电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备，该作业单元是在机台上设有至少一移载取放装置、至少一作业区、至少一对位检查装置及对位调整装置；该移载取放装置可移动而将待执行作业的电子元件移载至作业区位置，该作业区设有供电子元件对位放置的承置座，一对位检查装置移动至作业区的承置座与移载取放装置间的位置，以对移载取放装置上的电子元件及作业区的承置座进行双向的位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比，并进一步由对位调整装置执行对位调整作业；如此，利用对位检查装置对电子元件及承置座进行双向的位置取像，并经由中央控制单元的对比，可使移载取放装置上的电子元件精准对位。
【专利说明】电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而有效执行作业的电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备。
【背景技术】
[0002]现今电子元件正积极朝向小巧轻薄的小体积微接点发展，因此小体积微接点的电子元件置入于作业区的承置件内的精准度要求相当高，若精准度稍有偏差，即使得电子元件无法在承置件内有效的执行作业，而降低作业的品质。
[0003]以电子元件的测试分类机为例，请参阅图1，其是本 申请人:所申请的中国台湾专利申请第96149417号可使电子元件精准对位的移载装置专利案，该测试分类机的机台上包括有供料装置10、输入端输送装置11、作业区12、输出端输送装置13及收料装置14 ;输入端输送装置11将供料装置10上待测的电子元件分别输送至作业区12内的供料载具121，作业区12内的第一、第二收料载具122、123上完测的电子元件，则依据检测结果由输出端输送装置13输送至收料装置14分类放置。请参阅图2，作业区12包括有测试站124、取像机构125、位于测试站124—侧的第一收料载具122、位于测试站124另一侧的供料载具121及第二收料载具123、第一移载取放器126及第二移载取放器127 ;其中，该供料载具121的上方设有复数个底面具镂空孔且用来承置待测电子元件的承座1211，各承座1211配置有复数个可为伺服马达且呈不同轴向设置的调整件1212、1213、1214，而可利用调整件1212、1213、1214驱动承座1211作X-Y两轴向及Θ角的位移，而供料载具121的下方则设有滑轨组1215，而可于作业区12的供料处供输入端输送装置将待测电子元件置入于各承座1211上后，利用滑轨组1215将待测电子元件移载至取像机构125处取像，并以各调整件1212、1213、1214驱动承座1211作X-Y两轴向及Θ角的补偿校正，而可精确调整待测电子元件的摆置，另该第一、二收料载具122、123则供承置完测的电子元件，该第一、二收料载具122、123以固定的方式定位于相对测试站124的相关位置，以供第一、二移载取放器126、127及输出端输送装置进行收料作业，该平行位于供料载具121侧方的取像机构125，是CXD取像器，并设置于机台的透明台板下方，且以线路连接信号至中央控制器，在供料载具121移载电子元件至取像机构125处取像后，将取像信号传输至中央控制器，且经由中央控制器的对比，而运算出其偏差量，进而命令供料载具121的各承座1211作位置或角度的补偿校正，使电子元件精准正确摆置，以供第一移载取放器126取出并移载置入于测试站124上执行检测作业。
[0004]该设计虽然于机台的透明台板下方设有为CXD取像器的取像机构125，以供供料载具121移载电子元件至该处取像，并令供料载具121的各承座1211作位置或角度的补偿校正，使电子元件精准正确摆置，供第一移载取放器126取出并移载置入于测试站124上执行检测作业；然而，第一移载取放器126在供料载具121上取出并移载电子元件的过程中，第一移载取放器126将会因本身结构上的误差或组装间隙或移动上的定位问题，使得在移动至测试站124时，可能造成电子元件微幅偏移的现象，而无法准确置入于测试站124，也即该设计可使电子元件精准正确摆置于供料载具121，但在第一移载取放器126移载置入于测试站124的重要阶段中，却可能造成电子元件微幅偏移的现象，这种情形对于现今讲求小体积微接点的电子元件而言，精准度稍有偏差，即可能导致无法有效的执行作业，而降低作业的品质。
【发明内容】
[0005]针对现有技术的不足，本发明的目的在于:提供一种可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而有效执行作业的电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备。
[0006]为实现上述目的，本发明采用的技术方案是:
[0007]一种电子元件作业单元，其特征在于，包含有:
