专利名称：眼图遮罩修正方法
技术领域：
本发明涉及到一种眼图遮罩修正方法，特别是涉及到一种在一种环境进行 另一种环境测试的眼图遮罩修正方法。
背景技术：
现行眼图遮罩(MASK)量测技术是将被测设备在各种状态下的参数以图形 化表示，测试时，只需观察眼图遮罩与被测设备信号波形的关系，即可快速判 断是否在规格内，以及计算出偏差值。
比如在低温低压条件下测试总线接口的一种总线接口眼图遮罩，其是将总 线接口在低温低压等状态下的量测最高标准值和量测最低标准值，输入到眼图 遮罩中，眼图遮罩将该值以一图形显示出一界限区域，而可迅速判定测试结果 以及偏差范围。
但该种眼图遮罩具有一定的局限性，即要得出一种状态下的测试结果，需 要在该种状态下进行测试，比如要得出总线接口在低温低压下的测试结果，需 要将总线接口在低温低压下进行测试。使得如需进行多种特殊条件(低温低压、 低温高压、高温低压、高温高压状态等)下的测试进行很不方便。
发明内容
为解决上述局限性的问题，本发明提出了一种简单、实用的眼图遮罩的修 正方法。
本发明技术方案为 一种眼图遮罩修正方法，此方法步骤如下，
a. 多次取得第一状态下的量测值；
利用之前经验数据，或者通过实验在特殊环境中量测多组第一状态量测值；
b. 多次取得第二状态下的量测值；
同样可利用之前经验数据，或者通过实验在普通环境中量测多组第二状态 量测值；
c. 计算出两种状态下的变化量；
利用第一状态量测值-第二状态量测值，得出一差值，由于有多组量测 值而可得出多组差值，则可通过归纳法整理得出两种状态下测量值的变化量；
d. 计算出眼图遮罩的修正值眼图遮罩修正值=眼图遮罩第一状态标准值-变化量；
利用第一状态量测标准值减去第一、二状态量测值的变化量，得出第一状态量测标准值在第二状态中的量测修正值； e.利用量测修正值修正眼图遮罩。
将量测修正值输入到眼图遮罩中，修改之前所设置的参数，则可在第二状 态下模仿进行第一状态的测试，得出在第一状态下的测试结果。
本发明的修正方法，通过参数的修正，可在第二状态下测试出所需要的第 一状态下的测试结果，而无需到第一状态环境下进行测试，可方便使用者在一 种环境进行其它环境的测试。
图1为本发明方法的流程示意图。
具体实施例方式
以下结合附图详述本发明的实施例。
如图1所示的一种眼图遮罩(MASK)修正方法，此方法是通过将修正值输 入到眼图遮罩中，以改变眼图形状，达到在室温下测试评估出低温低压、低温 高压、高温低压、高温高压四种状态对波形等的影响。
本实施例眼图遮罩修正方法步骤为-
a. 多次取得特殊状态下的量测值；
利用之前经验数据，或者通过实验在低温低压、低温高压、高温低压、高 温高压时，量测多组总线接口的波形参数值，以低温低压为例，此波形参数值 还包括一量测最高值(MAX U)和一量测最低值(MIN U)。
b. 多次取得一般状态下的量测值；
同样利用之前经验数据，或者通过实验在普通环境(常温常压)中，量测 多组总线接口的波形参数值，以低温低压为例，此波形参数值还包括一量测最 高值(MAX N)和一量测最低值(MIN N)。
c. 计算出两种状态下的量测变化量；
在低温低压状态下，若差值为D1、 D2，则利用DPMAX U - MAX N、 D2=MIN U - MIN N,分别计算出多组特殊状态和一般状态下，波形参数两量测最高值 和两量测最低值的差值，再利用归纳法整理出总线接口在低温低压状态下与一 般状态下的波形参数量测变化量(V)。
d. 计算出眼图遮罩的量测修正值(M):眼图遮罩量测修正值(M)=眼图遮 罩特殊状态量测标准值(S)-量测变化量(V);
眼图遮罩在低温低压状态下设有一量测最高标准值(Sl)和一量测最低标 准值(S2)，取得总线接口在低温低压状态下与一般状态下波形参数的最高变化 量(VI)和最低变化量(V2)后，利用上述公式计算出最高修正值(Ml)和最 低修正值(M2): M1=S1 - V1，M2=S2 - V2;此处所计算得出的修正值即为在
4一般状态下的仿制低温低压量测标准值。
e.利用量测修正值修正眼图遮罩。
将上述得出的仿制低温低压量测标准值，包括一最高修正值(Ml)和一最 低修正值(M2)输入到眼图遮罩中，修改之前所设置的波形参数，则可进行在 一般状态下模仿低温低压测试总线接口，得出总线接口在低温低压下的测试结 果。
使用此种眼图遮罩的修正方法，可在一般状态下对总线接口或其它设备进 行测试，而可得出该种总线接口或其它设备在特殊状态下(如低温低温等状态) 的测试结果，方便设备在一种状态下进行多种不同状态下的测试，简单、方便 而实用。
权利要求
1. 一种眼图遮罩修正方法，其特征在于，步骤如下a. 多次取得第一状态下的量测值；b. 多次取得第二状态下的量测值；c. 整理出两种状态下的量测变化量；d. 计算出眼图遮罩的修正值修正值＝眼图遮罩第一状态标准值-量测变化量；e. 利用量测修正值修正眼图遮罩。
2. 根据权利要求1所述的眼图遮罩修正方法，其特征在于，该量测变化量 是为多组第一状态量测值与第二状态量测值的差值，利用归纳法归纳后 的结果。
3. 根据权利要求1所述的眼图遮罩修正方法，其特征在于，该种量测值包 括一量测最高值和一量测最低值。
4. 根据权利要求1所述的眼图遮罩修正方法，其特征在于，该眼图遮罩可 为总线接口的眼图遮罩。
5. 根据权利要求1所述的眼图遮罩修正方法，其特征在于，该第一状态可 为低温低压、低温高压、高温低压、高温高压。
6. 根据权利要求1所述的眼图遮罩修正方法，其特征在于，该第二状态可 为常温常压。
全文摘要
一种眼图遮罩修正方法，步骤如下a.多次取得第一状态下的量测值；b.多次取得第二状态下的量测值；c.整理出两种状态下的量测变化量；利用第一状态量测值和第二状态量测值，得出一差值，由多组差值通过归纳法整理得出两种状态下测量值的变化量；d.计算出眼图遮罩的修正值眼图遮罩修正值＝眼图遮罩第一状态标准值-量测变化量；e.利用量测修正值修正眼图遮罩；经过如上步骤，可将原标准眼图遮罩修正为，可在一种环境测试得出另外环境的测试结果的眼图遮罩；本发明方法简单、实用，方便测试。
文档编号G01R35/00GK101482601SQ200810025720
公开日2009年7月15日 申请日期2008年1月10日 优先权日2008年1月10日
发明者柳富升 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司