一种基于近地表层的折射波静校正处理方法以及系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种基于近地表层的折射波静校正处理方法及系统，所述方法包括：采集地震资料；从所述的地震资料中拾取出折射波初至；确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量；根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量；根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。本发明能解决近地表层短波长静校正问题，与其他静校正方法(如：模型法或层析法)相结合最终解决静校正问题。
【专利说明】一种基于近地表层的折射波静校正处理方法以及系统
【技术领域】
[0001]本发明关于地球物理勘探【技术领域】，特别是关于地震勘探中的静校正处理技术，具体的讲是一种基于近地表层的折射波静校正处理方法及系统。
【背景技术】
[0002]地震勘探中的静校正处理技术主要是用来解决地震波在近地表介质旅行时间变化影响反射波叠加成像的问题。地震发生后，地震观测点最先接收到的波称初至波。由于各种地震波的传播速度不同，传播到观测点的时间也就有先后。利用初至波的折射静校正方法或层析静校正方法可以反演出相对精确的近地表模型，解决静校正问题。地震波波前到达某个观测点，在观测点上，检波器检测到质点振动的时刻称为波的初至时间，简称初至。
[0003]在地球物理地震勘探中，折射波的静校正处理方法是解决复杂区静校正问题的主要方法之一。然而，折射波的静校正在长波长静校正控制方面存在一定的问题，因此在复杂区，静校正主要采用模型法静校正或层析静校正方法来解决长波长静校正问题，利用折射波静校正解决短波长静校正问题。然而，这两种方法的结合存在较大的难度。
[0004]因此，如何提出一种新的折射波静校正方案，其能够解决近地表层短波长静校正问题且能与其他静校正方法(如:模型法或层析法)相结合以致最终解决静校正问题是本领域亟待解决的技术难题。
【发明内容】
[0005]为了克服现有技术中的折射波静校正处理方案存在的上述缺陷，本发明提供了一种基于近地表层的折射波静校正处理方法及系统，以一次静校正(模型法或层析法静校正)为基础获得浮动基准面静校正，把浮动基准面静校正应用到拾取的折射波初至上，确定出折射剩余静校正，根据折射剩余静校正与水平基准面一次静校正确定出最终静校正量，能够有效解决复杂近地表地区长波长静校正问题和短波长静校正问题。
[0006]本发明的目的之一是，提供一种基于近地表层的折射波静校正处理方法，包括:采集地震资料；从所述的地震资料中拾取出折射波初至；确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量；根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量；根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量，其中根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量包括:将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至；根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至；根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
[0007]本发明的目的之一是，提供了一种基于近地表层的折射波静校正处理系统，包括:地震资料采集装置，用于采集地震资料；折射波初至拾取装置，用于从所述的地震资料中拾取出折射波初至；基准面静校正量确定装置，用于确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量；折射剩余静校正量确定装置，用于根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量；最终静校正量确定装置，用于根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量，其中，所述的折射剩余静校正量确定装置包括:静校正量应用模块，用于将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至；稳定折射层初至确定模块，用于根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至；折射剩余静校正量确定模块，用于根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
[0008]本发明的有益效果在于，提供了一种基于近地表层的折射波静校正处理方法及系统，涉及物探地震资料的近地表静校正方案，以一次静校正(模型法或层析法静校正)为基础获得浮动基准面静校正，把浮动基准面静校正应用到拾取的折射波初至上，然后选择稳定的折射层并计算折射波速度，通过计算的折射波速度进行线性动校正，计算折射剩余静校正，折射剩余静校正与水平基准面一次静校正的和为最终静校正量，其能解决近地表层短波长静校正问题，与其他静校正方法(如:模型法或层析法)相结合最终解决静校正问题。
[0009]为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理方法的流程图；
[0012]图2为图1中的步骤S104的具体流程图；
[0013]图3为图2中的步骤S202的具体流程图；
[0014]图4为图2中的步骤S203的实施方式一的具体流程图；
[0015]图5为图2中的步骤S203的实施方式二的具体流程图；
[0016]图6为图1中的步骤S105的具体流程图；
[0017]图7为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统的结构框图；
[0018]图8为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的折射剩余静校正量确定装置400的具体结构框图；
[0019]图9为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的稳定折射层初至确定模块402的具体结构框图；
