专利名称：多光谱动态调制传递函数测量方法与装置的制作方法
技术领域：
本发明属于光学成像测试领域，涉及多光谱动态调制传递函数测量方法与装置，
可用于光电成像系统的动态性能测试。
背景技术：
光学系统调制传递函数(MTF)是一个客观评价光学系统成像质量的标准，从根本 上克服了诸如星点检验、分辨率、几何像差等传统像质检验方法的不足之处，能全面地反映 系统的成像性质，在光学系统成像质量评价中占有重要地位。随着光电技术的迅速发展与 应用，光电成像与跟踪系统已广泛应用于国民经济的各个领域，尤其在军事领域得到了极 大的发展。在光电系统跟瞄目标时，目标的运动和光电系统的振动已经代替光学系统自身 的衍射和像差，成为影响定位精度和打击精度的主要因素。通过对光电成像系统动态调制 传递函数的深入研究，可以定量分析目标运动和光电系统振动对成像质量的影响，并为光 学防震机械结构加工和振动模糊图像恢复等技术提供理论依据。 九十年代初期，以色列的Ofer. Hadar和N. S. Kopeika等人就开始了对动态目标调 制传递函数的研究，详细推导了目标匀速直线运动和简谐运动时动态调制传递函数的数学 表达式，并在后期进行了实验验证。但是在实验中只完成了对低频简谐运动动态目标调制 传递函数的测量而无法测量其他运动形式的动态目标调制传递函数，而且最终的测量结果 将低频简谐运动近似看成是匀速直线运动，使测量结果产生较大误差。 目标运动对成像质量的影响国内也有研究，西安应用光学研究所在《时延成像系 统的动像传递特性》一文中从本质上阐明了时延成像系统的动像传递过程，说明动像线扩 展函数是沿位移坐标方向上一系列连续的静像线扩展函数叠加而成，提出了求解动像线扩 展函数及其频谱的数学物理模型，并按此模型推导了匀速动像与简谐振动动像的线扩展函 数及其频谱的解析表达式。但是文中所得到的解析式十分复杂，对于所建立的模型没有进 行具体、完善地计算分析和模拟仿真。 上述研究都是针对目标运动时的动态调制传递函数分析，而针对光电成像系统机 械振动时动态调制传递函数的变化也有研究。长春光学精密机械与物理研究所在《振动对 光学成像系统传递函数影响的分析》一文中将光学成像系统的振动方式从宏观上分为纵向 振动和横向振动，首先分析了纵向振动、线性横向振动，高频正弦横向振动、低频正弦横向 振动、随机横向振动的光学调制传递函数，然后分析了各种振动参数对动态调制传递函数 的影响，从而提出了减小机械振动对光学成像系统影响的各种工程措施，为实际的光学机 械结构的设计提供了理论基础。但是其不足之处在于文中只是对不同振动形式下的动态调 制传递函数进行了理论分析和数值仿真，并没有实际测量。 北京理工大学光电工程系和北京空间机电研究所在《卫星振动对成像质量影响的 仿真分析》一文中分析了在空间环境条件下摄影时，不同振动模型对卫星上推扫型CCD相机 成像质量的影响结果，重点分析了三个方向的振动对相机成像质量的影响。为了验证仿真 分析的结果，建立了一套地面仿真系统，可以模拟两种类型的振动，其中使用落锤产生低频率、大振幅振动，使用压电陶瓷产生各种频率的微振，模拟影响相机成像质量。分析试验数 据可以看出，该试验方法可以比较好地模拟卫星姿态振动情况，根据所提供的公式，可以给 出卫星姿态稳定度、颤震、抖动等的指标计算方法和范围。但是，这种方法采用的仿真系统 非常复杂，对于不同频率范围的振动不能使用同一套系统进行仿真，无法简单、迅速地测得 动态调制传递函数，不适合在实际测量中使用。 上述方法都是在可见光范围内对目标或光电成像系统的动态传递函数进行理论 分析或测量，但是为满足现代高科技作战要求，光电成像跟踪系统已经由单一传感器向电 视和红外复合系统发展，所以上述方法已经无法满足最新的测试要求，急需一种针对复合 光电成像系统的动态调制传递函数测试装置。这些方法都只关注了目标运动或光电仪器振 动一方面对调制传递函数的影响，而没有综合考虑二者同时作用的情形。但是在光电成像 系统的实际应用中，上述两种影响总是同时存在的，所以之前得到的动态调制传递函数总 是不全面、不真实的，这就要求一种能同时模拟目标运动和光电成像系统振动的动态调制 传递函数测量装置。针对多光谱刀口分划，同时实现动态目标、动态光电成像系统以及动态 目标和动态光电成像系统调制传递函数测量的报道迄今为止尚未见到。
发明内容
本发明的目的在于克服已有技术用于光电成像跟踪系统的动态调制传递函数测 量时存在的上述不足，融合多光谱刀口分划生成技术和光电成像系统机械振动仿真技术， 提出一种动态调制传递函数测试方法与装置，其能在电视和红外光谱条件下，实现对动态 目标或动态光电成像系统调制传递函数的单独测量，也可以实现对二者整体动态调制传递 函数的测量以满足不同的测试要求。
本发明的目的是通过下述技术方案实现的。 本发明的一种多光谱动态调制传递函数测量方法，包括以下步骤
