专利名称：多个测试流的校准信息的汇编的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试，尤其涉及多个测试流的校准信息的汇编。
背景技术：
在制造和/或销售电气设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)这样的系统或组件)之前，通常测试设备以确定它是否是按所设计的方式构建或工作的。通常，此测试是由自动测试设备(ATE，也称为“测试仪”)来执行的。
要使ATE的结果有意义，ATE需要被校准。即必须量化在不同条件和测试设置下的测试期间ATE可能引入的固有系统误差。量化ATE的固有系统误差的数据常被称为“校准数据”，并且可以包括一个或多个“校准因子”。校准数据一旦被生成，就被用于从原始测试数据中消除ATE的固有系统误差。
一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是直接测量它们。通常，这类校准包括将各种ATE探针耦合到一个或多个已知正确的“校准标准”，进行测量，然后将测量结果与预期的测量结果相比较。
另一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是经由数学模型来模拟它们。然后可根据模型计算校准数据(虽然仍然有必要利用一个或多个校准标准来获取某些测量结果)。
校准数据一般分成两类1)“系统校准数据”，其描述ATE的核心结构的特征(例如ATE的仪器和基本结构-通常是ATE的那些在测试不同设备时再次使用的部件)，以及2)“集中(focused)校准数据”，其描述不同测试设置下ATE的特征。测试设置例如可以指定测试发生时的物理和电气参数，例如包括关于测试期间将使用的ATE测试路径的指示及其配置(例如包括关于激励和/或测量路径的指示，以及关于哪些ATE引脚会被耦合到设备的哪些引脚的指示)；关于测试频率的指示(例如包括测试频率范围)；关于调制格式的指示；关于测量带宽的指示；或者关于功率或电压级别的指示。
发明内容
在一个实施例中，一种计算机实现的方法包括1)获得对多个测试流的选择，所述多个测试流中的每一个指定ATE应该如何测试至少一个设备；2)识别每个测试流的校准信息；以及3)消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用于在ATE和所选测试流上执行集中校准。
还公开了其它实施例。
本发明的示例性实施例在附图中示出，附图中图1示出用于执行多个测试流的集中校准的示例性计算机实现的方法；以及图2示出示例性图形用户界面，通过该界面可提示用户根据图1的方法选择测试流。
具体实施例方式
由于ATE特性的漂移，ATE必须被周期性地重新校准。当涉及集中校准时，这意味着为要用ATE测试的每个设备的每个测试流执行单独的集中校准过程。从而，例如如果ATE被用于测试三个设备，其中每一个被用一组五个设备特定的测试流来测试，则需要周期性地执行十五个不同的集中校准过程。为了降低与执行这些集中校准过程相关联的开销，图1示出了一种用于执行多个测试流的集中校准的新颖的计算机实现的方法。
这里所定义的“测试流”是指定ATE应该如何测试至少一个设备的测试程序的任何部分。例如，测试流可指定ATE要执行的测试的类型、数目和顺序。
方法100开始于在102获得对多个测试流的选择。在一个实施例中，这是通过提示用户提供对测试流的选择来完成的。在某些情况下，这可以通过向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表来完成(例如通过显示定制列表，或者仅仅显示存储测试流的目录结构(或文件路径))。在其它情况下，可通过向用户呈现设备列表来提示用户。通过这种方式，用户对一个或多个设备的选择可被解释为对与该设备相关联的测试流的选择。
如图2所示，还可利用图形用户界面(GUI 200)来提示用户选择测试流，图形用户界面显示设备的列表202以及它们的相关联的测试流的列表204。通过这种方式，用户可独立或通过设备选择测试流(例如经由相关联的复选框206或无线按钮)。
在另一实施例中，方法100从文件或从另一进程或应用程序获得对测试流的选择。
在获得对多个测试流的选择之后，方法100在104继续进行每个测试流的校准信息的识别。校准信息可包括与执行集中校准过程相关联的任何信息，例如包括测试设置，测试设置例如是关于测试期间将使用的ATE测试路径的指示及其配置(例如包括关于激励和/或测量路径的指示，以及关于哪些ATE引脚会被耦合到设备的哪些引脚的指示)；关于测试频率的指示(例如包括测试频率范围)；关于调制格式的指示；关于测量带宽的指示；或者关于功率或电压级别的指示。在大多数情况下，将从所选测试流中直接识别校准信息。但是，有时也可从其它源中识别校准信息。
在识别校准信息之后(或之时)，在106消除识别出的校准信息中的冗余，以便汇编一组非冗余信息，用于在ATE和所选测试流上执行集中校准。通过这种方式，与为多个测试流中的每一个执行多个校准过程相比，可更高效地执行集中校准。在某些情况下，冗余校准信息可在校准信息被识别之时被消除。在其他情况下，冗余校准信息可以直到校准信息被识别并被积累后才被消除。
