专利名称：一种触摸屏银线印刷质量的检验方法
技术领域：
本发明涉及触摸屏制造过程中的检验，特别涉及一种触摸屏银线印刷质量的检验方法。
背景技术：
随着触摸屏在科技、商业以及日常生活的广泛应用，触摸屏的制造厂家在近几年也日益增多。尤其在高精确度，边框尺寸较窄的触摸屏应用日益广泛，触摸屏制造商也在加强对高精确度触摸屏的生产。众所周知，ITO (氧化铟锡)薄膜银线的印刷质量将直接影响到触摸屏最终的质量。对于高精度窄边距的触摸屏的印刷，银线的宽幅是关键，在同等的距离下，银线的宽幅越窄，可容纳银线的数量也越多，精度随之增高；反之，银线越宽，银线的数量越少，精度下降。为保证较细线径的银线的印刷质量，不仅要在印刷上下功夫，更要在银线印刷后的检验上要加强。即便较大线径的银线在检验时同样不是很容易，一般普通的银线线径大多在0. Imm左右，银线之间的间距也在0. Imm左右，我们只凭肉眼之间检查难度很大。如果线径的尺寸减小，对于检验难度会更加增大，随之带来的误判，漏判也会增多，这也给触摸屏的最终质量带来隐患。
发明内容
为解决上述所涉及的检验难度问题，本发明提供一种触摸屏银线印刷质量的检验方法。该方法特别针对ITO薄膜较细线径银线的印刷质量检验。本发明是通过这样的技术方案实现的一种触摸屏银线印刷质量的检验方法，其特征在于采用照明光源为冷光源，且表面带有均勻板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均勻性及高照度；根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜，以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在 15cm以内，便于移动；将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上；采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。本发明所产生的有益效果是采用本检验方法，提高了检验准确率，方法便捷，可操作性强，解决了传统检验方式操作难度大的问题。由此提高了检验工序的效率，同时提高了触摸屏成品质量。
具体实施例方式为了更清楚的理解本发明，以下对本发明作进一步说明。为避免在检验以及运输过程中的污染，也避免在检验过程中放大镜对于银线的划伤，ITO薄膜在印刷银浆并经过烘烤后应覆上一层保护膜。此保护膜的厚度应控制在IOOum以内，具有较高的透明度和很低的粘性，并且此保护膜在最终揭掉后，不应有残胶(即胶转移现象)。另外此保护膜应具有很高的洁净度，避免污染ITO薄膜。本检验方法步骤如下将银浆印刷后的ITO薄膜平放到观片器上；采用18倍以上
3的放大镜，且将放大镜放到ITO薄膜上进行检验。1.采用照明光源为冷光源，且表面带有均勻板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均勻性及高照度。2. 根据ITO薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于ITO 薄膜，观片器的整体尺寸应参考常用ITO薄膜的大小，照明面积最好要比ITO薄膜略大，以增强对于ITO薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在15cm以内，便于移动。3.将银浆印刷后的ITO薄膜平放到观片器上。4.采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到ITO薄膜上直接用肉眼进行检验。用专业观片器作为背景光源，观片器一般采用冷光源作为照明光源，冷光源具有光照均勻，照度强等优点。采用较薄的观片器可增强移动的能力，可随时随地的进行检验。 将印刷银线后的ITO薄膜放在观片器上，利用18倍以上的放大镜即可准确地进行检验。
权利要求
1. 一种触摸屏银线印刷质量的检验方法，其特征在于采用照明光源为冷光源，且表面带有均勻板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均勻性及高照度；根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜，以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在15cm以内，便于移动；将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上；采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。
全文摘要
本发明涉及一种触摸屏银线印刷质量的检验方法。本方法采用照明光源为冷光源，且表面带有均匀板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均匀性及高照度；根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜，以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在15cm以内，便于移动；将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上；采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。采用本检验方法，提高了检验准确率，方法便捷，可操作性强，解决了传统检验方式操作难度大问题。由此提高了检验工序的效率，同时提高了触摸屏成品质量。
文档编号G01N21/88GK102323270SQ201110273540
公开日2012年1月18日 申请日期2011年9月15日 优先权日2011年9月15日
发明者孙小天, 王冬梅, 王磊, 赵勇 申请人:天津市中环高科技有限公司