利用交替侧向照明的检查仪的制作方法

利用交替侧向照明的检查仪的制作方法
【专利摘要】用于检查产品流中的产品件的仪器，其包括用于在观测站形成以自由飞行的方式传递的产品件流的系统、用于从一侧利用光照射观测站以便从观测站中的产品反射光的第一发光装置、用于从另一侧利用光照射观测站以便从观测站中的产品反射光的第二发光装置、用于接收来自第一及第二照明装置的从观测站中的产品件反射的并横跨观测站透射的光的扫描系统、以及用于在第一及第二扫描阶段交替激活第一及第二发光装置以便在观测站处连续照射产品流的装置。
【专利说明】利用交替侧向照明的检查仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种分类及检查仪，且尤其涉及在分类及检查仪中使用的光学检查技术，例如，用于检查并随后分类诸如谷物、稻米、坚果、豆类、水果及蔬菜的散装食品。在国际专利申请W098/018574，欧洲专利申请EP0838274，US专利说明书US4, 630, 736和GB专利公开GB2471885中描述了这种仪器的示例，其全部内容合并于此作为参考。
【背景技术】
[0002]在这些类型的仪器中，通常以自由飞行的方式穿过成像区和分类区来传递要被分类的产品流。在成像区，查找所指定的缺陷，且在分类区，任何在其上已经识别出缺陷的产品和因此要被排除的产品，从产品流中移除或分离。移除通常借助来自于邻近产品流设置的一个或多个喷射器的诸如空气的气体的一个或多个鼓风器。
[0003]在这种机器中，所需要的吞吐量通常由处理厂内别处的生成率来确定。通常尽管所需要的吞吐量较高且典型地以每小时的吨数来测量，由此对于较小的产品，吞吐量非常快，每秒较大的数量被分类。
[0004]食品生产者经常利用诸如光学分类机的分类及检查仪来感测他们食品中的缺陷，并由此允许从产品流中移除任何有缺陷的，即非标准的产品。这反过来允许被分类的产品符合客户约定的等级或质量标准，但同时还在给定的时间段内使来自于未分类产品流的总产品收得率尽可能的大。质量标准通常为不同类型的缺陷规定污染物的单个最大水平。例如，当分类稻米时，缺陷可为虫蚀的“啄痕谷物”，或垩白谷物或变黄谷物，这些污染物的最大水平被假定为小于0.1%的啄痕，小于1%的垩白及小于0.2%的变黄。某些客户还规定对灰色谷物的数目的限制。
[0005]如本文中所使用的，术语“缺陷”或“缺陷的”应被理解成同时包括被分类物品上的污损和不满足该原因或另一个原因的整个物品/产品。它还可包括异物或外来产品。
[0006]光学分类机通过利用已知的技术来识别被分类的产品中的缺陷，已知的技术诸如连续分析利用传感器在成像区处获取的产品流中的产品(或部分产品)的图像。来自于图像分析器的输出信号随后被用于允许控制系统适当地命令喷射器，以便逐出图像中所识别出的缺陷，并因此还逐出以这些缺陷为特征的产品。
[0007]通常，传感器被最佳化以检测特定类型的缺陷。然而，传感器或传感器上的行可被最佳化以用于特定的分类准则，该传感器或传感器上的行随后还可恰好有效地检测另一种类型的缺陷，这或者是因为产品具有不只一种类型的缺陷，或者是因为分类准则不完全彼此独立。最佳化可通过接受特定的光波长或一组光波长的单个传感器或传感器的行来实现，诸如通过提供传感器或传感器的具有特定滤光器的像素行。可替换地或者另外地，光源可被调整成在传感器或传感器的行的观察窗处提供，产品流的照明以期望的光波长或成组的光波长为特征，或者利用省略了特定的不期望的波长的照明，以便满足缺陷检测最佳化。这也可利用滤光器来实现，以便在照射产品流之前，过滤发射的光。闪光灯也可允许交替的光的颜色。[0008]考虑到该最佳化，不确定给定的最佳化会提供对特定形式的缺陷的独家检测。例如，设计成检测啄痕谷物的用于稻米的最佳化检测准则也可识别某些垩白及某些变黄的谷物以便于移除。