专利名称：恒流源装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种恒流电压装置，尤其是涉及一种恒流源装置。
背景技术：
恒流源设备作为电路的一个主要组件被广泛运用于各种领域中。然而随着时间的推移，早期出产的恒流源设备已经出现了不同程度的老化现象，这就导致了在诸如电阻率等测量过程中测试精度和稳定度大大减小，误差偏大，因此不能满足现阶段的测试要求。为了解决上述问题，可以通过两种方法来解决1.更换现有恒流源设备中的老化元器件，通过此种方法虽然恒流源设备的功能得到完善，但是测试精度和稳定度偏低，误差还是较大，并且高阻多晶硅电阻率没法测试；2.购置新的恒流源设备，由于新出产的恒流源设备直接采用交流供电，受外界信号干扰较大，因此对测试环境要求比较严格，购置仪器费用高，并且由于都采用集成的元器件而导致维修难度较大。综上所述，希望能在原有恒流源设备的基础上进行设计来克服上述问题。
实用新型内容本实用新型克服了现有技术中的缺点，提供了一种恒流源装置，能够增加电流表的测量精度。本实用新型的技术方案是一种恒流源装置，包括晶体管电路，晶体管电路分别与电流表和直流电压源相连接，所述电流表具有至少两个量程。在每个量程上设置有发光二极管；在所述电流表与晶体管电路之间设置有电流方向转换开关；所述直流电压源为90V干电池；所述电流表的表头显示采用LED数码显示器。与现有技术相比，本实用新型的优点是1、通过并联电阻分流的方法，将原有恒流源设备中50uA量程的电流表扩展成具有6个量程(即1 uA、10 uAUOO uA、l mA、10 mAUOO mA)，并且6个量程的选择可以由选择开关实现，从而满足了对高低硅材料电阻率的测试，扩大了其测量范围并且增加了测试精度；与国内厂商生产的仪器相比，该恒流源具有纹波干扰小，测试稳定性高的特点，能够测量高阻半导体材料，达1*106 Ω . cm ；2、通过采用LED数码显示器代替电流表的数值显示功能，从而减小读数误差，提高测量的准确度；3、由于采用了与晶体管电流相连接的电流方向转换开关来改变探针1和探针4的电流方向，因此可以判断出硅材料中的混合型区域以及将换向前后所测电阻率求平均值， 从而进一步提高测试的准确性；4、采用了 6个发光二极管与6个量程相连接，在选择量程档位时对应的发光二极管发光，这使得操作更加直观明显；5、采用单独的90V干电池供电，受外界环境干扰小，从而使得测试更加稳定；6、内部电路由大量的分离元器件构成，而不是高度集成的元器件，所以维修难度[0014]7、目前购置一台新出产的恒流源装置需要1万元左右，而改装一台现有恒流源装置的成本只有1500元左右，故降低了成本费用。
本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中图1是本实用新型的电路构型图。
具体实施方式
一种恒流源装置，如图1所示，包括晶体管电路，晶体管电路分别与电流表和直流电压源相连接，电流表的表头通过并联分流电阻扩展成具有多个量程的电流表，各量程的选择通过拨导开关实现；在每个量程上设置有发光二极管，用于对各量程档位的显示，使得操作更直观明显；在档位上设置有数字电压表校零档即0档，用于减小测量误差；在电流表的表头上设置有粗、细调旋钮对表头电流显示效准；电流I、电阻率P和数字电压表校零档均通过拨导开关切换。电流表的正极输入端和负极输入端分别与所述晶体管电路的正极输出端和负极输出端相连接。在电流表和晶体管电路之间设置有电流方向转换开关；所述直流电压源是90V干电池。电流表的表头显示可采用LED数码显示器，以减小读数误差，提高测量的准确度。本恒流源采用了两级稳压管为偏置电压，这样提高基极电压的稳定，使晶体管的流入基级电流Λ恒定不变，集电极电流Ic也恒定不变，从而起到了恒流的作用。本实用新型的主要技术指标如下①电流输出直流电流(TlOOmA并且连续可调②量程luA、10 μ Α、100 μ A、1mA、10mA、IOOmA③仪器的稳定度彡0.5%、测试电阻率10_3彡P彡IO60
权利要求1.一种恒流源装置，包括晶体管电路，晶体管电路分别与电流表和直流电压源相连接， 其特征在于所述电流表具有至少两个量程。
2.根据权利要求1所述的恒流源装置，其特征在于在每个量程上设置有发光二极管。
3.根据权利要求1所述的恒流源装置，其特征在于在所述电流表与晶体管电路之间设置有电流方向转换开关。
4.根据权利要求1所述的恒流源装置，其特征在于所述直流电压源为90V干电池。
5.根据权利要求1所述的恒流源装置，其特征在于所述电流表的表头显示采用LED 数码显示器。
专利摘要本实用新型公开了一种恒流源装置，包括晶体管电路，晶体管电路分别与电流表和直流电压源相连接，所述电流表具有至少两个量程。在每个量程上设置有发光二极管；在所述电流表与晶体管电路之间设置有电流方向转换开关；所述直流电压源为90V干电池；所述电流表的表头显示采用LED数码显示器。本实用新型的优点是能满足对高低硅材料电阻率的测试，扩大了测量范围并且增加了测试精度；受外界环境干扰小，从而使得测试更加稳定；维修难度小；降低了成本费用。
文档编号G01R1/28GK202093066SQ201120121859
公开日2011年12月28日 申请日期2011年4月23日 优先权日2011年4月23日
发明者张辉坚, 袁地发 申请人:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司