41接受的介质p，既可以通过打孔处理部46实施打孔处理，也可以不实施打孔处理。
[0052]
从接受部41接受的介质p能够通过图1所示的第一输送路径43向处理托盘48输送。在处理托盘48中，介质p以对齐输送方向的后端的方式堆叠于处理托盘48。若在处理托盘48堆叠了预定张数的介质p，则能够通过端装订部42对介质p的后端进行端装订处理。后处理装置5具备作为向+y方向排出介质p的排出部的第一排出部62。此外，后处理装置5除了第一排出部62之外还具备后述的第二排出部63，并构成为也能够从它们排出介质p。
[0053]
由端装订部42处理后的介质p通过未图示的排出单元从第一排出部62被排出至后处理装置5的壳体外，然后积载于作为构成介质积载装置39的积载部的积载托盘40。
[0054]
积载托盘40从后处理装置5向+y方向突出设置。在本实施方式中，积载托盘40具备基座部40a和延伸部40b，延伸部40b被构成为能够收纳于基座部40a。
[0055]
后处理装置5的上部设置有上部托盘49，通过未图示的排出单元从上述第二排出部63向上部托盘49排出介质p。在从第一输送路径43的中途的分叉部d至第二排出部63之间设置有第二输送路径45，从接受部41接受的介质p能够经由第二输送路径45排出至上部托盘49而不经由端装订部42。
[0056]
接着，对后处理装置5所具备的介质积载装置39进行说明。
[0057]
图3是表示在介质积载装置39中使积载托盘40升降的构成整体的图，具备位于相对于积载托盘40偏向-x方向的位置的升降引导件77a和位于相对于积载托盘40偏向+x方向
的位置的升降引导件77b。升降引导件77a、77b以在z轴方向上延伸设置的引导框架75为基体，在该引导框架75上组装多个结构元件而成。
[0058]
升降引导件77a、77b上沿z轴方向设置有驱动带76，通过该驱动带76朝向上升方向及下降方向牵引积载托盘40。此外，在本实施方式中，积载托盘40的上升方向为+z方向，下降方向为-z方向。另外，x轴方向为积载托盘40的宽度方向。
[0059]
在升降引导件77a、77b中，升降引导件77a的下侧设置有作为升降部的升降机构78。升降机构78具有作为驱动源的电机，通过该电机驱动驱动带76，使积载托盘40进行升降。此外，升降引导件77a与升降引导件77b之间设置有传递轴79，通过该传递轴79将升降机构78的动力传递至升降引导件77b侧。在本实施方式中，作为升降机构78的电机使用步进电机，但也可以使用dc电机等其他方式的电机。在本实施方式中，控制部25通过控制升降机构78而使积载托盘40进行升降。
[0060]
在介质积载装置39的积载托盘40的上方设置有上表面检测传感器80，但在图3中省略了图示。
[0061]
如图4a及图4b所示，上表面检测传感器80构成为能够检测积载于积载托盘40上的介质p的上表面的位置。更为详细而言，上表面检测传感器80在积载托盘40上积载有介质p时检测该介质p的上表面，在积载托盘40上没有积载介质p时检测积载托盘40本身的上表面。以下，将积载托盘40本身的上表面以及积载托盘40上积载的介质p的上表面双方称为积载托盘40上的介质p的上表面。
[0062]
如上所述，控制部25通过控制升降机构78而使积载托盘40进行升降。控制部25通过使用上表面检测传感器80的检测结果控制升降机构78，从而将积载托盘40上的介质p的上表面与第一排出部62的距离保持固定。
[0063]
上表面检测传感器80构成为包括标志81和光遮断器82。标志81构成为能够以旋转轴83为中心进行摆动。另外，标志81构成为包括与积载托盘40上的介质p的上表面接触的前端部81a和通过光遮断器82检测的被检测部81b。
[0064]
控制部25能够根据光遮断器82的检测结果掌握标志81的状态。
[0065]
前端部81a构成为通过以旋转轴83为中心进行转动，能够摆动至进入积载托盘40上的进入位置(参照图4a)和从积载托盘40上退避的退避位置(参照图4b)。
[0066]
前端部81a在介质p被排出至积载托盘40上之后向进入位置移动，在后续的介质p被排出之前向退避位置移动。在进入位置，前端部81a与积载托盘40上的介质p的上表面抵接，随着积载托盘40的升降动作进行转动。
[0067]
控制部25随着从第一排出部62排出介质p而使积载托盘40上下升降，根据上表面检测传感器80的检测结果决定待机位置。这里的待机位置是指接受从第一排出部62排出的介质p的积载托盘40的位置、即积载托盘40的高度。
