专利名称：微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法
技术领域：
本发明涉及ー种数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，特别涉及ー种微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法。
背景技术：
微处理器是ー种广泛应用的集成电路，一般都有许多数字输入输出端ロ。其中输出端ロ往往有几种输出方式，如弱上拉、推挽和开漏。其中位于端口下边的场效应管是主要工作开关，其它场效应管均可以看成其有源负载。这个工作开关的性能好坏决定着输出端ロ是否能够正常工作。微处理器数字输入输出端ロ在处于输出方式下经常在使用中不知不觉损坏，其中 主要是内部端口内工作开关的损坏。这样就容易造成正在使用该端ロ的系统出现不良性能，而使用者不能准确确定是否是微处理器数字输入输出端口内工作开关损坏。
发明内容
本发明目的是为了解决使用者不能准确确定是否是微处理器数字输入输出端ロ内工作开关损坏的问题，提出了 ー种微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法。本发明的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，该方法是基于微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置实现的，所述微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置包括M组检测装置、电阻R、直流电压源和开关S ；检测装置包括N沟道MOS管和发光二极管D ；发光二极管D的阴极接检测装置的供电电源的正极，发光二极管D的阳极接N沟道MOS管的漏极；M组检测装置的N沟道MOS管的栅极同时接开关S的一端，开关S的另一端接电阻R的一端，电阻R的另一端接直流电压源的正极，直流电压源的负极接检测装置的供电电源的负极，M组检测装置的N沟道MOS管的源极为检测装置的检测端ロ ；基于上述装置的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，它包括如下步骤步骤ー将微处理器的每ー个待测数字输入输出端ロ与一个检测装置的检测端ロ连接，检测装置的供电电源的正极接微处理器的供电电源正极，检测装置的供电电源的负极接微处理器的供电电源负极；步骤ニ 在微处理器中，嵌入程序，将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式；步骤三闭合开关S，观察每个检测装置中发光二极管D的状态，判断待测数字输入输出端ロ的工作状态，若发光二极管D亮，则该检测装置对应的数字输入输出端ロ的エ作状态正常；否则，该检测装置对应的数字输入输出端ロ损坏。本发明的优点在干在微处理器的数字输入输出端口上，除了连接本发明的装置夕卜，没有连接其它外部使用连接的情况下，用本发明的方法将数字输入输出端ロ设置为输出方式的开漏状态，闭合开关S，如果发光二极管亮，则其内部的主要工作开关是良好状态的，如果发光二极管不亮，则其内部的主要工作开关是已损坏断开。通过发光二极管的状态，使用者能准确判定微处理器数字输入输出端口内工作开关是否损坏。
图I为本发明的微处理 器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置的结构示意图。图2为本发明的工作原理示意图。
具体实施例方式具体实施方式
一结合图I和图2说明本实施方式，本发明的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，该方法是基于微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置实现的，所述微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置包括M组检测装置
I、电阻R、直流电压源和开关S ;检测装置I包括N沟道MOS管和发光二极管D，发光二极管D的阴极接检测装置I的供电电源的正极，发光二极管D的阳极接N沟道MOS管的漏极；M组检测装置I的N沟道MOS管的栅极同时接开关S的一端，开关S的另一端接电阻R的一端，电阻R的另一端接直流电压源的正极，直流电压源的负极接检测装置I的供电电源的负极，M组检测装置I的N沟道MOS管的源极为检测装置I的检测端ロ ；基于上述装置的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，其特征在干，它包括如下步骤步骤ー将微处理器2的每ー个待测数字输入输出端ロ与一个检测装置I的检测端ロ连接，检测装置I的供电电源的正极接微处理器2的供电电源正极，检测装置I的供电电源的负极接微处理器2的供电电源负极；步骤ニ 在微处理器2中，嵌入程序，将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式；步骤三闭合开关S，观察每个检测装置I中发光二极管D的状态，判断待测数字输入输出端ロ的工作状态，若发光二极管D亮，则该检测装置I对应的数字输入输出端ロ的工作状态正常；否则，该检测装置I对应的数字输入输出端ロ损坏。