摆臂上料式分光机的制作方法

1.本技术属于分光机技术领域，更具体地说，是涉及一种摆臂上料式分光机。


背景技术：

2.分光机是按照波长、亮度、工作电压等参数将led(light emitting diode，发光二极管)芯片分成多个组别以进行分类的设备。
3.对于大尺寸的led芯片来说，可以直接由振动盘组件将大尺寸的led芯片通过振动的方式逐一上料至转盘上。然而，对于小尺寸的led芯片来说，由于其体积小，重量轻，由振动盘组件逐一上料，会导致小尺寸的led芯片出现脱料，上料至转盘上的对位精度差。


技术实现要素：

4.本技术实施例的目的在于提供一种摆臂上料式分光机，以解决相关技术中存在的：通过振动盘组件将小尺寸的led芯片上料至转盘上，易导致脱料，且对位精度差的问题。
5.为实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案是：
6.提供一种摆臂上料式分光机，包括。
7.此结构，通过供料组件供应分选件，供料组件上的分选件可由摆臂上料组件移送至主转盘组件上，分选件在主转盘组件的驱动下由上料位输送至下料位。在此过程中，测试组件可对分选件进行测试；下料组件可根据测试结果将分选件输送至收料组件的指定位置处，从而实现对分选件的分类存储。因此，对于小尺寸的分选件，通过摆臂上料组件实现对分选件的移送过渡，可有效改善因供料组件直接向主转盘组件输送分选件而引起脱料、对位精度差的问题。
附图说明
8.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
9.图1为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的立体结构示意图；
10.图2为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的部分立体结构示意图一；
11.图3为图2的俯视图；
12.图4为本技术实施例提供的主转盘组件的立体结构示意图；
13.图5为图4中a处的放大示意图；
14.图6为本技术实施例提供的摆臂上料组件的立体结构示意图；
15.图7为图6的分解示意图；
16.图8为本技术实施例提供的吸嘴位置处的分解示意图；
17.图9为本技术实施例提供的送料架靠近主转盘组件位置处的俯视图；
18.图10为本技术实施例提供的校正组件的立体结构示意图；
19.图11为图10的分解示意图；
20.图12为本技术实施例提供的测试组件的立体结构示意图；
21.图13为图12的分解示意图；
22.图14为本技术实施例提供的第一探针的分解示意图；
23.图15为本技术实施例提供的下料组件的立体结构示意图；
24.图16为本技术实施例提供的收料组件的立体结构示意图。
25.其中，图中各附图主要标记：
26.1、主转盘组件；11、转盘；110、陶瓷吸嘴；111、转环；112、定位槽；1120、气孔；12、主转盘电机；
27.2、供料组件；21、料斗；22、振动盘；221、送料架；2210、通孔；
28.3、摆臂上料组件；31、摆臂底座；311、摆臂导轨；312、摆臂滑块；313、摆臂调节旋钮；32、吸嘴；321、卡环；33、摆动座；331、摆动底座；332、下夹座；333、上夹座；334、弹簧；34、摆臂驱动单元；341、摆臂上料电机；3411、从动轮轴承座；342、转动轮；343、皮带；344、偏心轮；35、摆臂上料电磁阀；
29.4、测试组件；41、测试座；411、测试顶座；412、测试升降单元；4121、测试竖导轨；4122、升降调节旋钮；413、测试纵移单元；4131、测试纵导轨；4132、纵向调节旋钮；4133、纵向滑块；414、测试横移单元；4141、测试横导轨；4142、横向调节旋钮；4143、横向滑块；42、第一探针；421、探针底座；4211、凹槽；4212、引导槽；422、探针上盖；423、探针本体；4231、限位块；424、探针弹簧；43、第二探针；44、测试驱动单元；441、抵挡块；442、凸轮；443、测试电机；444、复位弹簧；
