一种电磁继电器机械寿命测试装置制造方法
【专利摘要】本发明提出一种电磁继电器机械寿命测试装置，继电器线圈(A)将电能转换为机械能使继电器触点(B)完成触点吸合动作，单片机控制单元(F)控制AC-DC可控电源(E)模拟继电器触点(B)实际工况，继电器触点电阻测试电路(C)测试继电器触点(B)在吸合时触点间的电阻将参数值传送给单片机控制单元(F)，单片机控制单元(F)控制继电器驱动电路(D)同时记录脉冲次数，当继电器触点电阻测试电路(C)传给单片机控制单元(F)的数据大于正常值时说明继电器触点(B)机械寿命已到，单片机控制单元(F)控制显示单元(G)显示出电磁继电器机械寿命次数。
【专利说明】一种电磁继电器机械寿命测试装置
[0001]【技术领域】:
本发明涉及一种电磁继电器机械寿命测试装置，属于电子应用领域。
[0002]【背景技术】:
电磁继电器是一种电子控制器件，它用较小的电流、较低的电压来实现继电器触点的吸合和断开，在作为电信号切换时它具有触点电阻小的特点，对信号几乎没有影响，在需要电气隔离的场合轻易实现电气隔离，再者电磁继电器技术成熟可靠，触点容量相对较大，成本低，几乎零功耗，发热量小在大功率切换场合更优于可控硅等电子开关。
[0003]判断继电器的使用寿命主要有两个方面一个是电气寿命，就是指线圈的电感等电气方面的寿命；另一方面是机械寿命，主要是触点的寿命，电磁继电器的机械寿命需要长时间的实际试验才能测出其实际机械寿命，测试过程比较复杂，测试出的机械寿命也会因为实际的切换信号不同而结果不同。
[0004]
【发明内容】
:
为了克服电磁继电器的机械寿命测试困难的问题，本发明提出一种电磁继电器机械寿命测试装置。
[0005]为了实现上述目的，本发明提出以下技术方案:
一种电磁继电器机械寿命测试装置，包括:继电器线圈(A)、继电器触点(B)、继电器触点电阻测试电路(C)、继电器驱动电路(D)、AC-DC可控电源(E)、单片机控制单元(F)、显示单元(G),如图1 ;
继电器线圈(A)将电能转换为机械能使继电器触点(B)完成触点吸合动作，单片机控制单元(F)控制AC-DC可控电源(E)模拟继电器触点⑶实际工况，继电器触点电阻测试电路(C)测试继电器触点(B)在吸合时触点间的电阻将参数值传送给单片机控制单元(F)，单片机控制单元(F)控制继电器驱动电路(D)同时记录脉冲次数，当继电器触点电阻测试电路(C)传给单片机控制单元(F)的数据大于正常值时说明继电器触点(B)机械寿命已到，单片机控制单元(F)控制显示单元(G)显示出电磁继电器机械寿命次数。
[0006]本发明的有益效果:
提出一种电磁继电器机械寿命测试装置，克服电磁继电器的机械寿命测试困难的问题。
[0007]【专利附图】
【附图说明】:
附图1是本发明的组成示意图。
[0008]【具体实施方式】:
为了使本发明的技术方案更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本发明进一步详细说明，此处所描述的具体实例，仅仅用以解释本发明，并不用于限制本发明。
[0009]实施例:
继电器线圈(A)将电能转换为机械能使继电器触点(B)完成触点吸合动作，单片机控制单元(F)控制AC-DC可控电源(E)模拟继电器触点⑶实际工况，继电器触点电阻测试电路(C)测试继电器触点(B)在吸合时触点间的电阻将参数值传送给单片机控制单元(F)，单片机控制单元(F)控制继电器驱动电路(D)同时记录脉冲次数，当继电器触点电阻测试电路(C)传给单片机控制单元(F)的数据大于正常值时说明继电器触点(B)机械寿命已至IJ，单片机控制单元(F)控制显示单元(G)显示出电磁继电器机械寿命次数。
【权利要求】
1.一种电磁继电器机械寿命测试装置，包括:继电器线圈(A)、继电器触点(B)、继电器触点电阻测试电路(C)、继电器驱动电路?)4(:-0(:可控电源伍)、单片机控制单元的、显示单元(G);其特征在于:继电器线圈(A)将电能转换为机械能使继电器触点(B)完成触点吸合动作，单片机控制单元(F)控制AC-DC可控电源(E)模拟继电器触点⑶实际工况，继电器触点电阻测试电路(C)测试继电器触点(B)在吸合时触点间的电阻将参数值传送给单片机控制单元(F)，单片机控制单元(F)控制继电器驱动电路(D)同时记录脉冲次数，当继电器触点电阻测试电路(C)传给单片机控制单元(F)的数据大于正常值时说明继电器触点(B)机械寿命已到，单片机控制单元(F)控制显示单元(G)显示出电磁继电器机械寿命次数。
【文档编号】G01R31/327GK103809113SQ201210441932
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2012年11月8日 优先权日:2012年11月8日
【发明者】李健, 刘馨, 高玲芝 申请人:哈尔滨维尔士科技发展有限公司