而且，即使特别最佳化的检测准则将典型地识别一种类型的缺陷中的大多数，它也可能不准确地将某些好的产品分类为有缺陷的，这是由于最佳化不必最佳化为或适合于作为用于其他形式的缺陷的检测装置。为此，利用不只一个最佳化的不同准则的检测，可或者利用棱镜同时进行，或者当产品向下传过或横跨过成像区时连续地进行，此外，潜在地利用具有相继可变的颜色的闪光灯光源，或利用两个或多个传感器或传感器的两行或多行上的不同滤光器。例如，第一检测准则的检测可在成像区的第一部分或队列中进行，潜在地利用或许具有例如蓝色的第一颜色的第一闪光照明，且第二检测准则的检测可以成像区的第二部分或队列的通常较小的微小间隔来进行，潜在地利用或许具有例如红色的不同颜色的第二闪光照明。这些相继的检测随后允许两个最佳化的检测同时进行，以便允许传感器最佳地检查两个或多个不同的缺陷，并因此通过单个的最佳化提供检测。其中适当地或可能地给出所采用的最佳化及所检测的产品的给定特性，它可能还允许由检测电路形成的连续或单独检测之间的交叉检测或相关联。
[0009]然而，问题伴随着序列检测出现了，不管是利用闪光照明还是逐帧检测，在使一个检测与下一个检测匹配以致允许实施交叉检查或关联，且其与下面的事实相关，尽管闪光的频率、或成像帧率的频率、或两者对于分类仪的给定观测区典型地为固定的，穿过该观测区的产品流中的单个的、相继的产品的通过(速率)速度在成像区不是固定的-某些产品行进的比其他的快。归根结底，产品的速率可取决于多个情境特质，诸如仪器的设计/特征产品本身的特性、周围的环境条件、以及各种元件与所涉及的产品之间的个体交互。例如，在稻米分类设备中，稻米谷物以自由落体的方式有效地穿过观测区，在进给平面，即穿过成像区的速率，典型地为位于3.5m/s与4.3m/s之间的任何位置。因此，具体产品的通路开始进入部分观测区的具体时间是有些随机的。如此，从一行或一个传感器到下一个，在用于检测过程中的两个或多个相继步骤的检测图像中可能存在变化，由此使得它很难交叉检查单独的检测，且这可导致可变的检测精度。过去对于对此进行补偿的尝试包括，试图将闪光的照明时间与产品流中的产品同步，但是其太复杂，尤其是因为分类仪可使许多单独的产品流特征化，每个流潜在地或许在大约不超过每小时一吨的产品流动中具有不超过一米的宽度，并因此非常密集的聚集着谷物，且可能这些单独的产品流的平均速度在时间上本身为不同的或非恒定的，这是因为环境条件可能改变或者是因为机器上的不同流可能具有不同的函数，即，平缓的流或主要的流可具有3.9m/s的平均速度，以及再分类或输送流可具有大概3.5m/s的平均速度，且两者可同时位于同一个机器上。进一步，多个产品流每一个可能都具有它们自己的观测区，并因此可具有它们自己的传感器和光源。因此产品流可被期望为单独构造/同步用于使检测性能最佳化。

【发明内容】

[0010]本发明涉及上述种类的用于检查以自由飞行方式传递到观测区的产品流中的产品件的仪器。该仪器包括第一和第二发光装置，其用于从产品件沿着其被传递的路径的相对两侧照射观测区。扫描系统接收来自第一及第二照明装置的从观测站中的产品件反射的光和横跨观测站透射的光。由扫描系统产生的信号被传递到计算机以便分析。提供在第一及第二阶段交替地激活第一及第二发光装置以便连续地照射观测站处的产品流的装置。该交替的照明使得产品件两侧上的变色可见以便被识别，由此使得更广泛的检查可被实现。
[0011]在本发明优选的实施例中，仪器可在观测站的每侧上包括位于第一及第二发光装置之后的辅助照明装置。这是附加于第一及第二发光装置的以便在各自的阶段分别为第一及第二发光装置提供背景照明。例如，在第一阶段，第一发光装置将利用红色及蓝色波长范围内的光照射观测站，且第二发光装置将仅仅发射红色波长范围内的光。在第二阶段，第二发光装置将适于利用红色及蓝色波长范围内的光照射观测区，而第一发光装置将适于仅仅发射红色波长范围内的光。在这种设置中，各个发光装置从不同角度照射观测站是优选的。通常也在红色及蓝色波长范围内，在两个阶段可同时提供背景照明。
