专利名称：基于四针飞针测试路径的优化方法
技术领域：
本发明涉及电路测试技术，尤其涉及一种基于四针飞针测试路径的优化方法。
背景技术：
目前，国外许多厂商在印刷电路板(简称PCB)的设计和可制造性分析等方面取得了很大 的进展。随着微电子技术的进步，元件布局密度增高，走线间距不断縮小，复杂度不断增加 ，单块PCB板测试时间长达数小时，甚至几天，由人工完成的PCB在线测试和设置电路检测 试点，已越来越不能满足生产的要求，极大地影响了产品的生产周期。国内的印制板生产厂 商为了提高测试效率，也在测试路径优化方面下功夫，但取得的效果都不是很理想。
飞针测试机的测试路径文件是飞针测试机的核心，它直接决定测试机的测试次数和测试 路径距离，只要减小测试次数和縮小测试路径的长度就可以提高测试速度，縮短生产周期并 降低生产成本。
目前，对于测试路径优化，在工业应用上主要采用的是禁忌搜索算法来求解优化，虽然 该算法通用易实现，且容易理解，但其搜索性能完全依赖于领域结构和初解，尤其会陷入局 部极小而无法保证全局优化性，很难保证其优化效率。由于飞针测试路径优化中，路径行数 从几十行到几十万行，跨度非常大，采取设定其初解和领域结构来达到较好的测试路径优化 效果是难实现的，而且随着测试点数量的不断增加在优化过程中可能出现算法无法收敛、优 化效率极低的情况发生，从而无法到达理想优化程度和效率，从一定程度上增加了测试时间 ，造成测试效率低；也是由于现有技术的飞针路径测试没有对测试点进行配对，造成测试路 径很长即测试行数很多，也增加了测试时间。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足提出一种减小测试次数和测试路径 的基于四针飞针测试路径的优化方法。
本发明解决上述技术问题采用的技术方案是基于四针飞针测试路径的优化方法，包括 以下步骤
a. 读入IPC356格式文件，提取测试点信息及相邻网络信息；
b. 统计同一网络号同一测试标识相同测试点的个数，得到反面测试点点数，正面测试点 点数，通孔测试点点数；c. 根据正面测试点点数、反面测试点点数的大小，把通孔测试点按照使得正面测试点点 数与反面测试点点数差值最小的方式进行划分，生成正面测试点集合和反面测试点集合；
d. 分别对正面测试点集合和反面测试点集合进行基于X坐标与Y坐标的二维排序，生成正 面测试点队列与反面测试点队列；
e. 对正面测试点队列和反面测试点队列分别进行配对
el.当正面测试点队列长度和反面测试点队列长度均大于O时，正面测试点队列、反面测 试点队列均采用取二出一，取二出二方式交替出列进行配对，生成正面测试点行队列和反面 测试点行队列；
e2.当反面测试点队列长度为O时，采取正面测试点队列取二出一方式进行配对，生成正 面测试点行队列；
e3.当正面测试点队列长度为O时，采取反面测试点队列取二出一方式进行配对，生成反 面测试点行队列；
f. 分别对正面测试点行队列和反面测试点行队列进行配对，采取取二出二方式进行行配
对；
g. 对所有的测试点进行基于X坐标与Y坐标的二维排序，生成一个初始的测试队列；
h. 将该测试队列以N行为一个子队列的方式进行划分；
i. 对每个子队列采用最短路径插值法生成新的子队列； j.对新的子队列两两之间首尾连接，最终生成测试路径。 所述步骤h中，是将测试队列以5000行为一个子队列的方式进行划分 本发明的有益效果减少测试次数，縮小测试路径，进而提高了测试效率。
具体实施例方式
本发明就是针对现有技术中的飞针路径测试中没有进行测试点配对而弓1起测试行数多及 采用的禁忌搜索算法不容易收敛而引起测试效率低下的不足，提出一种基于四针飞针测试路 径的优化方法，该方法采用四针联动对测试点进行配对，使得飞针测试行数大大縮短，并采 用创新的启发式优化算法，能够快速的找到较优测试路径，使得飞针测试效果提高。
