测试辅具的制作方法

测试辅具
【技术领域】
1.本实用新型涉及一种测试治具，特别是涉及一种应用于一连接器或数据线等产品进行良品测试的辅助治具。


背景技术：

2.数据线或连接器等产品是通过高速传输微弱的电信号来传递数据，线缆尤其连接处的质量会影响数据传输的速度及稳定度。现有的数据线或连接器包括usb、hdmi等产品，在使用过程中经常会被插拔或摇晃，线缆内的线芯及其连接处可能会在使用过程中被毁损，导致断路或者短路，因此产品出厂前，通常会进行良品测试，以考察数据线或连接器的质量。
3.在连接器或数据线等产品出厂前皆会进行疲劳可靠性测试，由于其成品尺寸大(通常是8mm以上)，在成品摇摆测试过程中，因不断地快速往复运动，经常出现把良品测试成不良品。需要额外的人力进行重复测试与分析，确认不良品的实际状态。此外，进行成品摇摆测试所需的测试母座(或称母头测试板，包含位于一pcb板上的一母头及复数针脚)，由于未被固定，母头经常与其pcb板体分离，而造成其测试寿命相对短，并造成成品测试错误。
4.基于此状况，如何改善前述问题并设计一款供连接器或数据线测试用的辅助治具，是一大课题。


