电子雾化装置及其雾化介质状态检测方法和装置与流程

1.本技术涉及雾化设备技术领域，特别是涉及一种电子雾化装置及其雾化介质状态检测方法、装置和计算机可读存储介质。


背景技术：

2.电子雾化装置已经成为市场上的一种比较成熟的产品，其通过雾化器将雾化介质雾化产生烟雾，用户通过吸食烟雾，以达到获取雾化介质中有效物质的目的。
3.传统电子雾化装置检测雾化介质状态的方法，是通过控制器接收采样电路检测到的数据，控制器将接收的数据与预设的固定阈值进行对比，根据对比结果确定雾化介质是否在位。然而，由于控制器存在内部误差，利用固定阈值分析雾化介质状态时会出现误判的情况，存在检测准确性低的缺点。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对上述问题，提供一种可提高检测准确性的电子雾化装置及其雾化介质状态检测方法、装置和计算机可读存储介质。
5.一种电子雾化装置的雾化介质状态检测方法，包括：
6.获取电子雾化装置的采样电路检测到的采样数据，根据所述采样数据确定比较采样值；
7.若所述比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则根据所述比较采样值与所述初始采样值计算得到状态检测阈值；
8.根据所述状态检测阈值以及所述采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测。
9.在其中一个实施例中，所述采样数据包括连续多次获取的采样值；所述根据所述采样数据确定比较采样值，包括：计算获取的采样值的平均值，作为比较采样值。
10.在其中一个实施例中，所述根据所述比较采样值与所述初始采样值计算得到状态检测阈值，包括：计算所述比较采样值与所述初始采样值的平均值，作为状态检测阈值。
11.在其中一个实施例中，所述根据所述比较采样值与所述初始采样值计算得到状态检测阈值之后，该方法还包括：根据所述比较采样值对所述初始采样值进行更新。
12.在其中一个实施例中，所述根据所述状态检测阈值以及所述采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测之后，该方法还包括：根据所述采样电路检测到的采样值对所述比较采样值进行更新，并返回所述根据所述比较采样值与所述初始采样值计算得到状态检测阈值的步骤。
13.在其中一个实施例中，所述根据所述状态检测阈值以及所述采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测之后，该方法还包括：输出状态提示信息。
14.在其中一个实施例中，所述根据所述状态检测阈值以及所述采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测，包括：
15.若采样电路检测到的采样值大于所述状态检测阈值，则雾化介质处于拔出状态；
16.若采样电路检测到的采样值小于或等于所述状态检测阈值，则雾化介质处于插入状态。
17.一种电子雾化装置的雾化介质状态检测装置，包括：
18.数据获取模块，用于获取电子雾化装置的采样电路检测到的采样数据，根据所述采样数据确定比较采样值；
19.数据处理模块，用于若所述比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则根据所述比较采样值与所述初始采样值计算得到状态检测阈值；
20.状态检测模块，用于根据所述状态检测阈值以及所述采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测。
21.一种电子雾化装置，包括采样电路和控制器，所述采样电路连接所述控制器，所述控制器用于根据上述的方法进行雾化介质状态检测。
22.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
23.上述电子雾化装置及其雾化介质状态检测方法、装置和计算机可读存储介质，在根据采样电路检测到的采样数据确定比较采样值后，若比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则判定雾化介质的状态发生变化，根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值，结合状态检测阈值以及采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测，实现根据雾化介质的状态变化确定状态检测阈值，从而减少误判，提高了检测准确性。
附图说明
24.图1为一实施例中电子雾化装置的雾化介质状态检测方法的场景示意图；
25.图2为一实施例中电子雾化装置的雾化介质状态检测方法的流程图；
26.图3为一实施例中根据状态检测阈值以及采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测的流程图；
27.图4为另一实施例中电子雾化装置的雾化介质状态检测方法的流程图；