在一个实施例中，校准信息中的冗余是通过识别指定相同硬件要求的校准信息来消除的。或者，冗余可通过识别指定相同测试设置(可包括关于相似硬件要求的指示)的校准信息来消除。冗余还可通过识别指定具有定义相似性的硬件要求或测试设置的校准信息来消除。
在某些情况下，由方法100所汇编的该组非冗余信息可在108被呈现给用户，以便编辑。在已编辑或未编辑的情况下，方法100然后可在110执行集中校准，以生成ATE和所选测试流的一组校准数据。
方法100可通过分布、加载或安装存储在多个机器可读介质(例如一个或多个固定或可移动存储器或盘)上的指令序列来实现。指令序列在被机器(例如计算机或计算机网络)执行时，可使机器执行该方法的操作。
权利要求
1.一种计算机实现的方法，包括获得对多个测试流的选择，所述多个测试流中的每一个指定自动测试设备应该如何测试至少一个设备；识别所述多个测试流中的每一个的校准信息；以及消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用于在所述自动测试设备和所选测试流上执行集中校准。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述对多个测试流的选择是通过提示用户提供对测试流的选择来获得的。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述提示包括向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述多个测试流对应于多个设备。
5.如权利要求1所述的方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同硬件要求的校准信息来消除的。
6.如权利要求1所述的方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试硬件的校准信息来消除的。
7.如权利要求1所述的方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同测试设置的校准信息来消除的。
8.如权利要求1所述的方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试设置的校准信息来消除的。
9.如权利要求1所述的方法，还包括执行所述集中校准以生成所述ATE和所选测试流的一组校准数据。
10.多个存储有指令序列的机器可读介质，所述指令序列在被机器执行时使所述机器执行以下操作获得对多个测试流的选择，所述多个测试流中的每一个指定自动测试设备应该如何测试至少一个设备；识别所述多个测试流中的每一个的校准信息；以及消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用于在所述自动测试设备和所选测试流上执行集中校准。
11.如权利要求10所述的介质，其中所述对多个测试流的选择是通过提示用户提供对测试流的选择来获得的。
12.如权利要求11所述的介质，其中所述提示包括向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表。
13.如权利要求11所述的介质，其中所述提示包括向用户呈现设备列表。
14.如权利要求11所述的介质，其中所述提示包括向用户呈现设备及其相关联的测试流的列表。
15.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列通过识别指定相同硬件要求的校准信息，来消除所述识别出的校准信息中的冗余。
16.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列通过识别指定具有定义相似性的测试硬件的校准信息，来消除所述识别出的校准信息中的冗余。
17.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列通过识别指定相同测试设置的校准信息，来消除所述识别出的校准信息中的冗余。
18.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列通过识别指定具有定义相似性的测试设置的校准信息，来消除所述识别出的校准信息中的冗余。
19.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列还使所述机器执行以下操作执行所述集中校准以生成所述ATE和所选测试流的一组校准数据。
20.如权利要求10所述的介质，其中所述指令序列还使所述机器执行以下操作向用户呈现所述非冗余信息组以便编辑。
全文摘要
在一个实施例中，首先获得对多个测试流的选择。每个测试流指定自动测试设备(ATE)应该如何测试至少一个设备。然后为每个测试流识别校准信息，并且消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，以便在ATE和所选测试流上执行集中校准。
文档编号G01R35/00GK1841077SQ20051013187
公开日2006年10月4日 申请日期2005年12月15日 优先权日2005年3月28日
发明者周正容, 徐益, 凯·伊克 申请人:安捷伦科技有限公司