专利名称：红外热像仪非均匀性评价装置的制作方法
技术领域：
本发明属于红外热像仪性能评价装置，特别是一种红外热像仪的非均匀性评价装置。
背景技术：
红外热成像系统普遍具有严重的非均匀性，影响成像系统的性能。为了降低成像系统的非均匀性，各种各样的非均匀性校正算法被提出来，并取得了较好的效果。为了选择具有较低非均匀性的成像系统，对热成像系统的非均匀性进行评价就显得极为重要。非均匀性评价标准至少要满足几个要求1、评价标准具有客观性，即其能够真正反映系统的非均匀性水平；2、评价标准具有全面性，即其能够反应成像系统工作全部测量范围的非均匀性水平。当前对非均匀性指标的评价方法较多，其中有国家提出的非均匀性指标评价国家标准(GB / T 17444.红外焦平面阵列特性参数测试技术规范，(1998))。定义为
权利要求
1.一种红外热像仪非均匀性评价装置，包括可调温黑体(I)、待测试红外热像仪(2)、NI信号采集系统(3)和光学平台(4)，其特征在于可调温黑体(I)、待测试红外热像仪(2)和NI信号采集系统(3)均放置于光学平台(4)上，且待测试红外热像仪(2)的光轴对准可调温黑体(I)的中心，可调温黑体(I)能够通过手动方式调节黑体温度；可调温黑体(I)为待测试红外热像仪(2)提供不同温度的标准黑体源，待测试红外热像仪(2)对可调温黑体(I)成像，输出的红外视频通过BNC接口连接到NI信号采集系统(3)上，并进入NI信号采集系统(3)，调节可调温黑体(I)的黑体温度，NI信号采集系统(3)则获得不同黑体温度的红外图像；NI信号采集系统(3)根据不同温度的数据计算出待测试红外热像仪(2)的非均匀性，并将该非均匀性数据绘制成非均匀性-可调温黑体温度的曲线。
2.根据权利要求I所述的一种红外热像仪非均匀性评价装置，其特征在于所述的NI信号采集系统(3)操作界面由Iavbiew软件编写，界面包括黑体温度设置框(5)、开始采集数据按钮(6)、清除数据按钮(7)、计算非均匀性曲线按钮(8)、非均匀性曲线及数据存储按钮(9)、非均匀性曲线显示区(10)和非均匀性数据显示区(11)共7个部；其中，界面中的黑体温度设置框(5)用来设定当前可调温黑体(I)的温度，该设置的目的是通知NI信号采集系统(3)当前可调温黑体(I)的温度，便于后续数据的存储和计算；当可调温黑体(I)的温度被调整后，黑体温度设置框(5)的温度也需要随时更新；开始采集数据按钮(6)被执行时，NI信号采集系统(3)对当前的待测试红外热像仪(2)输出的模拟数据进行采集，并将该数据记录；清除数据按钮(7)则是在获取待测试红外热像仪(2)输出的模拟信号失败，或者该组数据需要被清除时，通过该按键将数据清除；计算非均匀性曲线按钮(8)则是在获得多组待测试红外热像仪(2)的模拟信号后进行非均匀性曲线的计算；非均匀性曲线显示在非均匀性曲线显示区(10)，非均匀性数据显示在非均匀性数据显示区(11)中；当测试完成后，如果需要将待测试热像仪(2)的非均匀性曲线和数据存储，则执行非均匀性曲线及数据存储按钮(9)，则NI信号采集系统将待测试热像仪(2)的非均匀性曲线及数据存储到内存中。
3.根据权利要求I所述的一种红外热像仪非均匀性评价装置，其特征在于所述的NI信号采集系统(3)根据不同温度的数据计算出待测试红外热像仪(2)的非均匀性，采用以下计算方法获得
全文摘要
本发明公开了一种红外热像仪非均匀性评价装置，包括可调温黑体、待测试红外热像仪、NI信号采集系统和光学平台，其中可调温黑体、待测试红外热像仪和NI信号采集系统均放置于光学平台上，且待测试红外热像仪的光轴对准可调温黑体的中心，可调温黑体为待测试红外热像仪提供不同温度的标准黑体源，待测试红外热像仪对可调温黑体成像，输出的红外视频通过BNC接口连接到NI信号采集系统上，并进入NI信号采集系统；NI信号采集系统根据不同温度的数据计算出待测试红外热像仪的非均匀性，并将该非均匀性数据绘制成非均匀性-可调温黑体温度的曲线。本装置具有较高的稳定性，待测试热像仪的非均匀性指标为一条随可调温黑体的温度变化而变化的一条曲线，非均匀性指标更全面。
文档编号G01J5/52GK102829873SQ201210296558
公开日2012年12月19日 申请日期2012年8月20日 优先权日2012年8月20日
发明者隋修宝, 陈钱, 顾国华, 侯婷, 于雪莲, 刘宁, 王士绅, 毛义伟, 钱惟贤, 何伟基, 路东明 申请人:南京理工大学