步骤一、静态测量 使多光谱刀口分划靶板(2)和振动台(4)静止，多光谱刀口分划靶板(2)在被测 光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得到静态 调制传递函数MTFi ; 步骤二、动态测量，包括以下三种方式，并且可以根据测试需求选择一种或两种或 三种测量 (a)使多光谱刀口分划靶板(2)运动，振动台(4)静止，多光谱刀口分划靶板(2) 在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得 到动态目标整体调制传递函数MTF。； (b)使多光谱刀口分划靶板(2)静止，振动台(4)振动，多光谱刀口分划靶板(2) 在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得 到动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe ; (c)使多光谱刀口分划靶板(2)运动，振动台(4)振动，多光谱刀口分划靶板(2) 在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得 到动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFS ;
步骤三、计算
(d)将步骤二中(a)得到的动态目标整体调制传递函数MTF。与步骤一得到的静 态调制传递函数在对应频率处相除，得到所求的动态目标调制传递函数，如公式①所 示
<formula>formula see original document page 6</formula> (e)将步骤二中(b)得到的动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe与步骤一得 到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态光电成像系统调制传递函 数匿TFe，如公式②所示；
<formula>formula see original document page 6</formula>[酬層W^^yy ② (f)将步骤二中(c)得到的动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFs
与步骤一得到的静态调制传递函数在对应频率处相除，得到所求的动态目标和动态光
电成像系统调制传递函数匿TFs，如公式③所示
<formula>formula see original document page 6</formula>
。 本发明所述的测量方法，还可以测量不同时刻的多条动态目标调制传递函数曲 线，取每一条曲线特定频率处的值，并按时间顺序连接可以得到动态目标调制传递函数时 间响应曲线。 本发明所述的测量方法，还可以测量不同时刻的多条动态光电成像系统调制传递 函数曲线，取每一条曲线特定频率处的值，并按时间顺序连接可以得到动态光电成像系统 调制传递函数时间响应曲线。 本发明所述的测量方法，还可以测量不同时刻的多条动态目标和动态光电成像系 统调制传递函数曲线，取每一条曲线特定频率处的值，并按时间顺序连接可以得到动态目 标和动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线。 本发明还提供了一种多光谱动态调制传递函数的测量装置，包括计算机(6)，还包 括多光谱刀口分划靶板(2)、准直系统(3)、振动台(4)，其中被测光电成像系统(7)固定在 振动台(4)上，被测光电成像系统(7)和计算机(6)通过数据传输线连接。
多光谱刀口分划靶板(2)可以做平移运动，也可以做旋转运动。
准直系统(3)可以同时对可见和红外光束进行准直。 根据准直系统(3)的不同结构，沿光线传播方向，可以依次放置多光谱刀口分划 靶板(2)和准直系统(3)，也可以依次放置准直系统(3)和多光谱刀口分划靶板(2)。
本发明具有以下特点和良好效果 本发明将多光谱技术引入动态调制传递函数测量领域，采用多光谱光源照明，在 系统中生成多光谱刀口分划目标，经反射式光学准直系统准直后在光电系统上成像，可以 同时检测不同谱段的动态调制传递函数。将多光谱目标生成技术与动态调制传递函数测量 技术融合是本发明区别现有技术的创新点之一。 本发明通过平移或旋转多光谱刀口分划靶板模拟目标运动，使用振动台模拟武器 平台的机械振动，并且可以同时模拟上述两种运动，使测得的动态调制传递函数更符合实际使用环境，更具实用性。可以同时模拟目标运动和光电成像系统振动是本发明区别现有 技术的创新点之二。 本发明通过多次测量不同时刻的动态调制传递函数，得到动态调制传递函数的时 间响应曲线，可以直观地反映出被测光电成像系统的成像质量随运动时间的变化情况。可 以测得动态调制传递函数的时间响应曲线是本发明区别现有技术的创新点之三。
由于上述相关技术的采用，本发明具有如下特点 (1)多光谱技术的引入使本发明可以同时检测微光、电视、红外复合光电成像系统 的动态性能，解决了长久以来复合光电成像系统的动态调制传递函数无法一次性测试的问 题。 (2)本发明模拟的目标既可以做平移运动又可以做旋转运动，测试时可以根据需 要选择合适的运动形式，提高了动态调制传递函数测量的适用性。 (3)根据测试需求本发明可以选择单独测量目标运动的调制传递函数或光电成像 系统振动的调制传递函数，也可以测量目标运动和光电成像系统振动共同作用下的调制传 递函数，扩大了动态调制传递函数的测量范围，使测量更具有灵活性。 (4)利用动态调制传递函数的时间响应曲线，可以在各种运动情况下迅速、准确地 评价被测光电成像系统的动态成像性能，使测量结果一 目了然。