30.5、收料组件；51、箱架；52、料筒；53、抽屉；54、插管；55、盖板；56、导向板；
31.6、下料组件；61、下料座；62、吹嘴；63、下料管；
32.7、机架；71、积分球；72、轨前电磁阀；73、接头；74、离子风机；75、电脑主机；76、显示器；77、控制面板；78、打印机；79、报警器；
33.8、校正组件；81、校正座；811、校正底座；812、校正顶座；8120、腰型孔；8121、第二锁紧件；813、第一锁紧件；82、定位座；83、校正环；84、弹性件；
34.91、第一检测器；92、第二检测器。
具体实施方式
35.为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
36.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
37.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，
除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。
38.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
39.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
40.在整个说明书中参考“一个实施例”或“实施例”意味着结合实施例描述的特定特征，结构或特性包括在本技术的至少一个实施例中。因此，“在一个实施例中”或“在一些实施例中”的短语出现在整个说明书的各个地方，并非所有的指代都是相同的实施例。此外，在一个或多个实施例中，可以以任何合适的方式组合特定的特征，结构或特性。
41.为了方便描述，定义空间上相互垂直的三个坐标轴分别为x轴、y轴和z轴，同时，沿x轴的方向为纵向，沿y轴的方向为横向，沿z轴方向为竖向；其中x轴与y轴为同一水平面相互垂直的两个坐标轴，z轴为竖直方向的坐标轴；x轴、y轴和z轴位于空间相互垂直有三个平面分别为xy面、yz面和xz面，其中，xy面为水平面，xz面和yz面均为竖直面，且xz面与yz面垂直。空间中三轴为x轴、y轴和z轴，沿空间上三轴移动指沿空间上相互垂直的三轴移动，特指在空间上沿x轴、y轴和z轴移动；而平面移动，则为在xy面移动。
42.请参阅图1至图3，现对本技术实施例提供的摆臂上料式分光机进行说明。该摆臂上料式分光机包括主转盘组件1、供料组件2、摆臂上料组件3、测试组件4、收料组件5和下料组件6。其中，该摆臂上料式分光机还可包括机架7，主转盘组件1、供料组件2、摆臂上料组件3、测试组件4、收料组件5和下料组件6可分别安装于该机架7上，以方便组装、移动、搬运及使用。
43.主转盘组件1具有与供料组件2的出料端接驳的上料位和用于排出分选件的下料位。在主转盘组件1的驱动作用下，可将分选件由上料位输送至下料位。具体地，请参阅图4和图5，该主转盘组件1包括转盘11和与转盘11连接的主转盘电机12，主转盘电机12可安装于机架7上。转盘11的边沿朝远离主转盘电机12的方向凸设有转环111，转环111上环型阵列安装有多个陶瓷吸嘴110，各陶瓷吸嘴110上开设有定位槽112，各定位槽112的底面开设有气孔1120，转盘11上开设有连接各气孔1120的通道(图未示)，该通道可与外部气源连接。当外部气源抽气时，可实现多个气孔1120的抽真空，从而实现对分选件的吸附。当外部气源排气时，多个气孔1120排气，可解除对分选件的吸附，也能对气孔1120进行清洁处理。当主转盘电机12驱动转盘11转动时，可将各定位槽112中的分选件由上料位输送至下料位。
