涂布系统的制作方法

1.本实用新型涉及电池加工技术领域，尤其涉及一种涂布系统。


背景技术：

2.锂电池极片的涂布工序是锂电池生产过程中非常关键的工序，涂布面密度是锂离子电池制作中最为重要的技术参数之一，直接决定了电池的性能和安全。在涂布的过程中，需要对涂布的相关参数进行获取，现有采集设备通常采用固定式机位进行参数采集，因此在涂布生产线上至少需要布置三台采集设备才能够实现对涂布工序中，涂布相关参数的获取，例如，第一台采集未涂覆的空箔材数据，第二台采集单面涂覆后的半成品极片数据，第三台采集双面涂覆后的成品极片数据。


技术实现要素：

3.本实用新型提供一种涂布系统，用以解决现有技术中采集设备机位固定，导致需要多台采集设备才能完成涂布参数采集的缺陷。
4.根据本实用新型提供的一种涂布系统，包括：放卷机构、烤箱组件、收卷机构和检测组件；所述放卷机构设置于所述烤箱组件的上游侧，用于实现极片本体的放卷；所述收卷机构设置于所述烤箱组件的下游侧，用于实现所述极片本体的放卷；所述烤箱组件内部形成烘烤所述极片本体的烘烤腔；所述检测组件设置于所述烤箱组件入口端和出口端的两侧，用于检测所述极片本体涂覆后的表面参数。
5.根据本实用新型的一种实施方式，所述烤箱组件包括：第一烤箱和第二烤箱，所述第一烤箱和所述第二烤箱平行设置；两个所述检测组件分别设置于所述第二烤箱的上游侧和下游侧；其中，所述极片本体依次经过所述放卷机构、所述第一烤箱、一个所述检测组件、所述第二烤箱、另一个所述检测组件和所述收卷机构。
6.根据本实用新型的一种实施方式，至少所述烤箱组件和所述收卷机构之间的所述检测组件用于检测所述极片本体相对的两个面进行检测。
7.根据本实用新型的一种实施方式，还包括：第一涂布辊和第二涂布辊；所述第一涂布辊设置于所述放卷机构和所述第一烤箱之间；所述第二涂布辊设置于所述检测组件和所述第二烤箱之间，所述检测组件为设置于所述第二烤箱和所述第二烤箱入口端一侧的所述检测组件之间。
8.根据本实用新型的一种实施方式，所述极片本体的表面依次交错设置有多个涂覆区和多个空箔区；所述极片本体沿第一方向移动；所述检测组件包括：发射部和采集部；所述发射部和所述采集部间隔的对应设置；所述发射部和所述采集部之间形成供所述极片本体通过的通道；其中，所述发射部沿第二方向往复运动，用于向所述涂覆区和/或所述空箔区发射射线；所述采集部沿所述第二方向与所述发射部同步的往复运动，用于采集穿过所述涂覆区和/或所述空箔区的射线；所述第一方向与所述第二方向彼此垂直设置。
9.根据本实用新型的一种实施方式，所述发射部包括：第一驱动单元、第一固定座和
发射单元；所述第一驱动单元与所述第一固定座连接；所述发射单元与所述第一驱动单元连接，且所述发射单元与所述采集部对应设置；其中，所述第一驱动单元驱动所述发射单元沿所述第二方向往复运动；所述发射单元向途经的所述极片本体的所述空箔区和/或所述涂覆区发射射线。
10.根据本实用新型的一种实施方式，所述采集部包括：第二驱动单元、第二固定座和采集单元；所述第二驱动单元与所述第二固定座连接；所述采集单元与所述第二驱动单元连接，且所述采集单元与所述发射部对应设置；其中，所述第二驱动单元驱动所述采集单元沿所述第二方向往复运动；所述采集单元用于采集所述发射部发射的射线。
11.根据本实用新型的一种实施方式，所述发射部发射用于检测所述极片本体面密度的β射线。
12.根据本实用新型的一种实施方式，所述发射部发射用于检测所述极片本体密度的x光射线。
13.根据本实用新型的一种实施方式，所述发射部发射用于检测所述极片本体厚度的激光射线。
14.本实用新型中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：本实用新型提供的一种涂布系统，通过重新布置放卷机构、烤箱组件、收卷机构和检测组件之间的位置关系，也减少了采集设备的布置数量，在保证采集效果的同时，降低了设备的成本。
附图说明
