专利名称：一种手动接触式测量仪器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪器，具体涉及一种手动接触式测量仪器。
背景技术：
小长度测量在工业生产中运用于众多流水线上，而测量长度的测量仪器多数为手动接触式测量仪器，精确度无疑是手动接触式测量仪器使用中最大的难题。现有的手动接触式测量仪器多为固定测量杆或是带有百分表的固定长度测量杆，然后通过肉眼去辨识长度，而且，用于测量的测砧多为方形设计，这样的测量方法不仅难以把握测量尺度，而且耗时，工作效率得不到提高，影响工业生产。因此，提供一种精确度较高的手动接触式测量仪器成为工业成产中一大需求。
实用新型内容本实用新型的目的是针对上述背景技术中存在的问题，提供一种精确度较高的手动接触式测量仪器。为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种手动接触式测量仪器，包括测量杆、测量头和测量支架，所述测量支架固定于测量杆的两端，所述测量头分别为设于测量支架两端的千分表和微调结构，所述测量支架沿纵向方向设有至少一个定位孔，所述千分表和微调结构分别在同一水平面并固定于测量支架的定位孔上。优选的，所述的千分表和微调结构各具有一测砧，所述两个测砧均与测量杆平行， 且处于同一水平面上。优选的，所述测量支架内侧壁、测量杆两端的下方分别设有两根与测量杆平行的金属杆，所述四根金属杆同在一水平面内。优选的，所述千分表和微调结构的测砧顶端均为半球形。优选的，所述测量支架的底端设有一可旋转180°的旋转结构，所述旋转结构上设
有第一固定钮。优选的，所述微调结构为一壁厚千分尺的可调节部分，其上设有第二固定钮。优选的，所述的测量杆为内外螺纹卡和模式。本实用新型的优点是千分表和微调结构的数值精确到0.001mm，使得测量更加精确。而测砧的半球形设计，在测量过程中，不仅能够达到减小摩擦使数据更准确，而且由于摩擦减小，测砧的使用寿命得以延长。为方便被测量物在测量过程中保持平衡，使得测量更加准确，测量支架上设有与测量杆水平平行的四根金属杆，四根金属杆均处于同一水平面。而可旋转180的旋转结构的设置使得该测量仪器不仅可以测量被测物的外径和长度， 还可以测量被测物的内径。该手动接触式测量仪器的特点是使用寿命长，测量更精确。
[0013]图1是本实用新型的结构示意图；图2是本实用新型的测量头的截面示意图；图3是本实用新型的微调结构的俯视图；图4是本实用新型的结构的右视图；图5是实施例二结构示意图。图中标号为1、测量杆2、测量头3、测量支架4、千分表5、微调结构6、定位孔7、测砧8、金属杆9、旋转结构10、第一固定钮11、第二固定钮12、螺纹
具体实施方式
以下结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的描述说明。实施例一如图1-4所示，一种手动接触式测量仪器，包括测量杆1、测量头2和测量支架3，所述测量支架3固定于测量杆1的两端，其中测量杆1为固定测量长度的硬质杆。为了使测量更加精确，本实施例中测量头2采用千分表4和微调结构5，其中千分表4 和微调结构5的测砧7顶端均为球形。所述测砧7均与测量杆1平行，且处于同一水平面上。测砧7的半球形设计不仅能够达到减小摩擦使数据更准确，而且由于摩擦减小，测砧的使用寿命得以延长。为方便测量厚度不同的被测量物，如图2所示，测量支架3沿纵向方向设有至少一个定位孔6，所述千分表4和微调结构5分别通过定位孔6固定于测量支架3上，且千分表 4和微调结构5在同一水平面上。为了使被测量物在被测过程中保持平衡，测量支架3内侧壁、测量杆1下方，固定设有四根与测量杆1平行的金属杆8，所述金属杆8同在一水平平面内。测量时，将该手动接触式测量仪器架于被测量物的上端，即四根金属杆8同在被测量物上后，调节千分表4和微调结构5即可确定被测量物的长度。在测量较精确的前提下，快速读数也是工业生产率能否提高的关键。为方便读数， 微调结构5上设有第二固定钮11。如图3所示，测量前，先将微调结构5的数值固定在某一值后用第二固定钮11锁定，观测千分表4的数值，然后通过简单的计算即可得出被测物的长度值。除了测量被测物的长度和外径之外，测量被测物的内径也是工业测量中测量中必不可少的。为此，被实用新型在结构上也增添了一个可旋转180°的旋转结构9，旋转结构9 上设有第一固定钮10用于固定旋转结构9与测量杆1的相对位置。如图2、4所示，在测量支架3的中部分别设有两个可固定旋转180°的旋转结构9，测量内径时，将旋转结构9旋转180°，用第一固定钮10固定后，千分表4和微调结构5的测砧7转向外侧，如同测量外径一样，只需将该手动接触式测量仪器架于被测物之上即可进行测量。实施例二 如图5所示，一种手动接触式测量仪器，包括测量杆1、测量头2和测量支架3，与实施例一不同的是，为了测量更多长度不同的被测量物，本实施例中测量杆1采用可伸缩性设计，测量杆1中内部采用内外螺纹12卡和方式，通过螺纹12按比例固定伸缩，测量过程与实施例一相同，这里不再赘述。以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种手动接触式测量仪器，包括测量杆⑴、测量头⑵和测量支架(3)，所述测量支架(3)固定于测量杆(1)的两端，其特征在于，所述测量头(2)分别为设于测量支架(3)两端的千分表(4)和微调结构(5)，所述测量支架C3)沿纵向方向设有至少一个定位孔(6)， 所述千分表(4)和微调结构(5)分别在同一水平面并固定于测量支架(3)的定位孔(6)上。
2.如权利要求1所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述的千分表(4)和微调结构( 各具有一测砧(7)，所述两个测砧(7)均与测量杆(1)平行，且处于同一水平面上。
3.如权利要求1所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述测量支架C3)内侧壁、测量杆(1)两端的下方分别设有两根与测量杆(1)平行的金属杆(8)，所述四根金属杆 (8)同在一水平面内。
4.如权利要求2所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述千分表(4)和微调结构(5)的测砧(7)顶端均为半球形。
5.如权利要求1所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述测量支架的中部设有一可旋转180°的旋转结构(9)，所述旋转结构(9)上设有第一固定钮(10)。
6.如权利要求1所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述微调结构(5)为一壁厚千分尺的可调节部分，其上设有第二固定钮(11)。
7.如权利要求1-6任意一项所述的一种手动接触式测量仪器，其特征在于，所述的测量杆(1)为内外螺纹(12)卡和模式。
专利摘要本实用新型公开了一种测量仪器，尤其涉及一种手动接触式测量仪器。该手动接触式测量仪器包括测量杆、测量头和测量支架，其中测量支架固定于测量杆的两端。所述的测量头分别为设于测量支架两端的千分表和微调结构，所述的测量支架沿纵向方向设有至少一个定位孔，所述千分表和微调结构分别在同一水平面并固定于测量支架的定位孔上。使用该手动接触式测量仪器测量时，操作简单，测量数据更为精确。
文档编号G01B5/02GK202216633SQ201120327099
公开日2012年5月9日 申请日期2011年9月2日 优先权日2011年9月2日
发明者张玉侠 申请人:张玉侠