测试装置及重力分选机的制作方法

本技术涉及电性能测试，特别是一种测试装置及重力分选机。

背景技术：

1、半导体元器件等电子元器件在生产加工过程中通常需要进行电性能测试。

2、现有的电性能测试装置通常是在检测工位底部设置测试端子，检测时人工将待检测的元器件的引脚与测试端子对准后，将元器件放置于检测工位上，使得测试端子与元器件电连接，实现电性能测试，检测完成后再通过人工取下元器件。这种检测方式操作较为繁琐，生产效率较低。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述问题，提供一种测试装置及重力分选机，该测试装置能够实现待测产品的自动进出料并对待测产品进行电性能测试，提高检测效率及生产效率。

2、本实用新型首先提供一种测试装置，包括：支架，设有用于供待测产品滑动进料的通道，所述通道内设有测试位；以及，第一测试组件，设置于所述支架；其中，所述第一测试组件包括活动设置于所述支架的压电端子及检测端子，所述压电端子及所述检测端子均用于与所述待测产品的引脚接触并电连接，且所述压电端子与所述检测端子能够相向靠近或远离处于所述测试位的所述待测产品，以夹持或脱离所述待测产品。

3、上述测试装置中，对待测产品进行电性能测试时，待测产品能够在自身重力或外力的作用下沿通道滑动进料至测试位，第一测试组件中的压电端子及检测端子能够相向靠近处于测试位的待测产品，以夹持待测产品的引脚并与引脚电连接，从而能够对待测产品进行电性能测试。检测完成后，压电端子及检测端子反向远离待测产品，从而脱离与待测产品引脚的电连接，待测产品能够继续在自身重力或外力的作用下沿通道滑动出料并向下一工位流转。该测试装置能够实现待测产品的自动进出料，并对待测产品进行电性能测试，不需要人工放置或取下待测产品，也不需要人工将待测产品的引脚与压电端子及检测端子对准并连接，从而能够提高待测产品的电性能测试效率及生产效率。

4、在其中一个实施例中，所述第一测试组件还包括设置于所述支架的第一驱动件，所述第一驱动件包括设置于所述支架的第一驱动部及与所述第一驱动部活动连接的两个第一输出部；两个所述第一输出部远离所述第一驱动部的一端分别连接至所述压电端子与所述检测端子，以驱动对应的所述压电端子及所述检测端子相向靠近或远离。

5、如此设置，第一驱动件能够驱动两个第一输出部相互靠近或远离，从而通过各第一输出部带动压电端子及检测端子相互靠近或远离，压电端子及检测端子相互靠近时能够与处于测试位的待测产品的引脚接触并电连接。

6、在其中一个实施例中，各所述第一输出部均设置有夹持件，各所述夹持件分别夹持于对应的所述压电端子及所述检测端子。

7、如此设置，第一输出部能够带动对应的夹持件运动，并通过夹持件夹持对应的压电端子或检测端子，以带动对应的压电端子或检测端子运动。

8、在其中一个实施例中，所述测试装置包括多组所述第一测试组件，多组所述第一测试组件间隔设置于所述通道的一侧或两侧。

9、如此设置，第一测试组件的数量和布置方式以及测试端子的数量和布置方式均能够根据待测产品的引脚的数量和布置方式进行调整，使得该测试装置能够适用于多种不同类型的待测产品的电性能测试。

10、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括设置于所述支架的第二测试组件，所述第二测试组件包括设置于所述支架的第二驱动件及与所述第二驱动件连接的测试电极；所述第二驱动件用于驱动所述测试电极移动至所述通道内，使得所述测试电极能够与处于所述测试位的所述待测产品接触并电连接。

11、如此设置，当压电端子及检测端子均与处于测试位的待测产品的引脚接触并电连接，且测试电极与处于测试位的待测产品接触并电连接时，该测试装置能够对待测产品进行绝缘测试。

12、在其中一个实施例中，所述支架包括架体以及相平行间隔设置于所述架体的第一固定板和第二固定板，所述第二驱动件包括设置于所述第二固定板的第二驱动部及与所述第二驱动部活动连接的第二输出部；所述第二测试组件还包括第一连接件、连杆及第一弹性件，所述连杆滑动穿设于所述第一固定板，所述连杆的两端分别与所述测试电极及所述第一连接件连接，所述第一连接件背离所述测试电极的一侧与所述第二输出部传动配合，所述第一弹性件套设于所述连杆的外侧，且所述第一弹性件的两端分别与所述第一连接件及所述第一固定板抵接。

13、如此设置，第二驱动部能够提供动力以驱动第二输出部伸出或退回，第二输出部伸出时能够推动第一连接件滑动，使得测试电极滑动进入通道，第一弹性件被压缩；第二输出部退回时，第一弹性件可基于自身形变所形成的弹性力来驱动第一连接件朝向第二输出部滑动，进而使得测试电极滑动退出通道。