28.图5为一实施例中电子雾化装置的雾化介质状态检测逻辑流程示意图；
29.图6为一实施例中电子雾化装置的雾化介质状态检测装置的结构框图。
具体实施方式
30.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
31.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。
32.可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
33.在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上
下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。
34.本实施例提供了一种电子雾化装置，该电子雾化装置可用于液态介质的雾化。电子雾化装置包括雾化器和电池组件。其中，雾化器一端与电池组件可拆卸连接；需要更换雾化器时，雾化器可从电池组件上拆卸，并将新的雾化器与电池组件连接，以实现电池组件的重复利用。
35.雾化器可用于不同的领域，比如，医疗雾化、电子雾化领域等。雾化器用于存储待雾化介质并雾化待雾化介质产生气溶胶，在本实施例中，该雾化器用于雾化待雾化介质并产生气溶胶，以供使用者抽吸；当然，在其它实施例中，该雾化器也可应用于喷发胶设备，以雾化用于头发定型的喷发胶；或者应用于治疗上下呼吸系统疾病的医用设备，以雾化医用药品。电池组件用于为雾化器供电，以使得雾化器能够雾化液态介质形成气溶胶。
36.雾化器包括第一壳体、安装座和雾化芯。第一壳体内形成储液腔、安装腔和出气通道。储液腔用于储存待雾化液体介质，储液腔可以由铝、不锈钢等金属制成，也可以由塑料制成，只需能够存储待雾化液体介质，不与之反应使其变质即可；储液腔的形状和大小不限，可以根据需要设计。
37.第一壳体在储液腔靠近电池组件的一侧形成安装腔。出气通道与储液腔并排设置于安装腔的同一侧，且出气通道与外界大气连通。安装座设置于安装腔靠近电池组件的一侧，雾化芯安装于安装座上，且与安装座配合形成的雾化腔。雾化腔与出气通道连通，即雾化腔、出气通道和外界大气相互连通。其中，安装座靠近电池组件的一端暴露，且安装座与第一壳体可拆卸连接。
38.雾化芯用于将储液腔中的待雾化介质雾化成气溶胶。雾化芯包括发热体和多孔件。储液仓中的液体进入多孔件，多孔件利用毛细作用力将待雾化液体介质导引至发热体上，发热体对其加热雾化形成气溶胶。发热体可以是发热丝、发热网、发热膜、发热线路等，可以根据需要进行选择。多孔件可以是多孔陶瓷，也可以是棉芯。
39.电池组件包括第二壳体、控制器、采样电路和电池，第二壳体内具有收容腔，电池设于收容腔内，电池用于为雾化芯供电。如图1所示，控制器1具体可采用mcu(micro controller unit，微控制单元)、cpu(central processing unit，中央处理器)、fpga(field programmable gate array，现场可编程逻辑门阵列)等控制器件。以控制器1采用mcu为例，可通过mcu的adc(analog to digital converter，模拟数字转换器)功能获取采样电路2检测到的采样数据。其中，电阻rpu为mcu的上拉电阻，采样电路2包括电阻r1、电阻r2和电阻r3，电阻r1和电阻2并联后两端与雾化器连接，且公共端通过电阻r3与mcu的io(input/output，输入/输出)端口连接。具体地，控制器1在获取采样电路2检测到的采样数据后，根据采样数据确定比较采样值，若比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值，根据状态检测阈值以及采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测，实现根据雾化介质的状态变化更新状态检测阈值，从而减少误判。
40.在一个实施例中，如图2所示，提供了一种电子雾化装置的雾化介质状态检测方法，包括：
41.步骤s110：获取电子雾化装置的采样电路检测到的采样数据，根据采样数据确定比较采样值。
42.具体地，可通过控制器获取采样电路检测到的采样数据，采样数据可以是包括一次或多次检测到的采样值。以采样数据包括连续多次采集的采样值为例，则控制器可以是根据设定时间间隔定时唤醒连续多次获取采样电路检测到的采样值，根据连续预设次数获取的采样值进行数据处理。其中，设定时间间隔的取值并不唯一，可以是选择小于1秒的时间，本实施例中，设定时间间隔为0.1秒。进一步地，预设次数可以是2次或2次以上，具体取值也可根据实际需要进行设置。
43.控制器在获取到采样数据之后，判断是否是电子雾化装置上电初始化后进行的首次数据采集，如果是，则根据首次采集得到的采样数据计算得到初始采样值m进行保存，在后续唤醒中控制器再根据检测到的采样数据确定比较采样值n。可以理解，控制器在获取到采样数据之后，如果不是电子雾化装置上电初始化后进行的首次数据采集，则可直接根据本次采集的采样数据确定比较采样值n。