在具体实施上，采取以下步骤实现a.读入IPC356格式文件，提取测试点信息及相邻网 络信息；b.统计同一网络号同一测试标识相同测试点的个数，得到反面测试点点数，正面 测试点点数，通孔测试点点数；c.根据正面测试点点数、反面测试点点数的大小，把通孔测试 点按照使得正面测试点点数与反面测试点点数差值最小的方式进行划分，生成正面测试点集 合和反面测试点集合；d.分别对正面测试点集合和反面测试点集合进行基于X坐标与Y坐标的二维排序，生成正面测试点队列与反面测试点队列；e.对正面测试点队列和反面测试点队列 分别进行配对el.当正面测试点队列长度和反面测试点队列长度均大于O时，正面测试点队 列、反面测试点队列均采用取二出一，取二出二方式交替出列进行配对，生成正面测试点行 队列和反面测试点行队列；e2.当反面测试点队列长度为O时，采取正面测试点队列取二出一 方式进行配对，生成正面测试点行队列；e3.当正面测试点队列长度为O时，采取反面测试点 队列取二出一方式进行配对，生成反面测试点行队列；f.分别对正面测试点行队列和反面测 试点行队列进行配对，采取取二出二方式进行行配对；g.对所有的测试点进行基于X坐标与 Y坐标的二维排序，生成一个初始的测试队列；h.将该测试队列以N行为一个子队列的方式进 行划分， 一般我们采用以5000行为一个子队列的方式进行划分；i.对每个子队列采用最短路 径插值法生成新的子队列；j.对新的子队列两两之间首尾连接，最终生成测试路径。
本发明的创新点在于飞针测试配对中，提出采用四针联动方式生成配对点方法，上述 步骤中a至f均为四针联动配对方法的过程，当正面测试点队列长度和反面测试点队列长度均 大于O时，正面测试点队列、反面测试点队列均采用取二出一，取二出二方式交替出列进行 配对，生成正面测试点行队列和反面测试点行队列，这种方法经过数学推导验证在保证了连 通性的同时也是最优的配对方式，得到的是最优行数解。上述步骤g至j可归为我们采用的创 新的启发式优化算法，它是先采用先聚合分类，再进行分而自治并与最短路径插值法相结合 的一种启发性算法，能快速的找到较优路径，提高测试效率。此外，在配对时我们采用了步 骤d与步骤g两次二维排序使得测试行之间的距离是最接近的，基本达到了 "四针归一"的效 果，也在一定程度上提高了测试效率。本发明中所提到的最短路径插值法为现有技术，在学 术论文中及算法领域教程中经常出现，这里不再对其赘述。
权利要求
权利要求1基于四针飞针测试路径的优化方法，其特征在于包括以下步骤，a. 读入IPC356格式文件，提取测试点信息及相邻网络信息；b. 统计同一网络号同一测试标识相同测试点的个数，得到反面测试点点数，正面测试点点数，通孔测试点点数；c. 根据正面测试点点数、反面测试点点数的大小，把通孔测试点按照使得正面测试点点数与反面测试点点数差值最小的方式进行划分，生成正面测试点集合和反面测试点集合；d. 分别对正面测试点集合和反面测试点集合进行基于X坐标与Y坐标的二维排序，生成正面测试点队列与反面测试点队列；e. 对正面测试点队列和反面测试点队列分别进行配对e1. 当正面测试点队列长度和反面测试点队列长度均大于0时，正面测试点队列、反面测试点队列均采用取二出一，取二出二方式交替出列进行配对，生成正面测试点行队列和反面测试点行队列；e2. 当反面测试点队列长度为0时，采取正面测试点队列取二出一方式进行配对，生成正面测试点行队列；e3. 当正面测试点队列长度为0时，采取反面测试点队列取二出一方式进行配对，生成反面测试点行队列；f. 分别对正面测试点行队列和反面测试点行队列进行配对，采取取二出二方式进行行配对；g. 对所有的测试点进行基于X坐标与Y坐标的二维排序，生成一个初始的测试队列；h. 将该测试队列以N行为一个子队列的方式进行划分；i. 对每个子队列采用最短路径插值法生成新的子队列；j. 对新的子队列两两之间首尾连接，最终生成测试路径。
2.如权利要求l所述的基于四针飞针测试路径的优化方法，其特征在 于所述步骤h中，是将测试队列以5000行为一个子队列的方式进行划分。
全文摘要
本发明涉及电路测试技术，尤其涉及一种基于四针飞针测试路径的优化方法。本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足提出一种减小测试次数和测试路径的基于四针飞针测试路径的优化方法。其技术方案的要点可概括为在提取测试点信息后，对测试点进行划分，生成正面测试点集合和反面测试点集合，进行一次二维排序后再进行配对，配对完成后进行第二次二维排序，生成初始的测试队列，将该测试队列以N行为一个子队列的方式进行划分；对每个子队列采用最短路径插值法生成新的子队列；对新的子队列两两之间首尾连接，最终生成测试路径。本发明的有益效果是减少测试次数，缩小测试路径，进而提高了测试效率。
文档编号G01R31/28GK101424723SQ200810306198
公开日2009年5月6日 申请日期2008年12月12日 优先权日2008年12月12日
发明者健 余, 王海鹏 申请人:四川长虹电器股份有限公司