[0012]代替波长(即颜色)上的变化，或除了其之外，按照光波幅值，即它的亮度或强度的变化或改变是可能的。如此，照明的强度可被改变或调节或更换以便适于被检查的产品的类型或对其最佳化，或者以便满足客户对于产品质量控制的需要，例如，对于稻米谷物亮度的需要，或者以便校正光源-例如，灯或LED的光输出端的制造容差，其中，从一个光源到另一个光源不必完全一致。因此，第一及第二发光装置可以发射不同的幅值范围内的光。进一步，或者可替换地，第一及第二发光装置可响应于不同或交变的电流输入而发射光。同样地，辅助照明装置可以发射不同的、变化的或交变的波长或幅值范围内的光。进一步，或者可替换地，辅助照明装置可响应于不同的、变化的或交变的电流输入而发射光。
[0013]第一及第二发光装置的交替激活非常快速，因此，在每个阶段，从每一侧照射观测站的相同区域，其中扫描系统从相同的产品件接收反射的光。然而，为了适应产品件在第一与第二阶段之间的移动，扫描系统中像素的几何形状可被调节。该调节更详细地在今天提交的题为 “Sorting and Inspection Apparatus with Camera Integration” 的我们的共同未决申请中描述。
【专利附图】

【附图说明】
[0014]根据以示例的方式给出的随后的说明，本发明的这些及其他特征将显而易见，且其中，可对附图进行参考，其中:
[0015]图1为根据本发明的分类及检查仪的示意图；
[0016]图2和3示出了在本发明的特定实施例中使用的观测区，其中，产品的照明被分阶段以使缺陷检测过程最佳化；
[0017]图4阐释了本发明的细长像素与传统方形像素相比的数据采集的改进；
[0018]图5和6进一步阐释了利用与方形像素(图5)相比的细长像素(图6)所采集的数据的质量上的改进；
[0019]图7和8涉及可能的相机数据积分技术的细节。它们在与本申请同时提交的题为“Sorting and Inspection Apparatus with Camera Integration，，的共同未决串请中被进一步讨论；
[0020]图7示出了具有不同速度的产品横跨感测区的行进距离上的变化；以及
[0021]图8阐释了具有不同速度的产品的扫描周期内的部分的选择，以便使分离的传感器行中的检测确定之间的可交叉检查性最佳化。【具体实施方式】
[0022]参考图1，阐释了分类及检查仪。它具有料斗2，要被分类的产品被装载在料斗2中。它还具有产品斜道4，要被分类的产品沿着其供给-通过安装在料斗2下的振动进给器将产品振动到斜道的头部。
[0023]产品斜道在该实施例中为基本竖直的-或许与竖直方向成15°的角度。然而，如果期望，斜道可比这个平缓。
[0024]在斜道的底部-产品在此处排出斜道-提供观测区6。在该区域，传感器10和检测电路14被提供用于在产品以各自的产品速度落下穿过观测区时捕获产品的图像，以及用于确定各个产品是否具有不期望的缺陷。投影仪12为产品提供前射光，而背光或背景22可被用于帮助防止错误的缺陷检测，正如本领域所知的。
[0025]此后，产品继续下落-自由下落-穿过分类区8，且在该分类区，确定为具有缺陷的任何产品由喷射器16自动排除，其由检测电路14控制。这些有缺陷的产品因此被喷射器转移，以便收集在缺陷箱18中。然而，好的产品继续落入好产品箱20。
[0026]传感器10和检测电路也可确定单个产品的速度，或者单独的速度传感器可被提供在斜道4的出口处。
[0027]在产品穿过观测区时，对产品的照明可替换地由其他的、常规的分类/检查器发光系统(未不出)提供。
[0028]接下来参考图2和3，提供了可能的传感器/光源设置的其它细节。
