一种pcb飞针测试固定装置和pcb飞针测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种PCB飞针测试固定装置和PCB飞针测试装置，所述PCB飞针测试固定装置包括：固定板和开设在所述固定板一表面上的用于固定待测试PCB的固定槽。通过本实用新型提供的PCB飞针测试固定装置和PCB飞针测试装置，在固定板上开设固定待测试PCB的固定槽，在进行飞针测试之前，将所述待测试PCB固定在固定槽中，使任意尺寸的PCB都可以进行飞针测试，突破了现有飞针测试台对PCB尺寸的限制。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及印制电路领域，特别涉及一种PCB飞针测试固定装置和PCB飞针 测试装置。 -种PCB飞针测试固定装置和PCB飞针测试装置
【背景技术】
[0002] 现有技术中，通常采用飞针测试的方式对PCB的引脚进行接触并进行电气测试， 使用夹具先固定PCB，然后利用飞针测试台对PCB进行测试。
[0003] 现有技术的不足之处在于：飞针测试台对PCB的尺寸要求较高，对较薄以及尺寸 较小的PCB不能进行飞针测试。在PCB的板厚< 0. 3mm时，会因为厚度太薄而使PCB被夹具 夹坏，即使PCB通过测试也影响了 PCB功能；而在PCB的长宽< 75*75mm时，由于尺寸太小， PCB的边缘被夹具夹了很大的部分，使有的测试孔与夹具的距离很近，这会导致飞针容易与 夹具相撞，造成断针和晃板，从而影响飞针测试的结果；若测试的是包括多个小尺寸PCB的 整个panel，那么位于中间部分的小尺寸PCB不会有飞针轴撞到夹具的情况，但是这样的操 作难度较大，而且不容易识别位于panel边上有问题的PCB，现有的PCB制作厂商采用先测 试后成型的方法来对小尺寸PCB进行飞针测试，但因此导致成型后好坏混板，大大增加了 生产成本。 实用新型内容
[0004] 为克服上述缺陷，本实用新型实施例提供一种PCB飞针测试固定装置和PCB飞针 测试装置。
[0005] 第一方面，本实用新型提供一种PCB飞针测试固定装置，包括：固定板和开设在所 述固定板一表面上的用于固定待测试PCB的固定槽。
[0006] 优选地，所述待测试PCB的厚度小于0. 5mm时，所述固定板的厚度为0. 5_。
[0007] 优选地，所述待测试PCB的厚度大于等于0. 5mm时，所述固定板的厚度等于所述待 测试PCB的厚度。
[0008] 优选地，所述待测试PCB的长小于等于75mm时，所述固定板的长为80mm。
[0009] 优选地，所述待测试PCB的边长为大于75mm的A时，所述固定板的对应边长为 (A+10) mm。
[0010] 优选地，所述待测试PCB的厚度小于0. 5mm时，所述固定槽的深度为0. 5mm减去所 述待测试PCB的厚度。
[0011] 优选地，所述待测试PCB的厚度大于0. 5mm时，所述固定槽的深度为所述待测试 PCB的厚度减去0. 5mm。
[0012] 优选地，所述待测试PCB的厚度等于0. 5mm时，所述固定槽的深度为0. 05mm。
[0013] 第二方面，本实用新型实施例提供一种PCB飞针测试装置，包括所述PCB飞针测试 固定装置，用来固定所述待测试PCB。
[0014] 本实用新型实施例提供的一种PCB飞针测试固定装置和PCB飞针测试装置，通过 在固定板上开设固定待测试PCB的固定槽，在进行飞针测试之前，将所述待测试PCB固定在 固定槽中，使任意尺寸的PCB都可以进行飞针测试，突破了现有飞针测试台对PCB尺寸的限 制；而将较薄以及尺寸较小的PCB固定在固定槽中进行飞针测试时，使较薄的PCB在飞针测 试时不易被损坏而影响使用功能，而且使尺寸较小的PCB的边缘不会再被夹具夹持，从而 顺利的完成飞针测试，使飞针测试的准确率大大提高；再者，使PCB制作厂商采用先测试后 成型的方法来对小尺寸PCB进行飞针测试时，避免了好坏混板情况的发生，能够更好的控 制PCB的生产成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0015] 图1表示本实用新型中PCB飞针测试固定装置的实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016] PCB飞针测试固定装置的实施例的结构示意图如图1所示，所示装置包括：
[0017] 固定板2和开设在所述固定板一表面上的用于固定待测试PCB1的固定槽。
[0018] 通过在固定板上开设固定待测试PCB的固定槽，在进行飞针测试之前，将所述待 测试PCB固定在固定槽中，使任意尺寸的PCB都可以进行飞针测试，突破了现有飞针测试台 对PCB尺寸的限制。
[0019] 所述PCB飞针测试固定装置的尺寸规格如下：
[0020] 所述待测试PCB的厚度小于0. 5mm时，所述固定板的厚度为0. 5mm。
[0021] 所述待测试PCB的厚度大于等于0.5mm时，所述固定板的厚度等于所述待测试PCB 的厚度。
[0022] 所述待测试PCB的长小于等于75mm时，所述固定板的长为80mm。
[0023] 所述待测试PCB的边长为大于75mm的A时，所述固定板的对应边长为（A+10)mm。
[0024] 所述待测试PCB的厚度a小于0. 5mm时，所述固定槽的深度b为0. 5mm减去所述 待测试PCB的厚度a。