44.供料组件2与主转盘组件1的上料位接驳，用于向主转盘组件1供应分选件。具体地，请参阅图1和图2，供料组件2可包括分别安装于机架7上的料斗21和振动盘22，料斗21用于向振动盘22供应分选件。振动盘22的进料端与料斗21的出料端接驳，振动盘22的出料端与主转盘组件1的上料位接驳。振动盘22具有送料架221，振动盘22可通过振动的方式将位
于送料架221上的多个分选件排队。
45.摆臂上料组件3可设于主转盘组件1与供料组件2之间，由振动盘22的送料架221输送来的分选件可由摆臂上料组件3逐一移送至转盘11的多个定位槽112中。
46.测试组件4可安装于机架7上，测试组件4可设于上料位与下料位之间。当主转盘组件1驱动分选件由上料位输送至下料位的过程中，各分选件可经过测试组件4，该测试组件4可对各分选件进行性能测试。
47.收料组件5可安装于机架7上并位于主转盘组件1的下方。当测试组件4对各分选件进行性能测试后，下料组件6可在对应的下料位将分选件输送至收料组件5对应的位置处，以实现对不同品质的分选件进行分类存储。
48.下料组件6可安装于机架7上，下料组件6可将主转盘组件1的下料位与收料组件5连接。下料组件6可将经测试组件4测试后的分选件由不同的下料位输送至收料组件5中进行分类存储。
49.此结构，通过供料组件2供应分选件，供料组件2上的分选件可由摆臂上料组件3移送至主转盘组件1上，分选件在主转盘组件1的驱动下由上料位输送至下料位。在此过程中，测试组件4可对分选件进行测试；下料组件6可根据测试结果将分选件输送至收料组件5的指定位置处，从而实现对分选件的分类存储。因此，对于小尺寸的分选件，通过摆臂上料组件3实现对分选件的移送过渡，可有效改善因供料组件2直接向主转盘组件1输送分选件而引起脱料、对位精度差的问题。
50.在一个实施例中，请参阅图6和图7，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆臂上料组件3包括摆臂底座31、用于吸取分选件的吸嘴32、支撑吸嘴32的摆动座33和用于驱动摆动座33摆动以使吸嘴32在供料组件2与主转盘组件1之间往复移动的摆臂驱动单元34；摆臂驱动单元34安装于摆臂底座31上，摆臂驱动单元34与摆动座33相连，摆臂底座31可安装于机架7上。其中，摆臂底座31上可安装有与吸嘴32连接的摆臂上料电磁阀35，从而可实现吸嘴32的吸气与排气。当然，吸嘴32也可与外部抽供气设备连接。此结构，当摆臂驱动单元34驱动摆动座33摆动时，摆动座33可带动吸嘴32在供料组件2的下料端和主转盘组件1的上料位之间往复移动。当摆臂驱动单元34通过摆动座33驱动吸嘴32至供料组件2的下料端时，摆臂上料电磁阀35控制吸嘴32吸气，吸嘴32可将送料架221上且位于最前端的分选件吸附；当摆臂驱动单元34通过摆动座33驱动吸嘴32至主转盘组件1的上料位时，摆臂上料电磁阀35控制吸嘴32排气，分选件可在自重作用下，以及吸嘴32的气流抵推下准确进入对应的定位槽112中；同时，该定位槽112中的气孔1120吸气，可将分选件吸附固定。
51.在一个实施例中，摆臂底座31上间隔安装有两个抵挡座，两个抵挡座可分别对摆动座33的左右摆动行程进行限位。
52.在一个实施例中，请参阅图7，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆臂驱动单元34包括间隔安装于摆臂底座31上的摆臂上料电机341与从动轮轴承座3411，分别安装于摆臂上料电机341之主轴上和从动轮轴承座3411上的转动轮342，连接两个转动轮342的皮带343，以及安装于各转动轮342上的偏心轮344，各偏心轮344的中轴线与相应转动轮342的中轴线非同轴设置，摆动座33的两端分别与两个偏心轮344连接。此结构，当摆臂上料电机341驱动转动轮342及偏心轮344转动时，可一并带动摆动座33
移动，摆动座33与吸嘴32的运动轨迹为圆弧形。当吸嘴32运动至圆弧形轨迹的一端时，可与送料架221上的分选件靠近，便于吸料；当吸嘴32运动至圆弧形轨迹的另一端时，吸嘴32可与相应的定位槽112靠近，便于放料。通过设置两个转动轮342和两个偏心轮344，有助于提高摆动座33与吸嘴32往复移动的精度。通过调节摆臂上料电机341的参数，可调节摆动座33及吸嘴32的运动轨迹，从而适应于不同尺寸大小的分选件。
