一种硅锭质量的检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种硅锭质量的检测方法，利用现有的测试技术中红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图，由于灰度图在RGB颜色显示器中三个值都相同，所以，通过设定标准值，然后以色区的RGB值A与标准值相比较来判断出产品质量，为后续的加工给出定量的值，当产品不合格时，需要全部返回重新熔炼，当局部不合格的时候，可以将不合格的区域进行切割，而将剩余的合格部分加以利用，当全部合格时，可以直接整体切除，如此一来，可以将产品划分成三类，从而采取最合适的对应策略来进行处理，不仅减少了人为主观判断带来的误判，而且提高了检测精度，而且直接降低了制造成本。
【专利说明】一种娃锭质量的检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光伏领域中硅锭质量的检测领域，具体是指一种硅锭质量的检测方法。
【背景技术】
[0002]太阳能电池可能成为理想的可再生替代能源而得到广泛重视，其中太阳能电池中晶体硅太阳能电池占整个太阳能电池产量的90%，其中，通过多晶硅制备太阳能电池是当下太阳能电池生产的主流。
[0003]闻纯娃原料通过溶融后定向凝固成多晶娃淀，然后进行破方、线切割等加工技术制得。多晶娃淀中有硬质夹杂物(即杂质)的出现，娃块红外成像能够显不多晶娃旋中的杂质形貌外观，控制其形成，从而减小由其造成的损失。现在娃块检测工序利用IRB-30红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位，对线切割机进行保护。利用红外所成图像观测阴影杂质，并且人为地判断其颜色深浅并以此判定硅块的处理方法。
[0004]硅块检测标准规定，针对阴影和杂质，若颜色较淡，则判定为合格，可以正常流转；若颜色比较深，根据阴影杂质所在位置及其大小判定将其切除或集中加工；若阴影杂质颜色很深的硅块，甚至整块报废。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种硅锭质量的检测方法，解决目前的硅块检测标准中质量检测依赖人的主观意识造成的误差问题，摆脱质量检测依赖于人的主观意识，提高检测精度的目的。
[0006]本发明的目的通过下述技术方案实现:
一种硅锭质量的检测方法，包括以下步骤:
Ca)利用红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图；
(b)选取阴影处的色块，利用RGB颜色显示器计算出其RGB值A;
(c)预设RGB标准值Tl，其中，O^ Tl ^ 256 ；
(d)将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较，当O< A < Tl时，对应的硅锭为不合格产品；当Tl < A < 256时，对应的硅锭为合格产品。
[0007]优选的技术方法是:在步骤(C)中设置两个RGB标准值Tl、T2，且O彡Tl< T2 彡 256 ；
在步骤(d)中，将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较，当O < A < Tl时，对应的硅锭为不合格产品；当11 <A<T2时，对应的硅锭局部不合格；iT2<A<256时，对应的硅锭为合格产品。
[0008]本发明的检测方法中，利用现有的测试技术中红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图，由于灰度图在RGB颜色显示器中三个值都相同，所以，通过设定标准值，然后以色区的RGB值A与标准值相比较来判断出产品质量，为后续的加工给出定量的值，当产品不合格时，需要全部返回重新熔炼，当局部不合格的时候，可以将不合格的区域进行切割，而将剩余的合格部分加以利用，当全部合格时，可以直接整体切除，如此一来，可以将产品划分成两类或三类，从而采取最合适的对应策略来进行处理，不仅减少了人为主观判断带来的误判，而且提高了检测精度，而且直接降低了制造成本。
[0009]步骤(a)中所述红外探伤测试系统使用的灯光亮度与正常生产时灯光亮度相同。为了保持测试的准确性，需要将红外探伤测试系统的灯光亮度设置为正常生产时的亮度，如此方能最大化地提高准确性。
[0010]本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果:
本发明一种硅锭质量的检测方法，利用现有的测试技术中红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图，由于灰度图在RGB颜色显示器中三个值都相同，所以，通过设定标准值，然后以色区的RGB值A与标准值相比较来判断出产品质量，为后续的加工给出定量的值，当产品不合格时，需要全部返回重新熔炼，当局部不合格的时候，可以将不合格的区域进行切割，而将剩余的合格部分加以利用，当全部合格时，可以直接整体切除，如此一来，可以将产品划分成三类，从而采取最合适的对应策略来进行处理，不仅减少了人为主观判断带来的误判，而且提高了检测精度，而且直接降低了制造成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中:
图1为本发明实施例一中含有杂质的硅块红外图像；
图2为本发明实施例一中RGB颜色显示器所测试的杂质灰度值显示。
【具体实施方式】
[0012]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例
[0013]本发明一种硅锭质量的检测方法，首先(a)利用红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图；(b)选取阴影处的色块，利用RGB颜色显示器计算出其RGB值A ;(c)预设两个RGB标准值Tl、T2，其中，O ^ Tl < T2 ^ 256，对不同程度的杂质阴影进行RGB值测试，要求测试时IRB-30红外探伤测试系统使用的灯光亮度与正常生产时所使用的一致，累积一定的样品数量后，确定出硅块的杂质阴影的RGB标准值Tl、T2，其中Tl为60，T2为110，(d)将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较，当O ^ A ^ 60时，对应的硅锭为不合格产品；当60 < A < 110时，对应的硅锭局部不合格；当110 ^ 256时，对应的硅锭为合格产品。
[0014]以上所述的【具体实施方式】，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的【具体实施方式】而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种硅锭质量的检测方法，其特征在于，包括以下步骤: Ca)利用红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图； (b)选取阴影处的色块，利用RGB颜色显示器计算出其RGB值A; (c)预设RGB标准值Tl，其中，O^ Tl ^ 256 ； (d)将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较，当O< A < Tl时，对应的硅锭为不合格产品；当Tl < A < 256时，对应的硅锭为合格产品。
2.根据权利要求1所述的一种硅锭质量的检测方法，其特征在于:在步骤(c)中设置两个RGB标准值Tl、T2，且O彡Tl < T2彡256 ； 在步骤(d)中，将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较，当O < A < Tl时，对应的硅锭为不合格产品；当11 <A<T2时，对应的硅锭局部不合格；iT2<A<256时，对应的硅锭为合格产品。
3.根据权利要求1所述的一种硅锭质量的检测方法，其特征在于:步骤(a)中所述红外探伤测试系统使用的灯光亮度与正常生产时灯光亮度相同。
【文档编号】G01N21/88GK104237244SQ201310378602
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2013年8月27日 优先权日:2013年8月27日
【发明者】钟树敏, 刘兴翀, 林洪峰, 赵秀生 申请人:天威新能源控股有限公司