[0008]作业区:设有供待执行作业的电子元件对位放置的承置座，以对该电子元件执行预设的作业；
[0009]移载取放装置:设有至少一移载取放器，以将待执行作业的电子元件移载至作业区的承置座，以及将作业区承置座内完成作业的电子元件移出承置座；
[0010]对位检查装置:移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比。
[0011]该作业区设有测试电路板，以及于测试电路板上设有供电子元件对位放置的承置座，承置座内并设有复数个连接至电路板的电性接点，以供电子元件对位放置并执行电性测试作业。
[0012]该移载取放装置至少于作业区设有至少一供料载台、收料载台及至少一移动于供料载台、作业区与收料载台间的移载取放器，该供料载台并设有对位调整装置，以对电子元件进行对位调整。
[0013]该移载取放装置是在作业区第一侧设有第一供料载台及第一收料载台，在作业区第二侧则设有的第二供料载台及第二收料载台，另设有移动于作业区与第一供料载台及第一收料载台间的第一移载取放器，以及移动于作业区与第二供料载台及第二收料载台间的第二移载取放器，该第一供料载台上具有至少一第一供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该第一收料载台上具有至少一第一收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第二供料载台上具有至少一第二供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该第二收料载台上具有至少一第二收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第一移载取放器可移动至第一侧的第一供料载台位置，以将第一供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第一收料载台上，该第二移载取放器可移动至第二侧的第二供料载台位置，以将第二供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第二收料载台上。
[0014]还包含在该作业区设有对位调整装置，该对位调整装置是在承置座的上方架置有调整平台，以使移载取放装置的移载取放器可移载电子元件至调整平台位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整，或该对位调整装置是在作业区架置有由机械手臂带动的调整平台，以使该调整平台移动至移载取放装置的移载取放器上的电子元件位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整。
[0015]该对位检查装置是棱镜组及CXD取像器，其通过棱镜组同时对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行双向的位置取像，再由C⑶取像器摄取棱镜组的影像，而获致取像资料。
[0016]一种电子元件作业方法，其特征在于，包含有:
[0017]移入料程序:由移载取放装置的移载取放器将待执行作业的电子元件移载至对应作业区的承置座位置；
[0018]取像对比程序:由对位检查装置移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上待执行作业的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比；
[0019]置料执行作业程序:由移载取放器将待执行作业的电子元件置入作业区的承置座内执行作业；
[0020]移出料程序:由移载取放器将完成作业的电子元件移出作业区的承置座。
[0021]该取像对比程序若对比结果超出误差值，则进一步执行对位调整程序，该对位调整程序由移载取放器将待执行作业的电子元件重新置入供料载台，并由供料载台上的调整件进行对位调整，完成对位调整程序后再移入作业区，重新进行取像对比程序。
[0022]在该取像对比程序前，可先进行对位检查装置本身水平向精准度的校对程序，该校对程序由对位检查装置对机台上的特定位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比，若对比结果超出误差值，发出警报声响通知现场人员进行调整校正，或直接以程式计算出补偿值，并以该补偿值补正后续正式取像的数值。
[0023]一种应用电子元件作业单元的作业设备，其特征在于，包含有:
[0024]供料装置:设于机台上，用来承置待执行作业的电子元件；
[0025]收料装置:设于机台上，用来承置完成作业的电子元件；
[0026]作业单元:设于机台上，并设有至少一根据权利要求1所述的作业区、移载取放装置及对位检查装置，用来对电子元件执行预设的作业；
[0027]输入端输送装置:将供料装置上待执行作业的电子元件输送至作业单元；
[0028]输出端输送装置:将作业单元上完成测试作业的电子元件依据作业结果分类放置于收料装置；