[0020]图10为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的折射剩余静校正量确定模块403的实施方式一的具体结构框图；
[0021]图11为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的折射剩余静校正量确定模块403的实施方式二的具体结构框图；
[0022]图12为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的最终静校正量确定装置500的具体结构框图；
[0023]图13为具体实施例中的地表高程示意图；
[0024]图14为具体实施例中的浮动基准面(高速顶1500半径平滑)示意图；
[0025]图15为具体实施例中的浮动基准面静校正量示意图；
[0026]图16为具体实施例中的水平基准面静校正量示意图；
[0027]图17为具体实施例中的折射剩余静校正量示意图；
[0028]图18为具体实施例中的最终静校正量示意图；
[0029]图19为具体实施例中的层析模型法静校正水平叠加剖面示意图；
[0030]图20为具体实施例中的静校正水平叠加剖面示意图。
【具体实施方式】
[0031]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0032]本发明的目的是提供一种解决近地表层短波长静校正问题的方法，与其他静校正方法(如:模型法或层析法)相结合最终解决静校正问题。
[0033]图1为本发明提出的一种基于近地表层的折射波静校正处理方法的具体流程图，由图1可知，在实施方式一中，所述的方法包括:
[0034]SlOl:采集地震资料。
[0035]在具体的实施例中，可利用现有仪器采集得到地震资料。
[0036]S102:从所述的地震资料中拾取出折射波初至。
[0037]在具体的实施方式中，对地震资料进行精细的折射波初至拾取，初至拾取可采用自动拾取或人机交互拾取。
[0038]S103:确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量。
[0039]在具体的实施方式中，可利用模型法或层析法(或者其它任何通过近地表速度模型计算静校正量的方法)计算水平基准面静校正量和浮动基准面的静校正量，浮动基准面为近地表模型的高速顶界面经平滑获得或平滑地表下移0-200米获得，平滑半径为l_5km。
[0040]如图13所示为具体实施例中的地表高程示意图，图14为具体实施例中的浮动基准面(高速顶1.5km半径平滑)示意图。在图13、图14所示的具体实施例中，采用层析法计算静校正量，浮动基准面为近地表层析模型的高速顶界面(2000m/s速度界面)经平滑获得，平滑半径为1.5km,图15为计算的层析浮动基准面静校正量，图16为层析水平基准面静校正量。
[0041]S104:根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量。图2为步骤S104的具体流程图。
[0042]S105:根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。图6为步骤S105的具体流程图。
[0043]图2为步骤S104的具体流程图，由图2可知，该步骤具体包括:
[0044]S201:将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至。即把浮动基准面的静校正量加上折射波的初至时间上，即可得到应用浮动基准面静校正量的初至。
[0045]S202:根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至，图3为步骤S202的具体流程图，由图3可知，该步骤具体包括:
[0046]S301:获取共中心点面元的长以及宽，在具体的实施方式中，CMP面元的长和宽均为ι-?ο倍的道距。
[0047]S302:获取控制点的间隔，在具体的实施方式中，控制点的间隔为l_5km。
[0048]S303:将所述的应用浮动基准面静校正量的初至通过共中心点道集的方式进行显示，得到初至显示；
[0049]S304:在所述的初至显示上进行交互选择，确定出稳定折射层；
[0050]S305:根据所述的稳定折射层进行插值获得每个共中心点面元上初至的偏移距范围，在具体的实施方式中，可以通过任何常用插值方法。
[0051]S306:根据所述的偏移距范围输出所述稳定折射层的初至。
[0052]在图13所示的具体的实施例中，利用应用浮动基准面静校正量的初至，在共中心点道集上交互选择全区相对稳定折射层，共中心点面元的长和宽都为4倍道距，在控制点上以偏移距范围的方式选择，控制点的间隔为2km，通过控制点上的稳定折射层线性插值获得每个面元上初至的偏移距范围，输出该稳定折射层的初至。
[0053]由图2可知，步骤S104还包括:
[0054]S203:根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
[0055]图4为步骤S203的实施方式一的具体流程图，由图4可知，该步骤具体包括:
[0056]S401:根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度，在具体的实施方式中，对稳定折射层的初至进行拟合求取折射层的速度，或者通过其他方法求取折射层速度。
[0057]S402:利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间。在具体的实施方式中，利用稳定折射层的速度对稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间(LTij)。
[0058]S403:根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组，假设线性动校正后的初至时间(LTij)为对应炮点的折射剩余静校正量和检波点的折射剩余静校正量的和,所有初至时间构建成大型方程组，如下所示:
[0059]Tsl+Trl = LT11
[0060]Tsl+Tr2 = LT12
[0061]
[0062]Ts2+Trl = LT21
[0063]Ts2+Tr2 = LT22
[0064]...