[0068]
下面，对决定积载托盘40的待机位置的待机位置决定动作进行说明。
[0069]
首先，当介质p被积载于积载托盘40上时，控制部25使上表面检测传感器80的前端部81a向进入位置进入，并与介质p的上表面抵接。控制部25获取上表面检测传感器80与介质p的上表面接触时的光遮断器82的检测结果。
[0070]
当光遮断器82的检测信号为on，也就是说光遮断器82检测到被检测部81b时，控制部25不变更积载托盘40的位置。
[0071]
另一方面，当光遮断器82的检测信号为off，也就是说光遮断器82未检测到被检测部81b时，控制部25使积载托盘40的位置向下方下降。这是因为，可以判断为通过积载介质p而使积载托盘40上的介质p的上表面与第一排出部62的距离变窄。
[0072]
在使积载托盘40向下方下降的过程中，光遮断器82的检测信号从off切换为on，然后从on切换为off。控制部25根据该从on向off的切换而使积载托盘40停止下降。
[0073]
然后，控制部25使积载托盘40上升，直到光遮断器82的检测信号从off变为on为止，并根据变为on而使积载托盘40停止上升。以上是待机位置决定动作。
[0074]
这样，控制部25根据上表面检测传感器80的检测结果进行由使积载托盘40下降的下降动作和使积载托盘40上升的上升动作构成的待机位置决定动作，以将积载托盘40上的介质p的上表面保持在预定的位置、即预定的高度。
[0075]
通过该待机位置决定动作，积载托盘40上的介质p的上表面与第一排出部62的距离被保持为大致固定，能够降低在排出介质p时对齐性劣化的可能性。
[0076]
这里，作为检测积载托盘40上的介质p的上表面的上表面检测传感器80，使用了由标志81和光遮断器82构成的传感器，但并不限于此，也可以使用其他的传感器进行上表面检测。
[0077]
返回图3，介质积载装置39设置有下限传感器90。下限传感器90是构成为包括设置于升降引导件77a的发光部91和设置于升降引导件77b的受光部92的透射型传感器。
[0078]
下限传感器90设置于升降引导件77a、77b的下方，并构成为能够根据受光部92的受光状态检测积载托盘40已达到下限位置。
[0079]
构成为通过上表面检测传感器80检测到积载托盘40上的介质p的上表面，使得介质p的上表面配置于预定的位置。
[0080]
换言之，随着积载于积载托盘40的介质p增加，积载托盘40的位置朝向下方移动。
[0081]
因此，随着介质p被排出至积载托盘40上，积载托盘40朝向下方移动，最终将来自发光部91的光遮住。由此，受光部92接收不到来自发光部91的光，下限传感器90的检测结果发生变化。控制部25根据该检测结果的变化判断为积载托盘40已达到下限位置。也就是说，判断为积载托盘40上的介质p已达到积载上限。
[0082]
这样，根据下限传感器90的检测结果监视积载托盘40的积载上限。这里，通过下限传感器90监视积载托盘40的积载上限，但也可以通过对排出至积载托盘40上的介质p的张数进行计数来监视积载上限。
[0083]
这样，构成为对积载于积载托盘40的介质p的上限通过预定方法进行监视，积载托盘40在该监视下进行动作。
[0084]
然而，在利用本实施方式的记录单元2那样的喷墨打印机进行记录时，有时上述那样的积载上限的监视方法不够充分。当利用喷墨打印机在介质p上进行了记录时，在未记录状态的介质p的重量加上油墨的重量，即为介质p的重量。也就是说，越是被喷出的油墨量多的介质p，介质p的重量就越重。因此，当油墨量多而导致在积载托盘40上过量积载了重的介质p时，也会对使积载托盘40升降的升降机构78施加负荷，从而有可能无法适当地控制积载托盘40的升降动作。由此，积载托盘40上的介质p的上表面与第一排出部62的距离发生变化，对齐性有可能劣化。另外，存在积载托盘40的升降机构78破损、或者施加设想以上的负荷而产生异响的可能性。
[0085]
因此，在本发明中，对将喷出至介质p上的油墨的重量考虑在内的介质p的重量进行推测，并进行积载托盘40的控制。由此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且，能够减少升降机构78的破损或异响的产生。
[0086]
下文中的介质p的重量为将喷出至介质p上的油墨的重量考虑在内的介质p的重量。另外，未将喷出至介质p上的油墨的重量考虑在内的介质p的重量为未记录状态的介质p的重量。
[0087]
