技术编号:6207905
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种键槽或键的位置公差检测工具,包括本体,本体外圆周面或内圆周面设有至少两个检测键或键槽。所述的检测键或键槽的表面为精加工。该键槽或键的位置公差检测工具,能够实现对带有两个以上键或键槽的工件位置公差的检测,保证这类零件的加工精度,保证产品质量。专利说明键槽或键的位置公差检测工具[0001]本实用新型涉及键槽或键的加工制造的,特别是涉及一种键槽或键的位置公差检测工具。背景技术[0002]对于单键或者键槽的工件来说,其加工后的检测一般都是通过卡尺或者塞尺来检测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。