[0029]上面所述的分类仪，在某种程度上可被称作分类模块，即物品收集，其组成了分类器的可识别部分，且取决于机器的性能，其可多次出现。典型地，分类仪将由一个斜道加上相关的振动器、喷射器和具有相关的光学元件和处理器的相机组成。分类模块每一个都可由一个300mm宽的斜道、一个振动器(或者如果分离的话是两个)、64个喷射器、每个观测150_产品的四个相机(前-左、前-右、后-左、及后-右)、四个前景照明块和两个背景照明块、和相关的处理设备。然而，在两个或多个分类模块之间可共用几个功能元件。这可导致每个机器或单元的模块化，例如如下:
[0030]一个框架。
[0031]两个视图。
[0032]一个HMI和系统控制器板(仅仅主单元)。
[0033]一个系统服务器板。
[0034]一个振动器控制器板
[0035]三个以上的分类模块。
[0036]至少一个分类板。
[0037]在所阐释的仪器中，例如，当分类稻米时，产品被期望具有3.57ms-l与3.9ms-l之间的、正常为3.7ms-l的竖直速度。然而，也可能出现3.5ms-l与4.3ms-l之间的进给面速度。
[0038]为了提供具有该等级的产品速度的期望的分类性能，进给平面处的像素尺寸通常应不大于0.292mmX0.292mm。然而，分类处理的成本可与所采用的像素数成比例，所以使像素的数目最小化具有节约成本的优点。
[0039]通常，实现具有较高分辨率的高级啄痕(小黑斑)分类是可能的。相对于阴影变化/颜色缺陷(发黄的/变灰的/垩白谷物)，这种缺陷高度可见，并可易于利用单个颜色照明来检测。
[0040]由于啄痕比颜色缺陷需要更简单的处理，独立处理来自于两个传感器(其以两个颜色检测)的单独的缺陷检测的数据流是可能的，而对于四种颜色缺陷，双色分辨率数据流是优选的。
[0041]使用比用于颜色缺陷的分辨率高的用于斑点缺陷高分辨率单色数据流也是优选的。
[0042]鉴于此，传感器设置可包括用于确定颜色缺陷的基于双色系统的时间延迟，和附加地用于检测小黑斑的高分辨率单色传感器。
[0043]对于稻米谷物分类仪的优选设置将包括利用0.292mmX 0.292mm像素分辨率的双色颜色缺陷检测和利用X轴(垂直于流动方向)0.146mmXY轴(平行于流动方向)0.292mm像素分辨率的单色斑点缺陷检测。
[0044]较高的分辨率使得能够更好地看出较小的斑点-稻米上的斑点尺寸典型地位于
0.875mm的平方与0.146mm高(Y) X0.072mm宽(X)之间的范围，且上述列出的尺寸反映了对于79.1 μ S (S卩，此处具有3.7m/s的目标产品速度)的电光扫描(EOS)周期的最佳设置。如此，在优选的仪器中，2048个像素在产品流的整个宽度(300mm)上捕获数据，每个像素捕获的图像在水平方向(X)上为0.146mm以及在竖直方向(Y)上为0.292mm。
[0045]传感器可具有512行，由此，512行2048个像素的图像可由相机捕获以用于缺陷确定。
[0046]为了使仪器的传感器、光源和缺陷确定部件的各种元件同步，提供系统同步信号。优选地，系统同步信号为方波。
[0047]信号周期优选在68 μ s到84 μ s的范围内可更改。该周期来源于产品在相机传感器上的两行之间行进的距离所需要的时间。对于上面给出的0.292mm的距离，上述信号周期范围等于大约4.3ms-l与大约3.5ms-l之间的产品速率。
[0048]最小的信号周期优选是固定的，以致允许有足够的时间来进行处理。
[0049]在优选的设置中，该信号周期应以不超过0.75 μ s的步进来更改-该最大的步进尺寸基于1%的名义周期。
[0050]相机积分周期应来自于系统同步信号。
[0051]必须能够改变相机积分周期，这是因为“基于延迟的”颜色系统(如下所示)必须将用于两个颜色的数据与相同的(Y)位置相对齐。这通过下面的假设来进行，在一个扫描周期中，产品已从传感器的第一行移动到下一行，例如在蓝色感测行与红色感测行之间，这些行收集该扫描周期中的相关数据。相机积分周期随后被改变成与产品在产品流中的平均的、名义上的或假设的速率相匹配。