为了推测积载于积载托盘40的介质p的重量，使用推测部51。推测部51对通过行式头20喷出至介质p上的油墨量进行推测，并根据油墨量推测油墨的重量。然后，通过在未记录状态的介质p的重量上加上油墨的重量，从而推测介质p的重量。
[0088]
具体而言，为了推测通过打印机部10喷出的油墨的重量，推测部51参照通过接收部53接收到的记录数据。然后，从记录数据获取用于记录的油墨的点(dot)数。
[0089]
推测部51通过将用于记录的油墨的点(dot)数与每一点(dot)的油墨的重量相乘而算出喷出至介质p的油墨的重量，并将其推测为油墨的重量。此时，每一点(dot)的油墨的重量也可以根据点(dot)的大小来单独进行设定。
[0090]
另外，在进行双面记录时，按表面和背面分别算出油墨的重量，并将其相加后的重量推测为油墨的重量。
[0091]
然后，推测部51通过在未记录状态的介质p的重量上加上油墨的重量，从而将其推测为介质p的重量。
[0092]
这里的未记录状态的介质p的重量根据纸张种类或纸张尺寸而不同，因此，优选根据被记录的介质p的纸张种类或纸张尺寸变更未记录状态的介质p的重量。此时，也可以通过仅使用介质p的纸张种类或纸张尺寸的任意一方来推测未记录状态的介质p的重量。
[0093]
推测部51可以通过推测每张介质p的重量，且每当在积载托盘40上积载介质p时便将其重量相加，从而推测积载托盘40上的介质p的总重量。下面，将积载于积载托盘40上的介质p的总重量称为积载托盘40上的介质p的重量。
[0094]
控制部25根据通过推测部51推测出的积载托盘40上的介质p的重量来控制积载托盘40的升降动作。
[0095]
这里，当判断为积载于积载托盘40上的介质p的重量将达到阈值以上时、或者已达到阈值以上时，控制部25对积载托盘40的升降动作进行限制。在本实施方式中，升降动作的限制是指禁止升降动作。
[0096]
由此，在施加了设想以上的负荷的状态下积载托盘40不会进行动作，因此，能够降低无法适当地控制积载托盘40的升降动作而使积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的可能性。
[0097]
另外，能够减少在达到积载托盘40的积载上限之前升降机构78破损、或者发生异响。
[0098]
下面，根据图5a及图5b的流程图对具体的动作进行说明。
[0099]
当用户指示开始记录，接收部53接收到记录指示和与该记录指示对应的作业的记录数据时，推测部51获取接收部53接收到的记录数据(步骤s101)。然后，从获取到的记录数据获取下一个从第一排出部62排出的介质p的记录数据(步骤s102)。推测部51从该记录数据中推测纸张种类及纸张尺寸的至少一方，并通过参照存储部52推测未记录状态的介质p
的重量(步骤s103)。
[0100]
在推测出未记录状态的介质p的重量之后，推测部51根据记录数据推测喷出的油墨的重量(步骤s104)。然后，通过在步骤s103中获取到的未记录状态的介质p的重量加上步骤s104中获取到的油墨的重量，从而推测介质p的重量(步骤s105)。然后，控制部25将介质p排出至积载托盘40上(步骤s106)。然后，推测部51通过在已排出至积载托盘40上的介质p的重量加上步骤s105中获取到的介质p的重量，从而算出积载托盘40上的介质p的重量(步骤s107)。
[0101]
这里，控制部25判断在步骤s106中推测部51算出的积载托盘40上的介质p的重量是否为阈值以上(步骤s108)。
[0102]
当在步骤s108的判断中判断为积载托盘40上的介质p的重量在阈值以上时，控制部25进行积载托盘40的下降动作，直到积载托盘40达到下限为止，即直到下限传感器90检测到积载托盘40为止(步骤s112)。在该下降动作中，控制部25对积载托盘40达到下限为止的时间进行计数，并将该值作为计数值。
[0103]
该动作是用于掌握积载托盘40的位置的动作，且是用于确认用户是否拿走积载托盘40上的介质p的动作。当用户拿走了积载托盘40上的介质p时，通过待机位置决定动作使积载托盘40上升，并且，积载托盘40上可积载的介质p的张数也增加。然而，由于控制部25根据推测部51的推测结果进行判断，因此，可能发生误判断为积载托盘40上的介质p的重量在阈值以上的情况。因此，控制部25通过进行掌握积载托盘40的位置的动作，从而判断用户是否拿走积载托盘40上的介质p。具体而言，当计数值在预定值以上时，也就是积载托盘40向下方下降了设想以上时，控制部25判断为用户拿走了介质p，并变更介质p的重量的阈值。此时，也可以根据计数值来变更介质p的重量的阈值。也可以使计数值大于预定值时的变更后的阈值大于计数值小于预定值时的变更后的阈值。另一方面，当计数值小于预定值时，判断为用户没有拿走介质p，不进行阈值的变更。
