用于芯片烧录机的托盘自动输送系统的制作方法

本发明涉及输送机调控，具体涉及用于芯片烧录机的托盘自动输送系统。

背景技术：

1、制造和使用电子设备时，芯片烧录是一个关键的步骤，而在芯片的烧录环节，一般是进行同批次多量的芯片进行烧录，所以需要利用托盘自动输送系统对多量的芯片进行输送；但是在利用托盘自动输送系统进行芯片的自动输送的过程中，需要保持芯片位置的固定，避免在对芯片进行烧录的时，由于传输系统的振动导致芯片位置发生偏移，导致烧录效率下降。

技术实现思路

1、本发明提供用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，以解决现有的问题：在利用托盘自动输送系统进行芯片的自动输送的过程中，避免由于传输系统的振动导致芯片位置发生偏移。

2、本发明的用于芯片烧录机的托盘自动输送系统采用如下技术方案：

3、包括以下模块：

4、数据采集模块，用于放置传感器采集振动数据；

5、单一传感器分析模块，用于通过单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集的所有时刻的振动数据的差异，获取传感器所采集的每个振动数据的孤立程度；根据传感器所采集的每个振动数据的孤立程度，获取传感器所采集的振动数据的异常因子；根据单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集振动数据整体上的差异，获取传感器所采集的振动数据的综合稳定性；根据传感器所采集的振动数据的综合稳定性以及传感器所采集的振动数据的异常因子，获取传感器所采集的振动数据的异常振动参数；

6、多传感器分析模块，用于根据每个传感器采集振动数据，获取所有传感器的目标数据，并统计每个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量；根据统计每个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量，获取每个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值；根据传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，结合传感器所采集的振动数据的异常振动参数；计算托盘振动状态的异常程度；

7、调整模块，用于根据托盘振动状态的异常程度，获取调整后的输送速度。

8、优选的，所述放置传感器采集振动数据，包括的具体方法为：

9、采用五点取样，在输送芯片的托盘底部的四个角落以及托盘的正中心这五个位置安装振动传感器，采集芯片托盘的输送过程中的所有时刻的振动数据。

10、优选的，所述用于通过单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集的所有时刻的振动数据的差异，获取传感器所采集的每个振动数据的孤立程度，包括的具体方法为：

11、根据第个传感器所采集的所有时刻的振动数据，获取第个传感器所采集的除第一个时刻外每个时刻的振动数据的孤立程度，其具体的计算公式为：

12、

13、式中，表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据的孤立程度；表示第个时刻；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据。

14、优选的，所述根据传感器所采集的每个振动数据的孤立程度，获取传感器所采集的振动数据的异常因子，包括的具体计算公式为：

15、

16、式中，表示第个传感器所采集的振动数据的异常因子；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据；表示采集的振动数据的数量；表示第个传感器所采集的振动数据中的最大值；表示第个传感器所采集的振动数据中的最小值；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据的孤立程度；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据的孤立程度；表示以自然常数为底数的指数函数；表示绝对值运算；为预设的超参数。

17、优选的，所述根据单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集振动数据整体上的差异，获取传感器所采集的振动数据的综合稳定性，包括的具体方法为：

18、对于获取第个传感器所采集的振动数据的综合稳定性，根据第个传感器所采集的所有振动数据，计算第个传感器所采集的振动数据的综合稳定性，其具体的计算公式为：

19、

20、式中，表示第个传感器所采集的振动数据的综合稳定性；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据；表示采集的振动数据的数量；表示第个传感器采集的第个时刻的振动数据；表示以自然常数为底数的指数函数；表示绝对值运算。

21、优选的，所述根据传感器所采集的振动数据的综合稳定性以及传感器所采集的振动数据的异常因子，获取传感器所采集的振动数据的异常振动参数，包括的具体计算公式为：

22、

23、式中，表示第个传感器所采集的振动数据的异常振动参数；表示第个传感器所采集的振动数据的综合稳定性；表示第个传感器所采集的振动数据的异常因子。

24、优选的，所述根据每个传感器采集振动数据，获取所有传感器的目标数据，包括的具体方法为：

25、获取计算每个传感器所采集的所有振动数据的均值，得到每个传感器所采集的所有振动数据的均值，对于第个传感器，将第个传感器所采集的振动数据中，大于第个传感器所采集的所有振动数据的均值的数据，记为第个传感器的目标数据。

