单元测试设备的制作方法

文档序号:5992807阅读:177来源:国知局
专利名称:单元测试设备的制作方法
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种单元测试设备。
背景技术
目前液晶显示装置量产产线的单元测试(celltest)中,需要使用单元测试设备上的探针与被测面板(Panel)上的接触块(Pad)对应接触,以对接触块施加测试信号进行测试。但是现有技术中,如图I所示为现有单元测试设备的简化结构示意图,被测面板103(Q panel)固定于测试设备上,由于测试设备上的探针101和被测面板上接触块102都比较小,探针101很难与接触块102对位精准,对位精度调试比较困难。当探针101与接触块102的对位精度不够精准时,会导致单元测试设备对被测面板103的测试信号施加不正常, 无法进行正常测试。

实用新型内容(一)要解决的技术问题本实用新型要解决的技术问题是提供一种单元测试设备,使得测试过程中探针与接触块的对位精度调节更容易,测试精度得到更容易更好的控制。(二)技术方案为解决上述问题,本实用新型提供了一种单元测试设备,包括探针单元,所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针;照明单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明;图像摄取单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元;显示单元,对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行显示。优选地,所述探针单元和被测面板上分别设有相互对应的对位标记。优选地,所述探针单元上的对位标记设于所述探针周边;所述被测面板上的对位标记设于所述接触块周边。优选地,所述图像摄取单元为CXD图像采集装置。(三)有益效果本实用新型在现有设备的基础上,加入照明单元及图像摄取单元,通过图像摄取单元将探针与接触块的对位情况摄取到显示装置上,改善了精度调节的方法,使测试精度调节更容易,测试精度得到更容易更好的控制。

图I为现有技术单元测试设备的简化结构示意图;图2为根据本实用新型实施例单元测试设备的简化结构示意图;其中101 :探针;102 :接触块;103 :被测面板;201:图像摄取单元;202:照明单元;203 :探针;204 :接触块;205 :被测面板。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明如下。实施例一如图2所示,本实施例记载了一种单元测试设备,包括探针单元,所述探针单元包括与被测面板205上的接触块204对应的探针203 ;照明单元202,对探针单元上的探针203和被测面板205上的接触块204进行照明;·[0024]图像摄取单元201,对探针单元上的探针203和被测面板205上的接触块204的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元;显示单元,对所述摄取的探针203和接触块204的对位情况进行显示。在本实施例中,所述图像摄取单元201为CXD图像采集装置。当然在本实用新型的其它实施例中,所述图像摄取单元201还可以为其它合适的图像采集装置。在本实施例中,所述显示单元为电脑的显示器。在本实用新型的其它实施例中,所述显示单元还可以为其它合适的显示装置。使用时,操作者通过在显示单元上监视探针单元上的探针203与被测面板205上的接触块204的对位情况来对探针203和接触块204的对位进行精确控制,避免对位不精确而导致测试信号无法正常施加的问题发生,使得单元测试更加准确,测试精度更容易控制。实施例二 本实施例包括实施例一的内容,但是在本实施例中,所述探针单元和被测面板上分别设有相互对应的对位标记。在本实施例中,所述探针单元上的对位标记设于所述探针周边;所述被测面板上的对位标记设于所述接触块周边。本实施例通过探针单元和被测面板上分别设置的相互对应的对位标记可以进一步帮助单元测试过程中探针与接触块的精确对位,使得测试精度提高。以上实施方式仅用于说明本实用新型,而并非对本实用新型的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴,本实用新型的专利保护范围应由权利要求限定。
权利要求1.一种单元测试设备,包括 探针单元,所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针; 其特征在于,还包括 照明单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明; 图像摄取单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元; 显示单元,对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行显示。
2.如权利要求I所述的单元测试设备,其特征在于,所述探针单元和被测面板上分别设有相互对应的对位标记。
3.如权利要求2所述的单元测试设备,其特征在于,所述探针单元上的对位标记设于所述探针周边;所述被测面板上的对位标记设于所述接触块周边。
4.如权利要求I所述的单元测试设备,其特征在于,所述图像摄取单元为CCD图像采集 装直。
专利摘要本实用新型公开了一种单元测试设备,包括探针单元,所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针;照明单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明;图像摄取单元,对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元;显示单元,对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行显示。本实用新型通过图像摄取单元将探针与接触块的对位情况摄取到显示装置上,改善了精度调节的方法,使测试精度得到更容易更好的控制。
文档编号G01R1/067GK202735377SQ201220443700
公开日2013年2月13日 申请日期2012年8月31日 优先权日2012年8月31日
发明者陈娟, 柳在健, 姚继开, 马晓峰, 李鑫 申请人:京东方科技集团股份有限公司
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