一种半导体外观检测分选装置的制作方法

本发明涉及外观检测，尤其涉及一种半导体外观检测分选装置。

背景技术：

1、半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料，从科技或是经济发展的角度来看，半导体非常重要。很多电子产品，如计算机、移动电话、数字录音机的核心单元都是利用半导体的电导率变化来处理信息。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。

2、在现有技术中，半导体在生产的过程中，需要对半导体外观进行检测，将不合格的半导体挑选出并剔除，但是目前大部分对半导体外观检测时，需要工作人员将半导体放置在检测摄像头下方进行检测，并将合格和不合格的半导体区分开，此过程费时费力，导致半导体外观检测分选的效率较低。

技术实现思路

1、本发明的目的是为了解决现有技术中存在半导体在生产的过程中，需要对半导体外观进行检测，将不合格的半导体挑选出并剔除，但是目前大部分对半导体外观检测时，需要工作人员将半导体放置在检测摄像头下方进行检测，并将合格和不合格的半导体区分开，此过程费时费力，导致半导体外观检测分选的效率较低的问题。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种半导体外观检测分选装置，包括：支撑座，所述支撑座靠近底部的其中两支杆相对一侧固定安装有固定杆一，所述固定杆一的外表面转动安装有分选板一，所述支撑座靠近中心处的另外两支杆的相对一侧均开设有滑槽一，两个所述滑槽一的内部滑动安装有几字形滑块，所述几字形滑块靠近顶部的相对一侧均固定安装有方杆，两个所述方杆的相对一侧均开设有导向槽二，两个所述导向槽二的相对一侧滑动安装有活动杆，所述活动杆的外表面转动安装在分选板一靠近一端的内部，所述分选板一靠近一端的底部固定安装有l型板，所述l型板靠近中心处的顶部转动安装有转杆三，所述转杆三的一端固定安装有转盘，所述转杆三靠近另一端的外表面固定套设有限位齿盘，所述l型板顶部的其中一个拐角处固定安装有固定杆三，所述固定杆三的一端转动安装有限位钩，所述限位钩的钩角一端与限位齿盘的齿牙相啮合，所述l型板顶部的一端固定安装有圆杆二，所述圆杆二的一端设置有弹性件，所述限位钩靠近中心处的底部固定安装有圆杆三，所述圆杆三的一端设置在弹性件的一端，所述限位钩靠近钩角一端的一侧固定安装有u型块，所述u型块的相对一侧转动安装有连接条二，所述分选板一靠近中心处的底部固定安装有l型条，所述l型条顶部的一端固定安装有固定杆二，所述固定杆二的一端转动安装有方条，所述方条底部的中心处固定安装有圆杆一，所述圆杆一的一端转动安装在连接条二一端的内部，所述分选板一的上方设置有检测摄像装置，所述分选板一的顶部滑动设置有多个半导体件。

3、优选的，所述支撑座靠近一端内壁的底部设置有推动件，所述推动件的一端固定安装在几字形滑块的底部。

4、优选的，所述分选板一靠近一端的一侧开设有开口槽二，所述转盘的外表面转动安装在开口槽二的内部，所述分选板一靠近中心处的一侧开设有开口槽一，所述方条的外表面活动嵌设在开口槽一的内部。

5、优选的，所述分选板一靠近一端的另一侧开设有导向槽一，所述导向槽一的内部设置有导向件，所述导向件的一端固定套设有u型架，所述支撑座靠近顶部的相对一侧转动安装有转杆一，所述转杆一的外表面固定安装在检测摄像装置的内部，所述转杆一的一端固定嵌设在u型架其中一支臂的一端。

6、优选的，所述分选板一靠近中心处的顶部开设有方槽，所述方槽靠近一端的相对一侧转动安装有转杆二，所述转杆二的外表面固定套设有活动板，所述分选板一靠近中心处的一侧固定安装有电机，所述电机的输出端固定安装在转杆二的一端。