[0065]Tsi+TrJ = LTij
[0066]其中，Tsi表示第i个激发点的剩余静校正量,Trj表示第j个接收点的剩余静校正量，LTij表示第i个激发点与第j个接收点初至时间应用浮动基准面静校正后再应用线性动校正的时间。
[0067]S404:求解所述的方程组，得到折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。在【具体实施方式】中，求解大型方程组，通过高斯赛德尔迭代方法解方程组得到炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。
[0068]图5为步骤S203的实施方式二的具体流程图，由图5可知，该步骤具体包括:
[0069]S501:根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度，在具体的实施方式中，对稳定折射层的初至进行拟合求取折射层的速度，或者通过其他方法求取折射层速度。
[0070]S502:获取预先设定的第一平滑半径，在具体的实施方式中，平滑半径为l_5km。
[0071]S503:所述稳定折射层的速度根据所述的平滑半径在平面上平滑，得到平滑后的稳定折射层的速度。在图13所示的具体实施例中，可将获得的稳定折射层的初至拟合求取折射层的速度，或者通过其他方法求取折射层速度，并在平面上平滑，平滑半径为2km。
[0072]S504:利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间。在具体的实施方式中，利用稳定折射层的速度对稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间(LTij)。
[0073]S505:根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组，假设线性动校正后的初至时间(LTij)为对应炮点的折射剩余静校正量和检波点的折射剩余静校正量的和,所有初至时间构建成大型方程组。
[0074]S506:求解所述的方程组，得到折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。在【具体实施方式】中，求解大型方程组，通过高斯赛德尔迭代方法解方程组得到炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。
[0075]图6为步骤S105的具体流程图，由图6可知，该步骤具体包括:
[0076]S601:获取预先设定的第二平滑半径，在具体的实施方式中，平滑半径为l_5km。
[0077]S602:根据所述的第二平滑半径对所述的折射剩余静校正量进行平滑处理，得到平滑处理后的折射剩余静校正量；
[0078]S603:根据所述的折射剩余静校正量以及平滑处理的折射剩余静校正量确定去低频后的折射剩余静校正量。在具体的实施方式中，利用平滑前的折射剩余静校正量减去平滑后的折射剩余静校正量即得到去低频后的折射剩余静校正量。
[0079]S604:根据所述的水平基准面的静校正量以及去低频后的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。在具体的实施方式中，水平基准面的静校正量减去去低频后的折射剩余静校正量，即得到最终静校正量。
[0080]如上所述，即为本发明提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理方法，对初至应用一次静校正在线性动校正并构建方程组，通过高斯赛德尔迭代算法获得最终折射剩余静校正量，能够有效解决复杂近地表地区长波长静校正问题和短波长静校正问题。
[0081]图7为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统的结构框图，由图7可知，所述的系统包括:
[0082]地震资料采集装置100，用于采集地震资料。
[0083]在具体的实施例中，可利用现有仪器采集得到地震资料。
[0084]折射波初至拾取装置200，用于从所述的地震资料中拾取出折射波初至。
[0085]在具体的实施方式中，对地震资料进行精细的折射波初至拾取，初至拾取可采用自动拾取或人机交互拾取。
[0086]基准面静校正量确定装置300，用于确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量。
[0087]在具体的实施方式中，可利用模型法或层析法(或者其它任何通过近地表速度模型计算静校正量的方法)计算水平基准面静校正量和浮动基准面的静校正量，浮动基准面为近地表模型的高速顶界面经平滑获得或平滑地表下移0-200m获得，平滑半径为l-5km。
[0088]如图13所示为具体实施例中的地表高程示意图，图14为具体实施例中的浮动基准面(高速顶1.5km半径平滑)示意图。在图13、图14所示的具体实施例中，采用层析法计算静校正量，浮动基准面为近地表层析模型的高速顶界面(2000m/s速度界面)经平滑获得，平滑半径为1.5km米，图15为计算的层析浮动基准面静校正量，图16为层析水平基准面静校正量。
[0089]折射剩余静校正量确定装置400，用于根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量。图8为折射剩余静校正量确定装置400的具体结构框图。
[0090]最终静校正量确定装置500，用于根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。图12为最终静校正量确定装置500的具体结构框图。
[0091]图8为本发明实施例提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统中的折射剩余静校正量确定装置400的具体结构框图，由图8可知，折射剩余静校正量确定装置400具体包括:
[0092]静校正量应用模块401，用于将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至。即把浮动基准面的静校正量加上折射波的初至时间上，即可得到应用浮动基准面静校正量的初至。
[0093]稳定折射层初至确定模块402，用于根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至，图9为稳定折射层初至确定模块402的具体结构框图，由图9可知，稳定折射层初至确定模块402具体包括:
[0094]长宽获取单元4021，用于获取共中心点面元的长以及宽，在具体的实施方式中，CMP面元的长和宽均为1-10倍的道距。
[0095]控制点间隔获取单元4022，用于获取控制点的间隔，在具体的实施方式中，控制点的间隔为I_5km。
[0096]初至显示单元4023，用于将所述的应用浮动基准面静校正量的初至通过共中心点道集的方式进行显示，得到初至显示；
[0097]稳定折射层确定单元4024，用于在所述的初至显示上进行交互选择，确定出稳定折射层；
[0098]插值单元4025，用于根据所述的稳定折射层进行插值获得每个共中心点面元上初至的偏移距范围，在具体的实施方式中，可以通过任何常用插值方法。
[0099]初至确定单元4026，用于根据所述的偏移距范围输出所述稳定折射层的初至。
[0100]在图13所示的具体的实施例中，利用应用浮动基准面静校正量的初至，在共中心点道集上交互选择全区相对稳定折射层，共中心点面元的长和宽都为4倍道距，在控制点上以偏移距范围的方式选择，控制点的间隔为2km，通过控制点上的稳定折射层线性插值获得每个面元上初至的偏移距范围，输出该稳定折射层的初至。
[0101]由图8可知，折射剩余静校正量确定装置还包括:
[0102]折射剩余静校正量确定模块403，用于根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
[0103]图10为折射剩余静校正量确定模块403的实施方式一的具体结构框图，由图10可知，折射剩余静校正量确定模块403具体包括:
[0104]稳定折射层速度确定单元4031，用于根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度，在具体的实施方式中，对稳定折射层的初至进行拟合求取折射层的速度，或者通过其他方法求取折射层速度。
[0105]线性动校正单元4032，用于利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间。在具体的实施方式中，利用稳定折射层的速度对稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间(LTij)。
[0106]方程组构建单元4033，用于根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组，假设线性动校正后的初至时间(LTij)为对应炮点的折射剩余静校正量和检波点的折射剩余静校正量的和，所有初至时间构建成大型方程组，如下所示:
[0107]Tsl+Trl = LT11
[0108]Tsl+Tr2 = LT12
[0109]...
[0110]Ts2+Trl = LT21
[0111]Ts2+Tr2 = LT22
[0112]…
[0113]Tsi+TrJ = LTij
[0114]其中，Tsi表示第i个激发点的剩余静校正量,IVj表示第j个接收点的剩余静校正量，LTij表示第i个激发点与第j个接收点初至时间应用浮动基准面静校正后再应用线性动校正的时间。
[0115]方程组求解单元4034，用于求解所述的方程组，得到折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。在【具体实施方式】中，求解大型方程组，通过高斯赛德尔迭代方法解方程组得到炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。
[0116]图11为折射剩余静校正量确定模块403的实施方式二的具体结构框图，由图11可知，折射剩余静校正量确定模块403还包括:
[0117]第一平滑半径获取单元4035，用于获取预先设定的第一平滑半径，在具体的实施方式中，平滑半径为l_5km。
[0118]平滑处理单元4036，用于所述稳定折射层的速度根据所述的平滑半径在平面上平滑，得到平滑后的稳定折射层的速度。在图13所示的具体实施例中，可将获得的稳定折射层的初至拟合求取折射层的速度，或者通过其他方法求取折射层速度，并在平面上平滑，平滑半径为2km。
[0119]图12为最终静校正量确定装置500的具体结构框图，由图12可知，最终静校正量确定装置500具体包括:
[0120]第二平滑半径获取模块501，用于获取预先设定的第二平滑半径，在具体的实施方式中，平滑半径为l_5km。
[0121]第二平滑半径获取模块502，用于根据所述的第二平滑半径对所述的折射剩余静校正量进行平滑处理，得到平滑处理后的折射剩余静校正量；
[0122]去低频处理模块503，用于根据所述的折射剩余静校正量以及平滑处理的折射剩余静校正量确定去低频后的折射剩余静校正量。在具体的实施方式中，利用平滑前的折射剩余静校正量减去平滑后的折射剩余静校正量即得到去低频后的折射剩余静校正量。
[0123]最终静校正量确定模块504，用于根据所述的水平基准面的静校正量以及去低频后的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。在具体的实施方式中，水平基准面的静校正量减去去低频后的折射剩余静校正量，即得到最终静校正量。
