三轴测斜仪校验台的制作方法

文档序号:5848566阅读:339来源:国知局
专利名称:三轴测斜仪校验台的制作方法
技术领域
本实用新型涉及检测设备领域,尤其涉及一种三轴测斜仪校验台。
背景技术
三轴测斜仪校验台是人们在油田深井探测过程中经常应用到的一种探测仪器。但 是现有的探测仪器往往都是一相可调节,存在使用不便的缺陷。

实用新型内容本实用新型第一目的在于提供一种三轴测斜仪校验台,其使用更加简便。本实用新型提供的一种三轴测斜仪校验台,包括可调节水平的圆柱形的底座,在所述圆柱形的底座端面上安装有底盘,在所述底 盘的外周标有刻度,在所述底盘的端面上设置有用于指示探管方向角的指针,在所述底盘上设置有垂直于所述底盘端面的两立柱,在所述两立柱的上端部设置 有台体,所述台体可沿本台体与所述两立柱的相交线为轴线旋转,所述轴线与所述底盘端 面平行,在所述机台的外周设置有刻度;在所述台体的中心安装有用于安装探管的卡夹,所述卡夹的轴线与所述台体的端
面垂直。可选地,本三轴测斜仪校验台的各部件均由无磁材料制成。可选地,在所述卡夹的表面设置有两段,所述两段V型槽的形状相同。由上可见,应用本实用新型实施例的技术方案,将探管安装在卡夹上,在调整的过 程中根据实际的场景旋转底座的水平位置以及角度,旋转台体,而带动卡夹旋转,从而可以 调整设置在卡夹上的探管的Z轴方向,以及Y轴位置。从而可以多角度地进行调整,方便人 们的使用。综上,应用本实施例技术方案,在测量时,用户可以利用底座的旋转以及水平调 节、机台的旋转实现三相调整,使得人们的使用更加方便。

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本申请的一部分, 并不构成对本实用新型的不当限定,在附图中图1为本实用新型实施例1提供的一种三轴测斜仪校验台的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型,在此本实用新型的示意 性实施例以及说明用来解释本实用新型,但并不作为对本实用新型的限定。实施例1 参见图1所示,本实施例提供的一种三轴测斜仪校验台,主要包括底座101、底盘 102、指针108、立柱103、台体104、卡夹105。[0016]其中,该底盘102为圆柱形,在该底盘102上设置有可以调整底盘102端面水平位 置、以及程度的调整装置,在底座101的外周标有刻度106(0-359度)。在底座101端面上 安装有底盘102,在使用的过程中可以通过调整底座101的水平而调整底盘102的水平,在 底盘102的端面上设置有用于指示探管方向角的指针108,在测量的过程中可以使用指针 108以及底座101上的刻度106而标示探管的方位角(相对式绝对角)。该两立柱103设置于底盘102端面上,与底座101端面相垂直,台体104设置于两 立柱103的上方,位于两立柱103之间,且台体104可以沿本台体104与两立柱103的相交 线为轴线旋转,轴线与所述底盘102端面平行,在该台体104的外周设置有刻度106(0-359 度)。在台体104的中心安装有卡夹105,卡夹105的轴线与台体104的端面垂直,该卡夹 105用于安装探管。本三轴测斜仪校验台的工作原理是,将探管安装在卡夹105上,在调整的过程中 根据实际的场景旋转底座101的水平位置以及角度,旋转台体104,而带动卡夹105旋转,从 而可以调整设置在卡夹105上的探管的Z轴方向,以及Y轴位置。从而可以多角度地进行 调整,方便人们的使用。由上可见,应用本实施例技术方案,在测量时,用户可以利用底座101的旋转以及 水平调节、机台的旋转实现三相调整,使得人们的使用更加方便。另外,在本实施例中,本三轴测斜仪校验台的各部件可以均由无磁材料制成,这样 能够避免由于油田深井的地磁、以及其他的电磁干扰而导致其测量精度受到影响,有利于 提高测量的精确性。在本实施例中可以在卡夹的表面设置两段形状相同的V型槽109,在安装探管时, 使得探管与该两段V型槽109完全吻合,使用压紧螺钉将该探管固定在该卡夹上,使得该探 管与卡夹的轴线相重合。其中本实施例的刻度106盘采用无磁光栅刻度106盘,卡夹采用差分技术。以上对本实用新型实施例所提供的技术方案进行了详细介绍,本文中应用了具体 个例对本实用新型实施例的原理以及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只适用于帮 助理解本实用新型实施例的原理;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本实用新型实施 例,在具体实施方式
以及应用范围上均会有改变之处,均属于本专利的保护范围。
权利要求一种三轴测斜仪校验台,其特征是,包括可调节水平的圆柱形的底座,在所述圆柱形的底座端面上安装有底盘,在所述底盘的外周标有刻度,在所述底盘的端面上设置有用于指示探管方向角的指针,在所述底盘上设置有垂直于所述底盘端面的两立柱,在所述两立柱的上端部设置有台体,所述台体可沿本台体与所述两立柱的相交线为轴线旋转,所述轴线与所述底盘端面平行,在所述机台的外周设置有刻度;在所述台体的中心安装有用于安装探管的卡夹,所述卡夹的轴线与所述台体的端面垂直。
2.根据权利要求1所述的三轴测斜仪校验台,其特征是, 本三轴测斜仪校验台的各部件均由无磁材料制成。
3.根据权利要求1所述的三轴测斜仪校验台,其特征是, 在所述卡夹的表面设置有两段,所述两段V型槽的形状相同。
专利摘要本实用新型涉及检测设备领域,公开了一种三轴测斜仪校验台。其包括可调节水平的圆柱形的底座,在圆柱形的底座端面上安装有底盘,在底盘的外周标有刻度,在底盘的端面上设置有用于指示探管方向角的指针,在底盘上设置有垂直于底盘端面的两立柱,在两立柱的上端部设置有台体,台体可沿本台体与两立柱的相交线为轴线旋转,轴线与底盘端面平行,在机台的外周设置有刻度;在台体的中心安装有用于安装探管的卡夹,卡夹的轴线与台体的端面垂直。其使用更加简便。
文档编号G01C9/02GK201589611SQ20092006132
公开日2010年9月22日 申请日期2009年7月28日 优先权日2009年7月28日
发明者佘磊 申请人:北京深度科技有限责任公司
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