53.在一个实施例中，请参阅图7，摆臂底座31可包括安装于机架7上的摆臂导轨311，以及分别安装于摆臂导轨311上的摆臂滑块312与摆臂调节旋钮313，摆臂滑块312上开设有供摆臂调节旋钮313的螺杆伸入的螺丝孔，两个摆臂上料电机341可间隔安装于摆臂滑块312上。此结构，通过调节摆臂调节旋钮313，从而可调节摆臂滑块312的水平位置，进而可对吸嘴32的水平位置进行调节。
54.在一个实施例中，请参阅图7和图8，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆动座33包括与摆臂驱动单元34连接的摆动底座331、安装于摆动底座331上的下夹座332、安装于下夹座332上以夹持吸嘴32的上夹座333和套设于吸嘴32上的弹簧334；吸嘴32的两端分别伸出上夹座333和下夹座332，弹簧334的一端与上夹座333抵接，弹簧334的另一端与吸嘴32抵接。此结构，通过将摆动座33设置为摆动底座331、上夹座333与下夹座332，从而便于拆解，便于对吸嘴32的维护及更换。吸嘴32在取放分选件时，吸嘴32会直接与分选件接触，吸嘴32在受外力作用时，弹簧334通过伸缩可实现对吸嘴32的缓冲保护。吸嘴32伸出上夹座333的一端可与摆臂上料电磁阀35连接，吸嘴32伸出下夹座332的一端用于取放分选件。
55.在一个实施例中，请参阅图8，吸嘴32上设置有卡环321，卡环321可与下夹座332配合抵挡，弹簧334的一端与上夹座333抵接，弹簧334的另一端与卡环321抵接。此结构，通过卡环321便于对吸嘴32和弹簧334的定位。
56.在一个实施例中，请参阅图2和图9，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，供料组件2靠近主转盘组件1的一端间隔开设有多个通孔2210，多个通孔2210沿分选件的前进方向依次排列；摆臂上料式分光机还包括分别与多个通孔2210连接的轨前电磁阀72。此结构，通过轨前电磁阀72对多个通孔2210的吸气与排气的控制，可避免多个分选件在上料的过程中出现挤压料而导致损坏，影响后续上料精度。
57.在一个实施例中，请参阅图9，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，通孔2210的数量为三个。此结构，在轨前电磁阀72的控制作用下，位于最前面的通孔2210可对分选件进行加速；位于中间的通孔2210可对分选件进行定位；位于最后面的通孔2210可对分选件进行吸附减速，避免出现挤压料现象，达到分离、快速上料的目的。当然，在其它实施例中，通孔2210的数量也可以根据实际需要进行调节，在此不作唯一限定。
58.在一个实施例中，请参阅图3，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆臂上料式分光机还包括用于对主转盘组件1上的分选件进行位置校正的校正组件8，校正组件8设于摆臂上料组件3与测试组件4之间。此结构，通过校正组件8可将分选件的位置进行校正，以保证后续分选件的测试精度。
59.在一个实施例中，请参阅图10和图11，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，校正组件8包括校正座81、间隔安装于校正座81上的两个定位座
82、安装于各定位座82上的校正环83和弹性抵推相应校正环83的弹性件84，各弹性件84的一端与相应定位座82抵接，各弹性件84的另一端与相应校正环83抵接；两个校正环83分别设于各定位槽112的两侧。具体地，两个校正环83之间间隔形成供转盘11的转环111穿过的通道。此结构，当转盘11转动的过程中，转环111的两端可分别与两个校正环83抵接。当定位槽112经过两个校正环83时，两个校正环83的弧形面可在弹性件84的缓冲作用下将分选件的位置进行校正。其中，弹性件84可为弹簧。
