一种微波多通道产品测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种微波多通道产品测试系统，包括测试控制计算机、测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器、单刀多掷开关阵和多选一开关阵；其特征在于：单刀多掷开关阵、多选一开关阵和多通道测试件置于高低温箱内，测试控制计算机、测试仪表、测试信号源和开关阵驱动控制器置于高低温箱外。本发明提出的一种微波多通道产品测试系统，是一种快捷高效的产品测试设备，解决微波频段的多通道产品测试，显著减少高低温箱内外需要连接的高频测试电缆数量，提高生产效率。
【专利说明】一种微波多通道产品测试系统
【技术领域】
[0001]本发明属于雷达、通讯等电子产品生产制造领域，具体涉及一种微波多通道产品测试系统。
【背景技术】
[0002]在雷达、电子通讯等领域内存在多通道产品，如相控阵雷达内的多通道收发模块，多通道接收机，多通道发射机等，其特点为通道多，接口多，测试时需要连接、更换的测试电缆线多，在高低温箱内测试时，高低温箱内外连线多，更换测试件时工作繁琐，耗时，效率低。
【发明内容】
[0003]要解决的技术问题
[0004]为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种微波多通道产品测试系统，是一种快捷、高效的测试设备，减少高低温箱内外连接的测试电缆数量，缩短更换测试件时间。
[0005]技术方案
[0006]一种微波多通道产品测试系统，包括测试控制计算机、测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器、单刀多Il开关阵和多选一开关阵；其特征在于:单刀多Il开关阵、多选一开关阵和多通道测试件置于高低温箱内，测试控制计算机、测试仪表、测试信号源和开关阵驱动控制器置于高低温箱外。
[0007]所述单刀多遮开关阵与开关阵驱动控制器之间采用数字信号线束进行连接。
[0008]所述单刀多Il开关阵与多通道测试件之间采用快插接头的插接进行连接。
[0009]有益效果
[0010]本发明提出的一种微波多通道产品测试系统，将开关阵、多通道测试件置于高低温箱内，开关阵的控制为数字信号线束，减少了高低温箱内外高频电缆连接数量，缩短了搭建测试系统的连接线缆时间。开关阵与多通道测试件之间采用快插接头的插接方式，提高了更换测试件效率。本发明是一种快捷高效的产品测试设备，解决微波频段的多通道产品测试，显著减少高低温箱内外需要连接的高频测试电缆数量，提高生产效率。
[0011]本发明采用上述技术方案构成，与现有技术相比，具有如下特点:
[0012]1.开关阵列置于高低温箱内，减少了高低温箱内外需要连接的高频测试电缆数量，缩短了搭建测试系统的连接线缆时间；
[0013]2.开关阵与多通道测试件之间采用快插接头的插接式，更换测试件快捷。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1:微波多通道广品测试系统不意图。
【具体实施方式】
[0015]现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
[0016]参见图1，本发明通过如下硬件实现。
[0017]本发明由测试控制计算机、测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器、单刀多趣开关阵、多选一开关阵、多通道测试件构成。测试控制计算机完成测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器的控制与设置并记录测试结果；测试仪表测试多选一开关阵输出信号；测试信号源产生测试件需要的测试激励信号；开关阵驱动控制器在测试控制计算机控制下产生单刀多遮开关阵和多选一开关阵需要的控制信号；单刀多遮开关阵把测试激励信号切换到当前测试通道；多选一开关阵把当前测试通道切换到测试仪表；多通道测试件是需要测试的产品。该系统在使用过程中单刀多通开关阵、多选一开关阵、多通道测试件置于高低温箱内，测试控制计算机、测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器位于高低温箱外。单刀多通开关阵与开关阵驱动控制器之间连接为数字信号线束，多选一开关阵与开关阵驱动控制器之间连接为数字信号线束，这种布局、连接方式减少了高低温箱内外高频电缆连接数量。开关阵与多通道测试件之间采用快插接头的插接方式，这种连接方式提高了更换测试件效率。
【权利要求】
1.一种微波多通道产品测试系统，包括测试控制计算机、测试仪表、测试信号源、开关阵驱动控制器、单刀多掷开关阵和多选一开关阵；其特征在于:单刀多掷开关阵、多选一开关阵和多通道测试件置于高低温箱内，测试控制计算机、测试仪表、测试信号源和开关阵驱动控制器置于高低温箱外。
2.根据权利要求1所述微波多通道产品测试系统，其特征在于:所述单刀多掷开关阵与开关阵驱动控制器之间采用数字信号线束进行连接。
3.根据权利要求1所述微波多通道产品测试系统，其特征在于:所述单刀多掷开关阵与多通道测试件之间采用快插接头的插接进行连接。
【文档编号】G01S7/40GK104459647SQ201410680759
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年11月24日 优先权日:2014年11月24日
【发明者】王涛 申请人:西安电子工程研究所