[0052]下面参考图2和3，将讨论观测区中的阶段的或阶段化的照明的概念。它提供产品流相对侧的交替照明，且它有助于使检测过程最佳化。
[0053]在所示出的设置中，产品的前后视图具有不同的照明设置。采用两个相机/传感器/照明/背景设置，照明设置为非对称的。
[0054]如所示的，产品件在来自于斜道4的流中以自由飞行的方式传递穿过总体上以6指示的观测区。图2示出了扫描操作的第一阶段，其中，以发光二极管24的阵列形式的第一发光装置照射观测区6中的产品。从产品反射的光由行扫描相机26接收，其生成信号并将其发送给计算机(未示出)以用于分析。可看出，二极管24阵列以大约40°的入射角对称地设置在反射光的光路的两侧。
[0055]通过在观测区6的另一侧上的也呈二极管阵列28形式的第二发光装置，在图2中所示出的第一扫描阶段中提供照明。阵列28以不同于阵列24的角度，在所示出的设置中以大约20°的入射角，照射观测站。背景照明由辅助光源30提供。
[0056]在图2中示出的设置中，在第一扫描阶段，LED阵列24利用红色及蓝色波长范围内的光照射观测站，而LED阵列28仅仅以红色波长范围提供照明。与相机26相对齐的背景照明(30)也以红色及蓝色波长范围提供。
[0057]在图3所阐释的第二扫描阶段，LED阵列24和28的角色颠倒了。阵列24被转换成仅仅以红色波长范围发射光，而阵列28被转换成以红色及蓝色波长范围发射光。在该阶段，从观测站中的产品件反射的光由相机32接收，相机32生成信号并将信号发送到计算机，以用于分析。
[0058]代替颜色变化或除了颜色变化之外，照明的强度可被改变或变换。
[0059]尽管LED阵列将在扫描阶段之间连续切换，两个相机26和32可连续在两个阶段期间接收反射的光并将信号发送给计算机。计算机可被编程为丢弃所接受的但在特定阶段不需要的数据。因此，照明变换，以使得仅仅在每个阶段，每个相机具有它所需要的照明。然而，由于上面指出的不对称性，在各阶段之间产生照明差异。
[0060]因此，利用阶段性，产品的前视图及后视图应具有不同的照明设置-典型地采用两个相机/传感器/照明/背景设置。例如，图2和3中所示出的照明设置是非对称的，后面的前景到后面的相机大约为40°，且前面的前景到前面的相机大约为20°。
[0061]这些照明设置可能手动不兼容，但是分阶段的概念用于应对该问题。
[0062]分阶段可涉及将系统同步周期划分成两个相等的阶段，“阶段#1”和“阶段#2”。阶段#1或许由后视图相机采用，且它采用同侧的前景红及蓝照明设置，另一侧的前景为仅仅红色照明。阶段#2或许由前视图相机采用，且也采用同侧的前景红及蓝照明，另一侧的前景为仅仅红色照明。然而，在该设置中，照明可为闪光的，以使得在每个阶段，每个相机仅仅具有它所需要的照明。然而，由于上面指出的非对称性，在各阶段之间产生照明差异。
[0063]在用于另一个相机的阶段期间所捕获的任何相机数据或许被丢弃-灯不会即时打开或关闭，所以丢弃这样的数据可为有益的。
[0064]闪光的前景照明可利用两个不同的构造来进行，这依赖于系统同步周期的两个阶段。
[0065]相机中的像素的几何形状优选被修改成，在产品流的方向上，探测器的现场图片的I分辨率等于机器的I分辨率(即，给出的示例中的0.292mm)
[0066]阶段#1可如下操作(用于稻米分类)-后视图可分离出垩白、啄痕、暗黄、微黄、灰色和稻谷。前视图仅仅丢弃它的数据-它很难将稻谷与垩白与啄痕区分，或将微黄与灰色区分。这也是伴随着褐色啄痕的问题。
[0067]阶段#2可如下操作-后视图数据被丢弃，且对于前视图，使啄痕和稻谷分离是可能的，或者在移除垩白、啄痕、暗黄、微黄、灰色和稻谷处拍第二张照片是可能的。
