专利名称：光模件的检查方法和检查装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光模件的检查方法和检查装置。
背景技术：
光模件(例如光纤端部安装半导体激光器的半导体激光器(LD)模件)制造后通过以温度循环、入围测试等各种检查项目为基础的筛选(判断是否合格)，去除不符合所需规格的制品后，作为最终产品出厂。
例如，历来评价光模件中的半导体激光器(下文称为“LD”)工作电流(I)变化时的光输出功率(L)所涉及的特性(下文简称为“I-L特性”)和工作电压(V)、监视电流(Im)时，进行如下。
即，将光模件逐个固定到检查装置1，检查上述各特性后，从检查装置卸下光模件。接着，在恒温槽中对这些光模件施加温度循环后，从恒温槽取出，再次逐个固定到上述检查装置，检查上述各特性。
然后，根据各个光模件温度循环前后各特性的测量值，评价它们的变化率。这样，以往每次检查，检查装置都装卸光模件，因而多个光模件的检查作业烦杂。
上述的光模件检查方法中，各个光模件必须使温度循环前后的各测量项目的测量数据分别对应，存在光模件数量越多，管理越烦杂的问题。
这样，检查多个光模件时，检查从而筛选所需的时间长，而且大量数据的处理和基于该处理的筛选作业麻烦。
因此，希望提供能在短时间内高效地成批检查多个光模件的检查方法和检查装置。
成批检查多个光模件时，作为妨碍检查高效的主要因素，存在的问题是从多个模件伸出的多根光纤的余长交错，妨碍检查。
发明内容
本发明为解决上述课题，其目的是提供一种光模件的检查方法和检查装置，可省去光模件装卸作业造成的等待时间的消耗和数据管理的烦杂，节省等待时间，在短时间内高效检查多个光模件。
为了达到上述目的，本发明的光模件检查方法，用于检查分别包括光纤的多个光模件的光特性和电特性中的至少一个，包括在根据检查板上的安装位置附有通道号的多个安装台装卸自如地安装所述多个光模件的第1步骤、将所述检查板放到第1检查装置的第2步骤、以及在所述第1检查装置中以所述检查板上如此安装所述多个光模件的状态测量所述各光模件的所述光特性和电特性中的至少一个并且将所得的测量数据存放到分配给每一所述通道号的存储区的第3步骤。
上述的本发明中，将多个光模件根据单一检查板上的安装位置分别装到附有通道号的多个安装台，并且在此状态下测量光特性和/或电特性，将所得的测量数据存入分配给每一通道号的存储区。因此，可使各光模件对应于检查板的各通道，统一管理其测量数据。
还可包括从所述第1检查装置卸下所述检查板的第4步骤、不卸下所述光模件而将所述检查板分到第2检查装置的第5步骤、以及在所述第2检查装置中测量所述检查板上安装的所述各光模件的所述光特性和电特性中的至少一个并且将所得的测量数据存放到分配给每一所述通道号的存储区的第6步骤。
这里，第1检查装置和第2检查装置包含同一装置和循环分开的装置两种情况。
上述的本发明中，将多个光模件根据单一检查板上的安装位置分别装到附有通道号的多个安装台，并且在此状态下，中间不介入这些光模件的步骤，在多个步骤(第3步骤、第6步骤)上测量光特性/电特性，将所得的错落数存入分配给每一通道号的存储区。因此，省去每作一次测量都装卸光模件的工夫，同时可使各光模件对应于检查板的各通道，统一管理其测量数据。
最好，还包括根据所述第3步骤中得到的测量数据进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储区的第7步骤。
又，最好还包括根据所述第6步骤中得到的测量数据进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储区的第8步骤。
这里，运算处理除包含预先设定的公式的计算处理外，还包含根据与预先设定的基准值比较大小进行是否判断等逻辑运算。
上述本发明中，有效应用统一管理的数据结构，可进行高功能的检查。
最好，所述第4步骤与所述第5步骤之间还包括在所述检查板装有所述多个光模件的状态下对所述检查板提供负载的第9步骤，最好，包括在所述第3步骤中得到的测量数据与所述第6步骤中得到的测量数据之间进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储器的第10步骤。
又，所述负载是温度循环。
本发明中，光模件原样固定在检查板上，就对其施加温度循环、通道等负载，因而可高效进行此负载最好，也可以是所述多根光纤的各端部分别安装包括光出射端面的光连接器；将所述多个光连接器装到所述检查板，使所述光出射端面露出，并且排列在一个方向；所述第3步骤在所述多个光连接器的排列方向使包括符合测量项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的各光出射端面，测量所述光特性。
又，最好可以是所述多根光纤的各端部分别安装包括光出射端面的光连接器；将所述多个光连接器装到所述检查板，使所述光出射端面露出，并且排列在一个方向；所述第6步骤并行地同时测量所述多个光模件的光特性和电特性。
本发明中，将光模件的多个连接器一个方向排列在检查板，并且包括符合测量项目的测量头的工作台在所述多个光连接器的排列方向依次移动，以测量光特性，因而能非常有效地进行测量。
又，所述第3步骤使在与所述多个光连接器的排列方向相同的方向排列符合M种组成的多个项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的光出射端面，对元件相互不同的M个通道号的多个光模件并行地同时进行所述M种组成的多个项目的测量也可。
又，所述第6步骤使在与所述多个光连接器的排列方向相同的方向排列符合M种组成的多个项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的光出射端面，对元件相互不同的M个通道号的多个光模件并行地同时进行所述M种组成的多个项目的测量也可。
上述本发明中，对检查板上固定的多个光模件并行地同时进行不同种类的测量，并将该多个测量项目所涉及的测量数据存入分给每一通道号的存储区，因而能节省让别的光模件的测量等待到对一个光模件作完全部种类的测量的无用时间。而且，能同一管理测量数据，因而对多个光模件进行的检查的处理能力格外提高。