7、优选的，所述分选板一靠近另一端的底部对称固定安装有两个连接条一，两个所述连接条一靠近底部的相对一侧固定安装有分选板二。

8、优选的，所述支撑座顶部一端的相对一侧固定安装有控制箱。

9、优选的，所述u型架的两支臂与分选板一相互平行。

10、优选的，两个所述滑槽一的宽度均与几字形滑块的宽度相等。

11、优选的，所述检测摄像装置与分选板一相互垂直。

12、与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于，

13、1、本发明，通过将半导体件放置在分选板一的上面，使其在重力的作用下向下滑动，通过拉动一下方条时，使得方条绕固定杆二转动，同步在圆杆一、连接条二和u型块的配合下，可以使拉动限位钩绕固定杆三转动，同步使弹性件进行拉伸，使得限位钩对限位齿盘的限位解除，从而使得转盘在半导体件向下滑动的作用下，转动一定的角度，使得第一个半导体件向下滑动，第二个半导体件滑动到转盘两支杆的中间，同步限位齿盘转动相同角度，使得限位钩在弹性件的复位作用力下，插入到限位齿盘的齿槽中，对限位齿盘进行限位，从而使得第二个半导体件在转盘位置处停留一段时间，并通过检测摄像装置对半导体件的外观进行检测，同步通过在弹性件的复位作用力下，方条回到原位，在检测摄像装置对半导体件检测的过程中，第一个半导体件在分选板一的上面向下滑动，在一段时间后，半导体件接触到方条并推动，如此反复，使检测合格的半导体件顺着分选板一向下滑动，当检测摄像装置检测到半导体件的外观不合格时，通过控制箱内部的控制器控制电机启动，使其输出轴带动转杆二转动，从而使活动板向下转动，使不合格的半导体件滑落到分选板二的上面，这样即可自动将合格和不合格的半导体件区分开，此过程省时省力，从而提高半导体件外观检测分选的效率。

14、2、本发明，通过启动推动件，使其进行伸展或收缩，可以带动几字形滑块沿滑槽一向上或向下滑动，同步使分选板一绕固定杆一进行倾斜角度的调节，使得活动杆在导向槽二的内部向左或向右滑动，这样即可对分选板一的倾斜角度进行调节，从而可以控制半导体件在分选板一上面向下滑动的速度。

15、3、本发明，当分选板一发生倾斜角度的变化时，通过在u型架的两支臂与分选板一相互平行的作用下，可以使导向件在导向槽一的内部向左或向右滑动，使得转杆一转动，从而使检测摄像装置始终与分选板一相互垂直，进而可以使检测摄像装置始终对半导体件的正面进行外观检测，这样可以避免检测摄像装置对半导体件的检测出现盲区。