[0104]
这样，控制部25进行该计数值是否在预定值以上的判断(步骤s113)，当计数值小于预定值时，判断为用户没有拿走介质p。然后，控制部25对积载托盘40的升降动作进行限制(步骤s115)，并停止进行记录(步骤s116)。然后，向用户通知无法向积载托盘40上排出介质p的情况(步骤s117)。
[0105]
另一方面，当在步骤s108的判断中判断为积载托盘40上的介质p的重量并非阈值以上时，进入步骤s109。
[0106]
另外，当在步骤s113中判断为计数值在预定值以上时，即判断为用户拿走了介质p时，控制部25变更介质p的重量的阈值(步骤s114)。具体而言，通过增大阈值而能够接受追加的介质p，并进入步骤s109。
[0107]
在步骤s109中，控制部25进行积载托盘40的待机位置决定动作。作为待机位置决定动作，如上所述，控制部25根据上表面检测传感器80的检测结果使积载托盘40进行升降，将第一排出部62与积载托盘40上的介质p的上表面的距离保持固定。
[0108]
在进行了积载托盘40的待机位置决定动作之后，控制部25根据下限传感器90的检测结果进行积载托盘40是否已达到下限的判断(步骤s110)。这里，当判断为积载托盘40已达到下限时，控制部25对积载托盘40的升降动作进行限制(步骤s115)，并停止进行记录(步骤s116)。然后，控制部25向用户通知无法向积载托盘40上排出介质p的情况(步骤s117)。
[0109]
另一方面，当在步骤s110中判断为积载托盘40未达到下限时，控制部25进行作业是否已结束的判断(步骤s111)。当作业结束时，结束动作，当作业未结束时，返回步骤s102，对后续的介质p也进行同样的处理。
[0110]
这样，控制部25判断积载托盘40上的介质p的重量是否在阈值以上，当判断为在阈值以上时，对积载托盘40的升降动作进行限制。
[0111]
由此，不会在施加了设想以上的负荷的状态下进行积载托盘40的动作，因此，能够降低无法适当地控制积载托盘40的升降动作而使积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的可能性。
[0112]
另外，能够减少在达到积载托盘40的积载上限之前升降机构78破损、或者发生异响的情况。
[0113]
此外，优选为，与积载托盘40达到下限为止的计数值进行比较的预定值是根据积载于积载托盘40上的介质p的张数和喷出至介质p的油墨的量进行决定的。
[0114]
在利用喷墨打印机记录后的介质p的情况下，介质p会因为吸收油墨而产生卷曲。而且，该卷曲的程度根据喷出至介质p的油墨的量而变化。
[0115]
因此，积载于积载托盘40上的介质p的高度根据介质p的张数和喷出至介质p的油墨的量而变化。换言之，在积载托盘40上的介质p的上表面位置固定的情况下，从积载托盘40到下限传感器90的距离根据介质p的张数和喷出至介质p的油墨的量而变化。
[0116]
因此，通过根据积载托盘40上的介质p的张数和喷出至介质p上的油墨的量对预定值进行变更，从而能够更准确地进行用户是否拿走了介质p的判断。
[0117]
另外，也可以取代喷出至介质p的油墨的量而使用能够根据记录数据算出的介质p的印刷率(印字率)。
[0118]
另外，在作为升降机构78的电机而使用步进电机的情况下，也可以通过将直到积载托盘40遮住发光部91的光为止的步数用作计数值，从而进行用户是否拿走了介质p的判断。
[0119]
另外，作为升降动作的限制，除了在积载托盘40的上升动作时和下降动作时双方对升降动作进行限制之外，还包括仅对积载托盘40的上升动作进行限制的情况。
[0120]
在进行使积载托盘40上升的上升动作和使积载托盘40下降的下降动作时，更加造成升降机构78的负荷的是进行上升动作时。关于下降动作，与上升动作相比，施加于升降机构78的负荷小。
[0121]
因此，通过允许下降动作，能够继续排出介质p，并且，能够适当地控制升降机构78，从而能够减少对齐性劣化的情况，并且能够减少升降机构78的破损或异响。
[0122]
2.第二实施方式
[0123]
接着，对第二实施方式进行说明。在下述说明中，对于与第一实施方式相同的结构标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