其次，本发明的检查板，用于检查分别包括光纤的多个光模件的光特性和电特性中的至少一个，包括主体、配置在该主体的主面装卸自如地安装所述多个光模件的安装部、配置在所述主体的主面用于防止所述多根光纤的余长部分交错的余长处理部、以及配置在所述主体上并使所述多个光模件的端部安装的光连接器排列在一个方向且露出其出射端面的排列部。
上述的本发明中，处理光纤的余长部分，而且在排列各光纤端面安装的光连接器的主体下，安装多个光模件，因而能方便且安全地进行多个光模件的光纤的处理，可高效地进行检查。
最好，所述余长处理部包括竖立在所述主体用于分别独立卷绕所述各光纤的余长部分的多个栓定构件。
上述的本发明中，由于包括卷绕光纤余长部分的栓定构件，稳定地栓定光纤的余长部分，能方便地防止并处理这些光纤的交错。
又，最好，所述余长处理部包括形成所述多个栓定构件各自的上部贯穿并伸出的开口的隔板。
上述的本发明中，利用包括贯穿并伸出多个栓定构件各自的上部的开口的隔板覆盖光纤的余长部分，因而以检查板上固定光模件的状态搬运检查板时，检查板往任何方向都使光纤的余长部分总维持在所述隔板的下方由栓定构件栓定的状态。因此，能可靠地防止光纤余长部分的交错，并可防止光纤余长部分从余长处理部露出，碰到别的物体而断裂或受损的事故。
最好，所述隔板包括大致平行于所述主体的主面的平坦部和与该平坦部的所述安装部方的端部连续并形成半圆形弯曲的导引部，并且在所述平坦部形成所述开口。
上述的本发明中，由于隔板包括大致平行于检查板主体的主面的平坦部和与该平坦部在安装部方的端部连续并形成半圆形弯曲的导引部，光纤的余长部分总维持在所述隔板的下方由栓定构件栓定，同时能防止从余长处理部导出到安装部方的光纤余长部分碰到隔板的尖锐端部而断裂或受损的事故。因此，能将光纤从隔板的下表面方提供弯曲部的外侧安全地引导至隔板的上表面方。
最好，所述余长处理部包括覆盖所述多个栓定构件和所述隔板的盖体。
根据上述的本发明，由于用盖体覆盖隔板和栓定构件，保护露出在隔板上面的光纤余长部分，能防止碰到别的物体而断裂或受损的事故。
本发明的检查板，所述安装部包括将所述多个光模件安装得各自装卸自如的多个安装台，该多个安装台分散配置成与所述排列部并行的多行，各行的安装台配置得相邻行之间错开。
最好，从所述排列部方观看，较远的行安装的安装台中，在高度等于或高于较靠前的行安装的安装台的位置固定光模件。
根据上述的本发明，光纤的处理方便，而且能提高安装部的广播剧安装密度。
本发明的检查板也可使所述安装部包括配置各个所述光模件并且带有第1开口的多个安装台，所述主体包括分别对应于所述多个安装台并且从主面表面穿通到背面的多个第2开口；在所述安装部配置所述多个安装台，使所述多个安装台各自的第1开口连通所述主体各自的第2开口。
根据上述的本发明，提供安装台的第1开口和连通该开口的主体的第2开口，可从检查板的相比在光模件的底面对接散热片、外部珀耳帖模件等组成的冷却器，因而能在将光模件的壳体温度设定为所需的条件下测量各种特性。
最好，所述安装台包括形成在所述第1开口附近并且通过嵌合所述光模件包括的多个引脚对各个所述光模件定位的定位部，所述定位部的一部分和所述主体形成连接并穿透所述安装台和所述主体的连通孔。
上述的本发明中，能用安装台设置的定位部决定光模件的安装位置，同时可通过设置在部分定位部并贯穿安装台和主体的连通孔，从外部插入保持与光模件和检查装置电连接的接触探头。
其次，本发明的光模件检查装置，包括装卸自如地安装各自包括光纤的多个光模件并使其排列在一个方向且露出从各光模件延伸的所述光纤的端面的检查板、测量从所述多个光模件的各光纤端面出射的光信号的光特性和各光模件的电特性中的至少一个的测量部、驱动所述光模件并使光纤端面出射光信号的驱动部、对所述光模件进行温度调整用的温度控制部、以及控制所述测量部、驱动部和温度控制部的控制部，所述控制部根据所述检查板上的安装位置，给所述多个光模件各自附有的每一通道号分配存储器，并从所述测量部输入测量数据，或者用该数据进行运算，或者存储所述测量数据或所述运算的结果。
这里，运算除包含用预先设定公式的计算外，还可包含根据与预先设定的基准值比较大小判断是否等逻辑运算。
上述的本发明中，根据检查板上的安装位置，给所述多个光模件各自附有的每一通道号分配存储区，存放测量数据或运算结果，因而可统一且高功能地管理多个光模件的特性。
最好，所述测量部包括保持符合测量项目的测量头并按照来自所述控制部的信号使所述测量头依次移动到所述光纤的各端面的工作台，所述控制部进行控制，以驱动所述工作台保持的所述测量头的位置对应的光模件。
上述的本发明中，由控制部进行控制，使符合测量项目的测量头依次移动到作为测量对象的光模件的光纤端面，同时驱动该光模件。因此，能高效测量检查板上固定的多个光模件。
又，可使所述工作台中，将符合多个测量项目的多个测量头排列并保持在与所述检查板中所述光纤的排列方向相同的方向；所述控制部进行控制，以驱动所述工作台保持的所述多个测量头的各位置对应的多个光模件。
上述的本发明中，对检查板上固定的多个光模件并行地同时进行不同种类的测量，并将该多个测量项目所涉及的测量数据存入分给每一通道号的存储区，因而能节省让别的光模件的测量等待到对一个光模件作完全部种类的测量的无用时间。而且，能同一管理测量数据，因而对多个光模件进行的检查的处理能力格外提高。
最好，本发明的光模件检查装置，除包括上述组成部分外，还包括所述多个光模件原样安装在所述检查板上，就对所述多个光模件施加温度循环的温度循环槽，所述控制部对所述温度循环前后光模件的所述光特性和电特性中的至少一个进行规定的运算处理。
这里，运算处理除包含用预先设定公式的计算外，还可包含根据与预先设定的基准值比较大小判断是否等逻辑运算。
上述的本发明中，能对光模件高效进行基于温度循环的筛选。
最好，又可以使所述控制部对赋予所述检查板的每一识别号确保存储区，该存储区内进一步给每一所述通道号分配存储区，以存储所述测量时据或所述运算结果。
上述的本发明中，由于对多个检查板分别确保存储区，可统一且高效地管理固定在多个检查板上的多个光模件的测量数据。
本发明的光纤余长处理方法，用于在板上安装包括光纤的多个光模件，将所述光纤的余长部分分别独立卷绕到所述板上按规定间距排列的多个栓定构件的步骤，以及将盖体覆盖在所述多个栓定构件上，独立保持所述光纤的各余长部分的步骤。
根据上述的本方法，能无交错且安全地处理所述多根光纤的余长部分，可提高检查效率。
图1是示出本发明检查板实施形态1的第1检查板的立体图。
图2是图1的检查板的侧剖面图。