[0025] 所述待测试PCB的厚度a大于0. 5mm时，所述固定槽的深度b为所述待测试PCB 的厚度a减去0. 5mm。
[0026] 所述待测试PCB的厚度a等于0. 5mm时，所述固定槽的深度b为0. 05_。
[0027] 例如，待测试PCB的板厚为1. 0mm，尺寸为：75mm*75mm，相应的所述PCB飞针测试 固定装置的固定板的厚度为1. 〇_，尺寸为：80mm*80mm ;所述固定槽的深度为0. 5_。
[0028] 通过上面的设置的所述PCB飞针测试固定装置的尺寸，可将较薄以及尺寸较小的 PCB固定在固定槽中进行飞针测试，使较薄的PCB在飞针测试时不易被损坏而影响使用功 能，而且使尺寸较小的PCB的边缘不会再被夹具夹持，从而顺利的完成飞针测试，使飞针测 试的准确率大大提高；再者，使PCB制作厂商采用先测试后成型的方法来对小尺寸PCB进行 飞针测试时，避免了好坏混板情况的发生，能够更好的控制PCB的生产成本。
[0029] 本实用新型实施例提供一种PCB飞针测试装置，包括所述PCB飞针测试固定装置， 用来固定所述待测试PCB。
[0030] 所述PCB飞针测试装置的测试流程如下：
[0031] 将PCB飞针测试固定装置固定在飞针机台上；
[0032] 将待测试PCB嵌入所述PCB飞针测试固定装置的固定槽中；
[0033] 对PCB进行飞针测试；
[0034] 在飞针测试完成后，将PCB从所述PCB飞针测试固定装置的固定槽中取出。
[0035] 进一步地，所述PCB飞针测试固定装置使用控深铣夹板流程制作。
[0036] PCB嵌入所述PCB飞针测试固定装置的固定槽的"深度"远远小于被夹具夹住的板 边的"深度"，因而使PCB边缘的待测孔，距离夹具更远，所以在飞针测试时能避免飞针轴撞 到夹具的问题。
[0037] 通过以上的描述，本实用新型实施例提供的PCB飞针测试固定装置和PCB飞针测 试装置，通过在固定板上开设固定待测试PCB的固定槽，在进行飞针测试之前，将所述待测 试PCB固定在固定槽中，使任意尺寸的PCB都可以进行飞针测试，突破了现有飞针测试台对 PCB尺寸的限制；而将较薄以及尺寸较小的PCB固定在固定槽中进行飞针测试时，使较薄的 PCB在飞针测试时不易被损坏而影响使用功能，而且使尺寸较小的PCB的边缘不会再被夹 具夹持，从而顺利的完成飞针测试，使飞针测试的准确率大大提高；再者，使PCB制作厂商 采用先测试后成型的方法来对小尺寸PCB进行飞针测试时，避免了好坏混板情况的发生， 能够更好的控制PCB的生产成本。
[0038] 最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限 制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当 理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部 技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新 型各实施例技术方案的范围。
【权利要求】
1. 一种PCB飞针测试固定装置，其特征在于，包括：固定板和开设在所述固定板一表面 上的用于固定待测试PCB的固定槽； 其中，所述待测试PCB的边长小于等于75mm时，所述固定板的对应边长为80mm。
2. 根据权利要求1所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的厚度小于0. 5mm时，所述固定板的厚度为0. 5mm。
3. 根据权利要求1所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的厚度大于等于0. 5mm时，所述固定板的厚度等于所述待测试PCB的 厚度。
4. 根据权利要求1所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的边长为大于75mm的A时，所述固定板的对应边长为（A+10)mm。
5. 根据权利要求1?4任一所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的厚度小于0. 5mm时，所述固定槽的深度为0. 5mm减去所述待测试PCB 的厚度。
6. 根据权利要求1?4任一所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的厚度大于0. 5mm时，所述固定槽的深度为所述待测试PCB的厚度减 去 0· 5mm〇
7. 根据权利要求1?4任一所述的PCB飞针测试固定装置，其特征在于， 所述待测试PCB的厚度等于0. 5mm时，所述固定槽的深度为0. 05mm。
8. -种PCB飞针测试装置，其特征在于，包括根据权利要求1?7任一所述PCB飞针测 试固定装置，用来固定所述待测试PCB。
【文档编号】G01R1/04GK203894258SQ201320645877
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2013年10月18日 优先权日:2013年10月18日
【发明者】方志玲 申请人:北大方正集团有限公司, 重庆方正高密电子有限公司, 方正信息产业控股有限公司