[0124]
在第二实施方式中，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，对积载托盘40的升降动作进行限制这一特征与第一实施方式相同，但对升降动作进行限制之前的动作与第一实施方式不同。
[0125]
在第二实施方式中，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，控制部25决定剩余可积载张数，并根据剩余可积载张数从第一排出部62进行排出。
[0126]
该剩余可积载张数是指能够排出至积载托盘40上的介质p的张数，通过向积载托盘40上排出剩余可积载张数，判断为积载托盘40上的介质p的重量已达到上限。
[0127]
此外，第二实施方式中的阈值与第一实施方式中的阈值也可以不同。
[0128]
在该构成的情况下，当剩余几张介质p被积载于积载托盘40上时，控制部25能够掌握积载于积载托盘40上的介质p的重量是否达到上限。因此，在针对多张进行一个作业的记录时，能够防止在作业的中途停止记录。
[0129]
此时，优选剩余可积载张数是根据介质p的设想的每张最大重量进行决定的。设想的每张最大重量是指在介质p上打入了可打入的最大点(dot)数时的介质p的重量。
[0130]
这里，将达到阈值以上的阶段的剩余可积载重量除以设想的每张最大重量而得到的值设为剩余可积载张数。
[0131]
这样，由于剩余可积载张数是根据介质p的设想的每张最大重量进行决定的，因此积载托盘40上的介质p的重量不会超过上限。
[0132]
下面，根据图6的流程图对具体的动作进行说明。
[0133]
关于步骤s101～s117，由于与第一实施方式相同，因此这里从步骤s121开始进行说明。当在步骤s113中计数值小于预定值时，控制部25决定能够排出至积载托盘40上的介质p的剩余可积载张数(步骤s121)。然后，排出后续的介质p(步骤s122)，并使排出张数递增(步骤s123)。
[0134]
然后，控制部25进行积载托盘40的待机位置决定动作(步骤s124)，并进行积载托盘40是否已达到下限的判断(步骤s125)。
[0135]
当在步骤s125中判断为积载托盘40已达到下限位置时，控制部25对积载托盘40的升降动作进行限制(步骤s115)，禁止进行记录(步骤s116)，并通知用户(步骤s117)。
[0136]
当在步骤s125中判断为积载托盘40未达到下限位置时，控制部25进行排出至积载托盘40上的介质p的张数是否达到剩余可积载张数的判断(步骤s126)。然后，当判断为排出至积载托盘40上的介质p的张数已达到剩余可积载张数时，进入步骤s115，当判断为排出至积载托盘40上的介质p的张数未达到剩余可积载张数时，返回步骤s122，重复同样的动作。
[0137]
此外，步骤s126中排出至积载托盘40上的介质p是指在设定了剩余可积载张数之后排出至积载托盘40上的介质p的张数。也就是说，是在积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上之后排出至积载托盘40上的介质p的张数。
[0138]
由此，不会在对积载托盘40施加了设想以上的负荷的状态下进行积载托盘40的动作，从而能够适当地控制升降机构78。因此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且能够减少升降机构78的破损或异响。
[0139]
另外，由于不会在对积载托盘40施加了超出设想的负荷的状态下进行动作，因此，能够降低积载托盘40未适当地动作而使积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的可能性。
[0140]
3.第三实施方式
[0141]
接着，对第三实施方式进行说明。在下述说明中，对于与第一实施方式相同的结构标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
[0142]
在第三实施方式中，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时变更积载托盘40的控制这一特征与第一实施方式及第二实施方式相同，但控制方法与第一实施方式及第二实施方式不同。
[0143]
