专利名称：光学尺交换工具的制作方法
专利说明本实用新型是涉及一种用来定位光学尺的工具，特别是涉及一种操作简易又快速的光学尺交换工具。
背景技术：
光学尺是一种融合了机电原理的光学装置，主要用来监视自动化设备中操作机构的运动状态，因此，光学尺在精密测量上的运用是不胜枚举的，只要是涉及距离的测量，或是位移的测量，均可使用该光学尺予以计测。例如精密车床、半导体印刷电路、蚀刻机、曝光机等等，主要是用在微距位移的操作。针对现有的光学尺与机具的安装结构而言，习有方式是利用螺栓锁固为之，在安装时，须先将光学尺对应贴附在机具上，并以一手托住光学尺，再用另一手作锁螺丝的动作，方能将光学尺安装于机具上。虽然现有的光学尺利用螺栓的锁固可达到预期的定位作用，但是在操作上仍会产生以下使用缺失由于螺栓锁固方式，必须一手托住光学尺，另一手作锁固动作，不但操作不方便，并造成安装的困难度，且会因对位不确实而造成锁固不良，而产生尺寸差，进而影响光学尺的使用功能。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种光学尺交换工具，其利用磁吸方式直接将光学尺预先定位于机台上，操作简易又快速。本实用新型的另一目的在于其还可透过该通孔对光学尺作光轴的微调，以使微调操作更为简便。为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是一种光学尺交换工具，是将一光学尺固定于一机台的一定位槽部上，该机台，具有一位于该定位槽部外侧的吸附面；该交换工具，具有设于不同位阶的一第一接面与一第二接面，以及一位于中央且连通至该第一接面的通孔，该第一接面推顶在该光学尺的一底部，该第二接面上设有多个磁吸件，该第二接面藉由磁吸件而吸固在该机台的吸附面上。所述的交换工具更具有一位于中央的凸台，该凸台的顶面即为该第一接面，且该通孔位于该凸台的中央处。所述的凸台的宽度小于该机台的定位槽部的宽度。所述的交换工具的第二接面上设有多个浅凹部，该等磁吸件则安置于该等浅凹部中，以使得该磁吸件的顶面齐平于第二接面。所述的交换工具更具有一设于该第一接面顶部的防护层。所述的防护层是以质软的橡胶、塑料或发泡材料其中一种，或任一种以上材料所
3组合制成。所述的交换工具更具有多个定位孔，该等定位孔自该第二接面延伸贯穿该交换工具的一底面。因此，相较于现有的利用螺栓锁固方式来固定光学尺，造成组装不方便的使用缺 失。由于本实用新型的光学尺交换工具，利用磁吸定位即可快速地将光学尺固定于机台上，而且，单手就可操作，操作上相当简易又快速。此外，在组装过程中，当该交换工具预将该光学尺推抵入该机台的定位槽部，且利用磁吸方式作定位之后，无须再以手托住光学尺，即可作接续的锁固作业，使操作上更加便利与快速。此外，该交换工具不仅仅是用以定位该光学尺而已，利用磁吸方式定位之后，还可透过该通孔对该光学尺作光轴微调，以获得方便调整的功用。
图I为本实用新型光学尺交换工具的较佳实施例的外观立体图；图2为该光学尺交换工具的俯视图；图3为沿图2图中沿着线3 - 3延伸的剖视图；图4为该交换工具与光学尺安装于机台上的组合剖视图。
具体实施方式
为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。参照图4所示，本实用新型光学尺交换工具的较佳实施例，用以将一光学尺100固定于一机台200上。参照图I、图2，该交换工具10，具有一位于中央的凸台11、设于不同位阶的一第一接面12与一第二接面13、多个设于该第二接面13顶部的浅凹部14、多个磁吸件15，以及一位于中央的通孔16。且该通孔16位于凸台11中央，且连通该第一接面12，该通孔16提供微调该光学尺200的光轴之用。承上，续参照第3、4图所示，该第一接面12即为该凸台11的顶面。而该等磁吸件15安置于该等浅凹部14中，以使得该磁吸件15的一顶面151齐平于该第二接面13。在本实施例中，该机台200具有一定位槽部201及一位于该定位槽部201外侧的吸附面202，该交换工具10则利用该第二接面13上的磁吸件15吸附于该机台200的吸附面202上。