一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法

：本发明涉及的是测井，具体涉及的是一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法。

背景技术

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背景技术：

1、砾岩中砾石颗粒大小不均匀，储集性能非均质性强，复杂的岩性组合减弱了储层含油性的常规测井响应，造成常规测井信息难以精细评价砾岩岩性。

2、由于微电阻率扫描成像测井资料分辨率高，对地层中砾岩颗粒形状、大小均能够进行直观的描述。现有技术通过利用滑动窗口法划分不同粒径范围内砾石个数，生成粒度谱用于描述砾石岩性，但是粒度谱仅能反映固定窗口下不同粒径范围内砾石颗粒数量，无法对不同粒级砾石颗粒在井筒中的面积进行求取，进而获得不同粒径砾石面积占比，从而对岩性进行细分。

技术实现思路

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技术实现要素：

1、本发明的目的是提供微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，这种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法解决现有技术中通过粒度谱用于描述砾石岩性，还不能很好地精细评价砾岩岩性的问题。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：这种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法包括如下步骤：

3、步骤一：选取研究区内具有微电阻率扫描成像测井资料的某口井做为模型井，利用其微电阻率扫描成像测井资料，针对该模型井的砾岩层段进行砾石的识别处理，并生成粒度谱；

4、步骤二：将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长-步长内砾石个数；

5、步骤三：依据等效球形横截面积计算公式计算出每段粒径范围内砾石面积，将定窗长的粒度谱与对应每段粒径范围内的砾石面积相乘得出每段粒径范围内的砾石面积占比，最终生成粒度面积谱；

6、等效球形横截面积计算公式如下：

7、sgravel＝πr2  (3)

8、其中，sgravel为单一砾石的面积，单位为mm3；π为系数，常数；r为球形横截面的半径，mm；

9、步骤四：根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。

10、上述方案中定窗长-步长内砾石个数计算公式如下：

11、

12、当粒径＞40mm时，k＝num  (2)

13、式中：i为砾石粒径分段区间的序号；num对应粒径分段区间的砾石个数；k为定窗长砾石粒径范围(2*(i-1)～2imm)内的个数。

14、上述方案中微电阻率扫描成像测井资料显示有明显砾石的井段，选取测井资料数据时的原则是数据属于砾岩层段。

15、上述方案中根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同，通过电成像岩性标准将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。

16、本发明具有以下有益效果：

17、1、本发明在粒度谱的基础上，针对生成的粒度谱进行优化和计算，构建粒度面积谱，划分出不同粒径砾石面积占比，以提高对砾岩储层岩性的精细评价标准。

18、2、本发明依据微电阻率扫描成像测井资料，基于粒度面积谱中不同粒径砾石面积占比，精细划分储层岩性，进而提高对砾岩储层的评价与开发。

19、3、本发明依据微电阻率扫描成像测井资料，基于粒度谱，建立砾岩粒度面积谱，精细划分不同粒径砾石的面积占比，进而细分砾岩储层岩性。

20、4、本发明能够在砾岩储层岩性评价时，很好的解决不同粒径砾石面积占比无法求取的问题。基于粒度面积谱，实现划分不同粒径的砾岩面积占比，对砾岩储层的岩性精细评价具有重要意义。

技术特征：

1.一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，其特征在于包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，其特征在于：所述的定窗长-步长内砾石个数计算公式如下：

3.根据权利要求2所述的微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，其特征在于：微电阻率扫描成像测井资料显示有明显砾石的井段，选取测井资料数据时的原则是数据属于砾岩层段。

4.根据权利要求3所述的微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，其特征在于：根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同，通过电成像岩性标准将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。

技术总结
本发明涉及的是一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，它包括利用模型井微电阻率扫描成像测井资料，针对该的砾岩层段进行砾石的识别处理，并生成粒度谱；将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长‑步长内砾石个数；计算出每段粒径范围内的砾石面积占比，最终生成粒度面积谱；根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。本发明能够在砾岩储层岩性评价时，很好的解决不同粒径砾石面积占比无法求取的问题，求取并基于粒度面积谱，实现划分不同粒径的砾岩面积占比，对砾岩储层的岩性精细评价。

技术研发人员：赵小青,魏建光,李江涛,杨英,王翔宇,朱本轩
受保护的技术使用者：东北石油大学
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15