一种电子物料智能测试分选线的制作方法

文档序号:29716013发布日期:2022-04-16 18:36阅读:126来源:国知局
一种电子物料智能测试分选线的制作方法

1.本实用新型涉及电子物料自动化测试领域,尤其是涉及一种电子物料智能测试分选线。


背景技术:

2.对于电子物料,如芯片等,现有的电子物料测试分选线,采用的是一台排片机对应一台测试机的方案,测试机最多也只是具有16台治具,产能比较低。现有的一台排片机对应一台测试机的方案,受结构、动作流程等的局限,无法根据电子物料测试所需时间,自由增加治具的数量或者替换其它测试治具,更无法形成不同测试组合、形成可积木式扩展延伸的柔性电子物料测试线。


技术实现要素:

3.本实用新型的主要目的是克服现有技术的部分不足,提供一种多台测试机共用一台排片机的上下料和排片,测试机及治具的数量可自由增加、测试治具类型可替换、产能快速扩展的柔性电子物料测试分选线。
4.为实现上述目的,本实用新型的电子物料智能测试分选线,其特征在于,包括排料机和两台以上测试机,所述排料机包括流水线、第一物料转移机构、周转盘移载机构和若干料盘上下料模组,所述测试机包括送测线、回流线、周转盘转移机构、周转盘换线机构和若干测试治具模组;所述排料机的流水线两端分别设置有一台以上所述测试机;所述料盘上下料模组通过料盘对电子物料上下料,所述第一物料转移机构将电子物料从放料位转移至所述周转盘移载机构上的周转盘,所述周转盘移载机构随所述流水线移动至所述测试机的周转盘转移机构,并旋转90
°
以使周转盘方向与所述周转盘转移机构取料方向相同;所述测试机的周转盘转移机构将所述周转盘移载机构的周转盘整体转移至所述送测线以输送至各所述测试治具模组的待测区域;所述周转盘换线机构将送测线上装有已测电子物料的周转盘转移至所述回流线以回流。这样基于这种新的排料机和测试机结构架构,实现以周转盘为载体运输中心,并且周转盘不仅可以在排料机、测试机内部高效流转、更可以直接跨机器流转,提高了物料上料、交换、效率,避免堵塞和等待,另外结合送测线、回流线、周转盘换线机构的设置,料盘上下料模组和测试治具模组模块化的设置、共享1台排料机,多台测试机的自由组合扩展,实现了可根据电子物料测试所需时间对它们进行组合,形成可积木式扩展延伸的柔性电子物料测试线,使产能成倍成倍的增长。而且对车间场地的要求也得以降低。
5.作为一优选,所述排料机还包括交换架,所述交换架设若干交换盘,所述周转盘转移机构能够将所述回流线返回的周转盘转移至所述周转盘移载机构,所述周转盘移载机构随流水线返回所述排料机,并旋转90
°
以使周转盘方向与所述第一物料转移机构取料方向相同;周转盘上已测电子物料经所述排料机的第一物料转移机构转移至所述交换盘以使排料机左右两侧的测试机交换物料后能够进行另一种测试。
6.于所述排料机的流水线相同一侧,两台以上所述测试机的送测线和送测线、回流线和回流线分别串联式连接。
7.这样实现周转盘在排料机和测试机的直接转移,通过周转盘和对应的结构将上料运输和回收运输在所有机器之间打通。当排料机两端测试类型相同时,左右两端可以形成两条共用排料机的测试分选线,而当排料机两端测试类型不相同时,则左右两侧测试机可组合形成一条具有不同测试的线,以满足不同的测试需求。由于测试机一台一台积木形式对接、扩展,进一步提高产能。
8.作为一优选,所述测试机或所述测试治具模组还包括第二物料转移机构,所述第二物料转移机构将所述测试治具模组的待测区域内的周转盘上的电子物料转移至所述测试治具模组对应的穴位,以及将所述测试治具模组对应的穴位的电子物料转移至周转盘。
9.作为一优选,所述测试机还包括机架,所述机架上方设有至少一组扫码器,所述扫码器能够对所述送测线和回流线上的周转盘内电子物料扫码以获取电子物料信息。
10.作为一优选,所述的第一物料转移机构和第二物料转移机构上设有ccd相机或镭射测高仪,以检测判断料盘、周转盘或测试治具模组的穴位内有无电子物料、与/或电子物料的位置参数、与/或电子物料的外观。