在本实施方式中，控制部25在积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，能够变更升降机构78的电机的旋转速度。
[0144]
具体而言，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，控制部25使电机的旋转速度降低。也就是说，控制部25使积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时的电机的旋转速度比积载托盘40上的介质p的重量小于阈值时的电机的旋转速度慢。
[0145]
电机能够通过降低旋转速度而使转矩升高，因此，即使在对积载托盘40施加了设想以上的负荷的状态下，也能够适当地控制升降机构78。因此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且能够减少升降机构78的破损或异响。
[0146]
下面，根据图7的流程图对具体的动作进行说明。
[0147]
关于步骤s101～s117，与第一实施方式相同，在实施步骤s131这一点上与第一实施方式不同。
[0148]
当在步骤s113中计数值小于预定值时，控制部25在步骤s131中使升降机构78的电机的速度降低。
[0149]
由此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且，能够减少升降机构78的破损或异响。
[0150]
在本实施方式中，不需要在积载托盘40的下降动作和上升动作双方中使电机的旋转速度降低，也可以仅在上升动作中使电机的旋转速度降低。
[0151]
这是因为，在对积载托盘40施加了设想以上的负荷时，相比下降动作，在上升动作中更加对电机施加负荷。
[0152]
因此，控制部25也可以在积载托盘40进行上升动作时使旋转速度降低，而在进行下降动作时不使旋转速度降低。
[0153]
由此，能够在减少施加于电机的负荷的同时，能够减少通过量的降低。
[0154]
另外，在本实施方式中，也可以构成为能够将积载托盘40的升降速度设定为多个阶段，并能够根据积载托盘40上的介质p的重量来变更积载托盘40的升降速度、即电机的旋转速度。
[0155]
具体而言，如表1所示，当积载托盘40上的介质p的重量z小于第一阈值t1时，在上升动作时及下降动作时双方中，将升降速度设为第一速度。另外，当积载托盘40上的介质p的重量z在第一阈值t1以上且小于第二阈值t2时，将升降速度设为第二速度。另外，当积载托盘40上的介质p的重量z在第二阈值t2以上且小于第三阈值t3时，将升降速度设为第三速度。
[0156]
升降速度随着向第一速度、第二速度、第三速度变化而变慢。也就是说，能够随着积载托盘40上的介质p的重量z增加而呈阶段性地使升降速度降低。
[0157]
由此，能够根据施加于积载托盘40的负荷来变更电机的旋转速度，因此，能够在减少通过量的降低的同时，减少施加于电机的负荷。
[0158]
表1
[0159][0160]
另外，如表2所示，也可以仅在积载托盘40的上升动作中，根据积载托盘40上的介质p的重量z来变更电机的旋转速度。
[0161]
由此，能够在减少施加于电机的负荷的同时，减少通过量的降低。
[0162]
表2
[0163][0164]
4.第四实施方式
[0165]
接着，对第四实施方式进行说明。在下述说明中，对于与第一实施方式相同的结构标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
[0166]
在第四实施方式中，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时变更积载托盘40的控制这一特征与第一实施方式至第三实施方式相同，但控制方法与第一实施方式至第三实施方式不同。
[0167]
在本实施方式中，控制部25在积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，能够变更升降机构78的电机的驱动电流。
[0168]
具体而言，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，控制部25进行使流向电机的驱动电流升高的控制。也就是说，控制部25使积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时流向电机的驱动电流大于积载托盘40上的介质p的重量小于阈值时流向电机的驱动电流。
[0169]