本实施例中，该交换工具10的凸台11的宽度是小于该机台200的定位槽部202的宽度。藉此，当使用者欲将该光学尺100安装于机台200时，先将该交换工具10的凸台11推抵在该光学尺100的底部101，并以单手将该交换工具10、光学尺100同时推入该机台200的定位槽孔201中，以藉由该等磁吸件15吸附于该机台200的吸附面202上，这时的光学尺100已被交换工具10所支撑而安置于机台200上，操作者无须再以手托住该光学尺100，即可进行其它锁固作业，所以除了有利于组装的便利性之外，接续还可透过该通孔16对该光学尺100作光轴的微调。因此，本实用新型藉由该交换工具10作预先的吸附定位，以使得在该光学尺100与机台200之间的组装上，更为方便且简易之外，再加上还可透过该通孔16进行该光学尺100的光轴微调，让微调操作更便利。此外，该交换工具10更具有一设于该第一接面12顶部的防护层17，该防护层17 为质软的橡胶、塑料材质或是发泡材料(如PU)所制成，或任一种以上材料所组合制成，用以作为与光学尺100之间隔绝、保护的功用，可避免造成该光学尺100表面遭磨损。其次，该交换工具10更具有多个定位孔18，该等定位孔18自该第二接面13延伸贯穿该交换工具10的一底面19，该等定位孔18作为辅助定位之用，当该交换工具10吸附于该机台200的吸附面202时，可视需求，另以其它锁接件与机台200作定位。归纳上述，相较于现有的利用螺栓锁固方式来预先固定光学尺，造成组装不便的使用问题。由于本实用新型的光学尺交换工具，先利用磁吸定位作预先定位，即可快速地将光学尺100固定于机台200上，而且，单手就可操作，操作上相当简易、快速，之后再继续做其它锁固作业时，则无须另以手托住光学尺100，以加速光学尺100的安装作业。另外，该交换工具10可透过该通孔16来微调该光学尺100的光轴位置，以使微调操作更简便。上述实施例和图式并非限定本实用新型的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本实用新型的专利范畴。
权利要求1.一种光学尺交换工具，将一光学尺固定于一机台的一定位槽部上，其特征在于 该机台，具有一位于该定位槽部外侧的吸附面； 该交换工具，具有设于不同位阶的一第一接面与一第二接面，以及一位于中央且连通至该第一接面的通孔，该第一接面推顶在该光学尺的一底部，该第二接面上设有多个磁吸件，该第二接面藉由磁吸件而吸固在该机台的吸附面上。
2.如权利要求I所述的光学尺交换工具，其特征在于该交换工具更具有一位于中央的凸台，该凸台的顶面即为该第一接面，且该通孔位于该凸台的中央处。
3.如权利要求2所述的光学尺交换工具，其特征在于该凸台的宽度小于该机台的定位槽部的宽度。
4.如权利要求I所述的光学尺交换工具，其特征在于该交换工具的第二接面上设有多个浅凹部，该等磁吸件则安置于该等浅凹部中，以使得该磁吸件的顶面齐平于第二接面。
5.如权利要求I所述的光学尺交换工具，其特征在于该交换工具更具有一设于该第一接面顶部的防护层。
6.如权利要求5所述的光学尺交换工具，其特征在于该防护层是以质软的橡胶、塑料或发泡材料其中一种，或任一种以上材料所组合制成。
7.如权利要求I所述的光学尺交换工具，其特征在于该交换工具更具有多个定位孔，该等定位孔自该第二接面延伸贯穿该交换工具的一底面。
专利摘要一种光学尺交换工具，将一光学尺固定于一机台的一定位槽部上，该交换工具具有设于不同位阶的一第一接面与一第二接面，以及一位于中央且连通至该第一接面的通孔，该第一接面推顶在该光学尺的一底部，该第二接面上设有多个磁吸件，该第二接面藉由磁吸件而吸固在该机台的一吸附面上。本实用新型利用磁吸定位即可快速地将光学尺固定于机台上，单手就可操作，操作上简易又快速。
文档编号G01B11/02GK202661044SQ20122017019
公开日2013年1月9日 申请日期2012年4月20日 优先权日2012年4月20日
发明者林芳贞 申请人:林芳贞