11.作为一优选,所述测试治具模组包括第一测试治具模组,所述第一测试治具模组设有所述第二物料转移机构,所述第一测试治具模组的每个治具设有若干整列式分布的穴位,所述的第二物料转移机构上设有与治具穴位的数量和分布相匹配的吸料板,所述的第二物料转移机构的吸料板能够同时吸取与治具的穴位数量相同的电子物料以在所述送测线的周转盘与治具之间转移。
12.作为一优选,所述测试治具模组包括还包括第二测试治具模组,所述第二测试治具模组设有若干治具,每个治具设有一个穴位,所述第二物料转移机构从周转盘吸取电子物料并逐一放入每个治具的穴位,或者逐一从所述每个治具的每个穴位吸取已测电子物料以放入所述送测线的周转盘。
13.作为一优选,所述排料机设有两条以上流水线,每条流水线上左右各设有一个所述周转盘移载机构。
14.作为一优选,所述测试机在所述回流线两侧分别设有与所述回流线平行的两条所述送测线,沿每条所述送测线外侧分别设有若干测试治具模组。
附图说明
15.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
16.图1为某一优选实施例中的电子物料智能测试分选线整体结构示意图;
17.图2为图1中增加测试机后的结构示意图;
18.图3为某一优选实施例中的电子物料智能测试分选线整体的结构示意图;
19.图4为某优选实施例中排料机内部结构示意图;
20.图5为某优选实施例中测试机机架的结构示意图;
21.图6为某优选实施例中第一测试治具模组结构示意图;
22.图7为某优选实施例中第二测试治具模组结构示意图;
23.图8为图4中局部结构示意图。
具体实施方式
24.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
25.需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后等
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
26.另外,在本实用新型中仅对涉及到技术问题解决的结构、组成方案进行描述时候,对于公知的必要的结构、零件和连接关系,或者结合附图和公知常识可确定的技术特征,下面虽然没有描述,但不等于技术方案里不存在,更不应该成为公开不充分理由。
27.参考图1和图2,电子物料智能测试分选线包括排料机2和测试机1。其中排料机2包括流水线21、第一物料转移机构22、周转盘移载机构23和若干料盘上下料模组25。测试机1包括送测线11、回流线12、周转盘转移机构14、周转盘换线机构13和若干测试治具模组15。
28.对于排料机2:
29.料盘上下料模组25用于通过料盘对电子物料上下料。排料机2可以具有多个料盘上下料模组25安装位,即料盘上下料模组25的数量可以根据需要设计多个,并且可以根据需要定义料盘上下料模组25的工作模式,例如某些料盘上下料模组25负责料盘上料,某些料盘上下料模组25负责装合格电子物料的料盘下料,某些料盘上下料模组25负责装不合格电子物料料盘的下料等。以实现供料/收料模式自由切换和不停机换料。优选地,同一种工作模式的料盘上下料模组25可以有两个以上以提高上料和下料的效率。周转盘移载机构23设置在流水线21上,可以随流水线21往复移动,以到达第一物料转移机构22或周转盘转移机构14的取料范围。流水线21可以是轨道运输线,也可以是皮带线等。流水线21的数量可以设置有1条以上,如两条等,可提高传送效率。
30.第一物料转移机构22用于周转盘转移机构14的周转盘3和放料位,或者用于周转盘转移机构14的周转盘3与排料机2的交换架24(或交换盘241)之间电子物料的转移。优选地,第一物料转移机构22设有多个吸头,如8个,还设有上ccd相机,以取料前识别判断周转盘3和料盘对应位置是否有电子物料,电子物料的位置等。同样,第一物料转移机构22自身或附近还可以设有下ccd相机,以实现取料后移动至下ccd相机识别判断所取料的电子物料,然后再转移到对应的周转盘3或料盘。
31.周转盘移载机构23可随流水线21往复移动,以在第一物料转移机构22的取料范围和周转盘转移机构14的取料范围之间往返。优选地,由于第一物料转移机构22的取料方向和第一物料转移机构22的取料方向不同,例如第一物料转移机构22的取料方向和第一物料转移机构22的取料方向位水平垂直,即成90