当电机中流动的驱动电流升高时转矩也升高，因此，即使在对积载托盘40施加了设想以上的负荷的状态下，也能够适当地控制升降机构78。因此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且能够减少升降机构78的破损或异响。
[0170]
下面，根据图8的流程图对具体的动作进行说明。
[0171]
关于步骤s101～s117，与第一实施方式相同，在实施步骤s141这一点上与第一实施方式不同。
[0172]
当在步骤s113中计数值小于预定值时，控制部25在步骤s141中使流向升降机构78
的电机的驱动电流升高。
[0173]
由此，能够减少积载托盘40上的介质p的对齐性劣化的情况，并且，能够减少升降机构78的破损或异响。
[0174]
另外，在本实施方式中，也可以构成为能够将电机中流动的电流值设定为多个阶段，并能够根据积载托盘40上的介质p的重量来变更电机中流动的驱动电流。
[0175]
具体而言，如表3所示，当积载托盘40上的介质p的重量z小于第一阈值t1时，在上升动作时及下降动作时双方中，将驱动电流的电流值设为第一电流值。另外，当积载托盘40上的介质p的重量z在第一阈值t1以上且小于第二阈值t2时，将电流值设为第二电流值。另外，当积载托盘40上的介质p的重量z在第二阈值t2以上且小于第三阈值t3时，将电流值设为第三电流值。
[0176]
电流值随着向第一电流值、第二电流值、第三电流值变化而变大。也就是说，能够随着积载托盘40上的介质p的重量z增加而呈阶段性地变更驱动电流。
[0177]
由此，能够根据施加于积载托盘40的负荷来变更电机的转矩，因此，能够在减少通过量的降低的同时，减少施加于电机的负荷。
[0178]
表3
[0179][0180]
另外，如表4所示，也可以仅在积载托盘40的上升动作中，根据积载托盘40上的介质p的重量z来变更电机的驱动电流。
[0181]
由此，能够在减少施加于电机的负荷的同时，减少通过量的降低。
[0182]
表4
[0183][0184]
此外，在第四实施方式中，也可以不使流向电机的驱动电流升高，而通过增大电流限制值进行应对。
[0185]
下面，对实施方式中的变形例进行说明。
[0186]
在上述第一至第四实施方式中，推测部51构成为控制部25内的功能块，但也可以
由与控制部25不同的硬件构成。
[0187]
另外，在上述第一至第四实施方式中，通过设置于记录单元2的控制部25进行介质p的重量的推测和升降机构78的控制，但并不限定于该方式。例如，也可以将具有与控制部25同样的功能的积载控制部配置于介质积载装置39的内部，并通过该积载控制部进行介质p的重量的推测和升降机构78的控制、即图5a、图5b、图6、图7、图8所示的流程图的各步骤的执行。或者，也可以将具有与控制部25同样的功能的后处理控制部在后处理装置5的内部配置于介质积载装置39的外部，并通过该后处理控制部进行介质p的重量的推测和升降机构78的控制。在这些情况下，记录数据等推测介质p的重量所需的信息既可以经由记录单元2获取，也可以从外部直接获取。另外，在该情况下，推测介质p的重量的推测部51既可以设置在积载控制部或后处理控制部的内部，也可以配置于外部。
[0188]
另外，在计算油墨的重量时，根据油墨的点(dot)数和每一点(dot)油墨的重量算出油墨的重量，但也可以根据记录数据的印刷率算出油墨的重量。
[0189]
具体而言，也可以根据印刷率算出打入介质p的油墨的点(dot)数，并将根据印刷率算出的点(dot)数与每一点(dot)油墨的重量相乘而算出油墨的重量。
[0190]
另外，在第一实施方式至第四实施方式中，当积载托盘40上的介质p的重量达到阈值以上时，也可以不中断行式头20的记录，而将介质p的排出目的地从积载托盘40变更为其他托盘而继续进行记录。
[0191]
另外，在第一实施方式至第四实施方式中，算出积载于积载托盘40上的介质p的重量的时刻也可以比向积载托盘40排出介质p的时刻早。
[0192]
在先算出积载于积载托盘40上的介质p的重量且设想算出的积载托盘40上的介质p的重量在阈值以上时，也可以禁止原定为向积载托盘40排出介质p的相应介质p的排出。
[0193]
另外，此时，也可以不禁止相应介质p的排出，而将介质p的排出目的地从积载托盘40变更为其他托盘而继续进行记录。
[0194]
需要说明的是，本发明并不限定于上述实施方式，当然能够在权利要求书所记载的发明范围内实施各种变形这些也都包含在本发明的范围内。