[0029]中央控制装置:用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。
[0030]与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是:
[0031]本发明的优点一，提供一种电子元件作业单元及作业方法，该作业单元是在机台上设有至少一移载取放装置、至少一作业区、至少一对位检查装置及对位调整装置；该移载取放装置可移动而将待执行作业的电子元件移载至作业区位置，该作业区设有供电子元件对位放置的承置座，以对电子元件执行预设的作业，一对位检查装置移动至作业区的承置座与移载取放装置间的位置，以同时对移载取放装置上的电子元件及作业区的承置座进行双向的位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比，并进一步由对位调整装置执行对位调整作业；如此，利用对位检查装置同时对电子元件及承置座进行双向的位置取像，并经由中央控制单元的对比，在执行对位调整作业后，即可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而达到有效执行作业的实用效益。
[0032]本发明的优点二，提供一种电子元件作业单元应用的作业设备，该作业设备包含有供料装置、收料装置、作业单元、输入端输送装置、输出端输送装置及中央控制单元，供料装置配置于机台上，用来容纳至少一待执行作业的电子元件，收料装置配置于机台上，用来容纳至少一完成作业的电子元件，作业单元配置于机台上，并设有至少一移载取放装置、至少一作业区及至少一对位检查装置，用来对电子元件执行预设的作业，输入端输送装置及输出端输送装置配置于机台上，用来将供料装置上的电子元件输入作业单元及自作业单元输出电子元件至收料装置，中央控制单元用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。
【专利附图】
【附图说明】
[0033]图1是中国台湾申请第96149417号专利案于测试分类机的配置示意图；
[0034]图2是中国台湾申请第96149417号专利案作业区的配置示意图；
[0035]图3是本发明作业单元的配置示意图；
[0036]图4是本发明第二实施例对位调整的示意图；
[0037]图5是本发明第三实施例对位调整的示意图；
[0038]图6是本发明对位检查装置于作业前调整校正的示意图；
[0039]图7是本发明作业单元的动作示意图(一)；
[0040]图8是本发明作业单元的动作示意图(二)；
[0041]图9是本发明作业单元取像对比的示意图；
[0042]图10是本发明作业单元的动作示意图(三)；
[0043]图11是本发明作业单元置料的示意图；
[0044]图12是本发明作业单元的动作示意图(四)；
[0045]图13是本发明作业单元的动作示意图(五)；
[0046]图14是本发明作业单元应用于作业设备的配置示意图。
[0047]附图标记说明:
[0048]现有技术部分:10_供料装置；11_输入端输送装置；12_作业区；121_供料载具；1211-承座；1212_调整件；1213_调整件；1214_调整件；1215_滑轨组；121_第一收料载具；123-第二收料载具；124-测试站；125-取像机构；126-第一移载取放器；127-第二移载取放器；13-输出端输送装置；14_收料装置；
[0049]本发明部分:20_作业单元；21_移载取放装置；211_第一供料载台；2111_第一供料承座；2112-X轴向调整件；2113-Y轴向调整件；2114_角度调整件；212_第一收料载台；2121_第一收料承座；213_第二供料载台；2131_第二供料承座；2132_Χ轴向调整件；2133-Υ轴向调整件；2134_角度调整件；214_第二收料载台；2141_第二收料承座；215_第一移载取放器；216_第二移载取放器；22_作业区；221_测试电路板；222_承置座；223_电性接点；23_对位检查装置；24_调整平台；241-穿槽；242-固定座；243_Χ轴向马达；244-第一滑动座；245-Υ轴向马达；246_第二滑动座；247_夹持件；248_夹持件；249_马达；25-调整平台；251-机械手臂；252-固定座；253_Χ轴向马达；254-第一滑动座；255_Υ轴向马达；256-第二滑动座；257_夹持件；258_夹持件；259_马达；26a_电子元件；26b_电子元件；30_供料装置；40_输入端输送装置；50_输出端输送装置；60_收料装置。
【具体实施方式】
[0050]为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后:
[0051]请参阅图3，本发明的作业单元20是在机台上设有至少一移载取放装置21、至少一作业区22及至少一对位检查装置23 ;该移载取放装置21可移动而将待执行作业的电子元件移载至作业区22位置，在本实施例中，该移载取放装置21包括有位于作业区22第一侧的第一供料载台211及第一收料载台212、位于作业区22第二侧的第二供料载台213及第二收料载台214、移动于作业区22与第一供料载台211及第一收料载台212间的第一移载取放器215以及移动于作业区22与第二供料载台213及第二收料载台214间的第二移载取放器216 ;位于作业区22第一侧的第一供料载台211上具有至少一第一供料承座2111，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并可移动至对应作业区22的侧方位置，第一收料载台212上具有至少一第一收料承座2121，并可移动至对应作业区22的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，位于作业区22第二侧的第二供料载台213上具有至少一第二供料承座2131，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并可移动至对应作业区22的侧方位置，第二收料载台214上具有至少一第二收料承座2141，并可移动至对应作业区22的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，第一移载取放器215可移动至第一侧的第一供料载台211位置，以将第一供料载台211上待执行作业的电子元件移载至作业区22位置，或将作业区22完成作业的电子元件移载至第一收料载台212上，第二移载取放器216可移动至第二侧的第二供料载台213位置，以将第二供料载台213上待执行作业的电子元件移载至作业区22位置，或将作业区22完成作业的电子元件移载至第二收料载台214上；至少一作业区22，作业区22可供置入待执行作业的电子元件，以对该电子元件执行预设的作业，该预设的作业可以为印刷、模压、外观检测或电性测试等，在本实施例中该作业区22执行电性测试作业，而于作业区22内设有测试电路板221，以及于测试电路板221上设有供电子元件对位放置的承置座222，由于本实施例为执行电性测试作业，承置座222内并设有复数个连接至电路板221的电性接点223，以供电子元件的接脚或锡球电性接触该电性接点223 ;为了使第一移载取放器215或第二移载取放器216可以准确的将电子元件放置于承置座222内，并使电子元件的接脚或锡球可以精准的电性接触承置座222内的电性接点223，本发明设有至少一对位检查装置23，该对位检查装置23是棱镜组及CXD取像器，并可移动至作业区22的承置座222与第一移载取放器215或与第二移载取放器216间的位置，本发明的对位检查装置23由于装设有棱镜组，因此可通过棱镜组同时对第一移载取放器215或第二移载取放器216上的电子元件及作业区22的承置座222进行双向的位置取像，再由C⑶取像器摄取棱镜组的影像，而获致取像资料，最后再将该取像资料传输至中央控制单元(图式未示)进行对比，此外，本发明的对位检查装置23当然也可分别对第一移载取放器215或第二移载取放器216上的电子元件及作业区22的承置座222进行各别位置的取像，以获致取像资料，再将该取像资料传输至中央控制单元进行对比；不论同时取像或各别取像，若中央控制单元对比结果超出误差值，则进一步执行对位调整作业，本发明对位调整装置的第一实施例，是在第一供料载台211设有X、Y轴向及角度调整件2112、2113、2114，第二供料载台213上也分别设有X、Y轴向及角度调整件2132、2133、2134，第一移载取放器215及第二移载取放器216可将电子元件重新分别置入第一供料载台211及第二供料载台213上，以手动或自动控制的方式，由第一供料载台211上的X、Y轴向及角度调整件2112、2113、2114或第二供料载台213上的X、Y轴向及角度调整件2132、2133、2134进行对位调整；完成对位调整后再由第一移载取放器215或第二移载取放器216移入作业区22，由对位检查装置23再次进行双向的位置取像，以使电子元件的接脚或锡球可以精准的电性接触承置座222内的电性接点223。
[0052]请参阅图4，本发明对位调整装置的第二实施例，其可于作业区22的承置座222的上方架置多层式的调整平台24，该调整平台24设有可供第一移载取放器215、第二移载取放器216及电子元件穿伸的穿槽241，以使电子元件可穿伸置入于承置座222内，调整平台24下方为固定座242，固定座242上方架设有一可由X轴向马达243驱动作X轴向滑移的第一滑动座244，第一滑动座244上方再架设有一可由Y轴向马达245驱动作Y轴向滑移及可由马达249驱动作角度调整的第二滑动座246，由于多层式的调整平台24已为现有的技术，因此其动作不再赘述，第二滑动座246于对应穿槽241处设有二对向的夹持件247、248，该二夹持件247、248可调移夹持电子元件，使得第一移载取放器215或第二移载取放器216移载电子元件至对应夹持件247、248的穿槽241位置时，二夹持件247、248调移夹持电子元件后，可利用第一滑动座244及第二滑动座246作X-Y 二轴向的滑移及角度调整，而使电子兀件在第一移载取放器215或第二移载取放器216上作微量的对位调整(第一移载取放器215或第二移载取放器216保持吸附电子元件的状态)，使得电子元件可直接于第一移载取放器215或第二移载取放器216上进行对位调整。
