专利名称：一种接地电容的rc常数测量方法
技术领域：
本发明涉及一种基于接地电容电路结构的RC常数测量方法，一般应用于微小电阻电容常数检测，如滤波器检测RC常数值大小并对其有效校正的电路装置。
背景技术：
目前，在模拟滤波器设计中，滤波器的转角频率，它与电阻电容的乘积成反比。对特定的滤波器，其RC (电阻电容)常数应是恒定的。片上集成的滤波器一般分为有源RC (电
1
阻电容)和Qf (跨导电容)两种结构。Q 结构实现跨导时一般使用电阻，使Gs = -ο由
歷S&
于片上电阻电容一般会有10% 25%的偏差，影响滤波器的转角频率高达士50%。需要对滤波器的转角频率进行校正，使其偏差小于士5%，过渡带和带外抑制才能满足要求。我们一般使用开关电阻或开关电容实现滤波器频率校正，随滤波器实现的结构而不同。在有源RC
滤波器中一般使用开关电容阵列，而在G1CJ滤波器中一般使用开关电容阵列，调节原理完
全一致。因此滤波器的校正需要对RC常数作准确的测量。RC常数的测量方法很多，对于不同RC常数结构，可采用不用的测量方法，本发明基于接地电容为RC常数的电路结构，把RC常数转换为脉冲宽度，采用数字电路而实现的一种针对接地电容为RC常数的测量方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电路结构简单，测量方便准确，精度可控的接地电容的RC常数测量方法。为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为一种接地电容的RC常数测量方法，包括接地电容电路模块和7^#4 测量模块
所述的接地电容电路模块作用为实现RC常数与比较器输出RCOUT时间长度的比例关系，电路具体工作状态转换及T^fii计算如下
1)在to时刻，幵关Sl闭合，复位电路，此时■(F3 =0)<fr RCOUT输出为低，流过电阻
Rl电流为 r V1
“Rl
2)在tl时刻，开关Sl断开，复位过程结束，流过电阻Rl电流I通过Cl，有
此时电容Cl充电，电压上升，最终导致厂3 > V2,比较器输出翻转，RCOUT由低电平转为高电平，由开关Sl断开到RCOUT电平变高这一过程，由(1)式与(2)式可得，时
权利要求
1. 一种接地电容的RC常数测量方法，其特征在于，包括接地电容电路模块(105)和量模块(201)；所述的接地电容电路模块作用为实现RC常数与比较器(101)输出RCOUT时间长度 )的比例关系，电路具体工作状态转换及7^_计算如下1)在to时刻，开关Sl(102)闭合，复位电路，此时1J V1 = 0} < Vv RCOUT输出为低，流过电阻Rl (103)电流为
2.按照权利要求1所述的一种接地电容的RC常数测量方法，其特征在于，还包括RC电路校正，校正过程分为两步初始化(301)和搜索较正(302)；初始化时，送出RC常数!^_测量模块电路的校正上电信号(PWR_RCTUNE) (401)和复位开关信号(RST) (402)，上电信号(401)应比复位开关信号(402)提前一定周期，以使接地电容电路模块首先开始工作，复位开关信号送出后即开始CNT计数器(404)计数；搜索校正时，通过公式(6)可得预设参考计数值％喷γ .,通过使用较高频率ref的数字时钟实现测量实际N值与参考 值比较，根据比较结果并调整电容阵列，改变RC取值大小，直到使RC取值最大地接近预设的R1*C1取值。
3.按照权利要求1所述的一种接地电容的RC常数测量方法，其特征在于所述的接地电容做成可调控阵列形式，电容阵列调整使用二进制搜索算法。
4.按照权利要求3所述的一种接地电容的RC常数测量方法，其特征在于所述的二进制搜索算法分为3个阶段初始化、向下搜索、左右搜索；ι)初始化时，开关电容阵列的最高位置1，其它位置0，使其处于中间值，对I1wwtf测量模块电路输出的脉冲宽度(RCOUT) (403)进行计数；2)向下搜索(502)时，对计数值进行判断，若小于预设值，则表明当前电容值偏小，此时当前搜索位不变(为1)，把下一搜索位置1 ；否则表明电容值偏大，当前搜索位置0，把下一搜索位置1后开始下一次搜索，直至最低位方向确定；3)左右搜索(503)时，在向下搜索过程确定的电容阵列的左右进行搜索，确定左、右、当前三个状态中计数误差最小的设置；假设电容阵列共有N位，则共需N+2次搜索，每次搜索时间均相同。
全文摘要
本发明公开了一种接地电容的RC常数测量方法。本发明基于接地电容为RC常数的电路结构，把RC常数转换为脉冲宽度，采用数字电路而实现的一种针对接地电容为RC常数的测量方法。本方法实现了接地电容RC常数的测量及其在电路中的校正。接地电容电路模块简单地实现了RC常数与时间常数的转换，为采用数字电路测量及校正提供条件，数字电路校正RC常数方便灵活，二进制搜索算法使校正速度得到较大地提高。该方法能较好地应用于接地电容电路结构中RC常数测量及校正。
文档编号G01R27/04GK102226823SQ20111008215
公开日2011年10月26日 申请日期2011年4月1日 优先权日2011年4月1日
发明者刘松艳, 方敏, 李正平, 黄伟朝 申请人:广州润芯信息技术有限公司