图3是示出图1的检查板上的光模件固定状态的立体图。
图4是从侧面方看图1的检查板的立体图。
图5是示出图1的第1检查板中设置的排列板和适配器的立体图。
图6是示出本发明检查板实施形态2的第2检查板的俯视图。
图7是示出图6的第2检查板中设置的排列板和适配器的立体图。
图8A和图8B示出图6的第2检查板的光模件装载状态，图8A是装载状态的俯视图，图8B是装载状态的侧视剖面图。
图9是示出本发明检查方法实施形态1的检查装置I的系统组成图。
图10是示出一例本发明检查方法实施形态1中存放数据的数据结构(温度循环实施前)的图。
图11是示出另一例本发明检查方法实施形态1中存放数据的数据结构(温度循环实施前)的图。
图12是示出又一例本发明检查方法实施形态1中存放数据的数据结构的图。
图13是示出图9所示控制部的内部结构的概念图。
图14是示出本发明检查方法实施形态1的控制部的运作的顺序图。
图15是示出本发明检查方法实施形态2的检查装置II的系统组成图。
图16A和图16B是示出图15所示测量部的剖面图，图16A示出散热片、外部珀耳帖模件、冷却装置的位置上的剖面，图16B示出光模件的引线、接触探头的位置上的剖面。
图17A～D是示出实施形态2的检查流程的流程图。
图18A和图18B是示出实施形态2的检查流程的流程图。
图19是示出一例实施形态2中存放数据的数据结构的图。
实施发明的最佳形态下面，首先详细说明本发明的光模件检查方法。
说明本发明的光模件检查方法实施时使用的检查板20、30。
第1检查板20装卸自如地安装多个光模件，在执行以下说明的第1检查时使用。
如图1和图2所示，第1检查板20包括主体21、安装部22、余长处理部23、排列板25和电连接部21d。
主体21在金属成形的方形框21a上安装线路板21b和绝缘板21c。主体21中，在线路板21b的上下两面形成电连接多个光模件Mop与电连接部21d的印刷线路，并且在余长处理部23侧设置电连接部21d，使其伸出。
如图3所示，在多个安装台22a的两侧形成开口21e，从开口21e延伸出多根布线电缆28。如图1所示，主体21在安装部22侧设置把手21f。
布线电缆28在一端安装连接器28a，另一端连接线路板21b的下表面上形成的印刷布线(图中未示出)。各连接器28a连接安装台22a上安装的光模件Mop包括的多个引脚P1d，并通过电连接部21d确保光模件Mop与后文说明的检查装置之间的电连接。
第1检查板20通过此电连接，进行各安装台22a所安装光模件Mop内的LD、珀耳帖模件、热敏电阻等的温度控制、驱动电流控制和这些元件工作状态(驱动电压、驱动电流)所涉及的信号的收发。
安装部22中，配置利用安装构件22c装卸自如地安装光模件Mop的多个安装台22a，各安装台22a附有识别各台的通道号。各安装台22a兼作光模件Mop的散热片。
本实施形态的第1检查板20为了提高光模件Mop的安装密度，如图1所示，每行5个的安装台22a有3行，交错配置成各行安装台22a的位置在相邻行之间分别错开半个间距。
如图2所示，结构上做成从余长处理部23方观看，最后行设置把手21f方的安装台22a在高于第1行、第2行的安装台22a的位置固定光模件Mop。由此，第1检查板20容易处理光纤Fop，同时提高光模件的安装密度。
如图2和图3所示，安装构件22c是通过铰链装到安装台22a的L形板材。安装构件22c做成利用螺钉22e将光模件Mop装卸自如地按压到安装台22a，并且将调整上述按压力的弹簧22f配置在安装构件22c与安装台22a之间。
余长处理部23是在光纤Fop从光模件Mop延伸出的方向与安装部22效率配置的部分，如图4所示，在主体21上竖立状设置多根栓(栓定构件)23a，使其与多行的安装台22a的排列方向平行，并且在侧部的两侧设置支持板23b。
栓23a用于通过栓定卷绕从光模件Mop延伸出的光纤Fop的卷绕部R，避免多根光纤Fop交错，便于处理。
隔板24包括覆盖多根光纤Fop的卷绕部R的上部的平坦部24d和与该平坦部24d的安装部22方的端部连续并且弯曲成半圆形的导引部24a。通过采用此隔板24，从光模件Mop延伸出的光纤Fop被抽出成从卷绕部R暂时回到光模件Mop方后，从隔板24的下表面方通过导引部24a的外侧引导到隔板24的上表面方，再次往光纤Fop延伸的方向拉出。
因此，能防止光纤Fop接触隔板24的尖锐的端部而受损或断裂。
又，如图2所示，隔板24的侧部的两侧设置支持板24b，平坦部24d上形成多根栓23a的上侧伸出的开口24c。
这样通过利用栓(栓定构件)23a栓定卷绕各光纤Fop的余长部分的卷绕部R，并且在各栓23a的上部贯穿开口24伸出到隔板24的平坦部24d的上表面方的状态下加以覆盖，用把手21f握持并搬运第1检查板20时，第1检查板20往任何方向，光纤Fop的余长部分总保持由各栓23a可靠地栓定的状态，因而能防止多根光纤Fop交错，还可防止光纤的余长部分从余长处理部露出，碰到别的物体而断裂或受损。
如图2所示，排列板25配置并固定在主体21上，并且与隔板24相邻。排列板25如图5所示，是配置在第1检查板20的宽度方向(各行安装台22a的排列方向)的矩形板组成的构件，沿纵向按规定的间隔装有多个适配器25a。使多个适配器25a附有对应于安装台22a各个得以识别的号码(通道号)，并且装卸自如地安装光纤Fop的端部装的光模件Mop的光连接器Cop(参考图2和图9)。由此，光连接器Cop的出射端面在排列板25的背面方(第1检查板的外表面方)露出，同时按规定的间隔排成一列。
又如图5所示，排列板25分别在纵向的一端和另一端形成圆孔25b和沿纵向略为处于圆孔25b的长孔25c。因此，第1检查板20放到后文说明的检查装置I的板台2a时，板台2a后部设置的定位销(图中未示出)与这些孔25b、25c结合，将检查装置定位在正确的位置。
然后，隔板24中，如图2所示，利用2个支持板24b，使余长处理部23内保持的盖体26覆盖露出在隔板24的上表面光纤Fop的余长部分。因此，由于通过导引部24a的外侧导出到隔板24上表面方的Fop得到保护，对第1检查板20进行搬动等的期间，能防止光纤Fop碰到外部的物体而断裂或受损的事故。又，如图1所示，为了在后文说明的温度循环时，加快余长处理部23内外热的均匀化，盖体26设置数量适当的孔，贯穿上下表面。
另一方面，在装卸自如地安装多个光模件，进行后文说明的第2检查时，使用第2检查板30。