[0053]请参阅图5，本发明对位调整装置的第三实施例，其可于作业区22架置移动式的调整平台25，该调整平台25设于一机械手臂251上，而可由机械手臂251带动作X-Y-Z三轴向的移动，该调整平台25下方为固定座252，固定座252上方架设有一可由X轴向马达253驱动作X轴向滑移的第一滑动座254，第一滑动座254上方再架设有一可由Y轴向马达255驱动作Y轴向滑移及可由马达259驱动作角度调整的第二滑动座256，第二滑动座256上设有二对向的夹持件257、258，该二夹持件257、258可调移夹持电子元件，使得第一移载取放器215或第二移载取放器216移载电子元件至对应承置座222上方位置或移动路径中的任何位置时，机械手臂251可带动调整平台25移动至第一移载取放器215或第二移载取放器216上的电子元件的下方位置，接着机械手臂251可带动调整平台25上升或由第一移载取放器215或第二移载取放器216带动电子元件下降，以使调整平台25上的二夹持件257,258调移夹持电子元件，接着可利用第一滑动座254及第二滑动座256作X-Y 二轴向的滑移及角度调整，而使电子元件在第一移载取放器215或第二移载取放器216上作微量的对位调整(第一移载取放器215或第二移载取放器216保持吸附电子元件的状态)，使得电子元件可直接于第一移载取放器215或第二移载取放器216上进行对位调整，完成对位调整后，机械手臂251可再带动调整平台25移开，使第一移载取放器215或第二移载取放器216移载电子元件至承置座222内。
[0054]请参阅图6，本发明于执行作业前，为了确保对位检查装置23本身水平向的精准度，可先进行对位检查装置23本身水平向精准度的校对程序，该校对程序由对位检查装置23对机台上的特定位置(如承置座222框围)取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比，由于中央控制单元所连结的资料库内储存有特定位置(如承置座222框围)的正确取像尺寸，因此对位检查装置23在水平度有偏差时，其获得的取像尺寸相较于资料库内储存的正确尺寸将会有差异，而可依据该差异的误差值判断对位检查装置23水平向的精准度；若对比结果超出误差值，可以发出警报声响通知现场人员进行调整校正，或直接以程式依据该误差值计算出对位检查装置23的倾斜角度，再利用该倾斜角度计算出补偿值，并以该补偿值补正后续正式取像的数值。
[0055]请参阅图7，本发明于执行作业时先进行移入料程序，其由移载取放装置21将待执行作业的电子元件移载至对应作业区22位置，在本实施例中，移载取放装置21的第一供料载台211将第一供料承座2111内待执行作业的电子元件26a移载至对应作业区22的侧方位置，第一移载取放器215并移动至第一供料载台211上方位置，以吸取待执行作业的电子元件26a。请参阅图8，接着第一移载取放器215移载待执行作业的电子元件26a至对应于作业区22的承置座222的上方位置。
[0056]请参阅图9，本发明为了使待执行作业的电子元件26a可以精准对位放置于作业区22的承置座222内，接着进行取像对比程序，在本实施例中，其由对位检查装置23移动至作业区22的承置座222与第一移载取放器215之间的位置，以同时对第一移载取放器215上待执行作业的电子元件26a及作业区22的承置座222进行双向的取像，在本实施例中，该对位检查装置23对待执行作业的电子元件26a的接脚或锡球与承置座222内的电性接点223进行双向的位置取像，本发明的对位检查装置23由于装设有棱镜组，因此可通过棱镜组同时对第一移载取放器215上待执行作业的电子元件26a及作业区22的承置座222进行双向的位置取像，再由CCD取像器摄取棱镜组的影像，而获致取像资料，最后再将取像资料传输至中央控制单元进行对比，此外，本发明的取像对比程序当然也可由对位检查装置23分别对第一移载取放器215上的电子元件及作业区22的承置座222进行各别位置的取像，以获致取像资料，再将该取像资料传输至中央控制单元进行对比；不论同时取像或各别取像，如果对比结果在误差值内，即可进行下一作业程序，若对比结果超出误差值，则进一步执行对位调整程序，本发明由于在第一移载取放器215移载待执行作业的电子元件26a至对应于作业区22的承置座222的上方位置后才进行位置取像，也即以对位前的最终位置进行取像，而可以排除第一移载取放器215本身结构上的误差或组装间隙或移动定位等问题所造成的偏移误差，进而获致正确的取象样本；此外当对位检查装置23移动至作业区22的承置座222与第一移载取放器215之间的位置时，在未进行取像对比程序前，也可进行如图6所示的对位检查装置23的校对程序，而不需于执行作业前进行该校对程序。