°
,周转盘移载机构23设有旋转结构,以实现对其上的周转盘3旋转
±
90
°
以使周转盘3方向分别对应与所述第一物料转移机构22或周转盘
转移机构14的取料方向相同。
32.对于测试机1:
33.送测线11用于输送周转盘3到对应的各所述测试治具模组15的待测区域(即等待被取料的区域)的运输线。
34.回流线12用于将装有已测电子物料的周转盘3往排料机2方向输送的运输线。
35.优选地,送测线11和回流线12平行。送测线11和回流线12可以是轨道线、皮带线等。送测线11可设有两条,即在回流线12两侧分别设有与回流线12平行的两条送测线11,沿每条送测线11外侧分别设有若干测试治具模组15。
36.测试机1于送测线11外侧可设置若干测试治具模组15安装位。即测试治具模组15的数量可以根据需要设计多个。每个测试治具模组15为独立功能结构单元,测试治具模组15可相对测试机1机架整体分离,拆卸替换。这样,可以根据测试需要,增减测试治具模组15的数量,或者替换测试治具模组15的类型,以实现不同测试类型或测试产能需求。
37.周转盘转移机构14,设于邻近排料机2的一端,尤其是设置在方便对周转盘移载机构23上周转盘3取料的地方。周转盘转移机构14用于将周转盘移载机构23的周转盘3整体转移至送测线11,以及将回流线12上装了已测电子物料的周转盘3整体转移回周转盘移载机构23。周转盘转移机构14设有能够吸取周转盘3的若干吸头或吸料板,以及移动结构。作为替换或可选方案,周转盘转移机构14也可设于排料机2端,但应临近测试机1。
38.周转盘换线机构13用于将送测线11上装有已测电子物料的周转盘3转移至回流线12以往排料机2方向输送回流。周转盘换线机构13设有将送测线11上装有已测电子物料的周转盘3转移至回流线12动作结构,包括但不限于顶升移动结构,或吸附移动结构等。
39.某优选方案中,参考图4和8,排料机2上还设有交换架24,所述交换架24设有若干交换盘241。交换盘241的具体数量可根据实际设置,如5个。每个交换盘241的在排料机2上的功能可根据需要,可被定义或配置,包括但不限于用于待放料的电子物料缓存、缓存来自周转盘转移机构14周转盘3的已测电子物料以供排料机2左右两侧的测试机1交换、缓存待下料的已测电子物料等。基于交换架24和交换盘241设置,周转盘转移机构14将回流线12返回的周转盘3转移至周转盘移载机构23,周转盘移载机构23随流水线21返回排料机2后,排料机2的第一物料转移机构22包括可将已测电子物料转移至交换架24上的交换盘241,进而通过交换盘241实现已测电子物料缓存,以供排料机2左右两侧的测试机1交换进行另一种测试。
40.参考图1和图6,测试机1上还设有第二物料转移机构1513,第二物料转移机构1513用于将测试治具模组15的待测区域内的周转盘3上的电子物料转移至测试治具模组15对应的穴位,以及将测试治具模组15对应的穴位的电子物料转移至周转盘3。第二物料转移机构1513设有能够吸取电子物料的若干吸头或吸料板。第二物料转移机构1513可以设置在测试治具模组15上,也可以设置在测试机1的机架上。如图6所述,为设置在测试治具模组15上,如图1,排料机2右端的测试机1为设置在第二物料转移机构1513的机架上。
41.电子物料智能测试分选线包括排料机2和测试机1,而测试机1的具体数量、测试机1上的测试治具模组15类型等可根据实际设置或替换。例如参考图6,测试治具模组15类型为第一测试治具模组151,第一测试治具模组151自带第二物料转移机构1513, 测试治具模组15设有一个治具,每个治具设有若干整列式分布的穴位,如分成两排的16个测试穴位。第
二物料转移机构1513上设有与治具穴位的数量和分布相匹配的吸料板,第二物料转移机构1513的吸料板能够同时吸取与治具的穴位数量相同的电子物料以在送测线11的周转盘3与治具之间转移。而参考图7,为另一种测试治具模组类型,即第二测试治具模组152, 第二测试治具模组152没有自带第二物料转移机构1513,第二物料转移机构1513设于测试机1的机架上(如图1的排料机2右端的测试机1),第二测试治具模组152设有若干治具,每个治具设有一个穴位,第二物料转移机构1513从周转盘3吸取电子物料并逐一放入每个治具的穴位,或者逐一从所述每个治具的每个穴位吸取已测电子物料以放入所述送测线11的周转盘3。另外,每穴位上可设有开合盖结构。