60.在一个实施例中，请参阅图11，校正座81可包括安装于机架7上的校正底座811和安装于校正底座811上的校正顶座812，校正顶座812与校正底座811之间可通过第一锁紧件813锁紧连接，从而可调节校正顶座812在校正底座811上的安装高度，进而可调节两个校正环83的高度。校正顶座812上开设有腰型孔8120，腰型孔8120中安装有两个第二锁紧件8121，第二锁紧件8121与定位座82连接。通过调节两个锁紧件在腰型孔8120中的锁紧位置，从而可调节两个定位座82与两个校正环83之间的间距，以适应于不同尺寸大小的分选件。其中，第一锁紧件813和第二锁紧件8121可为螺丝、螺栓等。
61.在一些实施例中，校正组件8也可为机械手臂，或者是抵推杆与气缸的组合构件，通过气缸启动抵推杆移动，抵推杆抵推分选件，从而可对分选件的位置进行调节。当然，在其它实施例中，校正组件8的结构也可以根据实际需要进行调节，在此不作唯一限定。
62.在一个实施例中，请参阅图2和图3，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆臂上料式分光机还包括设于校正组件8与测试组件4之间的积分球71。此结构，积分球71是在分选件被点亮时，对分选件发出的光线进行收集，通过与积分球71连接的光谱仪可获得分选件的光学数据。
63.在一个实施例中，请参阅图12和图13，测试组件4包括测试座41、安装于测试座41上的第一探针42、用于与第一探针42配合夹持分选件的第二探针43和用于驱动第二探针43与第一探针42相互靠近或远离的测试驱动单元44，测试驱动单元44安装于测试座41上，测试驱动单元44与第二探针43相连。具体地，第一探针42与第二探针43之间间隔形成供转环111通过的通道。此结构，当分选件通过转盘11转动至第一探针42与第二探针43之间时，测试驱动单元44驱动第一探针42和第二探针43相互靠近，第一探针42和第二探针43可将分选件夹持，从而可分别与分选件的引脚连通，分选件通电后被点亮，并对分选件的性能参数进行测试。
64.在一个实施例中，请参阅图13，测试驱动单元44包括安装于测试座41上抵挡块441、安装于第二探针43与抵挡块441之间的凸轮442和安装于测试座41上并与凸轮442连接的测试电机443。此结构，测试电机443驱动凸轮442转动时，凸轮442在转动的过程中可间歇性抵推第二探针43，实现第二探针43与第一探针42的相互远离与靠近。
65.在一个实施例中，请参阅图13，第二探针43与抵挡块441之间可通过复位弹簧444连接，有助于第二探针43的复位。
66.在一个实施例中，请参阅图12和图13，测试座41可包括分别支撑第一探针42、第二探针43与测试驱动单元44的测试顶座411，用于驱动测试顶座411升降(图中的z轴方向)的测试升降单元412，用于驱动测试顶座411纵向移动(图中的y轴方向)的测试纵移单元413，以及用于驱动测试顶座411横向移动(图中的x轴方向)的测试横移单元414；测试横移单元414可安装于机架7上，测试纵移单元413安装于测试横移单元414上，测试升降单元412安装
于测试纵移单元413上，测试顶座411安装于测试升降单元412上。此结构，通过测试升降单元412、测试纵移单元413和测试横移单元414可对第一探针42与第二探针43的位置进行多方位调节。
67.在一个实施例中，请参阅图12，测试横移单元414可包括安装于机架7上的测试横导轨4141、安装于测试横导轨4141上的横向调节旋钮4142和安装于测试横导轨4141上的横向滑块4143，横向滑块4143上开设有供横向调节旋钮4142的螺杆伸入的螺丝孔；测试纵移单元413安装于横向滑块4143上。此结构，通过调节横向调节旋钮4142，进而可带动横向滑块4143横向移动。当然，在其它实施例中，测试横移单元414也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。
