专利名称：单片机测温电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种单片机，尤其涉及一种利用单片机I/O接口进行温度测量的 温度检测电路。
技术背景单片机是一种集成在电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能 力的中央处理器CPU随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O 口和中断系统、定时器/计 时器等功能(可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电 路)集成到一块硅片上构成的一个小而完善的计算机系统。单片机在电子产品中的应用越来越广泛，在很多的电子产品中也用到了温度检测 和温度控制，但那些温度检测与控制电路通常较复杂，成本相对来说也较高
实用新型内容
本实用新型的目的是用来弥补现有技术电子产品中进行温度检测与控制电路较 复杂、成本高的不足，而提供一种接在单片机I/O接口上用于测量相关温度的温度测量电路。为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下单片机测温电路，其主要由单片机、瓷介电容(C1)、精密电阻(Rk)、热敏电阻(Rt) 以及普通电阻(R1)组成，所述瓷介电容(C1) 一端接地，另端分别与精密电阻(RK)、热敏电阻 (Rt)以及普通电阻(R1)的一端串接，所述精密电阻(Rk)、热敏电阻(Rt)以及普通电阻(R1) 的另端分别连接在单片机不同I/O接口上。所述瓷介电容(C1)的电容为0. 1 μ，精密电阻(Rk)、热敏电阻(Rt)以及普通电阻 (R1)的电阻均为IOOK0本实用新型单片机测温电路，结构简单制造方便并且生产制造成本较低，易于实 现，适用于几乎所有类型的单片机。
以下结合附图和具体实施方式
来进一步说明本实用新型。图1为本实用新型电路连接图图2为本实用新型工作流程图
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下 面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。如图1所示单片机测温电路，其主要由单片机100、瓷介电容(^、精密电阻Rk、热 敏电阻Rt以及普通电阻R1组成，瓷介电容C1 一端接地，另端分别与精密电阻Rk、热敏电阻Rt以及普通电阻R1的一端串接，所述精密电阻Rk、热敏电阻Rt以及普通电阻R1的另端分别 连接在单片机100不同I/O接口上。在图1中屮1.011.1和？1.2是单片机100的3个1/0接口 ；其中精密电阻Rk为 100K的精密电阻；热敏电阻Rt为100K-精度为的热敏电阻；R1为100K的普通电阻；Ci 为0. 1μ的瓷介电容。其工作原理如下(1)、先将？1.0、卩1. 1、Pl. 2都设为低电平输出，使电容C1放电至放完；(2)、将Pl. 1、Ρ1. 2设置为输入状态，Ρ1.0设为高电平输出，通过精密电阻Rk电阻 对电容C1充电，单片机100内部计时器清零并开始计时，检测Pl. 2 口状态，当Ρ1.2 口检测 为高电平时，即电容C1上的电压达到单片机100高电平输入的门嵌电压时，单片机100计 时器记录下从开始充电到Pl. 2 口转变为高电平的时间Tl ；(3)、将Pl. 0、Pl. 1、Pl. 2都设为低电平输出，使电容C1放电至放完。再将Ρ1.0、 Pl. 2设置为输入状态，Pl. 1设为高电平输出，通过热敏电阻Rt电阻对电容C1充电，单片机 100内部计时器清零并开始计时，检测Pl. 2 口状态，当Pl. 2 口检测为高电平时，单片机100 计时器记录下从开始充电到Pl. 2 口转变为高电平的时间Τ2。从电容的电压公式Vc = Vo(l-e-勺可以得至Ij:T1/RK = T2/RT,即 RT = T2XRK/T1。通过单片机100计算得到热敏电阻Rt的阻值，并通过查表法可以得到其温度值。 当单片机100选用4M工作频率，精密电阻Rk、热敏电阻Rt均为精度的电阻时，温度误差 可以做到小于1°C。如果Pl. 2具有外部上升沿中断的功能，程序可以更简单，效果更好，如 图2为单片机工作的程序流程图。以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行 业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述 的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还 会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型 要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
权利要求单片机测温电路，其特征在于，其主要由单片机、瓷介电容(C1)、精密电阻(RK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)组成，所述瓷介电容(C1)一端接地，另端分别与精密电阻(PK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)的一端串接，所述精密电阻(RK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)的另端分别连接在单片机不同I/O接口上。
2.根据权利要求1所述的单片机测温电路，其特征在于，所述瓷介电容(C1)的电容为 0. Iy，精密电阻(Rk)、热敏电阻(Rt)以及普通电阻(R1)的电阻均为100Κ。
专利摘要本实用新型公开了一种单片机测温电路，其主要由单片机、瓷介电容(C1)、精密电阻(RK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)组成，所述瓷介电容(C1)一端接地，另端分别与精密电阻(RK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)的一端串接，所述精密电阻(RK)、热敏电阻(RT)以及普通电阻(R1)的另端分别连接在单片机不同I/O接口上。本实用新型单片机测温电路，结构简单制造方便并且生产制造成本较低，易于实现，适用于几乎所有类型的单片机。
文档编号G01K7/22GK201688926SQ201020208449
公开日2010年12月29日 申请日期2010年5月27日 优先权日2010年5月27日
发明者张超 申请人:上海纳杰电气成套有限公司