42.测试机1的具体数量可设置为1台、2台、甚至多台组合。包括:
43.如图1所示,测试机1为两台,且两台测试机1的测试治具模组类型不同,其中排料机2左侧为第一测试治具模组151,对应第一测试;排料机2右侧为第二测试治具模组152,对应第二测试。这样,电子物料智能测试分选线可同时具有两种测试,周转盘移载机构23随流水线21返回排料机2后,排料机2的第一物料转移机构22将已测电子物料转移至交换架24上的交换盘241,排料机2左右两侧的测试机1通过交换盘241进行物料交换后进行另一种测试。优选地,排料机2上设有两条流水线21,每条流水线21左右各设有一个所述周转盘移载机构23。
44.参考图2,在图1方案基础上,排料机2每侧的测试机1数量也可根据不同电子物料测试所需时间,设置不同的数量,以提高测试效率。对于同一侧的两台以上所述测试机1的送测线11和送测线11、回流线12和回流线12分别串联式连接,即相邻的测试机1送测线11上的周转盘3可以输送至另一台测试机1的送测线11,相邻的测试机1回流线12上的周转盘3可以输送至另一台测试机1的回流线12。这样通过测试机1通过积木式组合形成柔性的测试线,可以成倍的不断增加产能,并且根据不同电子物料测试所需时间进行组合,可以提高机器利用率,减小等待,提高运行效率。由于多台测试设备共用一台排片机、不同测试共用一台排片机,一方面可以节省生产空间,降低对场地要求,另一方面通过料盘上下料模组25和测试治具模组15均采用可拆卸的模块化结构,它们数量、类型可快速调节或切换,可以使测试工作在较优的效率,而这一些调节或切换,只需在配套中控系统方面做简单的增减数量,选择对应的模式即可实现,而不需要进行全新的整体定制开发,布设实施的难度得以明显降低,在不同自动化车间场地的布设、实施效率可得到显著提高。
45.如图3所示,排料机2左右两侧的测试机1为相同的测试类型,即测试机1的测试治具模组15同为第一测试治具模组151,或者同为第二测试治具模组152。同侧的测试机1完后,回流到排片机即可进行下料,这种模式相当于在排料机2左右形成了两条相同的测试线,并且是共用一台排片机的两条相同的测试线。
46.参考图4、5和6,某优选实施例,第二物料转移机构1513上同样还设有镭射测高仪或ccd相机等,以对取料前后识别判断周转盘3和治具穴位对应位置是否有电子物料,电子物料的位置、外观等等。测试机1还包括机架,所述机架上方设有至少一组扫码器16,所述扫码器16能够对所述送测线11和回流线12上的周转盘3内电子物料扫码以获取电子物料信息。
47.基于上述电子物料智能测试分选,工作时候可形成一种电子物料智能测试分选方法,概括来说,电子物料智能测试分选方法包括以下步骤:
48.上料步骤,排料机2的第一物料转移机构22将待测电子物料转移至周转盘移载机构23上的周转盘3;
49.周转盘转移步骤,测试机1的周转盘转移机构14将排料机2周转盘移载机构23上的周转盘3整体转移至测试机1的送测线11并输送至各测试治具模组15的待测区域;
50.取料测试步骤,测试机1的第二物料转移机构1513将测试治具模组15的待测区域内的周转盘3上的电子物料转移至所述测试治具模组15对应的穴位测试,以及将所述测试治具模组15对应的穴位的电子物料转移至周转盘3;
51.周转盘换线回流步骤,测试机1的周转盘换线机构13将送测线11上装有已测电子物料的周转盘3转移至所述回流线12以向排料机2方向回流,周转盘转移机构14能够回流线12返回的周转盘3整体转移至周转盘移载机构23;
52.下料或换料步骤,排料机2的第一物料转移机构22将周转盘移载机构23上已测电子物料转移至排料机2预设的下料位以下料,或者转移至排料机2交换架24的交换盘241以换料后进行另一种测试。
53.优选地,还包括周转盘方向调节步骤,周转盘移载机构23将周转盘3旋转
±
90
°
以使周转盘3方向分别对应与所述第一物料转移机构22或周转盘转移机构14的取料方向相同。
