专利名称：光学检测模块的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学检测模块，特别是一种用以检查平面物体外 观的光学检测模块。
现有技术
在面板的检测过程中，除了检査面板是否有正常操作之外，还须 査看面板是否有瑕疵存在或有无附着尘埃等，图1所示为一种现有面
板的光学检测模块的示意图。如图所示，光学检测模块IO包括光源12、 透反射(transflective)镜14及CCD 16，该CCD 16设置于待测面板 18上方，透反射镜14设置于面板18及CCD 16之间，光源12设置于 透反射镜14的一侧，其中光源12所射出的光线121部分经由透反射 镜14反射至面板18，使面板18反射一影像光路20且穿透透反射镜 14至CCD 16，通过CCD 16来拍摄面板18的表面影像。然而在这种 设计的光学检测模块10中，由于面板18所反射的影像光路20须穿透 透反射镜14才能到达CCD 16，因此到达CCD 16的光学影像质量有限， 无法达到有效检査的效果。
图2所示为现有的另一种面板之光学检测模块的示意图，如图所 示，透反射镜14设置于待测面板18及光源12之间，而CCD 16则设 置于透反射镜14的一侧，其中光源12所射出的光线121部分穿透透 反射镜14至面板18，使面板18反射一影像光路20至透反射镜14， 且通过透反射镜14反射至CCD 16。此种设计的光学检测模块10虽不 致于使到达CCD 16的影像质量劣化，但由于光源12与CCD 16之间 须呈90度的摆放设计，在架设位置上较为受限。
实用新型内容
为了解决上述问题，本发明的一个目的是提供一种光学检测模块， 通过反射元件的设计，有效解决现有技术中拍摄影像质量有限以及影 像感测组件的架设位置受限的问题，以提高整体检测工序的效率及空 间利用。
为了达到上述目的，根据本发明的实施例的光学检测模块，用以 对一平面待测物进行光学取像，该光学检测模块包括光源，该光源 用以射出光线；透反射元件，其设置于平面待测物与光源之间，且呈 第一直线排列；反射元件，其离开所述第一直线排列，且与透反射元 件间隔固定距离；以及影像感测组件，其与反射元件呈第二直线排列， 其中，光源所射出的光线透射穿过所述透反射元件到达平面待测物， 使平面待测物反射一影像光路至透反射元件，再经由透反射元件将影 像光路反射至反射元件，再经由反射元件将该影像光路导引至影像感 测组件。
图l所示为现有面板的光学检测模块的示意图。
图2所示为现有另一种面板的光学检测模块示意图。
图3所示为根据本发明第一实施例的光学检测模块的结构示意图。
图4所示为根据本发明第二实施例的光学检测模块的结构示意图。主要组件符号说明
10光学检测模块
12光源
121光线
14透反射镜
16CCD
18面板
20影像光路
30光学检测模块
32面板
34光源
341光线
36透反射元件
38全反射元件
40CCD
42第一直线
44第二直线
46镜头
48影像光路
50聚焦透镜
52固定装置具体实施方式
图3所示为本发明第一实施例的光学检测模块的结构示意图，该
光学检测模块30用以检测平面待测物，在此实施例中，平面待测物为 面板32，光学检测模块30包括光源34、透反射元件36、反射元件及 影像感测组件。在此实施例中，反射元件是全反射元件38，而影像感 测组件是CCD 40。
其中，光源34设置于待测之面板32的相对位置，而透反射元件 36设置于光源34与面板32之间，且三者呈第一直线42排列；而全反 射元件38离开所述第一直线42排列，并且设置于透反射元件36 —侧， 并与透反射元件36间隔固定距离；而CCD 40则设置于全反射元件38 的相对位置，与该全反射元件38呈第二直线44排列。此外，在CCD 40 与全反射元件38之间设置有镜头46，其位于第二直线44上。
接续上述说明，请继续参阅图3，光源34所射出的光线341透射 穿过透反射元件36，以到达待测之面板32，使面板32反射一影像光 路48至透反射元件36，再经由透反射元件36将影像光路48反射至全 反射元件38，再由全反射元件38导引该影像光路48经由镜头46到达 CCD 40，以利CCD 40进行影像拾取。
其中，在光源34与透反射元件36之间设置聚焦透镜50，该聚焦 透镜50位于第一直线42上，由此将光源34所射出的光线341聚焦至 透反射元件36上；此外，在此实施例中，透反射元件36及全反射元 件38设置于固定装置52上，且两者以平行的关系配置。不限至于此， 在第二实施例中，全反射元件38与透反射元件36之间还可以不是平 行关系，即全反射元件38可依据镜头46及CCD 40的位置而调整摆放 角度，如图4所示，全反射元件38相对于透反射元件36倾斜特定角 度，相比第一实施例而言，CCD40及镜头46的位置与光源34之间的间隔较大，以便当透反射元件36将影像光路48反射至所述全反射元 件38之后，由全反射元件38导引影像光路48经由镜头46到达CCD 40， 以利CCD 40进行影像拾取。
在上述实施例中，由于面板所反射的影像光路并不需要穿过透反 射元件，因此不会使到达CCD的影像质量劣化，同时，由于CCD与 光源设置于同一侧，因此可有效地解决现有CCD与光源之间必须调整 为卯度来设置的问题，从而在架设上不受限制；在上述实施例中，影 像感测组件除了是上述CCD之外，还可以是互补式金属氧化层半导体 (CMOS)影像传感器，或者是其它具有影像感测功能的组件。
以上所述的实施例仅仅是为了说明本发明的技术思想及特点，其 目的在于使本领域技术人员能够了解本发明的内容并得以实施，而并 非用于限制本发明的保护范围；而是，根据本发明所揭示的精神所作 的等同变化或修改，仍应落入本发明的保护范围内。
权利要求1. 一种光学检测模块，用于对平面待测物进行光学取像，其特征在于，该光学检测模块包括光源，该光源用以射出光线；透反射元件，该透反射元件设置于所述平面待测物与所述光源之间，且呈第一直线排列；反射元件，该反射元件离开该第一直线排列，并与所述透反射元件间隔固定距离；以及影像感测组件，该影像感测组件与所述反射元件呈第二直线排列，其中，从所述光源射出的光线透射穿过所述透反射元件到达所述平面待测物，使所述平面待测物反射一影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件将该影像光路反射至所述反射元件，再经由所述反射元件将该影像光路导引至所述影像感测组件。
2. 如权利要求1所述的光学检测模块，其特征在于，所述反射 元件是全反射元件。
3. 如权利要求1所述的光学检测模块，其特征在于，所述影像 感测组件是CCD，或互补式金属氧化层半导体。
4. 如权利要求1所述的光学检测模块，其特征在于，还包括镜 头，该镜头设置于所述影像感测组件和所述反射元件之间。
5. 如权利要求1所述的光学检测模块，其特征在于，还包括至 少一个固定装置，以固定所述透反射元件和所述反射元件。
专利摘要一种光学检测模块，至少包括光源、透反射元件、反射元件以及影像感测组件，其中从光源所射出的光线穿透该透反射元件而到达平面待测物，使平面待测物反射影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件进一步反射至所述反射元件，再经由所述反射元件导引至影像感测组件。该光学检测模块可有效解决现有技术中拍摄影像的质量受限以及影像感测组件架设位置受限的问题。
文档编号G01N21/88GK201233372SQ20082011598
公开日2009年5月6日 申请日期2008年7月2日 优先权日2008年7月2日
发明者姜智杰 申请人:晶彩科技股份有限公司