第2检查板30没有第1接触部0的隔板24和盖体26，结构比第1检查板20简单，但构成包括与第1检查板20大致相同的特征。因此，第2检查板30与第1检查板20相同的组成部分和组成构件使用相同的名称，同时使用写入的符号，省略重复的说明，下文说明其不同点。
如图6和图7所示，第2检查板30包括主体31、安装部32、余长处理部33、排列板35和把手31f。
第2检查板30与第1检查板20相同，也包括余长处理部33，构成能卷绕光纤，但由于没有隔板24和盖体26，此结构担心光纤的卷绕部R从栓33a脱落。因此，如图中所示那样，第2检查板30在安装部32的两侧设置把手31f，使操作者能以水平状态处理检查板。
主体31如图6所示，在金属组成的方形框31a的对角线上，形成检查板30定位移动孔31c、31d，以便放到后文说明的检查装置II时，与板台2a的上下部方设置的定位销结合，将检查装置II定位在正确的位置。主体31在安装部32与一种处理33之间配置导板34。导板34设置多个上部分别插入光纤Fop并对其进行导向的槽34a。
如图8A和图8B所示，安装部32在框31a配置各光模件Mop的位置形成多个开口31b，并且将中央形成开口32b的各安装台32a固定在框31a上，使开口31b与开口32b连通。开口32b的两侧形成数量与所述多个定位销相同的对光模件Mop包括的多根引脚P1d进行定位的槽状定位部32c。本第2检查板30的安装部32不设置保持与光模件Mop的引脚P1d电连接的连接器，但在部分定位部32c形成框31a与安装台32a之间连通的孔31d、32d，在该连通孔内插入保持与光模件Mop的引脚P1d电连接用的接触探头17。
余长处理部33设置得与安装部32相邻，并且在主体31上以竖立状设置多根栓(栓定构件)33a，如图6所示。
栓33a用于通过栓定卷绕从光模件Mop延伸出的光纤Fop的余长的卷绕部R(参考图6)，避免多根光纤Fop交错，便于处理。
排列板35如图7所示，是配置在检查板30的宽度方向的矩形板组成的构件，沿纵向按规定的间隔装有多个适配器35a。使多个适配器35a附有对应于安装台32a各个得以识别的号码(通道号)，并且装卸自如地安装光纤Fop的端部装的光模件Mop的光连接器Cop(参考图15)。由此，光连接器Cop的出射端面在排列板35的背面方(第2检查板的外表面方)露出，同时按规定的间隔排成一列。
又如图7所示，排列板35分别在两侧的上部和下部形成定位用的凹部35b、35c。因此，检查板30放到后文说明的检查装置II的板台2a时，板台2a的上下部方设置的定位销与这些孔35b、35c结合，将检查装置II定位在正确的位置。
本发明的光模件检查方法中，将包括这种结构的各检查板20、30上装卸自如地安装多个光模件Mop原样，从一个装置输送到另一装置，进行光特性、电特性检查。因此，不必每次进行一种测量都装卸光模件Mop，使检查效率提高。防止检查板安装的多个光模件Mop的光纤Fop交错，使其处理非常容易。
又通过对各检查板20、30分配识别号，对检查板20、30上的多个光模件固定位置分配位置号(通道号)，能对各个光模件进行号码管理。
因此，使用检查板20、30，则将多个检查项目的信息作为电子数据进行数据管理时，可进行采用上述各号码的统一数据管理。由此，使光模件Mop的检查效率提高。
另一方面，由于设置把手21f、31f，使检查装置之间的输送方便，可进一步谋求提高检查效率。
这里，成为检查对象的光模件例如是包括多根引脚的“蝶形”LD模件，如图3和图8所示，其内部包括示出光的LD、检测该LD附近的温度的内置热敏电阻、控制LD的温度的珀耳帖模件。
光模件检查方法实施形态1
首先说明采用第1检查板20的光模件(LD模件)的检查方法。
图9是此检查方法用的检查装置I的系统说明图。检查装置I在对光模件Mop施加温度循环的前后，测量使光模件Mop的LD的工作电流(I)变化时的光输出(L)所涉及的特性(下文简称为“I-L特性”)。
如图9所示，检查装置I包括含测量I-L用的光强度测量仪2c、工作台控制器2d、步进电机42、工作台41的测量部2、控制部3、前端部(LD驱动器)6、温度控制部(温度控制器)7、通道选择器4。
测量部2是放置第1检查板20的部分，如图9所示，包括板台2a。板台2a上放置第1检查板20，并通过电连接部21d连接控制部3。
光强度测量仪2c通过图中没有示出的吸收型滤光镜连接光电二极管组成的感光部(测量头)2b。感光部2b配置在工作台41，与第1检查板20的排列板25对置。供给部2b根据工作台控制器2d示出的指令，往图9中箭头号的方向移动，从而以规定的间隔沿排列板25依次移动，与适配器25A上装卸自如地安装的光连接器Cop适当对置。然后，光强度测量仪2a安装从感光部2b收到的电信号，对供给部2b的各位置测量使LD的各自电流(I)变化时的光模件Mop的光输出(L)。
在感光部2b的各位置测量光输出(L)的同时，也测量使各自电流(I)变化时的工作电压(V)和监视电流(Im)的特性。通过第1检查板20的电连接部21d进行对LD的工作电流(I)供给和从光模件Mop对控制部3的工作电压(V)、监视电流(Im)的输入。
如图13所示，控制部3包括中央控制装置(CPU)3a和存储部3b，电连接构成检查装置I的上述各组成部分，同时存储各光模件的I-L特性等的各特性数据，对其进行规定的运算处理，并根据预先设定的基准值筛选光模件。如图9所示，中央控制装置3a通过控制通道选择器4，选择温度控制器7、LD驱动器6控制的光模件Mop。作为控制部3，如图9所示，可以包括显示检查的各种信息的显示器(CRT)3c和操作者输入数据的输入器(例如键盘3d)的个人计算机。
LD驱动器6对装卸自如地安装在第1检查板20的多个光模件Mop中通道选择器4根据来自控制部3的指令选择的光模件供给工作电流。
温度控制器7检测来自通道选择器4选择的光模件中内置的热敏电阻的温度信息，并通过控制该光模件内置的珀耳帖模件，对LD的温度进行控制。
在检查装置I的板台2a放置装有制造的多个光模件Mop的第1检查板20后，执行光模件实施形态1的检查方法如下。
首先，由安装构件22c在第1检查板20上给各安装台22a安装光模件Mop，并且连接光模件Mop的多根引脚P1d对应的连接器28a。这时，利用螺钉22e和弹簧22f按压并固定光模件。