15.为了更清楚地说明本实用新型或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作以简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
16.图1是本实用新型提供的涂布系统中，检测组件的装配关系示意图；
17.图2是本实用新型提供的检测组件中，发射部的布置关系示意图；
18.图3是本实用新型提供的检测组件中，采集部的布置关系示意图；
19.图4是本实用新型提供的极片本体和射线轨迹的关系示意图之一；
20.图5是本实用新型提供的极片本体和射线轨迹的关系示意图之二；
21.图6是本实用新型提供的涂布系统的布置关系示意图。
22.附图标记：
23.10、极片本体；11、涂覆区；12、空箔区；
24.20、发射部；21、第一驱动单元；22、第一固定座；23、发射单元；
25.30、采集部；31、第二驱动单元；32、第二固定座；33、采集单元；
26.40、放卷机构；
27.50、烤箱组件；51、第一烤箱；52、第二烤箱；
28.60、收卷机构；
29.70、第一涂布辊；
30.80、第二涂布辊。
具体实施方式
31.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
32.在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
33.下面结合具体实施方式对本实用新型进行具体说明。
34.在本实用新型的一些具体实施方案中，如图1至图5所示，本方案提供一种涂布系统，包括：放卷机构40、烤箱组件50、收卷机构60和检测组件；放卷机构40设置于烤箱组件50的上游侧，用于实现极片本体10的放卷；收卷机构60设置于烤箱组件50的下游侧，用于实现极片本体10的放卷；烤箱组件50内部形成烘烤极片本体10的烘烤腔；检测组件设置于烤箱组件50入口端和出口端的两侧，用于检测极片本体10涂覆后的表面参数。
35.需要说明的是，通过设置放卷机构40和收卷机构60，实现了对涂布的放卷和收卷。
36.进一步地，烤箱组件50的设置实现了对涂布的烘烤。
37.更近一步地，涂布检测组件根据放卷机构40、烤箱组件50和收卷机构60的位置进行相应的设置，实现了对第一烘烤后的单面涂覆检测，以及第二次烘烤后的双面涂覆检测，提升了对涂布烘烤质量的把控。
38.在可能的实施方式中，放卷机构40和收卷机构60包括了相应的卷筒、电机和支架等，为了节约篇幅，本实用新型没有对放卷机构40和收卷机构60的具体结构进行过多的描述，在实际应用中，参考本领域相关设置即可。
39.在本实用新型一些可能的实施例中，烤箱组件50包括：第一烤箱51和第二烤箱52，第一烤箱51和第二烤箱52平行设置；两个检测组件分别设置于第二烤箱52的上游侧和下游侧；其中，极片本体10依次经过放卷机构40、第一烤箱51、一个检测组件、第二烤箱52、另一个检测组件和收卷机构60。
40.具体来说，本实施例提供了一种烤箱组件50和涂布组件布置关系的实施方式，通过设置第一烤箱51和第二烤箱52，实现了对极片本体10的两侧烘烤，便于把控极片本体10烘烤的质量，也提升了对于极片本体10表面参数获取的准确性。
41.在本实用新型一些可能的实施例中，至少烤箱组件50和收卷机构60之间的检测组件用于检测极片本体10相对的两个面进行检测。
42.具体来说，本实施例提供了一种极片本体10检测面的实施方式，极片本体10经过烤箱组件50后，在进入收卷机构60前，需要对极片本体10表面的相关参数进行采集，而极片本体10通常是两面均需采集，因此通过检测组件对极片本体10两面进行检测，实现了对极片本体10相关参数的采集。
43.在可能的实施方式中，如图6所示，在烤箱组件50和收卷机构60之间设置的检测组件，可设置两套发射部20和两套采集部30，且发射部20和采集部30交错设置，即一个发射部20和采集部30设置于同一侧，另一个发射部20和采集部30设置于另一侧，以实现对极片本体10两个相对面相关参数的采集。