[0124]如上所述，即为本发明提供的一种基于近地表层的折射波静校正处理系统，对初至应用一次静校正在线性动校正并构建方程组，通过高斯赛德尔迭代算法获得最终折射剩余静校正量，能够有效解决复杂近地表地区长波长静校正问题和短波长静校正问题。
[0125]下面结合具体的实施例，详细介绍本发明的技术方案。
[0126]图13为该具体实施例中的地表高程示意图，图14为具体实施例中的浮动基准面(高速顶1.5km半径平滑)示意图。本方案主要包括:
[0127]I)采集地震资料并进行初至拾取；
[0128]对地震资料进行精细的折射波初至拾取，初至拾取可采用自动拾取或人机交互拾取。
[0129]2)计算一次静校正量
[0130]利用模型法或层析法(或者其它任何通过近地表速度模型计算静校正量的方法)计算水平基准面静校正量和浮动基准面的静校正量，本实施例中是采用层析法计算静校正量，浮动基准面为近地表层析模型的高速顶界面(2000m/s速度界面)经平滑获得，平滑半径为1.5km,图15为计算的层析浮动基准面静校正量，图16为层析水平基准面静校正量。
[0131]3)对初至应用浮动基准面静校正量
[0132]步骤3)所述的对初至应用浮动基准面静校正量是把浮动基准面静校正量应用到初至时间上，得到应用浮动基准面静校正量的初至。
[0133]4)初至折射层选择
[0134]利用应用浮动基准面静校正量的初至，在CMP道集上交互选择全区相对稳定的折射层，CMP面元为长和宽都为4倍道距，在控制点上以偏移距范围的方式选择，控制点间隔为2km，通过控制点上的偏移距范围线性插值获得每个面元上初至的偏移距范围，输出该稳定折射层的初至。
[0135]5)折射速度分析；
[0136]对获得的稳定折射层的初至拟合求取折射层速度(或者通过其他方法求取折射层速度)并在平面上平滑，平滑半径为2km。
[0137]6)线性动校正及方程组构建
[0138]利用获得的平滑后的折射速度对稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间(LTij),假设该时间为对应炮点和检波点折射剩余静校正量的和，所有初至时间构建成大型方程组。
[0139]7)折射剩余静校正计算及低频去除
[0140]求解大型方程组,得到炮、检点折射剩余静校正量。对获得的炮、检点折射剩余静校正量进行平滑，平滑半径为3km，然后利用平滑前的量减去平滑后的量得到去低频后的折射剩余静校正量，如图17所示。
[0141]8)最终静校正计算
[0142]用步骤2)获得的水平基准面静校正量减去步骤7)获得的去低频后的折射剩余静校正量得到最终的静校正量，如图18所示。
[0143]图19为具体实施例中的层析模型法静校正水平叠加剖面示意图，图20为具体实施例中的静校正水平叠加剖面示意图。由图19、20的最终应用效果对比可知，应用本方法的叠加剖面效果比常规层析法静校正效果要好。
[0144]综上所述，本发明提出的一种基于近地表层的折射波静校正处理方法及系统，涉及物探地震数据的近地表静校正，以一次静校正(模型法或层析法静校正)为基础，对拾取的初至应用一次静校正到浮动基准面上，然后选择稳定的折射层并计算折射波速度，通过计算的折射波速度进行线性动校正，计算折射剩余静校正，折射剩余静校正与水平基准面一次静校正的和为最终静校正量，能够解决短波长静校正问题。
[0145]本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一般计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory, ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory, RAM)等。
[0146]本领域技术人员还可以了解到本发明实施例列出的各种功能是通过硬件还是软件来实现取决于特定的应用和整个系统的设计要求。本领域技术人员可以对于每种特定的应用，可以使用各种方法实现所述的功能，但这种实现不应被理解为超出本发明实施例保护的范围。
[0147]本发明中应用了具体实施例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【权利要求】
1.一种基于近地表层的折射波静校正处理方法，其特征是，所述的方法包括: 采集地震资料； 从所述的地震资料中拾取出折射波初至； 确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量； 根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量；根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量； 其中根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量包括:将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至；根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至；根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征是，根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至包括: 获取共中心点面元的长以及宽； 获取控制点的间隔； 将所述的应用浮动基准面静校正量的初至通过共中心点道集的方式进行显示，得到初至显示； 在所述的初至显示上进行交互选择，确定出稳定折射层； 根据所述的稳定折射层进行插值获得每个共中心点面元上初至的偏移距范围； 根据所述的偏移距范围输出所述稳定折射层的初至。