其次，将卷绕光纤Fop的余长的卷绕部R栓定在栓23a，同时在支持板23b上安装隔板24，并使栓23a的上部从隔板24的平坦部24d设置的开口24c伸出到隔板的上表面方。
然后，抽出将卷绕部R栓定在栓23a上的15根光纤Fop，使其暂时返回安装部22方，从隔板24的下表面方通过导引部24a的外侧引导到隔板24的上表面方，并导至排列板25。
接着，将各光纤Fop端部安装的光连接器Cop依次连接到排列板25的对应的适配器25a。
这样，第1检查板20能极简单地装卸光模件Mop，可缩短装卸作业需要的时间。
又，将卷绕多个光模件Mop的光纤Fop的余长的卷绕部R分别栓定在栓23a，并且在从开口24c伸出该栓23a的状态下，用隔板24覆盖。依次，多根光纤Fop在第1检查板20进行处理和检查多个光模件Mop时，能防止多根光纤Fop交错，或从余长处理部23过分露出，光纤Fop与周边的夹具等相互牵挂而断裂的事故。
接着，将装有多个光模件Mop的第1检查板20放到检查装置I的板台2a。这时，利用排列板25上形成的孔25b、25c，将第1检查板20定位在对检查装置I正确的位置。此外，主体21的电连接部21d连接检查装置I的相应电连接部(图中未示出)。
然后，取下测量部2的安全盖(图中未示出)，将第1检查板20放入封闭空间，对多个光模件Mop开始进行例如有关驱动电流(I)与光输出(L)的第1检查。
首先，在第1检查板20安装多个光模件Mop的状态下，对各光模件Mop测量驱动电流(I)和光输出(L)(检查1)。
按照控制部3发来的指令，使光强度测量仪2c的感光部(测量头)2b沿排列板25移动，通过适配器以规定的间隔依次与排列板25的背面方露出的多个光连接器Cop对置，并同时进行上述的测量。这时，由于多个光连接器Cop露出在排列板25的背面方，光强度测量仪2c的感光部2b可仅沿排列板25的背面移动，谋求提高检查的速度。
接着，从板台2a卸下第1检查板20，为了保护露出在隔板24的上表面方的光纤Fop，利用2个支持板24b在隔板26上覆盖盖体26。
接着，将原样安装光模件Mop的第1检查板20完全收装到恒温槽施加温度循环(-40℃～85℃)。进行规定数量的温度循环后，摘下盖体26，再次将第1检查板20移动到检查装置I的板台2a，并装在该处，与以上所述相同地再次对各光模件Mop测量驱动电流(I)和光输出(L)(检查2)。
这里，检查1和检查2中，控制部3的存储部3b对成为测量对象的各第1检查板20的每一识别号确保存储区(A)。存储区(A)内分配该第1检查板20安装的各个光模件Mop(各自附有通道号)分别对应的存储区(B)。而且，存储区(B)中写入检查1和检查2的驱动电流(I)、光输出(L)、监视器电流(Im)、驱动电压(V)等的测量条件、测量结果、引脚用它们进行运算(包含判断等逻辑运算)的结果。
然后，根据第1检查板20的识别号和第1检查板20的通道号读出具体光模件Mop所涉及温度循环前后的测量数据，进行规定的处理，并且与预先栓定的基准值比较，从而筛选该光模件Mop。
例如，根据光输出的变化率ΔP进行光模件是否合格的判断时，进行以下的公式规定的计算处理。
ΔP＝{(P1-P2)/P1}×100(％)其中，P1、P2分别是设驱动电流为规定值时温度循环前、后的光输出。
控制部3在时式运算的变化率ΔP在预先栓定的基准值(例如-3％～+3％)的氛围内时，判断为合格。
然后，如果基于这样进行温度循环的筛选结束，就第1检查板20原样固定光模件Mop，进行通道筛选。
此工序使光模件Mop流通规定值的工作电流进行工作，同时与以上所述相同，将工作前后各特性(例如光输出、工作电压、监视器电流)的变化率与预先栓定的基准值比较，判断产品是否合格。
以上那样，采用第1检查板20的第1检查中，由于第1检查板20安装多个光模件，并且每一第1检查板20进行检查，不必多次检查的每一次都对检查装置这些光模件Mop。因此，预先在第1检查板20固定光模件Mop，预约好下级的检查，可提高检查装置I的效率。
光模件Mop的合格判断中，除使用上述光输出的变化率ΔP外，还可使用内置光电二极管的电流值(监视器电流)(Im)、LD的工作电压(V)、LD的振荡门限值电流、LD的饱和电流等其它特性值。
作为判断是否合格的具体方法，示出将光输出的变化率与预先栓定的基准值比较的简单逻辑运算，但也可使用测量数据作其它复杂运算(包含数值计算和逻辑运算两者)，进行判断。
图10和图11是表，示出写入存储部3b的存放数据的数据结构。
图10和图11分别示出实施温度循环前和后的检查结果存放数据的数据结构。
存放数据由产品数据区、测量条件数据区和测量结果数据区组成。
产品数据区在光模件检查前存放识别各个模件用的模件号、识别各个检查板用的检查板号、表示检查板上的规定位置的通道号、操作者识别号等数据。此区在温度循环实施前和实施后内容相同。
测量条件数据区存放各测量的检查类别(温度循环实施前的检查(检查1)和温度循环实施后的检查(检查2)等类别)、壳体温度、LD温度(基于光模件内置热敏电阻值的控制目标温度)、扫描驱动电流最大值等数据。当前的内容在温度循环实施前和实施后相同，但如图11所示，温度循环实施后的检查用的测量条件数据区存放用于判断光模件Mop产品是否合格的ΔP的基准值。
测量结果数据区存放检查时从检查装置I输出的I-L曲线等图形和数据(电流值与光强度值等的相关数据)、根据该图形和数据加工的二次数据(各特性对驱动电流的微系数等)。当前的内容在温度循环实施前和实施后相同，但如图11所示，温度循环后的测量结果数据区存放判断光模件Mop产品是否合格的结果。
如图12所示，当然可取组合图10和图11的数据结构，进行数据综合。
图13是本实施形态使用的控制部3的内部组成的概念图，图14是检查时的处理顺序图。该顺序图示出的处理在温度循环实施前后相同。
如图13所示，CPU3a由测量控制部3a1、运算部3a2、是否合格判断部3a3组成。
检查进行处理如下。如图14所示，首先在初始的等待状态下，由操作者输入所述产品数据、测量条件数据，则测量控制部3a1将它们分别写入图10的存放数据中的产品数据区和测量条件数据区。
温度循环实施后，输入检查板号和表示属于温度循环实施后的检查类别，则读出相同检查板号对应的温度循环实施前的存放数据，并自动产生共用数据，减少操作者烦杂的数据输入。
接着，操作者将光模件Mop按每一第1检查板20放到检查装置I，并输入检查启动指令。于是，测量控制部3a1从通道1开始，依次从测量条件数据区适当读出数据，在基于该测量条件数据的测量条件下，使检查装置I进行光模件的检查。