44.在本实用新型一些可能的实施例中，还包括：第一涂布辊70和第二涂布辊80；第一涂布辊70设置于放卷机构40和第一烤箱51之间；第二涂布辊80设置于检测组件和第二烤箱52之间，检测组件为设置于第二烤箱52和第二烤箱52入口端一侧的检测组件之间。
45.具体来说，提供了一种第一涂布辊70和第二涂布辊80的实施方式，通过设置第一涂布辊70和第二涂布辊80实现了对极片本体10表面的涂覆，保证了极片本体10经烤箱进行两次涂覆和两次烘烤，保证涂覆的效果。
46.在本实用新型一些可能的实施例中，极片本体10的表面依次交错设置有多个涂覆区11和多个空箔区12；极片本体10沿第一方向移动；检测组件包括：发射部20和采集部30；发射部20和采集部30间隔的对应设置；发射部20和采集部30之间形成供极片本体10通过的通道；其中，发射部20沿第二方向往复运动，用于向涂覆区11和/或空箔区12发射射线；采集部30沿第二方向与发射部20同步的往复运动，用于采集穿过涂覆区11和/或空箔区12的射线；第一方向与第二方向彼此垂直设置。
47.具体来说，本实施例提供了一种检测组件的实施方式，通过设置能够往复运动的发射部20和采集部30，一方面通过采集涂覆区11和空箔区12的参数实现对涂布表面参数的获取，另一方面移动式的布局，也减少了采集设备的布置数量，在保证采集效果的同时，降低了设备的成本。
48.在本实用新型一些可能的实施例中，发射部20包括：第一驱动单元21、第一固定座22和发射单元23；第一驱动单元21与第一固定座22连接；发射单元23与第一驱动单元21连接，且发射单元23与采集部30对应设置；其中，第一驱动单元21驱动发射单元23沿第二方向往复运动；发射单元23向途经的极片本体10的空箔区12和/或涂覆区11发射射线。
49.具体来说，本实施例提供了一种发射部20的实施方式，如图2所示，将第一固定座22和发射单元23进行连接，实现了对发射单元23的固定，而第一驱动单元21的设置则实现了驱动第一固定座22沿第二方向往复运动，进而实现驱动发射单元23沿第二方向的往复运动。
50.在可能的实施方式中，第一驱动单元21为电机和丝杠，丝杠与第一固定座22连接，通过电机带动丝杠转动，实现驱动第一固定座22的移动，可以理解地，还包括相应的滑轨和滑块。
51.在可能的实施方式中，第一驱动单元21为磁性部件，第一固定座22内设置有与第一驱动单元21配合的磁性部件，第一驱动单元21和第一固定座22之间通过磁感应实现动力的提供。
52.在可能的实施方式中，第一固定座22为安装发射单元23的相关结构，例如可以是支架、安装块、或者滑块等，为了节约篇幅，本实用新型没有对第一固定座22做出过多细节的描述，在实际应用中，根据相关领域设置即可。
53.在可能的实施方式中，发射单元23为发射相关射线的元器件，相关射线为采集涂布表面相关参数所用到的射线，在实际应用中，根据不同参数的需求，进行相应发射单元23
的更换。
54.在可能的实施方式中，第一固定座22和发射单元23之间为可拆卸连接，连接方式可以通过螺纹、卡接、磁吸或者相应夹具等方式实现。
55.在本实用新型一些可能的实施例中，采集部30包括：第二驱动单元31、第二固定座32和采集单元33；第二驱动单元31与第二固定座32连接；采集单元33与第二驱动单元31连接，且采集单元33与发射部20对应设置；其中，第二驱动单元31驱动采集单元33沿第二方向往复运动；采集单元33用于采集发射部20发射的射线。
56.具体来说，本实施例提供了一种采集部30的实施方式，如图3所示，将第二固定座32和采集单元33进行连接，实现了对采集单元33的固定，而第二驱动单元31的设置则实现了驱动第二固定座32沿第二方向往复运动，进而实现驱动采集单元33沿第二方向的往复运动。
57.在可能的实施方式中，第二驱动单元31为电机和丝杠，丝杠与第二固定座32连接，通过电机带动丝杠转动，实现驱动第二固定座32的移动，可以理解地，还包括相应的滑轨和滑块。