技术特征：

1.一种半导体外观检测分选装置，其特征在于，包括：支撑座(1)，所述支撑座(1)靠近底部的其中两支杆相对一侧固定安装有固定杆一(206)，所述固定杆一(206)的外表面转动安装有分选板一(2)，所述支撑座(1)靠近中心处的另外两支杆的相对一侧均开设有滑槽一(106)，两个所述滑槽一(106)的内部滑动安装有几字形滑块(401)，所述几字形滑块(401)靠近顶部的相对一侧均固定安装有方杆(4)，两个所述方杆(4)的相对一侧均开设有导向槽二(403)，两个所述导向槽二(403)的相对一侧滑动安装有活动杆(404)，所述活动杆(404)的外表面转动安装在分选板一(2)靠近一端的内部，所述分选板一(2)靠近一端的底部固定安装有l型板(3)，所述l型板(3)靠近中心处的顶部转动安装有转杆三(302)，所述转杆三(302)的一端固定安装有转盘(303)，所述转杆三(302)靠近另一端的外表面固定套设有限位齿盘(308)，所述l型板(3)顶部的其中一个拐角处固定安装有固定杆三(309)，所述固定杆三(309)的一端转动安装有限位钩(310)，所述限位钩(310)的钩角一端与限位齿盘(308)的齿牙相啮合，所述l型板(3)顶部的一端固定安装有圆杆二(311)，所述圆杆二(311)的一端设置有弹性件(312)，所述限位钩(310)靠近中心处的底部固定安装有圆杆三(313)，所述圆杆三(313)的一端设置在弹性件(312)的一端，所述限位钩(310)靠近钩角一端的一侧固定安装有u型块(314)，所述u型块(314)的相对一侧转动安装有连接条二(307)，所述分选板一(2)靠近中心处的底部固定安装有l型条(301)，所述l型条(301)顶部的一端固定安装有固定杆二(304)，所述固定杆二(304)的一端转动安装有方条(305)，所述方条(305)底部的中心处固定安装有圆杆一(306)，所述圆杆一(306)的一端转动安装在连接条二(307)一端的内部，所述分选板一(2)的上方设置有检测摄像装置(103)，所述分选板一(2)的顶部滑动设置有多个半导体件(208)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述支撑座(1)靠近一端内壁的底部设置有推动件(402)，所述推动件(402)的一端固定安装在几字形滑块(401)的底部。

3.根据权利要求1所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述分选板一(2)靠近一端的一侧开设有开口槽二(202)，所述转盘(303)的外表面转动安装在开口槽二(202)的内部，所述分选板一(2)靠近中心处的一侧开设有开口槽一(201)，所述方条(305)的外表面活动嵌设在开口槽一(201)的内部。

4.根据权利要求3所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述分选板一(2)靠近一端的另一侧开设有导向槽一(210)，所述导向槽一(210)的内部设置有导向件(105)，所述导向件(105)的一端固定套设有u型架(104)，所述支撑座(1)靠近顶部的相对一侧转动安装有转杆一(102)，所述转杆一(102)的外表面固定安装在检测摄像装置(103)的内部，所述转杆一(102)的一端固定嵌设在u型架(104)其中一支臂的一端。

5.根据权利要求4所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述分选板一(2)靠近中心处的顶部开设有方槽(209)，所述方槽(209)靠近一端的相对一侧转动安装有转杆二(211)，所述转杆二(211)的外表面固定套设有活动板(207)，所述分选板一(2)靠近中心处的一侧固定安装有电机(205)，所述电机(205)的输出端固定安装在转杆二(211)的一端。

6.根据权利要求5所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述分选板一(2)靠近另一端的底部对称固定安装有两个连接条一(203)，两个所述连接条一(203)靠近底部的相对一侧固定安装有分选板二(204)。

7.根据权利要求4所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述支撑座(1)顶部一端的相对一侧固定安装有控制箱(101)。

8.根据权利要求6所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述u型架(104)的两支臂与分选板一(2)相互平行。

9.根据权利要求2所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：两个所述滑槽一(106)的宽度均与几字形滑块(401)的宽度相等。

10.根据权利要求8所述的一种半导体外观检测分选装置，其特征在于：所述检测摄像装置(103)与分选板一(2)相互垂直。

技术总结
本发明涉及外观检测技术领域，提供了一种半导体外观检测分选装置，包括：支撑座，所述支撑座靠近底部的其中两支杆相对一侧固定安装有固定杆一，所述固定杆一的外表面转动安装有分选板一。本发明，通过拉动一下方条时，可以使拉动限位钩绕固定杆三转动，使得限位钩对限位齿盘的限位解除，同步限位齿盘转动相同角度，并通过检测摄像装置对半导体件的外观进行检测，通过控制箱内部的控制器控制电机启动，使其输出轴带动转杆二转动，从而使活动板向下转动，使不合格的半导体件滑落到分选板二的上面，这样即可自动将合格和不合格的半导体件区分开，此过程省时省力，从而提高半导体件外观检测分选的效率。

技术研发人员：刘锐
受保护的技术使用者：杭州熙驰科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16