[0057]请参阅图10，在完成取像对比程序后，若取像对比程序的对比结果超出误差值时，则需进一步执行对位调整程序，在本实施例中，对位调整程序由第一移载取放器215将待执行作业的电子元件26a重新置入第一供料载台211，并由第一供料载台211上对位调整装置的X、Y轴向及角度调整件2112、2113、2114以手动或自动控制的方式进行对位调整程序，完成对位调整程序后再移入作业区22，由对位检查装置23再次进行双向的位置取像，以使电子元件的接脚或锡球可以精准的电性接触承置座222内的电性接点223，此外，对位调整程序也可由图4或图5所示对位调整装置的调整平台24、25，而直接于第一移载取放器215或第二移载取放器216上进行电子元件的对位调整作业。[0058]请参阅图11、图12，完成取像对比程序后，若对比结果在误差值内或完成对位调整程序，则接着进行置料执行作业程序，其使第一移载取放器215下降，将待执行作业的电子元件26a置入作业区22的承置座222内执行作业，本发明由于在第一移载取放器215将待执行作业的电子元件26a移载至承置座222上方后，先以对位检查装置23进行取像对比程序，而对第一移载取放器215上待执行作业的电子元件26a及作业区22的承置座222进行双向的位置取像，而可有效改善第一移载取放器215因本身结构上的误差或组装间隙或移动定位等问题所造成的偏移误差，使得待执行作业的电子元件26a的接脚或锡球可准确电性接触承置座222内的电性接点223，以有效的执行电性测试作业，并获致正确的测试结果，在本实施例中，该电性测试作业采压测的方式进行，其第一移载取放器215上将待执行作业的电子元件26a置入作业区22的承置座222内后，以第一移载取放器215保持压抵于待执行作业的电子元件26a的上方，以确保待执行作业的电子元件26a的接脚或锡球可保持电性接触承置座222内的电性接点223。此外，在第一移载取放器215压抵待执行作业的电子元件26a执行电性测试作业时，第二移载取放器216移动至第二供料载台213位置，并准备进行移入料程序，而吸取第二供料载台213内另一待执行作业的电子元件26b。
[0059]请参阅图13，作业区22完成电子元件26a的电性测试作业后，接着进行移出料程序，其由移载取放装置21将完成作业的电子元件移出作业区22，在本实施例中，其以第一移载取放器215将电子元件26a移出作业区22的承置座222，并将电子元件26a移载放置于第一收料载台212上，第一收料载台212再将完成作业的电子元件26a移载至收料位置；此时由于第一移载取放器215已经移出作业区22，而由第二移载取放器216接替将待执行作业的电子元件26b移载至作业区22位置，以进行相同的移入料程序、取像对比程序、置料执行作业程序以及移出料程序。
[0060]请参阅图14，本发明的作业单元20应用于作业设备时，以测试分类机为例，其是在机台上设有供料装置30、输入端输送装置40、作业单元20、输出端输送装置50及收料装置60 ;输入端输送装置40将供料装置30上待执行测试作业的电子元件分别输送至作业单元20的第一供料载台211及第二供料载台213，作业单元20的第一收料载台212及第二收料载台214上完成测试作业的电子元件，则依据测试结果由输出端输送装置50输送至收料装置60分类放置，中央控制单元用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。
[0061]综上所述，本发明的作业单元利用对位检查装置，以对电子元件及承置座进行双向的位置取像，并经由中央控制单元的运算对比，即可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而可有效的执行作业，并获致正确的作业结果，达到有效执行作业的实用效益。
【权利要求】
1.一种电子元件作业单元，其特征在于，包含有: 作业区:设有供待执行作业的电子元件对位放置的承置座，以对该电子元件执行预设的作业； 移载取放装置:设有至少一移载取放器，以将待执行作业的电子元件移载至作业区的承置座，以及将作业区承置座内完成作业的电子元件移出承置座； 对位检查装置:移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比。
2.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该作业区设有测试电路板，以及于测试电路板上设有供电子元件对位放置的承置座，承置座内并设有复数个连接至电路板的电性接点，以供电子元件对位放置并执行电性测试作业。
3.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该移载取放装置至少于作业区设有至少一供料载台、收料载台及至少一移动于供料载台、作业区与收料载台间的移载取放器，该供料载台并设有对位调整装置，以对电子元件进行对位调整。
