结晶器材料检测用激光粒度分析仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪，扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起，激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上；所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨，探测器导轨的上表面开设有一卡槽，其下表面设置有一凹槽，其中部开设有一条形槽；所述光电探测器活动的安装在探测器导轨上表面的卡槽内，探测器导轨下表面的凹槽内设置有一与光电探测器连接的微处理器，所述微处理器上连接有通讯接口。将傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器安装在同一个调节螺杆上，且三者的中轴线都位于同一直线上，在调整这几个部件时都能保证激光束位于同一直线上，保证了光路的稳定性，提高了测量的准确性。
【专利说明】 结晶器材料检测用激光粒度分析仪
【技术领域】
[0001]本实用新型属于光学仪器【技术领域】，特别涉及一种利用激光散射测量微粒直径的结晶器材料检测用激光粒度分析仪。
【背景技术】
[0002]许多工业生产领域的半成品或成品通常呈现粉未状，粉未的颗粒粒径大小是生产控制中最基本的参数，粒度及其分布的测试是生产与一项重要的测试项目。目前常用的测试方法有沉降法。筛析法、显微镜法和激光粒度分析法，其中后者测试速度快、重复性好、应用范围广，并可以实现快速测试，正逐渐得到广泛的应用。
[0003]激光粒度分析法采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。目前市面上的粒度分析仪的测试平台不能进行移动，以及傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器之间未固定，光线进入量比较少，影响测量的准确性，从修复后的结晶器上取下的涂层，由于涂层微粒在检测液中分别不均匀，进一步地降低了测量的准确性。
实用新型内容
[0004]针对现有技术中的上述不足，本实用新型提供了一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪，其具有安装方便，傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器安装在同一个调节螺杆上，使光束始终位于同一直线上，提高了测量的准确性。
[0005]为了达到上述发明目的，本实用新型采用的技术方案为:提供一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪，其包括支撑架、光电探测器、傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器，所述扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起，所述激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上，所述激光器、扩束镜和傅里叶变换透镜的中轴线位于同一直线上；所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨，探测器导轨的上表面开设有一卡槽，其下表面设置有一凹槽，其中部开设有一条形槽；所述光电探测器活动的安装在探测器导轨上表面的卡槽内，探测器导轨下表面的凹槽内设置有一与光电探测器连接的微处理器，所述微处理器上连接有通讯接口。
[0006]进一步地，所述支撑架上固定有一用于保护激光器、壳体和调节螺杆的保护罩。
[0007]进一步地，所述光电探测器与微处理器之间还设置有一信号放大电路。
[0008]进一步地，所述探测器导轨下表面的凹槽内还设置有一与微处理器连接的存储单
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[0009]本实用新型的有益效果为:将傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器安装在同一个调节螺杆上，且三者的中轴线都位于同一直线上，在调整这几个部件时都能保证激光束位于同一直线上，保证了光路的稳定性，提高了测量的准确性；在壳体和激光器的外部设置的保护罩可以避免外部光线的进入，进一步提高了测量的准确性。【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1为结晶器材料检测用激光粒度分析仪的结构示意图；
[0011]图2为探测器导轨的仰视图。
[0012]其中，1、支撑架；2、探测器导轨；3、微处理器；4、光电探测器；5、样品溶液杯；6、傅里叶变换透镜；7、壳体；8、保护罩；9、扩束镜；10、激光器；11、调节螺杆；12、条形槽。
【具体实施方式】
[0013]如图1所示，该结晶器材料检测用激光粒度分析仪包括支撑架1、光电探测器4、傅里叶变换透镜6、扩束镜9和激光器10，所述扩束镜9和傅里叶变换透镜6通过一密封的壳体7固定在一起，所述激光器10和壳体7均通过调节螺杆11安装在支撑架I上，所述激光器10、扩束镜9和傅里叶变换透镜6的中轴线位于同一直线上；所述支撑架I的底板上安装有一探测器导轨2，探测器导轨2的上表面开设有一卡槽，其下表面设置有一凹槽，其中部开设有一条形槽12;所述光电探测器4活动的安装在探测器导轨2上表面的卡槽内，这样设置可以便于调整光电探测器4，以使激光光束最大化的通过放置在光电探测器4上的样品溶液杯5内样品溶液。
[0014]探测器导轨2下表面的凹槽内设置有一与光电探测器4连接的微处理器3，所述微处理器3上连接有一通讯接口，方便微处理器3与计算机连接。
[0015]采用上述技术方案后，安装在同一个调节螺杆11上的傅里叶变换透镜6、扩束镜9和激光器10，使三者的中轴线都位于同一直线上，在调整这几个部件时都能保证激光束位于同一直线上，保证了光路的稳定性，提高了测量的准确性。
[0016]支撑架I上固定有一用于保护激光器10、壳体7和调节螺杆11的保护罩8，这样设置后可以避免外部光线的进入，进一步提高了测量的准确性；所述光电探测器4与微处理器3之间还设置有一信号放大电路，其将光电探测器4信号放大后传递给微处理器3 ;探测器导轨2下表面的凹槽内还设置有一与微处理器3连接的存储单元，便于将测量的数据进行备份。
[0017]该用激光粒度分析仪进行测试时:首先将从修复后的结晶器上取下的涂层充分的溶解在溶液里，形成具有一定分散度的涂层样品溶液，让激光器10发射出的一束单色的激光光束通过扩束镜9及傅里叶变换透镜6后，激光光束被放置在光电探测器4的样品溶液杯5中的颗粒散射后，分布在不同的角度上，光电探测器4从许多角度上接收到的有关散射图的数值，并记录这些数值后传递给微处理器进行分析，分析后的数据经通讯接口传递给计算机，同时数据也被存储到存储单元进行备份。
[0018]虽然结合附图对本实用新型的【具体实施方式】进行了详细地描述，但不应理解为对本专利的保护范围的限定。在权利要求书所描述的范围内，本领域技术人员不经创造性劳动即可做出的各种修改和变形仍属本专利的保护范围。
【权利要求】
1.一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪，包括支撑架、光电探测器、傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器，其特征在于:所述扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起，所述激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上，所述激光器、扩束镜和傅里叶变换透镜的中轴线位于同一直线上；所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨，探测器导轨的上表面开设有一卡槽，其下表面设置有一凹槽，其中部开设有一条形槽；所述光电探测器活动的安装在探测器导轨上表面的卡槽内，探测器导轨下表面的凹槽内设置有一与光电探测器连接的微处理器，所述微处理器上连接有通讯接口。
2.根据权利要求1所述的结晶器材料检测用激光粒度分析仪，其特征在于:所述支撑架上固定有一用于保护激光器、壳体和调节螺杆的保护罩。
3.根据权利要求2所述的结晶器材料检测用激光粒度分析仪，其特征在于:所述光电探测器与微处理器之间还设置有一信号放大电路。
4.根据权利要求3所述的结晶器材料检测用激光粒度分析仪，其特征在于:所述探测器导轨下表面的凹槽内还设置有一与微处理器连接的存储单元。
【文档编号】G01N15/02GK203785997SQ201420021787
【公开日】2014年8月20日 申请日期:2014年1月14日 优先权日:2014年1月14日
【发明者】王旭 申请人:德阳东合新材料科技有限公司