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征是，根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量包括: 根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度； 利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间； 根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组； 求解所述的方程组，得到折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征是，在确定出所述稳定折射层的速度之后，根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量还包括: 获取预先设定的第一平滑半径； 所述稳定折射层的速度根据所述的平滑半径在平面上平滑，得到平滑后的稳定折射层的速度。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征是，根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量包括: 获取预先设定的第二平滑半径； 根据所述的第二平滑半径对所述的折射剩余静校正量进行平滑处理，得到平滑处理后的折射剩余静校正量； 根据所述的折射剩余静校正量以及平滑处理的折射剩余静校正量确定去低频后的折射剩余静校正量； 根据所述的水平基准面的静校正量以及去低频后的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。
6.一种基于近地表层的折射波静校正处理系统，其特征是，所述的系统包括: 地震资料采集装置，用于采集地震资料； 折射波初至拾取装置，用于从所述的地震资料中拾取出折射波初至； 基准面静校正量确定装置，用于确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量; 折射剩余静校正量确定装置，用于根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量； 最终静校正量确定装置，用于根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量； 其中，所述的折射剩余静校正量确定装置包括:静校正量应用模块，用于将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至，得到应用浮动基准面的静校正量的初至；稳定折射层初至确定模块，用于根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至；折射剩余静校正量确定模块，用于根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征是，所述的稳定折射层初至确定模块包括: 长宽获取单元，用于获取共中心点面元的长以及宽； 控制点间隔获取单元，用于获取控制点的间隔； 初至显示单元，用于将所述的应用浮动基准面静校正量的初至通过共中心点道集的方式进行显示，得到初至显示； 稳定折射层确定单元，用于在所述的初至显示上进行交互选择，确定出稳定折射层； 插值单元，用于根据所述的稳定折射层进行插值获得每个共中心点面元上初至的偏移距范围； 初至确定单元，用于根据所述的偏移距范围输出所述稳定折射层的初至。
8.根据权利要求6所述的系统，其特征是，所述的折射剩余静校正量确定模块包括: 稳定折射层速度确定单元，用于根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度； 线性动校正单元，用于利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正，得到线性动校正后的初至时间； 方程组构建单元，用于根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组； 方程组求解单元，用于求解所述的方程组，得到折射剩余静校正量，所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征是，所述的折射剩余静校正量确定模块还包括: 第一平滑半径获取单元，用于获取预先设定的第一平滑半径； 平滑处理单元，用于所述稳定折射层的速度根据所述的平滑半径在平面上平滑，得到平滑后的稳定折射层的速度。
10.根据权利要求8或9所述的系统，其特征是，最终静校正量确定装置包括: 第二平滑半径获取模块，用于获取预先设定的第二平滑半径； 平滑处理模块，用于根据所述的第二平滑半径对所述的折射剩余静校正量进行平滑处理，得到平滑处理后的折射剩余静校正量； 去低频处理模块，用于根据所述的折射剩余静校正量以及平滑处理的折射剩余静校正量确定去低频后的折射剩余静校正量； 最终静校正量确定模块，用于根据所述的水平基准面的静校正量以及去低频后的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。
【文档编号】G01V1/36GK104181599SQ201410408931
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年8月19日 优先权日:2014年8月19日
【发明者】祖云飞, 倪宇东, 吕景峰, 马青坡, 韩淑敏, 张月芹, 李海翔 申请人:中国石油天然气集团公司, 中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司