专利名称：光回波损耗校准传递件的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光回波损耗测试仪校准件，特别是涉及一种光回波损耗校准传递件。
背景技术：
光回波损耗又称为反射损耗，它是指在光纤连接处，后向反射光相对输入光的比 率的分贝数，回波损耗愈大愈好，以减少反射光对光源和系统的影响。随着光纤通信的发 展，高速光纤传输系统(如SDH、大功率CATV等)必须具有很高的回波损耗，而DFB激光器 由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响，从而严重影响系统的性能。即使是普通 的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的回波损耗的测 试变得越来越重要，光回波损耗测试仪得以广泛应用。 校准光回波损耗测试仪是近几年才提出的一个课题，研制性能稳定可靠、重复性 好的、动态范围大的光回损传递件是校准光回波损耗测量仪量值准确度和线性度的前提条 件。因此，校准光回波损耗测试仪的准确度及线性度指标时，需要用到性能稳定可靠、重复 性好的光回波损耗校准传递件。 目前多数计量技术机构只是用一个FC/UPC光纤接头(能够提供一个55dB左右的 光回损值)和一个FC/APC光纤接头(能够提供一个65dB左右的光回损值)组成所谓的光 回损传递件，这是不科学的，因为这种光回损传递件的重复性完全取决于光纤端面的质量， 而进行校准时这些光纤端面是直接物理接触的，这就导致这种光回损传递件的重复性为几 个dB。所以，严格来讲，用这种光回损传递件来校准光回波损耗测试仪是错误的。
能够实现光回损传递件功能的一种可行技术方案是将一个可变光衰减器和一个 镀金的全反射器连接起来，通过改变可变光衰减器的衰减值就可以得到一个相应的光回波 损耗值。其原理是，由于光路是可逆的，假设可变光衰减器的插入损耗是2dB，设置的光衰减 值为3dB，理论上可以通过上述方案得到10dB的光回波损耗；设置的光衰减值为8dB，理论 上可以得到20dB的光回波损耗，以此类推。 但这种方案有明显的缺点，不但每次插拔光接头及光纤端面质量下降会使得用这 种方法产生的光回波损耗值的重复性差， 一般大于ldB，而且这种方案的实现成本非常高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是解决校准光回波损耗测试仪的光回损传递件重复 性差、实现成本高的问题。 为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是提供一种光回波损耗校准传 递件，包括由光纤依次连接的FC/APC接头、光衰减装置和全反射器。 上述方案中，所述光衰减装置由 一个或一个以上的光纤拉锥耦合光衰减器串联而 成。 所述光衰减装置为一个光纤拉锥耦合光衰减器。
所述光衰减装置为由两个或三个光纤拉锥耦合光衰减器串联而成。 所述全反射器为1X2标准光纤耦合器，且该光纤耦合器的两个输出臂的长度相
差2 3厘米。 本发明包括由优质光纤依次连接的标准FC/APC接头、光纤拉锥耦合光衰减器和 由光纤耦合器制成的全反射器，为全光纤结构，成本低、性能稳定可靠，重复性优于0. 5dB。
图1为本发明的结构示意图；
图2为全反射器结构示意图。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明作出详细的说明。 如图1所示，本发明包括由光纤2依次连接的FC/APC接头1、光衰减装置3和全反 射器4。 采用FC/APC接头是因为如果接头形式为FC/PC或FC/UPC，就不可能研制出光回波 损耗为60dB的传递件。FC/PC接头的回损为小于50dB，而FC/UPC接头的回损也只能达到 55dB左右，这样它就会限制整个光回损传递件的光回波损耗，通常的FC/APC接头的回损大 于65dB，做成标准的FC/APC接头性能会更稳定，重复性会更好。 本发明中的光衰减装置2由一个或一个以上的光纤拉锥耦合光衰减器串联而成。 