58.在可能的实施方式中，第二驱动单元31为磁性部件，第二固定座32内设置有与第二驱动单元31配合的磁性部件，第二驱动单元31和第二固定座32之间通过磁感应实现动力的提供。
59.在可能的实施方式中，第二固定座32为安装采集单元33的相关结构，例如可以是支架、安装块、或者滑块等，为了节约篇幅，本实用新型没有对第二固定座32做出过多细节的描述，在实际应用中，根据相关领域设置即可。
60.在可能的实施方式中，采集单元33为采集发射单元23发送射线的元器件，采集单元33用于采集相关射线，以保证根据采集结果确定涂布表面相关参数，在实际应用中，如更换了发射单元23，可进行相应的采集单元33的更换，以保证对于涂布表面参数计算的准确性。
61.在可能的实施方式中，第二固定座32和采集单元33之间为可拆卸连接，连接方式可以通过螺纹、卡接、磁吸或者相应夹具等方式实现。
62.在本实用新型一些可能的实施例中，发射部20发射用于检测极片本体10面密度的β射线。
63.具体来说，本实施例提供了一种发射部20发射射线类型的实施方式，通过发射β射线，实现了对极片本体10表面面密度的检测。
64.在可能的实施方式中，如图4和图5所示，检测的过程中，发射β射线后，分别采集涂覆区11和空箔区12的相关参数，进而得到涂覆区11的面密度。
65.需要说明的是，图4和图5中的斜线为发射部20发射的射线在极片本体10表面形成的轨迹。
66.在本实用新型一些可能的实施例中，发射部20发射用于检测极片本体10密度的x光射线。
67.具体来说，本实施例提供了另一种发射部20发射射线类型的实施方式，通过发射x光射线，实现了对极片本体10表面密度的检测。
68.在可能的实施方式中，如图4和图5所示，检测的过程中，发射x光射线后，分别采集
涂覆区11和空箔区12的相关参数，进而得到涂覆区11的密度。
69.需要说明的是，图4和图5中的斜线为发射部20发射的射线在极片本体10表面形成的轨迹。
70.在本实用新型一些可能的实施例中，发射部20发射用于检测极片本体10厚度的激光射线。
71.具体来说，本实施例提供了又一种发射部20发射射线类型的实施方式，通过发射激光射线，实现了对极片本体10表面厚度的检测。
72.在可能的实施方式中，如图4和图5所示，检测的过程中，发射激光射线后，分别采集涂覆区11和空箔区12的相关参数，进而得到涂覆区11的厚度。
73.需要说明的是，图4和图5中的斜线为发射部20发射的射线在极片本体10表面形成的轨迹。
74.在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型实施例中的具体含义。
75.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“方式”、“具体方式”、或“一些方式”等的描述意指结合该实施例或方式描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型实施例的至少一个实施例或方式中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或方式。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或方式中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或方式以及不同实施例或方式的特征进行结合和组合。
76.最后应说明的是：以上实施方式仅用于说明本实用新型，而非对本实用新型的限制。尽管参照实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本实用新型的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换，都不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围中。