技术实现要素：

5.为了克服上述习知技术的缺点，本实用新型提供下列各种实施例来解决上述问题，本实用新型提供一款可以固定测试母座的测试辅具，在测试过程中通过通过压紧机构所形成的夹具来分别压紧电子组件及测试母座来改善此问题，而且此套夹具适用各种产品等电子组件，例如数据线或连接器等。本实用新型可以降低测试误判，并提高测试母座的使用寿命，减少测试母座的损耗。
6.本实用新型实施例提供一种测试辅具，用于一电子组件连接于一测试母座上进行测试，其特征在于包括:一母座固定件用以固定测试母座；一第一框架设置有一上夹板，所述上夹板可相对所述第一框架运动；一第二框架面对所述第一框架，且所述母座固定件设置于所述第一框架及所述第二框架之间，其中所述第二框架设置有一下夹板，下夹板可相对第二框架运动；以及上夹板及下夹板形成一压紧机构，所述压紧机构用以夹持电子组件相对母座固定件往复运动。
7.在一实施例中，电子组件包括一数据线或一连接器。
8.在一实施例中，更包括一第三框架，第三框架设置于第一框架及第二框架之间，且母座固定件固定于第三框架上。
9.在一实施例中，更包括一气缸，所述气缸连动所述压紧机构往复运动。
10.在一实施例中，所述第一框架包含一第一滑动件，所述上夹板通过所述第一滑动件相对所述第一框架运动。所述第二框架包含一第二滑动件，所述下夹板通过所述第二滑
动件相对所述第二框架运动。
11.在一实施例中，所述上夹板具有一上容槽，以放置电子组件。或者，所述下夹板具有一下容槽，以放置电子组件。甚者，上夹板及下夹板分别具有一上容槽及一下容槽，以夹固电子组件。
12.在一实施例中，所述母座固定件包含一容槽以及一孔洞，所述孔洞与所述容槽相连。所述容槽用以容纳所述测试母座，且所述测试母座的母头可置入所述孔洞中，使得所述孔洞可四面贴合包覆所述测试母座的母1头。
【附图说明】
13.图1为本实用新型实施例中一种应用于一连接器或数据线等产品进行良品测试的辅助治具的前视立体图。
14.图2为本实用新型实施例中辅助治具的后视立体图。
15.图3a及图3b分别为本实用新型实施例中辅助治具的压紧机构进行压合及打开的示意图。
16.图4为本实用新型实施例中辅助治具的母座固定件及放置于其上的测试母座的示意图。
17.附图标号说明
18.100测试辅具
19.110母座固定件
20.111容槽
21.112孔洞
22.120第一框架
23.121第一滑动件
24.125上夹板
25.126上容槽
26.130第二框架
27.131第二滑动件
28.135下夹板
29.136下容槽
30.140压紧机构
31.150第三框架
32.160气缸
33.20测试母座
34.21pcb板
35.22针脚
36.25母头
【具体实施方式】
37.以下配合附图和本实用新型的具体实施例，进一步阐述本实用新型为达成预定实
用新型目的所采取的技术手段。本领域的技术人员可以理解到的是，本实用新型的具体实施例所提供的方向用语，诸如上、下、左、右、前或后等，仅用于参照随附图式的方向以利说明而非用于限制本实用新型。除此之外，在未背离本实用新型的精神和范围之下，本实用新型所属技术领域中具有通常知识者可实行为数众多的变更及修改，如此衍生出的实作范例也会落入本实用新型范畴中。
38.本实用新型公开了一种测试辅具，用于一电子组件连接于一测试母座上进行疲劳可靠性测试。其特征在于包括:一母座固定件用以固定测试母座；一第一框架设置有一上夹板，上夹板可相对所述第一框架运动；一第二框架面对第一框架，且所述母座固定件设置于所述第一框架及所述第二框架之间，其中所述第二框架设置有一下夹板，下夹板可相对第二框架运动；上夹板及下夹板形成一压紧机构，用以夹持电子组件相对母座固定件往复运动。在测试过程中通过本实用新型中测试辅具来分别压紧电子组件及测试母座，降低测试误判，并提高测试母座的使用寿命。
39.请参考图1，图1为本实用新型实施例中一种应用于一连接器或数据线等产品进行良品测试的辅助治具的前视立体图。本实用新型实施例所提供的一种测试辅具100，用于一电子组件(未图标) 连接于一测试母座上，以利进行疲劳可靠性测试，以保证产品能稳固连接。
40.测试辅具100包括:一母座固定件110用以固定测试母座；一第一框架120设置有一上夹板125，所述上夹板125可相对所述第一框架120运动；一第二框架130面对所述第一框架120，且所述母座固定件110设置于所述第一框架120及所述第二框架130之间，其中所述第二框架130设置有一下夹板135，下夹板135可相对第二框架 130运动。上夹板125及下夹板135形成一压紧机构140，所述压紧机构140用以夹持电子组件相对母座固定件110往复运动，通过不断地快速往复运动，以进行摇摆测试。在本实施例中，电子组件包括一数据线或一连接器等产品，但不限于此类产品，例如电插头等需要进行插入摇晃等疲劳测试的电子组件皆可。
41.配合参照图2，图2为本实用新型实施例中辅助治具100的后视立体图。在较佳的实施例中，更包括一第三框架150，第三框架150 设置于第一框架120及第二框架130之间。第一框架120及第二框架 130分别上下对合而形成一口字形，第三框架150的设置则令整个辅助治具100形成一个日字形，可确保整体架构的稳固性。母座固定件110固定于第三框架150上。第一框架120、第二框架130及第三框架150的材料可以是钢制或铝制治具，但不限于此。只要是能够承受剧烈往复运动的材料皆可。
42.辅助治具100更包括至少一个气缸160，所述气缸160连动所述压紧机构140往复运动。在一较佳实施例中，气缸160分别设置在第一框架120及第二框架130上。第一框架120包含一第一滑动件 121，所述上夹板125通过所述第一滑动件121相对所述第一框架 120运动。第二框架130包含一第二滑动件131，所述下夹板135通过所述第二滑动件131相对所述第二框架130运动。
43.再配合参照图3a及图3b，压紧机构140的上夹板125及下夹板 135可以是上、下两个夹块，在气缸160带动下夹紧待测试的电子组件。
44.图3a为本实用新型实施例中辅助治具的压紧机构140进行压合的示意图。图3b为本实用新型实施例中辅助治具的压紧机构140 打开的示意图。在一实施例中，所述上夹板
125具有一上容槽126，以放置电子组件。或者，所述下夹板135具有一下容槽136，以放置电子组件。甚者，上夹板125及下夹板135分别具有一上容槽126 及一下容槽136，以放置电子组件并将其夹固。上夹板125及下夹板135所形成的压紧机构140，分别通过第一滑动件121及第二滑动件131上下运动，并利用设置在第一框架120及第二框架130上的气缸160，带动压紧机构140及置放于其中的电子组件相对母座固定件110往复运动。
45.图4为本实用新型实施例中辅助治具的母座固定件110及放置于其上的测试母座20的示意图。通常测试母座20具有一pcb板，且pcb板21上具有复数电性针脚22及母头25，供数据线或连接器等具有公头的电子组件接合测试使用。母座固定件110包含一容槽 111以及一孔洞112，所述孔洞112与所述容槽111相连。所述容槽 111用以容纳所述测试母座20，并可置放pcb板21。测试母座20的母头25可置入所述孔洞112中，使得所述孔洞112可四面贴合包覆所述测试母座20的母头25。因此，在进行摇摆测试时，测试母座 20的母头25可被稳固地压紧，而不被压紧机构140带动的电子组件摇晃，而损坏母头25与其pcb板21的连接关系，进而影响整体的测试结果。
46.本实用新型提供一款可以固定测试母座的测试辅具，在测试过程中通过通过压紧机构所形成的夹具来分别压紧电子组件及测试母座来改善此问题，而且此套夹具适用各种产品等电子组件，例如数据线或连接器等。本实用新型可以降低测试误判，并提高测试母座的使用寿命，减少测试母座的损耗。