一种模拟电路测试矢量生成方法
【专利摘要】本发明涉及一种模拟电路测试矢量生成方法，包括：对待测电路进行可测性分析，根据待测电路的可测性测度值T从有效测试节点中选取被测电路的最佳测试节点集，且当可测性测度值T小于待测电路电路元件数目时，确定正则模糊组并最多从每一组中选择一个元件作为待诊断元件；根据方差[y(t)-y′(t)]2建立最佳测试节点集中各测试节点的灵敏度方程，通过计算灵敏度曲线极值点处的频率，获得所需测试矢量集合；y(t)是测试节点的正常输出，y′(t)是测试节点的故障输出；对测试矢量集合中的测试矢量进行删减，优化测试矢量数目。这种模拟电路测试矢量生成方法，减少了计算处理复杂度，提高了故障诊断速度，尤其对大规模模拟集成电路测试和诊断有效。
【专利说明】一种模拟电路测试矢量生成方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及集成电路测试【技术领域】，具体涉及一种模拟电路测试矢量生成(测试激励)方法。
【背景技术】
[0002]客观世界信号的本质决定了模拟电路无处不在和不可替代性，开展相关的理论和方法研究尤为重要。随着电子技术的迅猛发展，特别是集成电路的密度和集成度提高，可利用的测试点有限，传统的通过外部接触介入的方式已经无能为力，这为模拟电路进行可测性分析和测试矢量生成的研究及应用提供了发展契机。
[0003]近年来，研究学者们在模拟电路故障诊断方面开展了不少工作，但在测试矢量生成方面关注度较少，通常根据经验进行选择，如:方波、脉冲和白噪声等，具有一定的随机性，缺少定性的研究。本发明解决的技术问题是，克服现有技术存在的上述缺陷，提供一种基于可测性分析的模拟电路测试矢量生成方法:其核心是对电路进行可测性分析，选择被测电路的有效测试点，实现对模糊器件的确定；然后通过灵敏度计算，指导测试矢量生成，并对测试矢量进行压缩以获得最优测试集。本发明对模拟电路测试矢量生成非常有效，减少了计算处理复杂度，提高了故障诊断速度，具有较强的实用性。
【发明内容】
[0004]本发明需要解决的技术问题是，如何提供一种模拟电路测试矢量生成方法，能减少了计算处理复杂度，提高了故障诊断速度，具有很强的实用性，尤其对大规模模拟集成电路测试和诊断有效。
[0005]本发明的上述技术问题这样解决:构建一种模拟电路测试矢量生成方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0006]可测性分析:对待测电路进行可测性分析，根据待测电路的可测性测度值T从有效测试节点中选取被测电路的最佳测试节点集，且当可测性测度值T小于待测电路电路元件数目时，确定正则模糊组并最多从每一组中选择一个元件作为待诊断元件；
[0007]测试矢量生成:根据方差[y(t)_y' (t)]2建立最佳测试节点集中各测试节点的灵敏度方程，通过计算灵敏度曲线极值点处的频率，获得所需测试矢量集合；y(t)是测试节点的正常输出，y' (t)是测试节点的故障输出；
[0008]测试矢量压缩:对测试矢量集合中的测试矢量进行删减，优化测试矢量数目。
[0009]按照本发明提供的生成方法，所述可测性分析步骤具体包括:
[0010]计算每个有效测试点的网络传递函数:被测电路元件的故障诊断方程由所选可测试点的网络传递函数组成，每个有效可测点的网络传递函数如下:
【权利要求】
1.一种模拟电路测试矢量生成方法，其特征在于，包括以下步骤: 可测性分析:对待测电路进行可测性分析，根据待测电路的可测性测度值T从有效测试节点中选取被测电路的最佳测试节点集，且当可测性测度值T小于待测电路电路元件数目时，确定正则模糊组并最多从每一组中选择一个元件作为待诊断元件； 测试矢量生成:根据方差[y(t)-y, (t)]2建立最佳测试节点集中各测试节点的灵敏度方程，通过计算灵敏度曲线极值点处的频率，获得所需测试矢量集合；y(t)是测试节点的正常输出，f (t)是测试节点的故障输出； 测试矢量压缩:对测试矢量集合中的测试矢量进行删减，优化测试矢量数目。
2.根据权利要求1所述生成方法，其特征在于，所述可测性分析步骤具体包括: 计算每个有效测试点的网络传递函数:被测电路元件的故障诊断方程由所选可测试点的网络传递函数组成，每个有效可测点的网络传递函数(s)如下:
3.根据权利要求2所述生成方法，其特征在于，所述电路元件参数的函数包括倒数。
4.根据权利要求1所述生成方法，其特征在于，所述测试矢量生成步骤具体包括: 计算出最佳测试节点集中各测试节点的灵敏度方程:应用灵敏度分析选择测试频率，计算公式如下:
5.根据权利要求1所述生成方法，其特征在于，所述测试矢量压缩步骤包括从多个测试频率中选择一个使得各灵 敏度曲线差异最大化的频率。
【文档编号】G01R31/316GK103439646SQ201310381466
【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年8月28日 优先权日:2013年8月28日
【发明者】王承, 何进, 杜彩霞, 朱小安, 何清兴, 钟胜菊, 梅金河 申请人:深圳华越天芯电子有限公司