68.在一个实施例中，请参阅图13，测试纵移单元413可包括安装于横向滑块4143上的测试纵导轨4131、安装于测试纵导轨4131上的纵向调节旋钮4132和安装于测试纵导轨4131上的纵向滑块4133，纵向滑块4133上开设有供纵向调节旋钮4132的螺杆伸入的螺丝孔；测试升降单元412安装于纵向滑块4133上。此结构，通过调节纵向调节旋钮4132，进而可带动纵向滑动纵向移动。当然，在其它实施例中，测试纵移单元413也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。
69.在一个实施例中，请参阅图13，测试升降单元412可包括安装于纵向滑块4133上的测试竖导轨4121和安装于测试竖导轨4121上的升降调节旋钮4122，测试顶座411上开设有供升降调节旋钮4122的螺杆伸入的螺丝孔，测试定做安装于测试竖导轨4121上。此结构，通过调节升降调节旋钮4122，进而可带动测试顶座411升降。当然，在其它实施例中，测试升降单元412也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。
70.在一个实施例中，请参阅图14，由于第一探针42与第二探针43的结构相同，即仅以第一探针42的结构进行说明。第一探针42可包括探针底座421、与探针底座421可拆卸连接的探针上盖422、滑动安装于探针底座421上的探针本体423和用于弹性抵推该探针本体423的探针弹簧424；探针底座421上开设有容置探针弹簧424的凹槽4211，凹槽4211的两端分别开设有引导槽4212，探针本体423的两端分别安装于两个引导槽4212中，且探针本体423的探测端伸出探针底座421。探针本体423上设有限位块4231，探针弹簧424套设于探针本体423上，探针弹簧424的一端与限位块4241抵接，探针弹簧424的另一端与凹槽4211的内侧壁抵接。此结构，当第一探针42与第二探针43相互靠近夹持分选件时，探针弹簧424可起到对探针本体423的缓冲保护作用，避免对分选件造成损坏。
71.在一个实施例中，请参阅图15，下料组件6包括下料座61、安装于下料座61上的吹嘴62和与吹嘴62相对设置的下料管63，下料管63安装于下料座61上，吹嘴62和下料管63分别位于下料位的两侧，下料管63远离吹嘴62的一端与收料组件5连接。具体地，吹嘴62与下料管63之间间隔形成供转盘11的转环111穿过的通道。此结构，吹嘴62可与供气设备连接，当吹嘴62吹气时，可将定位槽112中的分选件吹至下料管63中，在下料管63的引导作用下，分选件进入收料组件5实现分类存储。
72.在一个实施例中，请参阅图15，下料座61可安装于机架7上，下料座61可呈弧形设置，转盘11上设置有多个下料位，下料座61上对应于各下料位的位置处分别设置有一个吹嘴62和一个下料管63。当测试组件4对各分选件进行测试后，系统根据测试结果可将分选件从对应的下料位排出，从而实现分选。
73.在一个实施例中，请参阅图1和图2，机架7上可间隔安装有多个接头73，接头73的数量与下料管63的数量相同。各下料管63远离下料座61的一端与相应接头73连接，各接头73与收料组件5之间可通过料管连接。目前，通常是直接将下料管63与收料组件5连接，如果下料管63发生故障需要更换，需要将整个下料管63拆解下来，这就导致下料管63的换管长度较大。而在本技术实施例中，将下料管63分为两节，并通过接头73实现连接。仅需更换一节下料管63即可，从而减少换管长度，降低成本。
74.在一个实施例中，请参阅图16，收料组件5包括箱架51和安装于箱架51上的多个料筒52，多个料筒52与下料管63是一一对应，各下料管63远离下料座61的一端与相应料筒52相连，从而通过料筒52来收集相应下料管63排出的分选件，实现分选作业。
