一种自动上下料的半导体测试设备的制作方法

本发明属于半导体测试，尤其涉及一种自动上下料的半导体测试设备。

背景技术：

1、半导体（semiconductor）指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

2、发光二极管作为常见的半导体元件，其在生产过程中，需要对其进行测试，现有技术中，无法针对发光二极管进行自动化检测，因此难以将其应用于流水线中，因此存在检测效率低下的问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种自动上下料的半导体测试设备，旨在解决现有技术中，无法针对发光二极管进行自动化检测，存在检测效率低下的问题。

2、本发明是这样实现的，一种自动上下料的半导体测试设备，所述自动上下料的半导体测试设备包括：

3、底座，所述底座上安装有多个振动电机，所述振动电机上安装有进料座，底座上安装有两组驱动辊，两组驱动辊上固定安装有带轮，所述带轮上绕有传动带，底座上安装有动力电机，动力电机用于驱动驱动辊；

4、动态测试机构，所述动态测试机构安装在传动带上，动态测试机构用于自动吸附半导体元件，并对其进行测试；

5、摄像头，所述底座上安装有侧支架，摄像头安装在侧支架上，摄像头用于对测试结果进行校核。

6、优选的，所述动态测试机构包括电控单元、转轴和安装座，所述转轴的两端转动连接在传动带上，安装座固定安装在转轴上，安装座上安装有定位板，所述定位板上安装固定安装有多组电磁铁，所述定位板上固定安装有多组平行设置的挡板，所述挡板的一侧均设置有夹持板，多组夹持板通过连接杆固定连接，安装座上固定安装有一组电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的伸缩端与连接杆固定连接，所述夹持板设置有多个触点，每一个触点包括一个第一电极和一个第二电极，电控单元安装在安装座上，第一电极和第二电极上均与电控单元连接，所述挡板上固定安装有导向槽口，所述安装座上固定安装有限位板，所述限位板上设置有多个进料孔，所述进料孔与导向槽口一一对应，所述传动带上安装有导向套，所述安装座上安装有导向杆，所述导向杆滑动设置在导向套内。

7、优选的，底座内设置有第一储料仓和第二储料仓，第一储料仓和第二储料仓均设置有仓门。

8、优选的，所述底座上设置有接电柱，所述传动带的外侧设置有接电槽，接电柱与接电槽抵接，所述接电槽与电控单元电性连接，所述摄像头与电控单元通过无线通讯的方式连接。

9、优选的，所述半导体测试设备的工作过程为：

10、将半导体元件投放至进料座内，通过振动电机驱动半导体元件在进料座内分散；

11、通过动态测试机构对进料座内的半导体元件吸附，并通过动态测试机构内置的电控单元对半导体元件进行供电控制；

12、在进行测试过程中，摄像头与电控单元进行联动作业，摄像头基于实时图像确定不同阶段的测试结果；

13、动态测试机构基于测试结果将半导体元件投放至第一储料仓或第二储料仓。

14、优选的，摄像头与电控单元进行联动作业，摄像头基于实时图像确定不同阶段的测试结果的步骤，具体包括：

15、通过摄像头进行图像检测，检测到画面变动时，进行图像采集，得到实时监控图像，所述实时监控图像包含时间信息；

16、摄像头识别电控单元的编号，摄像头接收测试指令并保存对应时刻的实时监控图像；

17、对实时监控图像进行识别，确定限位板上各个半导体元件的坐标以及工作状况，生成测试结果。

18、优选的，测试过程中，电控单元为第一电极和第二电极进行供电，并在供电预设时长之后，切换第一电极和第二电极的供电极性，在此过程中，第一电极和第二电极的电性始终相反。

19、本发明提供的自动上下料的半导体测试设备，能够实现对半导体元件的自动化上下料作业，并且通过动态测试机构能够完成对半导体元件的主动测试，利用摄像头识别测试结果，从而反馈给动态测试机构，动态测试机构则根据测试结果完成对半导体元件的分选，大大提高了半导体元件的检测效率，实现了自动化作业，能够融入到流水线中。

技术特征：

1.一种自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，所述自动上下料的半导体测试设备包括：

2.根据权利要求1所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，所述动态测试机构（6）包括电控单元、转轴（14）和安装座（13），所述转轴（14）的两端转动连接在传动带（9）上，安装座（13）固定安装在转轴（14）上，安装座（13）上安装有定位板（17），所述定位板（17）上安装固定安装有多组电磁铁（16），所述定位板（17）上固定安装有多组平行设置的挡板，所述挡板的一侧均设置有夹持板（20），多组夹持板（20）通过连接杆（19）固定连接，安装座（13）上固定安装有一组电动伸缩杆（18），所述电动伸缩杆（18）的伸缩端与连接杆（19）固定连接，所述夹持板（20）设置有多个触点，每一个触点包括一个第一电极（23）和一个第二电极（24），电控单元安装在安装座（13）上，第一电极（23）和第二电极（24）上均与电控单元连接，所述挡板上固定安装有导向槽口（21），所述安装座（13）上固定安装有限位板（15），所述限位板（15）上设置有多个进料孔（22），所述进料孔（22）与导向槽口（21）一一对应，所述传动带（9）上安装有导向套，所述安装座（13）上安装有导向杆，所述导向杆滑动设置在导向套内。

3.根据权利要求1所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，底座（1）内设置有第一储料仓（4）和第二储料仓（5），第一储料仓（4）和第二储料仓（5）均设置有仓门。

4.根据权利要求2所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，所述底座（1）上设置有接电柱，所述传动带（9）的外侧设置有接电槽（25），接电柱与接电槽（25）抵接，所述接电槽（25）与电控单元电性连接，所述摄像头（11）与电控单元通过无线通讯的方式连接。

5.根据权利要求1-4任一所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，所述半导体测试设备的工作过程为：

6.根据权利要求5所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，摄像头（11）与电控单元进行联动作业，摄像头（11）基于实时图像确定不同阶段的测试结果的步骤，具体包括：

7.根据权利要求6所述的自动上下料的半导体测试设备，其特征在于，测试过程中，电控单元为第一电极（23）和第二电极（24）进行供电，并在供电预设时长之后，切换第一电极（23）和第二电极（24）的供电极性，在此过程中，第一电极（23）和第二电极（24）的电性始终相反。

技术总结
本发明适用于半导体测试技术领域，尤其涉及一种自动上下料的半导体测试设备，所述自动上下料的半导体测试设备包括：底座，所述底座上安装有多个振动电机，振动电机上安装有进料座，底座上安装有两组驱动辊，两组驱动辊上固定安装有带轮，带轮上绕有传动带，底座上安装有动力电机，动力电机用于驱动驱动辊；动态测试机构，所述动态测试机构安装在传动带上；摄像头，所述底座上安装有侧支架，摄像头安装在侧支架上，摄像头用于对测试结果进行校核。本发明利用摄像头识别测试结果，从而反馈给动态测试机构，动态测试机构则根据测试结果完成对半导体元件的分选，大大提高了半导体元件的检测效率，实现了自动化作业，能够融入到流水线中。

技术研发人员：于章勇,黄文龙
受保护的技术使用者：江阴矽捷电子有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/5/10