4.根据权利要求3所述的电子元件作业单元，其特征在于，该移载取放装置是在作业区第一侧设有第一供料载台及第一收料载台，在作业区第二侧则设有的第二供料载台及第二收料载台，另设有移动于作业区与第一供料载台及第一收料载台间的第一移载取放器，以及移动于作业区与第二供料载台及第二收料载台间的第二移载取放器，该第一供料载台上具有至少一第一供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该 第一收料载台上具有至少一第一收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第二供料载台上具有至少一第二供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该第二收料载台上具有至少一第二收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第一移载取放器可移动至第一侧的第一供料载台位置，以将第一供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第一收料载台上，该第二移载取放器可移动至第二侧的第二供料载台位置，以将第二供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第二收料载台上。
5.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，还包含在该作业区设有对位调整装置，该对位调整装置是在承置座的上方架置有调整平台，以使移载取放装置的移载取放器可移载电子元件至调整平台位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整，或该对位调整装置是在作业区架置有由机械手臂带动的调整平台，以使该调整平台移动至移载取放装置的移载取放器上的电子元件位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整。
6.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该对位检查装置是棱镜组及CCD取像器，其通过棱镜组同时对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行双向的位置取像，再由CCD取像器摄取棱镜组的影像，而获致取像资料。
7.—种电子兀件作业方法,其特征在于,包含有: 移入料程序:由移载取放装置的移载取放器将待执行作业的电子元件移载至对应作业区的承置座位置；取像对比程序:由对位检查装置移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上待执行作业的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比； 置料执行作业程序:由移载取放器将待执行作业的电子元件置入作业区的承置座内执行作业； 移出料程序:由移载取放器将完成作业的电子元件移出作业区的承置座。
8.根据权利要求7所述的电子元件作业方法，其特征在于，该取像对比程序若对比结果超出误差值，则进一步执行对位调整程序，该对位调整程序由移载取放器将待执行作业的电子元件重新置入供料载台，并由供料载台上的调整件进行对位调整，完成对位调整程序后再移入作业区，重新进行取像对比程序。
9.根据权利要求7所述的电子元件作业方法，其特征在于，在该取像对比程序前，可先进行对位检查装置本身水平向精准度的校对程序，该校对程序由对位检查装置对机台上的特定位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比，若对比结果超出误差值，发出警报声响通知现场人员进行调整校正，或直接以程式计算出补偿值，并以该补偿值补正后续正式取像的数值。
10.一种应用电子元件作业单元的作业设备，其特征在于，包含有: 供料装置:设于机台上，用来承置 待执行作业的电子元件； 收料装置:设于机台上，用来承置完成作业的电子元件； 作业单元:设于机台上，并设有至少一根据权利要求1所述的作业区、移载取放装置及对位检查装置，用来对电子元件执行预设的作业； 输入端输送装置:将供料装置上待执行作业的电子元件输送至作业单元； 输出端输送装置:将作业单元上完成测试作业的电子元件依据作业结果分类放置于收料装置； 中央控制装置:用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。
【文档编号】B07C5/00GK103934207SQ201310746448
【公开日】2014年7月23日 申请日期:2013年12月30日 优先权日:2013年1月18日
【发明者】张简荣力 申请人:鸿劲科技股份有限公司