一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法
【专利摘要】本发明涉及一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法，依次包括：1、采集多个温度点充满热像仪视场的图像，分别记录为Gi(x,y)，i∈N，x∈m,y∈n，N为均匀热像帧数，m、n为图像行列值；2、得到每一帧图像的均值3、建立联立方程组；4、利用最小二乘法求解得到α(x,y)，β(x,y)；5、得到校正图像本发明与单点校正相比，不仅可以提高图像的非均匀性，同时可祛除亮黑疵点。本发明可修正辐射变化较大背景引起的不均匀性响应。本发明同时可修正光学镜头引起的非均匀性响应。
【专利说明】一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法，特别是涉及一种光电测量【技术领域】的适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法。
【背景技术】
[0002]由于红外热像仪自身的非均匀性修正不完善，使得热像仪采集的红外图像呈现不同程度的不均匀，不仅影响图像的视觉效果，也很大程度影响了定量处理的精度。目前探测器的不均匀性主要表现为:
[0003]?亮黑疵点多，主要是由于探测器自身带来的，属于物理疵点；
[0004]?视场边缘响应不均匀，主要是由于光学系统引起的；
[0005]?视场中心区域局部响应不均匀，主要是探测器像素间的响应不一致引起的。
[0006]?环境背景温差较大出现光圈和光晕，主要是探测器像素间温度响应不一致引起的。
[0007]针对这些成像的问题，亟需提供一种新型的适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法。
【发明内容】
[0008]本发明要解决的技术问题是提供一种实现红外传感器成像的不均匀性校正，祛除亮黑疵点，修正像素间的响应差异，提高成像质量，为定量处理提供优质数据源的适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法。
[0009]为解决上述技术问题，本发明一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法，依次包括以下步骤:
[0010]步骤1、采集多个温度点充满热像仪视场的图像，分别记录为GiOc, y)，i e N,χ e m, y e η, N为均匀热像帧数，m、η为图像行列值；
[0011]步骤2、得到每一帧图像的均值互；
[0012]
【权利要求】
1.一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法，依次包括以下步骤: 步骤1、采集多个温度点充满热像仪视场的图像，分别记录为GiOc, y)，i e N,X e m, y e η, N为均匀热像帧数，m、η为图像行列值； 步骤2、得到每一帧图像的均值了
2.根据权利要求1所述的一种适用于红外热像定量处理的多点非均匀性校正方法，其特征在于:充满热像仪视场的图像为3副，分别为20°C、30°C和50°C。
【文档编号】G01J5/00GK103674259SQ201210362077
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2012年9月25日 优先权日:2012年9月25日
【发明者】王淑华, 王广平, 陈伟力, 姜维维, 朱小芳 申请人:中国航天科工集团第二研究院二〇七所