图1为本发明测量方法和装置的示意图；
图2为本发明实施例一的示意图；
图3为本发明实施例二的示意图；
图4为静态调制传递函数曲线； 图5为动态光电成像系统整体调制传递函数曲线； 图6为动态光电成像系统调制传递函数曲线； 图7为动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线。 其中l-多光谱光源、2-多光谱刀口分划耙板、3-准直系统、4-振动台、5-振动控 制器、6_计算机、7-被测光电成像系统、8-ZnS基底、9-鉻薄膜层、10-抛物面反射镜、11-非 球面卡塞格林平行光管
具体实施例方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。 本发明的基本思想是利用一种可以运动的多光谱刀口分划目标来模拟运动的目 标，通过控制振动台来模拟被测光电成像系统的机械振动，可以在多种运动情况下，实现对 复合光电成像系统的动态调制传递函数测试。
实施例一 图2为本发明所述的多光谱动态调制传递函数测量装置，包括多光谱光源1、多光 谱刀口分划靶板2、抛物面反射镜10、被测光电成像系统7、振动台4、振动控制器5和计算 机6 ;其中被测光电成像系统7固定在振动台4上，被测光电成像系统7和计算机6通过数 据传输线连接；其中多光谱刀口分划靶板2采用多光谱光源1照明，被测光电成像系统7是红外热像仪。 多光谱刀口分划靶板2在可见光和红外波段都可以使用，多光谱刀口分划靶板2 包含两层结构，其中ZnS基底8可以透射从可见光到长波红外波段的光，鉻薄膜层9镀在 ZnS基底8刀口分划以外的区域上。 多光谱刀口分划靶板2可以做平移运动，也可以做旋转运动。
抛物面反射镜10可以同时对可见和红外光束进行准直。 由于抛物面反射镜10是通过一次反射进行准直的，所以多光谱光源1放置在抛物 面反射镜10的焦点处，沿光线传播方向依次放置抛物面反射镜10、多光谱刀口分划靶板2 和被测光电成像系统7。 振动台4可以带动被测光电成像系统7做规则运动或随机运动。
本发明装置的具体工作过程如下
步骤一、静态测量 使多光谱刀口分划靶板2和振动台4静止，多光谱刀口分划靶板2在被测光电成 像系统7上成像，被测光电成像系统7得到的图像经过计算机处理后得到静态调制传递函 数MTFi ; 步骤二、动态测量 (a)使多光谱刀口分划靶板2以光轴为旋转轴旋转，振动台4静止，多光谱刀口分 划靶板2在被测光电成像系统7上成像，被测光电成像系统7得到的图像经过计算机处理 后得到动态目标整体调制传递函数MTF。； (b)使多光谱刀口分划靶板2静止，通过振动控制器5控制振动台4做随机振动， 多光谱刀口分划靶板2在被测光电成像系统7上成像，被测光电成像系统7得到的图像经 过计算机处理后得到动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe ; (c)使多光谱刀口分划靶板2以光轴为旋转轴旋转，通过振动控制器5振动台4做 随机振动，多光谱刀口分划靶板2在被测光电成像系统7上成像，被测光电成像系统7得到 的图像经过计算机处理后得到动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFS ;
步骤三、计算 (d)将步骤二中(a)得到的动态目标整体调制传递函数MTF。与步骤一得到的静 态调制传递函数在对应频率处相除，得到所求的动态目标调制传递函数，如公式①所 示<formula>formula see original document page 8</formula>① (e)将步骤二中(b)得到的动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe与步骤一得 到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态光电成像系统调制传递函 数匿TFe，如公式②所示； <formula>formula see original document page 8</formula>② (f)将步骤二中(c)得到的动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFs 与步骤一得到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态目标和动态 光电成像系统调制传递函数匿TFs，如公式③所示
"脏F (/)=肌尸",) ③