进而，测量控制部3a1将检查装置I示出的I-L曲线的图形和数据等测量数据写入存放合金的测量结果数据区，同时将该图形和数据交给运算部3a2。
运算部3a2根据所述图形和数据，利用规定的运算处理产生规定的驱动电流的光输出P1和P2、各特性的驱动电流对应的微系数等二次数据，写入测量结果数据区。
运算部3a2在检查类别表示温度循环实施后时，适当读出温度循环实施前后的数据，算出成为判断光模件是否合格的对象的光输出变化率ΔP等，写入存放数据的测量结果数据区，并将ΔP等的值交给是否合格判断部3a3。
是否合格判断部3a3从测量条件数据区读出判断ΔP是否合格的基准值，按照是否合格判断基准值进行所述光模件的是否合格判断(逻辑运算)，并将其结果写入存放数据的测量结果数据区。
例如，上述的例子中，在第1检查板20安装成为测量对象的光模件Mop的状态下，首先进行I-L测量，每一第1检查板20对光模件Mop施加温度循环后，再次进行I-L测量，并根据两次测量的结果算出ΔP，进行是否合格判断。
这样，即使在为了进行一次是否合格判断，使第1检查板20从检查装置I移动到恒温槽，又从恒温槽或检查装置I移动到第1检查板20时，提高采用上述数据结构和处理方法，页不必几次输入逐个光模件Mop的号码和数据，仅输入检查对象的第1检查板20的号码，就能规定光模件Mop。所得的数据也可保管成使其温度循环实施前后的值与第1检查板20的号码对应。
对各检查板附有的每一识别号确保存储区，该存储区内又每一通道分配存储区，因而能对多个检查板上固定的非常多的光模件的测量数据等进行统一管理，可谋求提高检查效率。
以上那样，通过每一第1检查板20进行光模件Mop的检查，可取得能按检查板的识别号、第1检查板20上的通道号固定各个光模件Mop的数据结构，可简化光模件检查时的数据输入，使数据处理效率提高。
检查装置I中的检查结束后，用其它检查装置进行别的检查时，通过输入第1检查板20的号码，在所述数据区添加需要的数据，也可在多个检查装置的整个范围，对光模件特性统一管理数据。
光模件检查方法实施形态2下面说明采用第2检查板30的光模件(LD模件)的检查方法。
图15是此检查方法用的检查装置II的系统图。此检查装置II除测量光模件的光特性外，还测量振荡波长频谱、消光比等光特性、所指定驱动温度条件下的光模件内置珀耳帖模件的驱动电流、电压等电特性。下面的说明中，与检查装置I相同的组成要素使用相同的符号，数量重复说明。
如图15所示，检查装置II包括与检查装置I时同样地组成的测量部2、控制部3、驱动部(LD驱动器)6，还包括温度控制部(温度控制器7a、7b)冷却装置8(参考图16A)、第1衰减器10、第2衰减器11、量热计12、频谱分析仪13和消光比测量仪14、光强度测量仪2c’。
光强度测量仪2c’与检查装置I的光强度测量仪2c时不同，其结构为通过光衰减器10从作为感光部的光连接器Cop’感光，并且用内部的光电二极管进行光电变换。
测量部2是放置第2检查板30的部分，如图15和图16A所示，包括板台2a、顶板2g。
如图8B和图16A所示，光模件Mop配置在第2检查板30上装的安装台32a，其下表面通过框31a的开口31bh和连通该开口的安装台32a的开口32b，露出在下方。
板台2a在框31a的开口部31b对应的位置固定散热片15，又在散热片15的下方固定外部珀耳帖模件16和冷却装置8。如图8B和图16所示，板台2a在与光模件Mop的多根引脚P1d对应的位置竖立状设置多个接触探头17。接触探头17如图8B和图16B所示，用弹簧弹顶上方，确保与引脚P1d接触的压力。
顶板2g的下表面设置的盖体2h以规定的按压力将光模件Mop按压到散热片15，盖体2h还将多根引脚P1d分别按压到对应的接触探头17。
一个温度控制器7a通过检测来自光模件Mop内置的热敏电阻的温度信息，控制光模件Mop内置的珀耳帖模件流通的电流，对LD的温度进行控制。另一温度控制器7b通过检测光模件下部的温度(壳体温度)，驱动外部珀耳帖模件16，将壳体温度控制成恒定。
冷却装置8为了放在家外部珀耳帖模件16的热倒流，在检查中经常用例如水冷等方法使外部珀耳帖模件16的下表面冷却，其作用能使光模件Mop的特性检查以热稳定的方式进行。
第1衰减器10连接在光连接器COp’与光强度测量仪2c’之间，使从各光模件MOp输出并输入到光强度测量仪2c’的光的强度衰减。
第2衰减器11连接在光连接器Cop’与频谱分析仪13之间，使从各光模件MOp输出并输入到频谱分析仪13的光的强度衰减。
量热计12测量各光模件Mop输出的光的热能(mW)(下文简称为“热量测量”)。
频谱分析仪13通过第2衰减器11连接检查板30的光模件Mop，测量对各光模件Mop输出的光的波长的功率(mW)的分布(下文简称为“波长测量”)。
消光比测量仪14测量各光模件Mop输出的光的消光比(下文简称为“消光比测量”)。
检查装置II又在温度控制器7b使壳体温度保持规定值的状态下，由温度控制器7a监视光模件Mop内的热敏电阻的电阻值，并驱动光模件Mop内置的珀耳帖模件，使其为设定值，以进行所需的电流、电压、功耗等电特性的测量(下文简称为“电特性测量”)。
这里，光强度测量仪2c’、频谱分析仪13包括装卸自如地安装在排列板35的适配器35a的光连接器Cop’，测量时在适配器35a适当安装光模件Mop的光连接器Cop，使光连接器之间连接，从而对光模件Mop的光输出进行感光。
量热计12和消光比测量装置14的组成不连接这种光连接器，直接在感光部12a、14a接收并测量装卸自如地安装在排列板35的适配器35a的光模件Mop方的光输出。但是，这些装置当然也可利用光连接器的连接进行测量。
将光强度测量仪2c’、频谱分析仪13、量热计12、消光比测量装置14各自的测量头(包括光连接器Cop’)和电特性测量时用的防漏光盖40按测量顺序以规定的间隔在工作台41上排成一列。这些测量头和防漏光盖40在检查板30的排列板35上相对配置，并且通过根据工作台控制器2d输出的指令运作的步进电机42使工作台41往图15中箭头号的方向移动，沿排列板35以规定的间隔依次移动。
下面说明使用这样组成的检查装置II的第2检查方法。
全部的测量都一面仅监视光模件Mop内置的热敏电阻的温度或监视内置热敏电阻温度和壳体温度两者，一面进行。