本实施例可以同时检测微处理器2的多个数字输入输出端ロ，开关S闭合时，检测装置I导通，而开关S关断吋，M组检测装置I断开。在输出开漏状态下，其内部的主要工作开关可以外接漏极负载，因而其通断状态可以通过外接漏极负载电路反应出来。闭合开关S后，会有这样的结果如果其内部的主要工作开关是良好状态的，则本发明的装置中的发光二极管D会点亮，而如果是内部的主要工作开关已损坏断开，则本发明的装置中的发光二极管D不会点亮。据此可判断数字输入输出端ロ内部的主要工作开关的性能好坏。
具体实施方式
ニ 本实施方式是对具体实施方式
ー的进ー步说明，步骤三中，将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式的过程为步骤I :对微处理器2的各部件初始化；步骤2 :将待测数字输入输出端ロ设置为输出方式；步骤3 :将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式。 在微处理器2的数字输入输出端口上，除了连接本发明的装置之外，没有连接其它外部使用连接的情况下，将数字输入输出端ロ设置为输出方式的开漏状态。
权利要求
1.ー种微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，该方法是基于微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置实现的，所述微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测装置包括M组检测装置(I)、电阻R、直流电压源和开关S ； 检测装置(I)包括N沟道MOS管和发光二极管D ； 发光二极管D的阴极接检测装置(I)的供电电源的正极，发光二极管D的阳极接N沟道MOS管的漏极； M组检测装置(I)的N沟道MOS管的栅极同时接开关S的一端，开关S的另一端接电阻R的一端，电阻R的另一端接直流电压源的正极，直流电压源的负极接检测装置(I)的供电电源的负极，M组检测装置(I)的N沟道MOS管的源极为检测装置(I)的检测端ロ ； 基于上述装置的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，其特征在干， 它包括如下步骤 步骤ー将微处理器(2)的每ー个待测数字输入输出端ロ与一个检测装置(I)的检测端ロ连接，检测装置(I)的供电电源的正极接微处理器(2)的供电电源正极，检测装置(I)的供电电源的负极接微处理器(2)的供电电源负极； 步骤ニ在微处理器(2)中，嵌入程序，将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式； 步骤三闭合开关S，观察每个检测装置(I)中发光二极管D的状态，判断待测数字输入输出端ロ的工作状态，若发光二极管D亮，则该检测装置(I)对应的数字输入输出端ロ的工作状态正常；否则，该检测装置(I)对应的数字输入输出端ロ损坏。
2.根据权利要求I所述的微处理器数字输入输出端ロ的工作状态的检测方法，其特征在于，待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式的过程为 步骤I :对微处理器(2)的各部件初始化； 步骤2 :将待测数字输入输出端ロ设置为输出方式； 步骤3 :将待测数字输入输出端ロ设置为开漏输出方式。
全文摘要
微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法，涉及一种数字输入输出端口的工作状态的检测方法，为了解决使用者不能准确确定是否是微处理器数字输入输出端口内工作开关损坏的问题。该方法是基于一种装置实现的；该装置包括M组检测装置，检测装置包括N沟道MOS管和发光二极管；发光二极管D接N沟道MOS管的漏极，N沟道MOS管的源极为检测装置的检测端口，开关S控制M组检测装置的工作状态；该方法将待测数字输入输出端口与一个检测装置的检测端口连接；将待测数字输入输出端口设置为开漏输出方式；闭合开关S，根据发光二极管D的状态，判断相应的待测数字输入输出端口的工作状态。它用于检测微处理器数字输入输出端口的工作状态。
文档编号G01R31/327GK102621487SQ20121010808
公开日2012年8月1日 申请日期2012年4月13日 优先权日2012年4月13日
发明者王丁 申请人:黑龙江大学