对于光回波损耗为40dB和40dB以下(如10dB、20dB等)的光回损传递件，用单级光纤拉 锥耦合光衰减器即可。当该衰减器的衰减量小于20dB时，其不确定度小于0.2dB。在连 接理想全反射器的情况下，如果使用20dB光衰减器，反射传递件会得到40dB的回波损耗。 这是因为光路有正向和反向两个方向，并且对于光纤拉锥耦合光衰减器而言其光路是可逆 的，即如果光正向通过该衰减器有20dB的光衰减，那么当光反向通过该衰减器时也会产生 20dB的光衰减。对于光回波损耗大于40dB(如50dB、60dB等)的光回损传递件，就要用两 级或多级光纤拉锥耦合光衰减器串联制成。例如，对于回波损耗为50dB的反射传递件，可 以用两个光纤拉锥耦合光衰减器串联制成，其中一个的衰减量为10dB，另一个的衰减量为 15dB ;对于回波损耗为60dB的反射传递件，可以用3个衰减量均为10dB的衰减器串联而 成，也可以用两个衰减量均为15dB的衰减器串联制成，它们的区别是前者比后者多了一个 熔接点。由于现代光纤熔接机性能优良，单模光纤熔接损耗小于O. 05dB，所以该差异可以忽 略。 本发明中的全反射器采用光纤耦合器制成。由于现代生产工艺已非常成熟，光纤 耦合器的各项技术指标得到了很大程度的改善。如耦合器的方向性可以达到70dB以上， 谱宽大于20nm，分光比的不确定度小于0. 4%，附加损耗小于0. 04dB，偏振依赖损耗小于 0.04dB等等。为了使研制的全反射器能够得到稳定的效果，必须消除干涉效应的影响。如 图2所示，光源发射的光经50 : 50光纤耦合器的输入端41分别入射到其两个输出臂42、 43，上述两个输出臂42和43的尾端熔接。如果两个输出臂42和43的长度一样，这时满足 相干条件，并且干涉效应最强。因此，两个输出臂42和43的长度差须大于2 3厘米，这 是因为绝大多数光回波损耗测试仪所使用的光源为FP型光源，这种光源的光谱宽度大于lnm，对于光谱宽度为lnm的光源发射的激光在光纤中的相干长度为<formula>formula see original document page 5</formula> 所以使光纤耦合器的两个输出臂的长度差大于2 3厘米是合适的。 本发明中的光衰减器的实现方案还有光纤错位焊接、光纤缠绕、在光路中插入光
衰减片等，这些方案都可以实现减小光纤光路中的光功率。 本发明不局限于上述最佳实施方式，任何人应该得知在本发明的启示下作出的结 构变化，凡是与本发明具有相同或相近的技术方案，均落入本发明的保护范围之内。
权利要求
光回波损耗校准传递件，其特征在于包括由光纤依次连接的FC/APC接头、光衰减装置和全反射器。
2. 如权利要求1所述的光回波损耗校准传递件，其特征在于所述光衰减装置由一个或一个以上的光纤拉锥耦合光衰减器串联而成。
3. 如权利要求2所述的光回波损耗校准传递件，其特征在于所述光衰减装置为一个光纤拉锥耦合光衰减器。
4. 如权利要求2所述的光回波损耗校准传递件，其特征在于所述光衰减装置为由两个或三个光纤拉锥耦合光衰减器串联而成。
5. 如权利要求1至4项任一项权利要求所述的光回波损耗校准传递件，其特征在于所述全反射器为1X2标准光纤耦合器，且该光纤耦合器的两个输出臂的长度相差2 3厘米。
全文摘要
本发明涉及一种光回波损耗测试仪校准件，是一种光回波损耗校准传递件，包括由光纤依次连接的FC/APC接头、光衰减装置和全反射器，上述方案中，所述光衰减装置由一个或一个以上的光纤拉锥耦合光衰减器串联而成，所述全反射器为1×2标准光纤耦合器，且该光纤耦合器的两个输出臂的长度相差2～3厘米。本发明包括由优质光纤依次连接的标准FC/APC接头、光纤拉锥耦合光衰减器和由光纤耦合器制成的全反射器，为全光纤结构，成本低、性能稳定可靠，重复性优于0.5dB。
文档编号G01M11/02GK101694413SQ20091021037
公开日2010年4月14日 申请日期2009年11月2日 优先权日2009年11月2日
发明者张洪喜 申请人:中国电子科技集团公司第四十一研究所;