涉密u盘自毁装置的制造方法

文档序号:8350428阅读:2293来源:国知局
涉密u盘自毁装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及信息安全装置技术领域,尤其涉及一种涉密U盘自毁装置。
【背景技术】
[0002]U盘,全称USB闪存盘,英文名“USB flash disk”。它是一种使用USB接口的无需物理驱动器的微型高容量移动存储产品,通过USB接口与电脑连接,实现即插即用。U盘的称呼最早来源于朗科科技生产的一种新型存储设备,名曰“优盘”,使用USB接口进行连接。U盘连接到电脑的USB接口后,U盘的资料可与电脑交换。而之后生产的类似技术的设备由于朗科已进行专利注册,而不能再称之为“优盘”,而改称谐音的“U盘”,后来,U盘这个称呼因其简单易记而因而广为人知,是移动存储设备之一。
[0003]随着便携式媒体高速发展的今天,U盘容量逐步增大,而且存储数据量越来越大,U盘丢失或者被盗就会造成大量数据和隐私的泄露,由于U盘采用数字存储方式进行数据存储,所以,普通的擦除方法是不能彻底消除U盘的存储记录,为了保护数据和隐私安全,必须使用物理方式进行销毁,费时费力,而且也不能保证完全销毁,因此,需要研发一种能够快速彻底销毁U盘存储芯片的装置。

【发明内容】

[0004]本发明所要解决的技术问题是提供一种涉密U盘自毁装置,通过将蓄电池、高压发生器和USB接口连接,通过USB接口连接涉密U盘,接通开关即可使涉密U盘芯片与高压发生器之间形成通路,高压发生器产生的高电压直接击穿存储芯片,破坏存储数据,永久无法恢复,操作方便快捷,安全性高。
[0005]为解决上述技术问题,本发明所采取的技术方案是:一种涉密U盘自毁装置,包括外壳、蓄电池、高压发生器和安装在外壳端部的能够与U盘对接的USB接口,所述蓄电池固定安装在外壳内、且其两极与高压发生器输入侧连接,所述高压发生器输出侧通过电源线与USB接口的任意脚连接。
[0006]所述外壳另外一端设有与蓄电池充电端连接的充电插头,所述电源线上串接常开式触点开关。
[0007]所述充电插头与蓄电池之间安装充电器。
[0008]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:通过将蓄电池、高压发生器和USB接口连接,通过USB接口连接涉密U盘,接通开关即可使涉密U盘芯片与高压发生器之间形成通路,高压发生器产生的高电压直接击穿存储芯片,破坏存储数据,永久无法恢复,操作方便快捷,安全性高。
【附图说明】
[0009]图1是本发明结构原理图;
在附图中:1、USB接口 ;2、电源线;3、固定装置;4、高压发生器;5、充电插头;6、外壳。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步详细的说明。
[0011]为了解决现有物理销毁U盘过程繁杂,安全性低的问题,本发明提供一种如图1所示的涉密U盘自毁装置,包括外壳6、蓄电池、高压发生器4和安装在外壳6端部的能够与U盘对接的USB接口 1,所述蓄电池固定安装在外壳6内、且其两极与高压发生器4输入侧连接,所述高压发生器4输出侧通过电源线2与USB接口 I的任意两脚连接;所述外壳6另外一端设有与蓄电池充电端连接的充电插头5,所述电源线2上串接常开式触点开关;所述充电插头5与蓄电池之间安装充电器。
[0012]在具体应用过程中,可以通过充电插头5预先为蓄电池充电,蓄电池为高压发生器提供电源,通过高压发生器产生高压电,并通过开关和电源线连接USB接口 I,当需要销毁涉密优盘时,只需要将涉密U盘与USB接口插接,手动接通开关,高压发生器高压侧直接通过USB接口给涉密U盘供电,在高压所用下击穿涉密U盘的存储芯片,彻底摧毁存储介质,消除存储记录,确保安全销毁。
[0013]与目前采用的物理销毁方法相比,操作更加简单,永久无法恢复,确保数据安全性。
【主权项】
1.一种涉密U盘自毁装置,其特征在于:包括外壳(6)、蓄电池、高压发生器(4)和安装在外壳(6 )端部的能够与U盘对接的USB接口( I),所述蓄电池固定安装在外壳(6 )内、且其两极与高压发生器(4)输入侧连接,所述高压发生器(4)输出侧通过电源线(2)与USB接口(I)的任意两脚连接。
2.根据权利要求1所述的涉密U盘自毁装置,其特征在于:所述外壳(6)另外一端设有与蓄电池充电端连接的充电插头(5 ),所述电源线(2 )上串接常开式触点开关。
3.根据权利要求1或2所述的涉密U盘自毁装置,其特征在于:所述充电插头(5)与蓄电池之间安装充电器。
【专利摘要】本发明公开了一种涉密U盘自毁装置,包括外壳、蓄电池、高压发生器和安装在外壳端部的能够与U盘对接的USB接口,所述蓄电池固定安装在外壳内、且其两极与高压发生器输入侧连接,所述高压发生器输出侧通过电源线与USB接口的任意脚连接;其优点在于:通过将蓄电池、高压发生器和USB接口连接,通过USB接口连接涉密U盘,接通开关即可使涉密U盘芯片与高压发生器之间形成通路,高压发生器产生的高电压直接击穿存储芯片,破坏存储数据,永久无法恢复,操作方便快捷,安全性高。
【IPC分类】B09B3-00
【公开号】CN104668278
【申请号】CN201510123075
【发明人】王帅, 高秀峰, 李玺, 李江, 李婷
【申请人】中国人民解放军军械工程学院
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年3月20日
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1