[0068]在本发明的范围内，其他的设置是可能的。[0069]下面参考图4，下面解释为什么不同几何形状的像素是期望的。图4将方形像素与修改的长方形像素(具有0.292mm的长度)相比较。在不分阶段的方形像素的情形中，现场图片成像为具有系统y分辨率的1/2。在SS周期的开始处，现场图片瞬时成像，在该情形中，其应为l/2y分辨率。于是，利用产品在SS周期(由系统设计设置为y分辨率)在这些点之间行进的距离，在整个SS扫描周期结束处，像素再次瞬时以l/2y分辨率瞬时成像。像素将这些点之间的所有瞬时值积分。
[0070]在分阶段的情形中，现场图片将开始瞬时以全部的y分辨率成像，以使得在1/2SS周期之后，当该现场图片的积分停止时，结束点将与不分阶段的情形中的点相同。细长的像素由此捕获全部的信息量，而不只是它的一半。
[0071]分类仪也可利用时空校准的传感器系统实施缺陷检测，其特别有利于颜色缺陷检测。这可利用如下传感器被采取，该传感器具有前后相继两行，每一行具有离散色滤光器，其中，颜色校准通过暂时使一行输出信号延迟以与另一行匹配来获得。这运作的很好且容易，其中，产品在扫描之间已下落一行宽的距离，即，它具有与设置的系统扫描周期的假设速度相应的固定速度。然而，对于具有不同速度的产品，这种匹配失效了。
[0072]然而，为了使数据采集简单，本发明的时空校准仍旧涉及将系统扫描周期设置成产品斜道(排出)速度的中值，且所收集的数据被处理成，对速度变化校正，直到距中值的20%。
[0073]利用本发明，由仪器采用的仅仅一个扫描周期是优选的-按照硬件的同步，多个扫描周期可引起技术难题，而检测/排出行为加上像素的尺寸和扫描长度，也会横跨仪器而改变。本发明的单个扫描周期因此简化了这些元件，由此保持较低的制造/设置成本。
[0074]利用本发明，优选的是，前景照明是闪光的，且这与扫描周期同步地进行，而这使得不可能或很难支持多个扫描周期，即不具有巨大宽度(填充角)的机器。
[0075]然而，利用单个闪光速度的困难在于，它不会对以偏离于正常值的最大速度行进的产品最佳化。特别地，这可以曝光时间(即，光照)来交换。
[0076]本发明因此通过采用曝光控制提供/形成固定宽度的窗口(扇区)克服此问题，该固定宽度的窗口(扇区)小于每个1/2SS内的扫描周期的整个窗口。那个扇区或窗口可在1/2SS周期内的任何地方滑动，只要它不夹紧在任一端。参见图8。
[0077]传感器的每个“颜色”行采用独立的窗口，且由于每个窗口可完全与另一行的一个窗口相应，对于所期望的速度范围内的任何产品速度可获得良好的匹配。这是因为，扇区适当地被选择成具有合适的时间延迟。
[0078]两个传感器行的曝光窗口之间的时间关系上的变化由此转化成试图将颜色与已行进不同距离的产品相对准。本发明由此补偿不同的产品速度。
[0079]图7有助于阐释与以不同速度移动穿过观测区的产品相关的问题-它示出了颗粒以不同的颗粒速度相对于2行传感器的现场图片移动多远，该2行传感器一个具有红色滤光器，一个具有蓝色滤光器。
[0080]图8随后示出了，以通过用于过滤蓝色的传感器行位于过滤红色的传感器行之上的情形的移动缺陷作为示例的，利用曝光控制的解决方案。
[0081]考虑到了 3.5m/s和4.2m/s的最糟情形的平均产品速度发生在相同机器的不同斜道上。[0082]系统同步(SS)已被以每个极限速度设置成等于0.292mm的中值延迟。
[0083]中值延迟=((0.292mmi3.5m/s) + (0.292mmi4.2m/s)) /2
[0084]= 83.429us+69.524us) /2
[0085]= 76.477us (3.82m/s)
[0086]该解决方案需要，每个颜色的传感器曝光相对于彼此在位于所提供的照明(1/2SS)窗口内的时间上移动。
