一种基于pxi基板的rfid测试平台的制作方法

文档序号:6202522阅读:133来源:国知局
一种基于pxi基板的rfid测试平台的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种基于PXI基板的RFID测试平台,该平台中包括PC机和一个电磁屏蔽箱,所述电磁屏蔽包括一个金属罩体,所述金属罩体安装在电磁屏蔽箱的基台上,所述基台上安装有射频读卡器和低频一致性测试板,所述射频读卡器通过供电线与电磁屏蔽箱外的PC机相连,所述低频一致性测试板通过串口/USB接口连接线与PC机相连,低频一致性测试板安装在一个PXI基板上,所述PXI基板的总线背板上共设置有14个槽位。本实用新型具备的有益技术效果是:通过安装电磁屏蔽箱并采用PXI基板的RFID测试,防止了外界信号对测试信号的干扰,提高了射频读卡器的有效通信距离的一致性,提高了射频测试系统的整体质量。
【专利说明】—种基于PXj基板的RF ID测试平台
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种RFID测试平台,尤其涉及一种基于PXI基板的RFID测试平台。
【背景技术】
[0002]目前现有技术中的国际主流射频器件厂商均采用自己设计的只满足自家产品线需求的堆叠式系统,至今还没有一种专门针对射频器件的通用测试系统问世,这种现状已经不能满足人们的要求。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于提供一种基于PXI基板的RFID测试平台,解决现有技术存在的缺憾。
[0004]本实用新型采用如下技术方案实现:
[0005]一种基于PXI基板的RFID测试平台,该平台中包括PC机和一个电磁屏蔽箱,所述电磁屏蔽包括一个金属罩体,所述金属罩体安装在电磁屏蔽箱的基台上,所述基台上安装有射频读卡器和低频一致性测试板,其特征在于,所述射频读卡器通过供电线与电磁屏蔽箱外的PC机相连,所述低频一致性测试板通过串口 /USB接口连接线与PC机相连,低频一致性测试板安装在一个PXI基板上,所述PXI基板的总线背板上共设置有14个槽位。
[0006]进一步的,14个槽位中的第四个槽位设置有星形触发控制器和/或三角形触发控制器。
[0007]本实用新型具备的有益技术效果是:通过安装电磁屏蔽箱并采用PXI基板的RFID测试,防止了外界信号对测试信号的干扰,提高了射频读卡器的有效通信距离的一致性,提高了射频测试系统的整体质量。
【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1是本实用新型的整体结构图。
【具体实施方式】
[0009]通过下面对实施例的描述,将更加有助于公众理解本实用新型,但不能也不应当将 申请人:所给出的具体的实施例视为对本实用新型技术方案的限制,任何对部件或技术特征的定义进行改变和/或对整体结构作形式的而非实质的变换都应视为本实用新型的技术方案所限定的保护范围。
[0010]如图1所示的基于PXI基板的RFID测试平台,该平台中包括PC机和一个电磁屏蔽箱,电磁屏蔽包括一个金属罩体,金属罩体安装在电磁屏蔽箱的基台上,基台上安装有射频读卡器和低频一致性测试板,射频读卡器通过供电线与电磁屏蔽箱外的PC机相连,低频一致性测试板通过串口 / USB接口连接线与PC机相连,低频一致性测试板安装在一个PXI基板上,PXI基板的总线背板上共设置有14个槽位,其中第四个槽位设置有星形触发控制器和/或三角形触发控制器。PXI (PCI Extension For Instrumentation,简称PXI),作为第三代ATE的新兴代表将计算机PCI总线、Compact PCI (CPCI)完美地结合到测试仪器中,利益于近几十年来PC工业的高速发展和大量技术、工艺的积累,为PXI的飞速发展奠定了基础。目前基于自动测试设备(ATE)测试RF电路的板卡功能强大而昂贵,用PXI作为测试RF电路的板卡能够可极大降低测试硬件板卡的费用且不损失参数测试的精度。星形触发信号和/或三角形触发信号可将信号一对一地送至其它的扩充槽上,PXI基板上的其他各个扩充槽也连接至总线上,可达到同步的功能,保证14个槽位的高速信号准确传递,确保射频电路的测试结果正确。
[0011]当然,本实用新型还可以有其他多种实施例,在不背离本实用新型精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员可以根据本实用新型做出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种基于PXI基板的RFID测试平台,该平台中包括PC机和一个电磁屏蔽箱,所述电磁屏蔽包括一个金属罩体,所述金属罩体安装在电磁屏蔽箱的基台上,所述基台上安装有射频读卡器和低频一致性测试板,其特征在于,所述射频读卡器通过供电线与电磁屏蔽箱外的PC机相连,所述低频一致性测试板通过串口 / USB接口连接线与PC机相连,低频一致性测试板安装在一个PXI基板上,所述PXI基板的总线背板上共设置有14个槽位。
2.根据权利要求1所述的基于PXI基板的RFID测试平台,其特征在于,14个槽位中的第四个槽位设置有星形触发控制器和/或三角形触发控制器。
【文档编号】G01R1/18GK203616399SQ201320647284
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年10月21日 优先权日:2013年10月21日
【发明者】杨良春, 刘春来 申请人:北京信诺达泰思特科技股份有限公司
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