26、优选的，所述根据统计每个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量，获取每个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，包括的具体公式为：

27、

28、式中，表示第个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值；表示第个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量；表示第个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量；表示传感器的数量；表示线性归一化函数。

29、优选的，所述根据传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，结合传感器所采集的振动数据的异常振动参数；计算托盘振动状态的异常程度，包括的具体计算公式为：

30、

31、式中，表示托盘振动状态的异常程度；表示第个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值；表示第个传感器所采集的振动数据的异常振动参数；表示传感器的数量。

32、优选的，所述根据托盘振动状态的异常程度，获取调整后的输送速度，包括的具体方法为：

33、首先获取自动输送系统的最大输送速度以及当前的输送速度，结合托盘振动状态的异常程度，获取调整后的输送速度，其具体的计算公式为：

34、

35、式中，表示调整后的输送速度，表示当前的输送速度；表示托盘振动状态的异常程度；表示自动输送系统的最大输送速度。

36、本发明的技术方案的有益效果是：在对芯片进行输送的过程中，需要保持芯片位置的固定，避免在对芯片进行烧录时，由于传输系统的振动导致芯片位置发生偏移；因此本发明通过采集芯片输送过程中的托盘的实时振动数据，进而利用内部分析模块对于托盘的实时振动数据进行分析检测，实时分析芯片托盘振动状态的异常程度，调整输送机输送速度，避免芯片在输送的过程中出现异常振动，芯片位置发生偏移导致的烧录效率下降。

技术特征：

1.用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，该系统包括以下模块：

2.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述放置传感器采集振动数据，包括的具体方法为：

3.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述用于通过单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集的所有时刻的振动数据的差异，获取传感器所采集的每个振动数据的孤立程度，包括的具体方法为：

4.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据传感器所采集的每个振动数据的孤立程度，获取传感器所采集的振动数据的异常因子，包括的具体计算公式为：

5.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据单个传感器所采集的每个时刻的振动数据，与单个传感器所采集振动数据整体上的差异，获取传感器所采集的振动数据的综合稳定性，包括的具体方法为：

6.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据传感器所采集的振动数据的综合稳定性以及传感器所采集的振动数据的异常因子，获取传感器所采集的振动数据的异常振动参数，包括的具体计算公式为：

7.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据每个传感器采集振动数据，获取所有传感器的目标数据，包括的具体方法为：

8.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据统计每个传感器所采集的振动数据中目标数据的数量，获取每个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，包括的具体公式为：

9.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，结合传感器所采集的振动数据的异常振动参数；计算托盘振动状态的异常程度，包括的具体计算公式为：

10.根据权利要求1所述用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，其特征在于，所述根据托盘振动状态的异常程度，获取调整后的输送速度，包括的具体方法为：

技术总结
本发明涉及输送机调控技术领域，具体涉及用于芯片烧录机的托盘自动输送系统，包括：数据采集模块，用于放置传感器采集振动数据；单一传感器分析模块，用于根据传感器采集振动数据，获取传感器所采集的振动数据的异常振动参数；多传感器分析模块，用于根据每个传感器采集振动数据，获取每个传感器所采集的振动数据的异常振动参数权值，并结合传感器所采集的振动数据的异常振动参数，计算托盘振动状态的异常程度；调整模块，用于根据托盘振动状态的异常程度，获取调整后的输送速度。本发明通过根据多个传感器采集的振动数据，实时分析芯片托盘的振动状态调整输送速度，避免芯片位置发生偏移导致的烧录效率下降。

技术研发人员：沈炜东,翁炳钦,钟彩苗
受保护的技术使用者：全南虔芯半导体有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/25