14、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括设置于所述支架的挡料组件，所述挡料组件包括设置于所述支架的第三驱动件及与所述第三驱动件连接的阻挡件；所述第三驱动件用于驱动所述阻挡件滑动进入所述通道，使得所述阻挡件将所述待测产品限位于所述测试位。

15、如此设置，待测产品与阻挡件接触时，阻挡件能够阻止待测产品进一步沿通道滑动，使得待测产品稳定停滞在测试位处，保证测试效果。

16、在其中一个实施例中，所述支架包括架体以及设置于所述架体的轨道机构，所述轨道机构背离所述架体的一侧设置有第三固定板，且所述通道设于所述轨道机构内；所述第三驱动件包括设置于所述第三固定板的第三驱动部及与所述第三驱动部活动连接的第三输出部；所述挡料组件还包括第二连接件及第二弹性件，所述阻挡件滑动穿设于所述轨道机构的侧壁，所述第二连接件与所述阻挡件背离所述通道的一端连接，所述第二弹性件套设于所述阻挡件的外侧，所述第二弹性件的两端分别与所述第二连接件和所述轨道机构的侧壁抵接，且所述第三输出部远离所述第三驱动部的一端与所述第二连接件传动配合。

17、如此设置，第三驱动部能够驱动第三输出部伸出或退回，第三输出部伸出时能够推动第二连接件滑动，使得阻挡件滑动进入通道，第二弹性件被压缩；第三输出部退回时，第二弹性件基于自身弹性形变所形成的弹性力来驱动第二连接件朝向第三输出部滑动，进而使得阻挡件滑动退出通道。

18、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括设置于所述支架并用于检测所述待测产品的位置的传感器组件。

19、如此设置，传感器组件用于检测待测产品是否滑动至检测位，或检测通道内是否有两个或多个待测产品相叠，保证电性能测试的准确性。

20、本实用新型还提供一种重力分选机，包括分选机本体及上述的测试装置，所述测试装置设置于所述分选机本体。

21、如此设置，该测试装置能够实现多种不同种类的电性能测试，使得电性能测试模块化，易于集成在重力分选机上。

技术特征：

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试组件(2)还包括设置于所述支架(1)的第一驱动件(22)，所述第一驱动件(22)包括设置于所述支架(1)的第一驱动部(221)及与所述第一驱动部(221)活动连接的两个第一输出部(222)；两个所述第一输出部(222)远离所述第一驱动部(221)的一端分别连接至所述压电端子(211)与所述检测端子(212)，以驱动对应的所述压电端子(211)及所述检测端子(212)相向靠近或远离。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，各所述第一输出部(222)均设置有夹持件(223)，各所述夹持件(223)分别夹持于对应的所述压电端子(211)及所述检测端子(212)。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多组所述第一测试组件(2)，多组所述第一测试组件(2)间隔设置于所述通道(11)的一侧或两侧。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括设置于所述支架(1)的第二测试组件(3)，所述第二测试组件(3)包括设置于所述支架(1)的第二驱动件(32)及与所述第二驱动件(32)连接的测试电极(31)；

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述支架(1)包括架体(15)以及相平行间隔设置于所述架体(15)的第一固定板(12)和第二固定板(16)，所述第二驱动件(32)包括设置于所述第二固定板(16)的第二驱动部(321)及与所述第二驱动部(321)活动连接的第二输出部(322)；

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括设置于所述支架(1)的挡料组件(4)，所述挡料组件(4)包括设置于所述支架(1)的第三驱动件(42)及与所述第三驱动件(42)连接的阻挡件(41)；

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述支架(1)包括架体(15)以及设置于所述架体(15)的轨道机构(18)，所述轨道机构(18)背离所述架体(15)的一侧设有第三固定板(17)，且所述通道(11)设于所述轨道机构(18)内；所述第三驱动件(42)包括设置于所述第三固定板(17)的第三驱动部(421)及与所述第三驱动部(421)活动连接的第三输出部(422)；

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括设置于所述支架(1)并用于检测所述待测产品(6)的位置的传感器组件(5)。

10.一种重力分选机，其特征在于，包括分选机本体及如权利要求1-9任一项所述的测试装置，所述测试装置设置于所述分选机本体。

技术总结
本技术涉及一种测试装置及重力分选机，测试装置包括支架及第一测试组件，其中：支架设有用于供待测产品滑动进料的通道，通道内设有测试位；第一测试组件设置于支架，第一测试组件包括活动设置于支架的压电端子及检测端子，压电端子及检测端子均用于与待测产品的引脚接触并电连接，且压电端子与检测端子能够相向靠近或远离处于测试位的待测产品，以夹持或脱离待测产品。该测试装置能够实现待测产品的自动进出料并对待测产品进行电性能测试，不需要人工放置或取下待测产品，也不需要人工将待测产品的引脚与压电端子及检测端子对准并连接，从而能够提高待测产品的电性能测试效率及生产效率。

技术研发人员：邱阔,杨慧峰
受保护的技术使用者：杭州长川科技股份有限公司
技术研发日：20230703
技术公布日：2024/3/24