专利名称：一种定向仪晶体角度测量用v型定位块结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光学冷加工中的零件测量技术领域，尤其涉及一种定向仪晶体角度测量用V型定位块结构。
背景技术：
光学晶体零件是通过冷加工得到的精密零件，加工好的光学晶体零件需要利于定向仪测量晶体的端面及参考边的角度，为了准确测量出光学晶体零件的以上性能参数，需要将光学晶体零件准确的固定在定向仪上，减少由于装夹带入的定位误差。对于测量中需要使用的V型定位块，现有技术一般是在基准零件上直接加工出V型定位槽，而V型定位槽的加工比较复杂，导致定位精度难以达到。
发明内容为克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种加工方便、定位准确的定向仪晶体角度测量用V型定位块结构。本实用新型为达到上述技术目的所采用的技术方案是一种定向仪晶体角度测量用V型定位块结构，其包括两块定位玻璃，所述每块定位玻璃上设有等边的45度倒角，所述两块定位玻璃粘接在一起由两个45度倒角组成90度V型定位槽。所述每块定位玻璃的六面垂直度精度大于定向仪的测量精度。本实用新型的有益效果是采用上述结构，将V型定位块结构的90度V型定位槽分为两个45度倒角，两块定位玻璃的45度倒角在同一夹具上同时加工得到，保证45度倒角的精度一致，减小了 90度V型定位槽的加工难度，加工更加方便，精度更容易保证，粘结后组成的90度V型定位槽易于使用。
以下结合附图
和实施例对本实用新型作进一步说明。其中图I是本实用新型定向仪晶体角度测量用V型定位块结构的结构示意图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。请参阅图I所示，本实用新型定向仪晶体角度测量用V型定位块结构包括两块定位玻璃1，所述每块定位玻璃I上设有等边的45度倒角11，所述两块定位玻璃I粘接在一起由两个45度倒角11组成90度V型定位槽2。所述每块定位玻璃I的六面垂直度精度大于定向仪的测量精度。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范 围内。
权利要求1.一种定向仪晶体角度测量用V型定位块结构，其特征在于其包括两块定位玻璃，所述每块定位玻璃上设有等边的45度倒角，所述两块定位玻璃粘接在一起由两个45度倒角组成90度V型定位槽。
2.根据权利要求I所述的一种定向仪晶体角度测量用V型定位块结构，其特征在于所述每块定位玻璃的六面垂直度精度大于定向仪的测量精度。
专利摘要本实用新型公开了一种定向仪晶体角度测量用V型定位块结构，其包括两块定位玻璃，所述每块定位玻璃上设有等边的45度倒角，所述两块定位玻璃粘接在一起由两个45度倒角组成90度V型定位槽。本实用新型将V型定位块结构的90度V型定位槽分为两个45度倒角，两块定位玻璃的45度倒角在同一夹具上同时加工得到，保证45度倒角的精度一致，减小了90度V型定位槽的加工难度，加工更加方便，精度更容易保证，粘结后组成的90度V型定位槽易于使用。
文档编号G01B5/00GK202470945SQ20122007556
公开日2012年10月3日 申请日期2012年3月2日 优先权日2012年3月2日
发明者陈从贺 申请人:福州恒光光电有限公司