键槽或键的位置公差检测工具的制作方法
【专利摘要】一种键槽或键的位置公差检测工具，包括本体，本体外圆周面或内圆周面设有至少两个检测键或键槽。所述的检测键或键槽的表面为精加工。该键槽或键的位置公差检测工具，能够实现对带有两个以上键或键槽的工件位置公差的检测，保证这类零件的加工精度，保证产品质量。
【专利说明】键槽或键的位置公差检测工具【技术领域】
[0001]本实用新型涉及键槽或键的加工制造的【技术领域】，特别是涉及一种键槽或键的位置公差检测工具。
【背景技术】
[0002]对于单键或者键槽的工件来说，其加工后的检测一般都是通过卡尺或者塞尺来检测键或者键槽的形状公差，对于带有两个以上键或键槽的工件来说，这些普通的检测工具也是只能检测其形状公差，对于键或者键槽之间的位置公差没法检测，该问题有待解决。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的是为了解决上述问题，提供一种键槽或键的位置公差检测工具。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种键槽或键的位置公差检测工具，包括本体，本体外圆周面或内圆周面设有至少两个检测键或键槽。
[0005]所述的检测键或键槽的表面为精加工。
[0006]所述的本体外部设有手柄。
[0007]本实用新型的 有益效果
[0008]该键槽或键的位置公差检测工具，能够实现对带有两个以上键或键槽的工件位置公差的检测，保证这类零件的加工精度，保证产品质量。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之一；
[0010]图2为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之二 ；
[0011]图3为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之三；
[0012]图4为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之四；
[0013]图5为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之五；
[0014]图6为该键槽或键的位置公差检测工具的结构示意图之六；
[0015]图中1.本体、2.检测键、3.检测检测。
【具体实施方式】
[0016]实施例一:参见图1，图中一种键槽的位置公差检测工具，包括本体，本体外圆周面设有两个检测键槽。所述的检测键槽的表面为精加工。图中所示两个检测键槽的位置相对，为180°夹角。
[0017]实施例二:参见图2，实施例二与实施例一基本相同，相同之处不重述，不同之处为实施例二中的两个键槽为120°夹角。
[0018]实施例一和实施例二为检测两个键位于工件内圆柱面的工具，使用时将实施例一或二中的检测工具塞入加工后的工件内，来判断位置公差是否达到要求。
[0019]实施例三:参见图3，图中一种键槽的位置公差检测工具，包括本体，本体内圆周面设有两个检测键。所述的检测键的表面为精加工。所述的本体外部设有手柄。图中所示两个检测键的位置相对，为180°夹角。
[0020]实施例四:参见图4,实施例四与实施例三基本相同，相同之处不重述,不同之处为实施例四中的两个键为120°夹角。
[0021]实施例三和实施例四为检测键槽位于工件外圆柱面的工具，使用时将实施例三或四中的检测工具套装加工后的工件内，来判断位置公差是否达到要求。
[0022]实施例五:参见图5，图中一种键槽的位置公差检测工具，包括本体，本体外圆周面设有八个检测键。所述的检测键的表面为精加工。该工具用于检测花键套，使用时将该工具塞入花键套内，来判断位置公差是否达到要求。
[0023]实施例六:参见图6，图中一种键的位置公差检测工具，包括本体，本体内圆周面设有八个检测键槽。所述的检测键槽的表面为精加工。所述的本体外部设有手柄。该工具用于检测花键，使用时将该工具套在花键外，来判断位置公差是否达到要求。
【权利要求】
1.一种键槽或键的位置公差检测工具，包括本体，其特征是:本体外圆周面或内圆周面设有至少两个检测键或键槽。
2.根据权利要求1所述的键槽或键的位置公差检测工具，其特征是:所述的检测键或键槽的表面为精加工。
3.根据权利要求1所述的键槽或键的位置公差检测工具，其特征是:所述的本体外部设有手柄。
【文档编号】G01B5/00GK203642825SQ201320773757
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2013年12月2日 优先权日:2013年12月2日
【发明者】王飞飞, 刘学战 申请人:郑州市嵩阳煤机制造有限公司