44.进一步地，根据采样数据确定比较采样值n的方式也并不是唯一的，如果采样数据只包含一次采集获取得到的采样值，则可将采样值直接作为比较采样值n；如果采样数据包含多次采集获取得到的采样值，则可根据多个采样值进行平滑处理，例如计算多个采样值的平均值作为比较采样值n。在一个实施例中，采样数据包括连续多次获取的采样值，步骤s110中根据采样数据确定比较采样值，包括：计算获取的采样值的平均值，作为比较采样值。通过计算多次获取的采样值的平均值，将平均值作为比较采样值n，确保数据采样的准确性。
45.步骤s120：若比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值。
46.对应地，初始采样值m为根据电子雾化装置上电初始化后首次采集的采样数据计算得到。可以理解，同样可以是在电子雾化装置上电初始化后进行首次连续多次采样，根据获取的多个采样值求平均值，将平均值作为初始采样值m。控制器在首次连续多次采样确定初始采样值m之后，通过后续定时唤醒连续多次获取的采样值计算得到比较采样值n，将比较采样值n与初始采样值m进行比较，如果比较采样值n与初始采样值m的差值大于预设阈值，则可认为雾化介质的状态发生变化，即发生了雾化介质插入或拔出动作，此时根据比较采样值n与初始采样值m计算得到状态检测阈值t，用作结合采样电路下一次检测到的采样值进行雾化介质状态检测。可以理解，如果比较采样值n与初始采样值m的差值小于或等于预设阈值，则可认为雾化介质的状态没有发生变化，不用计算状态检测阈值t，丢掉本次计算的比较采样值n，控制器再次定时唤醒时检测采样数据计算比较采样值n。其中，预设阈值的取值并不唯一，可根据控制器和采样电路的具体电阻参数来设置，本实施例中，预设阈值设置为50。
47.计算状态检测阈值t的方式也并不是唯一的，在一个实施例中，步骤s120中根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值，包括：计算比较采样值与初始采样值的平均值，作为状态检测阈值。具体地，在比较采样值n与初始采样值m的差值大于预设阈值，判定雾化介质的状态发生变化时，控制器计算比较采样值n与初始采样值m的平均值(m+n)/2，作为判断雾化介质插入和拔出的状态检测阈值t，实现根据雾化介质的状态变化确定状态
检测阈值。
48.步骤s140：根据状态检测阈值以及采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测。
49.在确定状态检测阈值t之后，控制器在下一次获取采样电路检测到的采样值时，将获取到的采样值与状态检测阈值t进行比较，根据比较结果确定雾化介质的状态。在一个实施例中，如图3所示，步骤s140包括步骤s142和步骤s144。
50.步骤s142：若采样电路检测到的采样值大于状态检测阈值，则雾化介质处于拔出状态。控制器将采样电路检测到的采样值与状态检测阈值t进行比较，如果获取到的采样值大于状态检测阈值t，则认为雾化介质拔出。
51.步骤s144：若采样电路检测到的采样值小于或等于状态检测阈值，则雾化介质处于插入状态。对应地，如果获取到的采样值小于或等于状态检测阈值t，则认为雾化介质插入。
52.上述电子雾化装置的雾化介质状态检测方法，在根据采样电路检测到的采样数据确定比较采样值后，若比较采样值与初始采样值的差值大于预设阈值，则判定雾化介质的状态发生变化，根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值，结合状态检测阈值以及采样电路检测到的采样值对雾化介质进行状态检测，实现根据雾化介质的状态变化确定状态检测阈值，从而减少误判，提高了检测准确性。
53.在一个实施例中，如图4所示，步骤s120中根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值之后，该方法还包括步骤s130：根据比较采样值对初始采样值进行更新。控制器在根据比较采样值n与初始采样值m计算得到状态检测阈值t之后，还将本次计算的比较采样值n保存为初始采样值m，然后丢掉本次计算的比较采样值n。通过对初始采样值m进行更新保存，用作进行下一次的数据对比。
54.在一个实施例中，在一个实施例中，步骤s140之后，该方法还包括步骤s150：输出状态提示信息。具体地，控制器在根据状态检测阈值t以及采样电路检测到的采样值确定雾化介质的状态后，还可通过信息提示装置输出状态提示信息，进行雾化介质的插入和拔出提醒，以便用户知晓雾化介质的状态。其中，信息提示装置可以是包括指示灯、扬声器和显示屏中的至少一种。