首先，利用多个定位部32c和开口32b，将光模件Mop定位并固定在安装台32a的中央。然后，将卷绕光纤Fop的余长的卷绕部R栓定在栓33a。
接着，将各光纤Fop端部安装的光连接器Cop全部连接到排列板35的相应适配器35a。
适配器35a中的光连接器Cop的固定位置由光模件Mop的配置位置决定，为了方便，从端部开始，将编号依次标注为通道1、通道2、……。
预先准备多个这样在安装台32a上将多个光模件Mop定位的第2检查板30后，开始进行光模件Mop的检查。
首先，将第2检查板30放到检查装置II，使板台2a从框31a的下方上升，让散热片15与相应的光模件Mop的下部对接，同时使多个检查探头17分别接触Mop的相应引脚P1d。又使顶板2g从框31a的上方降下，利用顶板2g下表面设置的盖体2h以规定的按压力将多根引脚P1d按压到相应的接触探头17(参考图16)。
此状态下，首先，如图17A所示，使量热计12与通道1的光连接器对置，对通道1进行热量测量。
然后，此容量测量结束，则驱动所述步进电机，在通道2连接量热计12的感光部，同时通过光连接器在通道1连接光强度测量仪2c’。此状态下，如图17B所示，对通道1测量I-L，但通道2中也分别并行进行热量测量。
这些测量结束，则再次驱动所述步进电机，在通道1连接频谱分析仪13，同时在通道2连接光强度测量仪2c’，在通道3连接量热计12。此状态下，如图17C所示，在通道1、通道2和通道3分别并行进行波长测量、I-L测量和热量测量。
这些测量结束，则同样为通道1连接防漏光盖体的状态，并且通道2、通电和通道4分别连接频谱分析仪13、I-L测量移动光电二极管和量热计12。此状态下，如图17D所示，在通道1、通道2、通道3和通道4并行地分别进行电特性测量、波长测量、I-L测量和热量测量。
这些测量结束，则同样如图18A所示，在通道1、通道2、通道3、通道4和通道5并行地分别进行消光比测量、电特性测量、波长测量、I-L测量和热量测量。
然后，全部5个项目的测量结束的通道1在下阶段脱离测量，如图18B所示，在通道2、通道3、通道4、通道5和通道6并行地分别进行消光比测量、电特性测量、波长测量、I-L测量和热量测量。
第2检查板30一面重复这样的测量，一面对全部通道(光模件)并行地同时进行上述5个项目的全部测量。
以上那样使用第2检查板30的光模件检查方法中，由于并行地同时执行对多个光模件的不同种类的测量，省去使一个光模件的测量等待到对另一光模件的全部种类的测量结束的无用时间，能提高对多个光模件进行的检查的处理能力。
与第1检查时相同，使用第2检查板30的第2检查也每一检查板检查多个光模件。因此，可下级预约光模件的检查板固定作业，能提高检查装置II的检查效率。
图19示出检查装置II的存储部3b中各第2检查板30的存放数据的数据结构。
如图19所示，存放数据由产品数据区、测量条件数据区和测量结果数据区组成。
产品数据区在光模件检查前存放识别各个模件用的模件号、识别各个检查板用的检查板号、表示检查板上的规定位置的通道号、操作者识别号等数据。
测量条件数据区在光模件检查前，存放各测量中的壳体温度、LD温度、产品是否合格的判断基准值等数据。
测量结构数据区在检查时适当存放检查时从检查装置II输出的I-L曲线的图形和数据(电流值与光强度值的相关数据)、频谱曲线的图形和数据(波长与光强度值的相关数据)、表示内置珀耳帖模件的特性的电特性数据、消光比数据等原始数据和根据原始数据算出的二次数据、光模件产品是否合格的判断结果等。
这样，检查光模件的各检查项目时，从通道号1开始，依次将各测量结果作为数据输出到存储部，写入相当的数据区。
也可与I-L曲线的图形和数据一起，取得I-V曲线的图形和数据(LD的驱动电流值与电压值的相关数据)、L-Im曲线的图形和数据(前方输出光的光强度与所述监视光电二极管对后方输出光进行光电变换所得的电流值的相关数据)，写入规定的数据区，用于评价光模件。
这样，提高每一第2检查板30进行光模件Mop的检查，可建立数据结构能根据第2检查板30上的通道号规定各个光模件Mop。而且，能简化检查光模件Mop时的数据输入，同时能在多个检查项目的整个范围统一进行数据管理。
至此，已对本发明的检查装置和检查方法说明了实施形态，但本发明的光模件检查方法、检查板不限于上述实施形态。
例如，使用检查板20、30的上述光模件检查方法中，也可空间发射各光模件输出的光，并通过吸收型光纤和透镜等，在I-L测量用的光电二极管和频谱分析仪等直接接收该光，进行测量。
检查项目和检查基准也可在本发明的范围内任意设定。
上述各检查在控制部3的控制下自动进行，但当然检查也可人工操作。
工业上的实用性根据本发明，能提供的光模件检查方法和检查装置可省去等待时间，在短时间内高效检查多个光模件。
权利要求
1.一种光模件检查方法，用于检查分别包括光纤的多个光模件的光特性和电特性中的至少一个，其特征在于，包括在根据检查板上的安装位置附有通道号的多个安装台装卸自如地安装所述多个光模件的第1步骤、将所述检查板放到第1检查装置的第2步骤、以及在所述第1检查装置中以所述检查板上如此安装所述多个光模件的状态测量所述各光模件的所述光特性和电特性中的至少一个并且将所得的测量数据存放到分配给每一所述通道号的存储区的第3步骤。
2.如权利要求1中所述的光模件检查方法，其特征在于，包括从所述第1检查装置卸下所述检查板的第4步骤、不卸下所述光模件而将所述检查板分到第2检查装置的第5步骤、以及在所述第2检查装置中测量所述检查板上安装的所述各光模件的所述光特性和电特性中的至少一个并且将所得的测量数据存放到分配给每一所述通道号的存储区的第6步骤。
3.如权利要求1中所述的光模件检查方法，其特征在于，还包括根据所述第3步骤中得到的测量数据进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储区的第7步骤。
4.如权利要求2中所述的光模件检查方法，其特征在于，还包括根据所述第6步骤中得到的测量数据进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储区的第8步骤。
5.如权利要求2中所述的光模件检查方法，其特征在于，所述第4步骤与所述第5步骤之间还包括在所述检查板装有所述多个光模件的状态下对所述检查板提供负载的第9步骤。
