一种检测通道角度可调式X光机及控制方法与流程

一种检测通道角度可调式x光机及控制方法
技术领域
1.本发明属于x光机技术领域，特别是涉及一种检测通道角度可调式x光机及控制方法。


背景技术：

2.x光异物检测机是通过设备产生x射线并应用x射线的穿透能力，集合光电技术、计算机数字信号处理等技术，通过视觉和模式识别将图像的信息进行区分、提取和判别，最终实现混在被检物中的金属、非金属异物以及缺失、破损包装检测。
3.x光异物检测机由x光发射装置、传感器、x射线防护装置、传动装置组成。现有技术通常利用水平方向的有动力输送装置运送被检物，输送装置为输送带形式，由电机驱动辊筒，辊筒带动输送带运行。但现有技术存在以下问题：
4.1.输送装置采用电机带动辊筒，辊筒带动输送带，输送带带动被检物运行，被检物运行的动力传递依靠摩擦力。但是，由于电机输出功率存在波动以及输送带与托板贴合度不一致，输送带速度会有上下波动，输送带表面会存在一定程度起伏，导致被检物速度不平稳，传感器采集到的图像会拉伸变形，影响识别效果。
5.2.输送装置采用电机驱动，需要维护和清理才能维持识别效果，且动力输送装置增加了生产成本。
6.3.输送带会吸收一部分x射线，导致物料成像清晰度较差，进而降低了物料的分选质量。