54.具体当组成如图1所示的,两台测试机1分设于排料机2的两侧,左侧的测试机1的测试治具模组15为第一测试治具模组151,右侧的测试机1的测试治具模组15为第二测试治具模组152。
55.左侧的测试机1测试分选具体流程有:
56.料盘上下料模组25通过料盘上料,并传送到放料位;
57.第一物料转移机构22的通过自身ccd对电子物料拍照后各吸料头依次取料;
58.第一物料转移机构22上的电子物料通过设于下方的ccd拍照后依次放置到周转盘移载机构23上的周转盘3;
59.周转盘移载机构23旋转90
°
并随流水线21移动至所述测试机1的周转盘转移机构14;
60.所述测试机1的周转盘转移机构14将周转盘3整体取料并放置到送测线11的周转盘3;
61.扫码器16对每颗电子物料进行扫码以获取电子物料信息;
62.送测线11将周转盘3移动至测试治具模组15的待测区;
63.镭射测高仪对周转盘3电子物料进行测高复检;
64.第二物料转移机构1513下压取料后旋转至测试治具模组15的穴位上方并下压放料;
65.第二物料转移机构1513另一端下压继续取料并带料等待;
66.测试完成后,第二物料转移机构1513取出已测电子物料并旋转放入送测线11的周转盘3已测区;带料产品继续测试;
67.第二物料转移机构1513带料等待端旋转至测试治具模组15的穴位上方并下压放料;
68.取出已测电子物料并旋转放入送测线11的周转盘3已测区;带料产品继续测试;
69.镭射测高仪对放置的周转盘3已测电子物料进行测高复判;
70.周转盘换线机构13将送测线11上装有已测电子物料的周转盘3转移至所述回流线12并随回流线12移动至周转盘转移机构14;
71.周转盘转移机构14将周转盘3整体转移至排料机2的周转盘移载机构23;
72.周转盘移载机构23将周转盘3旋转90
°
,并由流水线21移动至排料机2的放料区;
73.第一物料转移机构22的通过自身ccd对放料区周转盘3已测电子物料拍照后各吸料头依次取料;
74.第一物料转移机构22按照测试结果,将已测电子物料转移至排料机2交换架24的交换盘241以换料后进行另一种测试。
75.右侧的测试机1测试分选具体流程有:
76.料盘上下料模组25通过料盘上料,并传送到放料位;
77.第一物料转移机构22的通过自身ccd对电子物料拍照后各吸料头依次取料;
78.第一物料转移机构22上的电子物料通过设于下方的ccd拍照后依次放置到周转盘移载机构23上的周转盘3;
79.周转盘移载机构23旋转90
°
并随流水线21移动至所述测试机1的周转盘转移机构14;
80.所述测试机1的周转盘转移机构14将周转盘3整体取料并放置到送测线11的周转盘3;
81.扫码器16对每颗电子物料进行扫码以获取电子物料信息;
82.送测线11将周转盘3移动至测试治具模组15的待测区;
83.镭射测高仪对周转盘3电子物料进行测高复检;
84.第二物料转移机构1513依次取料后移动至测试治具模组15的穴位上方并在测试治具的穴位逐一放料;
85.测试完成后,第二物料转移机构1513从测试治具的穴位取出已测电子物料并旋转放入送测线11的周转盘3已测区;
86.镭射测高仪对放置的周转盘3已测电子物料进行测高复判;
87.周转盘换线机构13将送测线11上装有已测电子物料的周转盘3转移至所述回流线12并随回流线12移动至周转盘转移机构14;
88.周转盘转移机构14将周转盘3整体转移至排料机2的周转盘移载机构23;
89.周转盘移载机构23将周转盘3旋转90
°
,并由流水线21移动至排料机2的放料区;
90.第一物料转移机构22的通过自身ccd对放料区周转盘3已测电子物料拍照后各吸料头依次取料;
91.第一物料转移机构22按照测试结果,将已测电子物料转移至排料机2交换架24的交换盘241以换料后进行另一种测试。
92.最后值得一提的是,虽然本实用新型主题适用于各种电子物料的测试分选,排料机和测试机的整体结构、动作流程等并不要改变,只需替换具有与物料相匹配的穴位的料盘、周转盘、治具即可实现,这也进一步提高了本智能测试分选线的通用性。
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