本发明所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，可以在多光谱刀口分划靶板 2旋转一周的时间T内，测量0、 T/8、 T/4、3T/8、 T/2、5T/8、3T/4、7T/8这8个不同时刻的多 条动态光电成像系统调制传递函数曲线，取每一条曲线1/4奈奎斯特频率处的值，并按时 间顺序连接就得到动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线。 本发明所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，可以在振动台4随机振动的 过程中，每30秒测量一次动态光电成像系统调制传递函数曲线，经过10分钟得到20条曲 线，取每一条曲线1/4奈奎斯特频率处的值，并按时间顺序连接可以得到在这IO分钟内的 动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线。 本发明所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，可以在多光谱刀口分划靶板 2旋转一周的时间T内，测量0、 T/8、 T/4、3T/8、 T/2、5T/8、3T/4、7T/8这8个不同时刻的 多条动态目标和动态光电成像系统调制传递函数曲线，取每一条曲线1/4奈奎斯特频率处 的值，并按时间顺序连接可以得到动态目标和动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲 线。 实施例二 图3为本发明所述的多光谱动态调制传递函数测量装置，包括多光谱光源1、多 光谱刀口分划靶板2、非球面卡塞格林平行光管11和被测光电成像系统7、振动台4、振动 控制器5和计算机6 ;其中被测光电成像系统7固定在振动台4上，被测光电成像系统7 和计算机6通过数据传输线连接；其中多光谱刀口分划靶板2采用多光谱光源1照明，被 测光电成像系统7是微视MVC930DAM-GE30型CCD，像素尺寸为4. 65X4. 65 y m，分辨率为 1024X1024。 多光谱刀口分划靶板2在可见光和红外波段都可以使用，多光谱刀口分划靶板2 包含两层结构，其中ZnS基底8可以透射从可见光到长波红外波段的光，鉻薄膜层9镀在 ZnS基底8刀口分划以外的区域上。 多光谱刀口分划靶板2可以做平移运动，也可以做旋转运动。 非球面卡塞格林平行光管11可以同时对可见和红外光束进行准直。 由于非球面卡塞格林平行光管11是通过两次反射进行准直的，所以沿光线传播
方向依次放置多光谱刀口分划靶板2、非球面卡塞格林平行光管11和被测光电成像系统7，
其中非球面卡塞格林平行光管11的出瞳中心和被测光电成像系统7的入瞳中心重合。 振动台4可以带动被测光电成像系统7做规则运动或随机运动。 本发明装置的具体工作过程如下 步骤一、静态测量 使多光谱刀口分划靶板2和振动台4静止，选取被测光电成像系统7的积分时间 为10ms，多光谱刀口分划靶板2在被测光电成像系统7上成像，被测光电成像系统7得到的 图像经过计算机处理后得到静态调制传递函数MTFi如图4所示；
步骤二、动态测量 使多光谱刀口分划靶板2静止，通过振动控制器5控制振动台4做频率20HZ振幅0. 5mm的一维简谐运动，其运动方向与光轴垂直，在运动过零点时触发被测光电成像系统7 对刀口成像，被测光电成像系统7得到的图像经过计算机处理后得到动态光电成像系统整 体调制传递函数MTFe如图5所示；
步骤三、计算 将步骤二得到的动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe与步骤一得到的静态 调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态光电成像系统调制传递函数匿TFe， 如公式②所示。 本发明所述的测量方法还可以在一个简谐振动周期T内的五个不同时刻0、 T/4、 T/2、3T/4、T，被测光电成像系统7对多光谱刀口分划靶板2成像，得到五条动态光电成像系 统调制传递函数曲线，对每一条曲线取其1/4奈奎斯特频率处的值，并按时间顺序连接可 以得到动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线如图7所示。 以上结合附图对本发明的具体实施方式
作了说明，但这些说明不能被理解为限制 了本发明范围，本发明的保护范围由随附的权利要求书限定，任何在本发明权利要求基础 上的改动都是本发明的保护范围。
权利要求
多光谱动态调制传递函数测量方法，其特征在于该方法包括下列步骤步骤一、静态测量使多光谱刀口分划靶板(2)和振动台(4)静止，多光谱刀口分划靶板(2)在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得到静态调制传递函数MTFi；步骤二、动态测量，包括以下三种方式，并且可以根据测试需求选择一种或两种或三种测量(a)使多光谱刀口分划靶板(2)运动，振动台(4)静止，多光谱刀口分划靶板(2)在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得到动态目标整体调制传递函数MTFo；(b)使多光谱刀口分划靶板(2)静止，振动台(4)振动，多光谱刀口分划靶板(2)在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得到动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe；(c)使多光谱刀口分划靶板(2)运动，振动台(4)振动，多光谱刀口分划靶板(2)在被测光电成像系统(7)上成像，被测光电成像系统(7)得到的图像经过计算机处理后得到动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFs；步骤三、计算(d)将步骤二中(a)得到的动态目标整体调制传递函数MTFo与步骤一得到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态目标调制传递函数，如公式①所示 <mrow><msub> <mi>DMTF</mi> <mi>o</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>o</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>i</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow></mfrac> </mrow>①(e)将步骤二中(b)得到的动态光电成像系统整体调制传递函数MTFe与步骤一得到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态光电成像系统调制传递函数DMTFe，如公式②所示； <mrow><msub> <mi>DMTF</mi> <mi>e</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>e</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>i</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow></mfrac> </mrow>②(f)将步骤二中(c)得到的动态目标和动态光电成像系统整体调制传递函数MTFs与步骤一得到的静态调制传递函数MTFi在对应频率处相除，得到所求的动态目标和动态光电成像系统调制传递函数DMTFs，如公式③所示 <mrow><msub> <mi>DMTF</mi> <mi>s</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>s</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow> <mrow><msub> <mi>MTF</mi> <mi>i</mi></msub><mrow> <mo>(</mo> <mi>f</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow></mfrac> </mrow>③
2. 根据权利l所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，其特征在于，还可以测量 不同时刻的多条动态目标调制传递函数曲线，取每一条曲线特定频率处的值，并按时间顺 序连接可以得到动态目标调制传递函数时间响应曲线。
3. 根据权利1所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，其特征在于，还可以测量 不同时刻的多条动态光电成像系统调制传递函数曲线，取每一条曲线特定频率处的值，并 按时间顺序连接可以得到动态光电成像系统调制传递函数时间响应曲线。
4. 根据权利l所述的多光谱动态调制传递函数的测量方法，其特征在于，还可以测量不同时刻的多条动态目标和动态光电成像系统调制传递函数曲线，取每一条曲线特定频率 处的值，并按时间顺序连接可以得到动态目标和动态光电成像系统调制传递函数时间响应 曲线。
5. —种多光谱动态调制传递函数的测量装置，包括计算机(6)，其特征在于还包括多 光谱刀口分划靶板(2)、准直系统(3)、振动台(4)，其中被测光电成像系统(7)固定在振动 台(4)上，被测光电成像系统(7)和计算机(6)通过数据传输线连接。
6. 根据权利5所述的多光谱动态调制传递函数的测量装置，多光谱刀口分划靶板(2) 可以做平移运动，其特征在于多光谱刀口分划靶板(2)也可以做旋转运动。
7. 根据权利5所述的多光谱动态调制传递函数的测量装置，其特征在于准直系统(3) 可以同时对可见和红外光束进行准直。
8. 根据权利5所述的多光谱动态调制传递函数的测量装置，其特征在于根据准直系 统(3)的不同结构，沿光线传播方向，可以依次放置多光谱刀口分划靶板(2)和准直系统 (3)，也可以依次放置准直系统(3)和多光谱刀口分划靶板(2)。
全文摘要
本发明属于光学成像测试领域，涉及一种多光谱动态调制传递函数测量方法与装置，可用于复合光电成像系统的动态性能测试。本发明中的多光谱刀口分划靶板经准直系统准直后，成像在固定于振动台的被测光电系统上，被测光电成像系统得到的刀口图像经计算机处理后可得到不同情况下的调制传递函数，再经计算得到所测试的动态调制传递函数。本发明通过平移或旋转多光谱刀口分划靶板模拟目标运动，使用振动台模拟武器平台的振动，测得的动态调制传递函数真实而全面，可用于评价复合光电成像系统在实际使用情况下的动态性能，具有极其重要的应用前景。
文档编号G01M11/02GK101718620SQ20091023743
公开日2010年6月2日 申请日期2009年11月6日 优先权日2009年11月6日
发明者沙定国, 田丽, 赵维谦, 邱丽荣, 黄旭 申请人:北京理工大学