75.在一个实施例中，请参阅图16，收料组件5还包括抽屉53、插管54和盖板55，各料筒52安装于抽屉53中，以通过抽屉53来支撑各料筒52。抽屉53滑动安装在箱架51中，以方便取放料筒52，进而方便料筒52的更换。插管54与料筒52是一一对应，并且插管54与下料管63相连，各插管54安装在盖板55上，通过盖板55来支撑插管54，这样方便将下料管63与料筒52连通。从而在使用时，拉出抽屉53，可以将料筒52从箱架51中取出，以方便更换料筒52；而当抽屉53插入箱架51中后，各插管54与相应料筒52对应，以将料筒52与对应下料管63相连，组装方便。
76.在一个实施例中，请参阅图16，收料组件5还包括导向板56，各料筒52安装在导向板56中，以通过导向板56与抽屉53配合来支撑料筒52，以稳定支撑料筒52。
77.在一个实施例中，请参阅图3，作为本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的一种具体实施方式，摆臂上料式分光机还包括设于上料位之一侧的第一检测器91和设于上料位之另一侧的第二检测器92。其中，第一检测器91和第二检测器92可分别安装于机架7上，第一检测器91和第二检测器92均可为光纤。此结构，当摆臂上料组件3将供料组件2上的分选件移送至主转盘组件1的定位槽112中时，转盘11在转动的过程中，各定位槽112中的分选件依次经过第一检测器91。若第一检测器91检测到各定位槽112中存在分选件，说明上料正常；反之，说明上料不正常。各定位槽112中的分选件依次经过第二检测器92，若第二检测器92检测到各定位槽112中不存在分选件，说明下料正常；反之，说明下料不正常。
78.在一个实施例中，请参阅图1，机架7的顶部设置有报警器79，当设备发生故障时，可进行报警提示。比如，当第一检测器91检测到定位槽112中没有分选件时，以及第二检测器92检测到定位槽112中存在分选件时，报警器79均会报警。
79.在一个实施例中，请参阅图1，机架7中可安装有控制系统，该控制系统可用于分别对主转盘组件11、供料组件2、摆臂上料组件3、测试组件4、收料组件5、下料组件6等部件进行电气控制。机架7上还设有离子风机74，离子风机74位于机架7上靠近振动盘22的位置，以清除振动盘22上分选件携带的静电。机架7上还安装有电脑主机75、显示器76和人机交互界面。电脑主机75设置于机架7的顶部；显示器76设置于机架7的顶部且位于电脑主机75的右侧。在电脑主机75的下侧，还设置有控制面板77，方便对分光机的自动化控制。机架7的顶部且位于显示器76的右侧设置有打印机78，以便打印检测信息。机架7中安装有真空泵(图未示)，以保证负压充足。真空来源不限定于真空泵，亦可由厂家集中提供并通过接头73接入到设备中。
80.本技术实施例提供的摆臂上料式分光机的具体操作步骤如下：
81.1、摆臂上料组件3将供料组件2上的分选件移送至主转盘组件1上。具体地，振动盘22通过送料架221将多个分选件排队，摆臂上料组件3通过吸嘴32将多个分选件逐一移送至转盘11的多个定位槽112中。
82.2、校正组件8对各定位槽112中的分选件进行位置校正。具体地，通过两个校正环83对分选件的位置进行调节。
83.3、积分球71对分选件的光学数据进行测试。
84.4、测试组件4对分选件进行性能测试。通过第一探针42与第二探针43将分选件夹持点亮，并对分选件的性能参数进行测试。
85.5、下料组件6将分选件输送至收料组件5中。具体地，下料组件6根据测试组件4的测试数据，转盘11可将分选件输送至对应的下料位，并通过对应的吹嘴62及下料管63，将分选件吹至对应的收料组件5的料筒52中。
86.应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本技术实施例的实施过程构成任何限定。比如，步骤2、步骤3和步骤4的顺序可以互换等。
87.以上所述仅为本技术的可选实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。