[0087]由于我们使LED闪光，每个1/2SS对前面的相机或后面的相机具有理想的照明。
[0088]在每个情形中，连同次品移动0.292mm的时间，由像素成像的区域一起，考虑了仅仅在蓝色传感器的活动区域上移动的次品或产品点。对于较快移动的次品，该时间是较短的，对于较慢移动的次品，该时间较长。
[0089]该解决方案被考虑为最佳的，这是利用具有两个颜色移动的曝光时间，每一个仅仅必须移动它另外需要的一半的距离，并因此，曝光窗口的大小可被保持为尽可能宽(T=31.71 μ s)。
[0090]上面仅仅通过示例的方式描述了本发明。因此，要理解，可对本发明进行细节上的修改，这一点将由其附属的权利要求所限定。
[0091]在每个情形中，连同次品移动0.292mm的时间，由像素成像的区域一起，考虑了仅仅在蓝色传感器的活动区域上移动的次品或产品点。对于较快移动的次品，该时间是较短的，对于较慢移动的次品，该时间较长。
[0092]该解决方案被考虑为最佳的，这是由于利用两个颜色移动的曝光时间，每一个仅仅必须移动它另外需要的一半的距离，并因此，曝光窗口的大小可被保持为尽可能宽(T=31.71 μ s)。
[0093]上面仅仅通过示例的方式描述了本发明。因此，要理解，可对本发明进行细节上的修改，这一点将由其附属的权利要求所限定。
[0094]用于附图的解释文本
[0095]
【权利要求】
1.一种用于检查产品流中的产品件的仪器，其包括: 用于在观测站处形成以自由飞行的方式传递的产品件流的系统； 用于从一侧利用光照射观测站以便由观测站中的产品反射光的第一发光装置； 用于从另一侧利用光照射观测站以便由观测站中的产品反射光的第二发光装置； 扫描系统，其用于接收来自第一及第二照明装置的从观测站中的产品件反射的并横跨观测站透射的光；以及 用于在第一及第二扫描阶段交替激活第一及第二发光装置以便连续照射观测站处的产品流的装置。
2.根据权利要求1的仪器，其中，第一及第二发光装置发射不同波长范围内的光。
3.根据权利要求2的仪器，其中，第一发光装置发射红色及蓝色波长范围内的光，第二发光装置仅仅发射红色波长范围内的光。
4.根据前述权利要求中任一项的仪器，其在观测站的每一侧上包括辅助照明装置以便为第一及第二发光装置中的每一个提供背景照明。
5.根据权利要求4的仪器，其中，各个发光装置以第一角度从各个侧照射观测站，而辅助照明装置从不同于第一角度的第二角度照射各个相对侧。
6.根据权利要求4或权利要求5的仪器，其中，第一及第二发光装置中的每一个可操作成发射至少两个不同波长范围内的光，由此第二发光装置在第一阶段提供背景照明，而第一发光装置在第二阶段提供透射照明。
7.根据前述权利要求中任一项的仪器，其中，第一及第二发光装置包括发光二极管。
8.根据前述权利要求中任一项的仪器，其包括位于第一及第二发光装置中的每一个之后的辅助发光装置，用于在各自的扫描阶段提供背景照明。
9.根据权利要求8或根据从属于权利要求4时的前述任一项的仪器，其中，辅助发光装置或辅助照明装置发射不同的、变化的或交替的波长或幅值范围内的光。
10.根据权利要求8或根据从属于权利要求4时的前述任一项的仪器，其中，辅助发光装置或辅助照明装置响应于不同的、变化的或交替的电流输入而发射光。
11.根据前述权利要求中任一项的仪器，其中，第一及第二发光装置发射不同幅值范围内的光。
12.根据前述权利要求中任一项的仪器，其中，第一及第二发光装置响应于不同的、变化的或交替的电流输入而发射光。
13.一种本文前面基本参考附图2或3所描述的分类及检查仪。
【文档编号】B07C5/342GK103917305SQ201280040723
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2012年6月28日 优先权日:2011年6月28日
【发明者】A·胡克 申请人:布勒索尔泰克斯有限公司