技术实现要素：

7.本发明的目的在于提供一种检测通道角度可调式x光机，通过倾斜设置滑道，物料在重力作用下沿滑道自动下滑，滑道的入料端设有转轴，滑道可绕转轴旋转，适应不同种类的物料输送；x光识别机构和分拣剔除器均随滑道同步旋转，且与滑道保持相对静止，解决了现有输送装置为输送带形式，由电机驱动输送带运行，输送带的速度会有上下波动，表面会存在一定程度起伏，导致被检物速度不平稳，传感器采集到的图像会拉伸变形，影响识别效果的问题。本发明的另一个目的在于提供一种检测通道角度可调式x光机的控制方法。
8.为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
9.本发明为一种检测通道角度可调式x光机，包括倾斜设置的滑道，所述滑道的入料端设有转轴，所述滑道可绕转轴旋转。所述滑道上设有用于识别好坏物料的x光识别机构，所述滑道的出料端设有分拣好坏物料的分拣剔除器；所述x光识别机构和分拣剔除器均随滑道旋转，且与滑道保持相对静止。
10.作为本发明的一种优选技术方案，x光机还包括箱体，所述箱体的上端开有进料口，所述箱体的底端开有成品出口和次品出口。所述滑道、x光识别机构和分拣剔除器均设置于箱体内，所述转轴设置于进料口处，所述成品出口和次品出口随滑道旋转而沿箱体的底端移动，使得经分拣剔除器分拣的物料始终能通过成品出口或次品出口。
11.作为本发明的一种优选技术方案，所述x光识别机构包括射线防护罩和安装在射线防护罩内的射线发生器、射线接收器，所述滑道穿过射线防护罩，所述射线发生器和射线接收器分别位于滑道两侧。所述射线发生器发射x射线穿过滑道被射线接收器接收。
12.作为本发明的一种优选技术方案，所述滑道上开有狭缝，所述射线发生器发射x射线穿过狭缝被射线接收器接收。该狭缝使x射线从射线发射器到射线接收器之间没有阻碍，提升图像清晰度。
13.作为本发明的一种优选技术方案，所述分拣剔除器的后端设有为好坏物料分别提供导向的分拣滑道，所述分拣滑道安装在箱体底端并设于成品出口和次品出口之间，所述分拣滑道采用倒“v”型结构。所述分拣滑道随滑道旋转而沿箱体的底端移动。
14.作为本发明的一种优选技术方案，所述箱体的底端设有滑轨，所述成品出口、次品出口和分拣滑道均与滑轨滑动连接。
15.作为本发明的一种优选技术方案，所述分拣剔除器采用翻板剔除器、推杆剔除器或喷阀剔除器中的一种。
16.作为本发明的一种优选技术方案，所述滑道与水平面的夹角采用40
°
～90
°
。
17.一种检测通道角度可调式x光机的控制方法，包括如下步骤：s1：从进料口注入物料，物料落至滑道。s2：调节滑道的倾斜角度，使物料沿滑道向下滑动，并以设定速度通过x光识别机构。s3：x光识别机构、分拣剔除器、分拣滑道、成品出口和次品出口随滑道同步运动。s4：物料经过x光识别机构，射线发生器发射x射线穿过物料和狭缝被射线接收器接收，射线接收器将光信号转换为电信号，系统判断物料好坏，并将不合格信号传递至分拣剔除器。s5：分拣剔除器未接收到不合格品物料信号，分拣剔除器不运行，物料从成品出口流出。s6：分拣剔除器接收到不合格品物料信号，当物料经过分拣剔除器时，分拣剔除器启动运行，将物料推至次品出口，实现好坏物料分选。
18.作为本发明的一种优选技术方案，所述s2中，选择物料种类，系统自动控制滑道沿转轴旋转至设定角度。达到设定角度后，可手动微调滑道角度。
19.本发明具有以下有益效果：
20.1、本发明通过倾斜设置滑道，物料在重力作用下沿滑道自动下滑，滑道的入料端设有转轴，滑道可绕转轴旋转，适应不同种类的物料输送；x光识别机构和分拣剔除器均随滑道同步旋转，且与滑道保持相对静止，物料沿着滑道滑进x光识别机构，速度平稳，且不易抖动，有利于图像处理，提升物料分选质量。
21.2、本发明通过将滑道、x光识别机构和分拣剔除器均设置于箱体内，整体结构紧凑，占用空间小，方便产线布局。
22.当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
23.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
24.图1为实施例一中检测通道角度可调式x光机的结构示意图；
25.图2为图1中a处的局部放大示意图；
26.图3为实施例二中检测通道为竖直状态时x光机的结构示意图；
27.图4为实施例二中另一状态下x光机的结构示意图；
28.附图中，各标号所代表的部件列表如下：
29.1-箱体，101-进料口，102-成品出口，103-次品出口，2-滑道，201-转轴，202-狭缝，3-x光识别机构，301-射线防护罩，302-射线发生器，303-射线接收器，4-分拣剔除器，5-分拣滑道。
具体实施方式
30.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
31.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
32.实施例一
33.请参阅图1-图2所示，本实施例提供了一种检测通道角度可调式x光机，包括箱体1，箱体1的上端开有进料口101，箱体1的底端开有成品出口102和次品出口103。箱体1内倾斜设置有滑道2，物料从进料口101注入箱体，在重力的作用下沿滑道2下滑，依次经过x光识别机构3、分拣剔除器4和分拣滑道5，最终从成品出口102或次品出口103流出。x光识别机构3包括射线防护罩301和安装在射线防护罩301内的射线发生器302、射线接收器303。滑道2穿过射线防护罩301，射线发生器302和射线接收器303分别位于滑道2的两侧，滑道2上开有狭缝202，射线发生器302发射x射线穿过狭缝202被射线接收器303接收，实现对物料的识别。
34.其中，滑道2、x光识别机构3、分拣剔除器4和分拣滑道5均设置于箱体1内。x光识别机构3设置于滑道2上，用于识别好坏物料。分拣剔除器4安装在滑道2的出料端，用于根据x光识别机构3识别的物料信息分拣好坏物料。分拣滑道5采用倒“v”型结构并设置于分拣剔除器4的后端，用于为好坏物料分别提供导向，使好的物料从成品出口102流出，坏的物料从次品出口103流出。
35.为使不同种类物料均可沿滑道2自动向下输送，滑道2的倾斜角度可根据物料种类手动或自动调节。其具体采用的结构为：在进料口101处设有转轴201，滑道2的入料端可绕转轴201旋转，x光识别机构3和分拣剔除器4均随滑道2同步旋转，且与滑道2保持相对静止。箱体1的底端设有滑轨，成品出口102、次品出口103和分拣滑道5均与滑轨滑动连接，当滑道2绕转轴201旋转时，分拣滑道5、成品出口102和次品出口103随滑道2旋转而沿滑轨移动，使得经分拣剔除器4分拣的物料始终能通过成品出口102或次品出口103。
36.本实施例中检测通道角度可调式x光机检测大颗粒物料(如核桃)时的工作步骤如下：
37.s1：从进料口101注入物料，物料落至滑道2。
38.s2：选择物料种类，系统自动控制滑道2沿转轴201旋转至与水平面呈40
°
夹角。达到设定角度后，可手动微调滑道2角度，使物料沿滑道2向下滑动，并以设定速度通过x光识别机构3。
39.s3：x光识别机构3、分拣剔除器4、分拣滑道5、成品出口102和次品出口103随滑道2同步运动。
40.s4：物料经过x光识别机构3，射线发生器302发射x射线穿过物料和狭缝202被射线接收器303接收，光信号转换为电信号被传至控制系统，系统判断物料好坏，并将不合格信号传递至分拣剔除器4；
41.s5：分拣剔除器4未接收到不合格品物料信号，分拣剔除器4不运行，物料从成品出口102流出；
42.s6：分拣剔除器4接收到不合格品物料信号，当物料经过分拣剔除器4时，分拣剔除器4启动运行，将物料推至次品出口103，实现好坏物料分选。
43.其中，分拣大颗粒物料(如核桃)时，分拣剔除器4采用翻板剔除器或推杆剔除器。分拣小颗粒物料(如大米)时，分拣剔除器4采用喷阀剔除器。
44.此外，滑道2与水平面的夹角采用40
°
～90
°
，对于大颗粒物料，则采用较小角度，物料在滑道2上滑动较慢，使得物料经x光识别机构3的识别时间更长，图像采集更加充分，也就提高了筛选精度。反之，对于小颗粒物料，则采用较大角度，物料在滑道2上滑动较快。既满足小颗粒物料在x光识别机构3内的识别时长需求，且提升了小颗粒物料的生产效率。
45.实施例二
46.基于实施例一，实施例二的不同之处在于：
47.请参阅图3所示，对于较小颗粒物料，如筛选大米时，滑道2与水平面的夹角采用90
°
，即滑道2竖直设置，此时大米做自由落体运动。分拣剔除器4采用喷阀剔除器。大米经过x光识别机构3识别后，喷阀剔除器将不合格大米吹至次品出口103，成品大米从成品出口102流出到下道工序。
48.请参阅图4所示，此过程中，滑道2无需为大米提供依托，因此滑道2可拆除，使得整体结构更加简单。
49.物料滑动较慢，使得物料经x光识别机构3的识别时间更长，图像采集更加充分，也就提高了筛选精度。
50.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
51.以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。