55.此外，在一个实施例中，步骤s140之后，该方法还包括：根据采样电路检测到的采样值对比较采样值进行更新，并返回根据比较采样值与初始采样值计算得到状态检测阈值的步骤。在执行完本次的雾化介质状态检测后，控制器还将本次获取的采样值保存到比较采样值n，返回步骤s120中根据更新后的比较采样值n与保存的初始采样值m，再次计算平均值(m+n)/2作为新的状态检测阈值t，用作与下一次获取的采样值进行对比，分析雾化介质的状态。进一步地，在计算得到新的状态检测阈值t之后，还可通过步骤s130再次将新的比较采样值n对保存的初始采样值m进行更新。
56.本实施例中，通过在每次雾化介质的插入和拔出检测过程中，都更新初始采样值m和比较采样值n，实时动态的计算状态检测阈值t，实现根据雾化介质的状态变化更新计算状态检测阈值t，确保对雾化介质插入和拔出检测的持续有效。
57.为便于更好地理解上述电子雾化装置的雾化介质状态检测方法，下面结合具体实施例进行详细解释说明。
58.目前的电子雾化装置对于雾化介质插入和拔出的识别，大多数是用控制器检测io端口的电平高低来进行判断的，也有通过分压和检测adc值的方式来判断。用分压和检测adc值的方式来判断雾化介质是否在位的方式比较复杂，一般是耐压低于4.2v的mcu才会使用。这种方式一般是通过mcu的内部上拉电阻，以及分压电阻的阻值来计算并生成并预设区分雾化介质在位与否的阈值。但由于mcu种类繁多，内部特性也千差万别，对于引脚内部上拉误差很大的mcu(如nordic芯片的内部引脚误差在11
±
4k)，用固定的阻值来计算雾化介质在位不在位的阈值，就会造成部分电子雾化装置无法识别雾化介质插入和拔出。基于此，本技术提供的电子雾化装置的雾化介质状态检测方法，能在雾化介质插入和拔出的动作后进行智能自学习，形成判断标准，从而根除误触发的现象，提升用户体验，解决雾化介质插拔漏检测问题。
59.具体地，如图1所示，由于有些mcu的电源耐压值不到电芯供电的4.2v，本技术中采样电路2采用电阻分压进行检测。而由于mcu的内部上拉电阻rpu的误差范围问题，导致雾化介质插入和拔出的采样值的区间有重叠区，即存在雾化介质拔插误检测的问题。如图5所示，本技术使用软件自学习的方式，在电子雾化装置上电后，mcu定时(一般小于1秒，具体可使用0.1秒)唤醒连续多次检测adc_heat采样值，进行平滑处理计算平均adc值。如果本次数据采集为电子雾化装置上电后的首次连续多次采集，则将计算的平均adc值记录为初始采样值m进行保存。在后续的唤醒中mcu连续多次检测adc_heat采样值，求其平均adc值记录为比较采样值n进行保存。
60.当检测到的初始采样值m与比较采样值n的变化大于50(根据具体电阻参数预设)时，就认为有雾化介质的插入或拔出动作，将(m+n)/2作为雾化介质插入和拔出检测的状态检测阀值t，并执行本次雾化介质插入和拔出的提醒，将比较采样值n保存为初始采样值m；如果初始采样值m与比较采样值n变化不超过50时，则丢掉本次计算的比较采样值n，保存初始采样值m，再次定时唤醒后重新检测计算比较采样值n。
61.在确定状态检测阀值t后，当下一次采样到的adc_heat采样值＞状态检测阀值t时，则认为雾化介质拔出，执行雾化介质拔出事件，进行雾化介质拔出提醒；当采样到的adc_heat采样值≤状态检测阀值t时，则认为雾化介质插入，执行雾化介质插入事件，进行雾化介质插入提醒。将本次得到的adc_heat采样值保存到比较采样值n，再次计算(m+n)/2作为状态检测阈值t，之后将比较采样值n保存到初始采样值m。在后续的雾化介质插入和拔出的过程中，都会记录初始采样值m和比较采样值n，实时动态的计算和设定状态检测阈值t，可保证雾化介质的插入和拔出检测永远有效。
62.应该理解的是，虽然上述各流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，上述各流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
63.基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的电子雾化装置的雾化介质状态检测方法的电子雾化装置的雾化介质状态检测装置。该装置所提供
random access memory，fram)、相变存储器(phase change memory，pcm)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(random access memory，ram)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(static random access memory，sram)或动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)等。本技术所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
78.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
79.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。