6.如权利要求5中所述的光模件检查方法，其特征在于，包括在所述第3步骤中得到的测量数据与所述第6步骤中得到的测量数据之间进行规定的运算处理并且将其运算结果存放到分配给每一所述通道号的存储器的第10步骤。
7.如权利要求5中所述的光模件检查方法，其特征在于，所述负载是温度循环。
8.如权利要求1至7中任一项所述的光模件检查方法，其特征在于，所述多根光纤的各端部分别安装包括光出射端面的光连接器；将所述多个光连接器装到所述检查板，使所述光出射端面露出，并且排列在一个方向；所述第3步骤在所述多个光连接器的排列方向使包括符合测量项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的各光出射端面，测量所述光特性。
9.如权利要求1至7中任一项所述的光模件检查方法，其特征在于，所述多根光纤的各端部分别安装包括光出射端面的光连接器；将所述多个光连接器装到所述检查板，使所述光出射端面露出，并且排列在一个方向；所述第6步骤并行地同时测量所述多个光模件的光特性和电特性。
10.如权利要求8中所述的光模件检查方法，其特征在于，所述第3步骤使在与所述多个光连接器的排列方向相同的方向排列符合M种组成的多个项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的光出射端面，对元件相互不同的M个通道号的多个光模件并行地同时进行所述M种组成的多个项目的测量。
11.如权利要求9中所述的光模件检查方法，其特征在于，所述第6步骤使在与所述多个光连接器的排列方向相同的方向排列符合M种组成的多个项目的测量头的工作台依次移动到所述光连接器的光出射端面，对元件相互不同的M个通道号的多个光模件并行地同时进行所述M种组成的多个项目的测量。
12.一种检查板，用于检查分别包括光纤的多个光模件的光特性和电特性中的至少一个，其特征在于，包括主体、配置在该主体的主面装卸自如地安装所述多个光模件的安装部、配置在所述主体的主面用于防止所述多根光纤的余长部分交错的余长处理部、以及配置在所述主体上并使所述多个光模件的端部安装的光连接器排列在一个方向且露出其出射端面的排列部。
13.如权利要求12中所述的检查板，其特征在于，所述余长处理部包括竖立在所述主体用于分别独立卷绕所述各光纤的余长部分的多个栓定构件。
14.如权利要求13中所述的检查板，其特征在于，所述余长处理部包括形成所述多个栓定构件各自的上部贯穿并伸出的开口的隔板。
15.如权利要求14中所述的检查板，其特征在于，所述隔板包括大致平行于所述主体的主面的平坦部和与该平坦部的所述安装部方的端部连续并形成半圆形弯曲的导引部，在所述平坦部形成所述开口。
16.如权利要求14中所述的检查板，其特征在于，所述余长处理部包括覆盖所述多个栓定构件和所述隔板的盖体。
17.如权利要求12至16中任一项所述的检查板，其特征在于，所述安装部包括将所述多个光模件安装得各自装卸自如的多个安装台，该多个安装台分散配置成与所述排列部并行的多行，各行的安装台配置得相邻行之间错开。
18.如权利要求17中所述的检查板，其特征在于，从所述排列部方观看，较远的行安装的安装台中，在高度等于或高于较靠前的行安装的安装台的位置固定光模件。
19.如权利要求12或13中所述的检查板，其特征在于，所述安装部包括配置各个所述光模件并且带有第1开口的多个安装台，所述主体包括分别对应于所述多个安装台并且从主面表面穿通到背面的多个第2开口；在所述安装部配置所述多个安装台，使所述多个安装台各自的第1开口连通所述主体各自的第2开口。
20.如权利要求19中所述的检查板，其特征在于，所述安装台包括形成在所述第1开口附近并且通过嵌合所述光模件包括的多个引脚对各个所述光模件定位的定位部，所述定位部的一部分和所述主体形成连接并穿透所述安装台和所述主体的连通孔。
21.一种光模件检查装置，包括装卸自如地安装各自包括光纤的多个光模件并使其排列在一个方向且露出从各光模件延伸的所述光纤的端面的检查板、测量从所述多个光模件的各光纤端面出射的光信号的光特性和各光模件的电特性中的至少一个的测量部、驱动所述光模件并使光纤端面出射光信号的驱动部、对所述光模件进行温度调整用的温度控制部、以及控制所述测量部、驱动部和温度控制部的控制部，其特征在于，所述控制部根据所述检查板上的安装位置，给所述多个光模件各自附有的每一通道号分配存储器，并从所述测量部输入测量数据，或者用该数据进行运算，或者存储所述测量数据或所述运算的结果。
22.如权利要求21中所述的光模件检查装置，其特征在于，所述测量部包括保持符合测量项目的测量头并按照来自所述控制部的信号使所述测量头依次移动到所述光纤的各端面的工作台，所述控制部进行控制，以驱动所述工作台保持的所述测量头的位置对应的光模件。
23.如权利要求22中所述的光模件检查装置，其特征在于，所述工作台中，将符合多个测量项目的多个测量头排列并保持在与所述检查板中所述光纤的排列方向相同的方向；所述控制部进行控制，以驱动所述工作台保持的所述多个测量头的各位置对应的多个光模件。
24.如权利要求22或23中所述的光模件检查装置，其特征在于，包括所述多个光模件原样安装在所述检查板上，就对所述多个光模件施加温度循环的温度循环槽，所述控制部对所述温度循环前后光模件的所述光特性和电特性中的至少一个进行规定的运算处理。
25.如权利要求21至24中任一项所述的光模件检查装置，其特征在于，所述控制部对赋予所述检查板的每一识别号确保存储区，该存储区内进一步给每一所述通道号分配存储区，以存储所述测量时据或所述运算结果。
26.一种光纤余长处理方法，用于在板上安装包括光纤的多个光模件，其特征在于，包括将所述光纤的余长部分分别独立卷绕到所述板上按规定间距排列的多个栓定构件的步骤，以及将盖体覆盖在所述多个栓定构件上，独立保持所述光纤的各余长部分的步骤。
全文摘要
提供一种光模件检查方法和检查装置，给多个光模件分配通道号，并行地同时测量多个光模件的光特性和电特性所涉及的检查项目，并且每一通道号将多个检查项目所涉及的测量结果写入存储器，从而能省去等待时间，在短时间内高效检查多个光模件。
文档编号G01M11/00GK1529810SQ02810770
公开日2004年9月15日 申请日期2002年7月5日 优先权日2001年7月5日
发明者松浦浩之, 依知川宽, 木村俊雄, 爱清武, 关政义, 宽, 雄 申请人:古河电气工业株式会社